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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    离线infotek
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-12-24
    任务/系统描述 jI~$iDdOfs  
    _#we1m  
     h@J3+u<  
    n8JM 0 U-  
    亮点 X9?0`6Li  
    C3~O6<,Jh  
     FGeKhA 8jT  
    {REGoe=W%  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 _|{Z850AS  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 x6ayFq=  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 OTNI@jQ)  
    g?*D)W U  
    说明：光源 .3#Xjhebvu  
    w|NId,#f  
    uX%$3k  
    I9x kqj  
    说明：透镜系统 L uW""P/  
    _C19eW'  
    yqR]9 "a  
     yCkX+{ki  
    说明：样品结构  SiJ{  
    wk'&n^_br  
    U }I#;*F  
    2B5Ez,'#x  
    说明：探测器 }}bMq.Q'  
    u|k_OUTq  
    dp4vybJ  
    \GKR(~f  
    结果：3D光线追迹 e [6F }."c  
    1=e(g#Ajn\  
      ?$y/b}8  
    \7%wJIeyx  
    结果：场追迹矩形光栅  Sr_hD5!  
    [+="I &  
    fPstS ez   
     ^ > ?C  
    结果：场追迹锯齿形光栅 s#8T46?  
    cob??|,\m  
     
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