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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-12-24
    任务/系统描述 rGQ86L<  
    x(exx )w  
    $Vd?K@W[h  
     ^xBb$  
    亮点 _:oMyK'  
    $IZ *|>(  
    X20<r?^,,  
    y}3 `~a  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 (, ;MC/l  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 54, Ju'r  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 11nO<WH  
    (gs`=H*d;  
    说明:光源 _N[^Hl`\  
    F(0pru4u  
    PX+"" #  
    j@kRv@  
    说明:透镜系统 .H*? '*  
    <m|FccvQ  
    Udb0&Y1^  
    t!+%g) @  
    说明:样品结构 ?h>(&H jWV  
    ]~4}(\u  
    A5(kOtgiT  
    ?j},O=JFn  
    说明:探测器 ?STI8AdO  
    D/ NIn=>j  
    .)oQM:F (h  
    |\yDgs%EGy  
    结果:3D光线追迹 oW\Q>c7 =  
    [U+<uZzOC  
    '6Rs0__  
    ]G$!/vXP  
    结果:场追迹矩形光栅 OV0cr  
    zmrX %!CW  
    P17]}F``  
    tPMg Z  
    结果:场追迹锯齿形光栅 G5X|JTzpu<  
    <3J=;.\6  
     
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