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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    离线infotek
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-12-24
    任务/系统描述 l[]K5?AS>-  
    Va"_.8n|+  
     kq6K<e4jO  
    ARYqX\-e  
    亮点 DJ"O`qNV3  
    ehEXC  
     A:3bL: ;t  
    dbGW`_zQ4  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 [0 7N<<  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 X&._<2  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 [T', ZLR|  
    ;czMsHu0X  
    说明：光源 C)> ])'S  
    >LxYP7M  
    gO-C[j/  
    TRG(W^<F  
    说明：透镜系统 zECdj'/  
    gkUG*Zw  
    v#0R   
     d>:(>@wz  
    说明：样品结构 | ]`gps  
    +~J?/  
    .)^@[yrkz  
    'j=7'aX>K  
    说明：探测器  D/hQ{T  
    E)|_7x<u  
    ;J pdnV  
    yvo~'k#c  
    结果：3D光线追迹 0 3L"W^gc  
    uf,4GPo,  
     2A@9jl s  
    XtfO;`   
    结果：场追迹矩形光栅 }*l V  
    TEOV>Tt  
    'Omi3LXfDT  
     0`/PEK{  
    结果：场追迹锯齿形光栅 MjC;)z  
    ABEC{3fWpu  
     
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