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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    离线infotek
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-12-24
    任务/系统描述 Zo g']=  
    T[j#M+p  
     8C67{^`::  
    nv@8tdrc  
    亮点 !*oi!ysU;O  
    v 8$>rwB  
     5 u*-L_  
    yuat" Pg  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 J2 'Nd'  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 ][?G/*k  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 +\F'iAs@  
    rEv$+pP  
    说明：光源 "4uS3h2r  
    qzf!l"bT  
    |j#C|V%kV  
    SjwyLc  
    说明：透镜系统 T>R0T{A  
    _nbBIaHN{  
    YKO){f5  
     Q\ U:~g3  
    说明：样品结构 9983aFam  
    IE9 XU9Kd  
    "a8j"lPJ  
    6^%68N1k  
    说明：探测器 DDPxmuNG  
    rdJ d#S  
    ~%SH3$  
    Z;:u'=  
    结果：3D光线追迹 e S<lwA_  
    9hOJvQ2U]  
     Z; A`oKd  
    .pN`;*7`  
    结果：场追迹矩形光栅 n~A%q,DmF  
    Axe8n1*y  
    :k.NbN$i\  
     |aT| l^2R@  
    结果：场追迹锯齿形光栅 b0Kc^uj5  
    5ZMR,SZhC  
     
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