切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 779阅读
    • 0回复

    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    5786
    光币
    23082
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-12-24
    任务/系统描述 d+&w7/F  
    NnO%D^P]  
    7G  3e  
    L [X "N  
    亮点 l+<AM%U\ V  
    MZdj!(hO  
    BYb"[qPV  
    @e^(V$ap  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 X="]q|Z  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 v)LSH;<  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 T&]IPOH9  
    UMlvu?u2p1  
    说明:光源 lO8GnkLE  
    5O:4-} hz  
    c) _u^Dh  
    ;! #IRR  
    说明:透镜系统 9K=K,6 b  
    uUh6/=y  
    M8f[ck  
    8k?V&J `  
    说明:样品结构 Nq[-.}Z6  
    8,]wOxwqi  
    4}*V=>z  
    P B{7u  
    说明:探测器 GCp90  
    >9X+\eg-  
    ZKVM9ofXRi  
    a#+;BH 1  
    结果:3D光线追迹 .8]=yPm  
    e J:#vX86  
    DN|+d{^lN  
    Nd**":i$  
    结果:场追迹矩形光栅 ``Rg0o  
    'F7UnkKO|  
    d@{#F"o  
    ,sltB3f  
    结果:场追迹锯齿形光栅 {"\pMY'7  
    \d QRQL{LL  
     
    分享到