切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 820阅读
    • 0回复

    [技术]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    5279
    光币
    20639
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-12-15
    任务/系统说明 wy0tgy(' |  
    *=]&&<  
    uE%r/:!k4$  
    "D63I|O)  
    亮点 ]s'Q_wh_-v  
    L ^q""[  
    F Sw\_[^CQ  
    piPR=B+  
     在复杂光学系统中,包含光栅(如,非常大的数值孔径(NA)) B8f8w)m  
     严格分析光栅衍射效率 Qw-~>d  
     考虑入射光的方向分布 #$18*?tLv|  
    7 n8"/0kc:  
    说明:光源 b\yXbyjZ3.  
    wSa)*]%  
    }=<  
    TW)c#P43K  
    说明:光束分束器 w_.F' E  
    &,zq%;-f  
    WI-&x '  
    * @ 3Ag(  
    说明:检测透镜系统 KN<S}3MN  
    7gf05Z'=  
    7HIeJ  
    hs^zTZ_  
    说明:微型晶片 11o.c;  
    ]^h]t~  
    3EJj9}#x"'  
    RRmz"j>  
    说明:检测物镜 gG0!C))8  
    #.rdQ,)<  
    pMw*9s X  
    A)bWcB}U  
    说明:探测器 nyQ&f'<   
    &dqLP9 5  
    uatm/o^~,  
    (SpX w,:  
    结果:3D光线追迹(只有0级) z* ^_)Z  
    z[b@ V  
    Y~c|hfL  
    e>6y%v;  
    结果:3D光线追迹(所有级) ns9U/ :L  
    kZR8a(4D  
    kVkU)hqR  
    MqW7cjg  
    结果:光线追迹 :flx6,7D  
    0(eB ZdRO  
    s^Y"'`+  
    :ci5r;^  
    结果:场追迹 NCiW^#b  
    KI)M JG:t  
    %RTBV9LIXr  
    gwLf'  
    结果:线性偏振光的场追迹 `F-/QX[:  
    J?V?R  
    9]k @Q_  
     
    分享到