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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    离线infotek
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-12-24
    任务/系统描述 K cex%.  
    G9x l-ag+z  
    $-DW+|p.?^  
    JRBz/ j  
    亮点 vgc~%k62c  
    8/2Wq~&  
    DzhLb8k  
    VP< zOk7  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 '[6]W)f  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 trwo(p  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 VXCB.C"  
    V@+sNM  
    说明:光源 TS#1+f]9J<  
    {31X  
    &5jc &CS  
    #}.{|'L  
    说明:透镜系统 2KXF XR  
    4qDa: D"5  
    fBTNI`#  
    <O) if^  
    说明:样品结构 E_& ;.hw  
    W' Y<iA  
    $o9^b Z  
    ral=`/p  
    说明:探测器 Y<^Or  
    8F\'? 7  
    q: F6MW  
    K4Ed]hX  
    结果:3D光线追迹 *#p}FB2H#  
    e8SAjl"}  
    + d>2'  
    `?&C5*P  
    结果:场追迹矩形光栅 "@ZwDg`  
    LB7$&.m'B  
    ;U0w<>4L  
    [ )X(Qtk  
    结果:场追迹锯齿形光栅 cl23y}J_?  
    Hv"qRuQ?[  
     
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