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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2021-12-24
    任务/系统描述 '=Zm[P,  
    g_c@Kyf  
     "kFH*I+v  
    o^X3YaS)  
    亮点 :E6*m\X!3  
    d;l%XZe  
     B//*hH >F  
    )SJM:E  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 1] =X  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 dL% *;   
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 [T =>QS@g  
    8=L"rekV_  
    说明：光源 qCcLd7`$  
    P7=`P  
    o"BED! /  
    N7lg6$s Aj  
    说明：透镜系统 ^_@[1'^  
    }YdC[b$j^  
    ~%=%5}  
     TIiYic!_~  
    说明：样品结构 !;&\n3-W  
    & tT6.@kH  
    _ncBq;j{  
    .tG3g:  
    说明：探测器 i *:QbMb  
    fTPm Fb  
    3GE;:;8B  
    oH0g>E;  
    结果：3D光线追迹 , v} )  
    p1d%&e  
     lBFKfLp&  
    hmkb!)  
    结果：场追迹矩形光栅 Q >[>{N&\  
    ]j:k!=Ss?  
    0~BaQ, A @  
     P-2DBNB7  
    结果：场追迹锯齿形光栅 E`JW4)AH  
    td%J.&K_*'  
     
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