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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-12-24
    任务/系统描述 /U&Opo {aO  
    `-h8vj5uG  
    o1cErI&q"  
    -i yyn ^|  
    亮点 ?iI4x%y  
    F8:vDv  
    }|u4 W?H  
    L|P5=/d  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 i.D3'l  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 ,I1 RV  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 Qx;\USv  
    E :9"cxx  
    说明:光源 I M-L'9  
    VXIP0p@  
    jB{4\)  
    Qham^  
    说明:透镜系统 7Mb# O_eh  
    AP77a*@8  
     ;s`sn$@  
    Lzu.)C@Amx  
    说明:样品结构 h3LE>}6D  
    $,+O9Et  
    &e 6CJ  
    'Vyt4^$%  
    说明:探测器 P:30L'.=[  
    =R*qP;#  
    n2)q}_d  
    X.hm s?]  
    结果:3D光线追迹 + s- lCz  
    [0"'T[ok  
    kY*rb_2j  
    LaQ-=;(`  
    结果:场追迹矩形光栅 28 8XF9B^  
    oD<kMK  
    \,u_7y2 c  
    f7m%|v!  
    结果:场追迹锯齿形光栅 &f ^,la  
    {r@Ty*W} L  
     
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