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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-12-24
    任务/系统描述 *=7U4W  
    }~e%J(  
     [1 9,&]z  
    A$:U'ZG_  
    亮点 w: Kl6"c  
    KMjhZap%  
     4Wm@W E  
    <yFu*(Q  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 W1=H8 O  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 'ub@]ru|  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 A=wh@"2  
    n#OB%@]<V  
    说明：光源 %n:k#  
    kq,ucU%>p  
    M1iS(x  
    R[x_j  
    说明：透镜系统 8q}q{8  
    vTzlwK\#1  
    X*@dj_,  
     h{HHLR  
    说明：样品结构 <3C*Z"aQ>|  
    4u5-7[TZ  
    (c &mCJN  
    FE|JHh$  
    说明：探测器 "mvt>X  
    zuy4G9P  
    JHTSUq  
    h'&%>Q2  
    结果：3D光线追迹 \Et3|Iv  
    u frL<]A  
     l#Y,R 0  
    (\YltC@q%  
    结果：场追迹矩形光栅 'Xq| Kf (  
    'F0e(He@,  
    ;P%1j|7  
     O*)Vhw'pK  
    结果：场追迹锯齿形光栅 !\.pq  2  
    RO/FF<f  
     
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