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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    离线infotek
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-12-24
    任务/系统描述 ?"mZb#%  
    } +}nrJv  
    @  W>@6E  
    l.o/H|  
    亮点 Q3 8+`EhLA  
    P|<V0 Vs.  
    7.hBc;%2u  
    UHZ&7jfl  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 {6v.(Zlh$  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 `!vqT 3p,  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 |+q_kx@?l  
    pPBXUu'  
    说明:光源 {&n- @$?  
    D<6$@ZJ  
    X$>F78e*  
    E:x@O8F  
    说明:透镜系统 ]ub"OsXC  
    >+a\BK"k  
    R%WY!I8C  
    %]_: \!  
    说明:样品结构 H54RA6$>  
    +Ww] %`_  
    $Y|OGZH8E  
    _d@YLd78P  
    说明:探测器 ^YLC{V  
    9r].rzf9  
    T/3LJGnY  
    8OZj24*'DS  
    结果:3D光线追迹 $Q/@5f'T`9  
    e P@#I^_  
    jw:z2:0~  
     `Eh>E,  
    结果:场追迹矩形光栅 GQtNk<?$I  
    4=^_VDlpd  
    l;iU9<~  
    =y][j+WH  
    结果:场追迹锯齿形光栅 (SyD)G\rj  
    7%Y`j/  
     
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