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任务/系统说明 0^RXG N D~$r\ ]av  C@L$~iG _q{c##K f 亮点 P%(O|
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 viMzR(J U Ksy -e{n 在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） UmclTGn 严格分析光栅衍射效率 4*cU < 考虑入射光的方向分布 Ju
:CMkv P:aJ # 说明：光源 @qn D=mE V*iH}Y?^p  UM6(s@ $ iMP]W _ 说明：光束分束器 !Y\D?rKZ FWHNj.r  vbD{N3p)?n 0 SNIYkGE 说明：检测透镜系统 .On|uC)! -cSP _1  _Gjk;|Sx<I fI~Xmw+}} 说明：微型晶片 CCWg{*og D? 8rO"  :E@3Vl#U OI0;BB Z 说明：检测物镜 ],J EBt |Clut~G  9J>&29@us0 = <X?sj5 说明：探测器 Ffv`kn@ 6^"=dn6K  |<.lW q "<ac qK 结果：3D光线追迹（只有0级） Xp8]qH|K .D: Z{|.1  '=G|Sq^aO WeQk<y 结果：3D光线追迹（所有级） )p~BQ~eip; cnFI
&,FM  6u`)QUmItg 72Iy^Y[MX 结果：光线追迹 |*'cF-lp6v !>e5z|1
 S <WdZ=8sA krC{ ed 结果：场追迹 ~D5\O6mU- lq> +~z X{
 OZTPOz. |&[L? 结果：线性偏振光的场追迹 l-s!A(l .$%Soyr?,   )6Ny1x+
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