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摘要 UkR3}{i b'>8ZIY 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 ^c9ThV.v <2
?SY<~i<K- }\v^+scD 建模任务 }wt%1v-10U ZofHic v@ONo?) 概述 P`s(kIe .")b?#K •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 EiV=RdL •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 ]>:^d%n,} zCXqBuvu1
&B-[oqC? [h}K$q 光线追迹仿真 $CtCOwKZ PNF4>) •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 AfWl6a?T8: •单击go! Ph7pd •获得了3D光线追迹结果。 9rj('F&1 }(i(Ar-
c]Unbm^w G_oX5:J* 光线追迹仿真 FuP}Kec KvFR8s •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 }X1.Wt=? •单击go!
';l fS •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 ^JhFI* j)D-BK&+
UC9{m252 6c\DJD 场追迹仿真 {*=E?oF@ SfI*bJo>V •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 7u%a/ < •单击go! _%IqjJO{=r Fn,k!q :4;S"p wkT;a&_ 场追迹仿真(相机探测器) ?R?Grw)`H 7~.ZE •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 2,AaP*, •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 N_vXYaY *caLN,G
R`He^ &telCg: 场追迹仿真(电磁场探测器) 7z<Cu< •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 KSOO?X0j UD*+"~ k}BDA|\s :HZ;Po 场追迹仿真(电磁场探测器) +Jw{qQR/* 8IWwjyRr •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 PRpE$`WK ;:_(7|
9--dRTG <|JU(B 文件信息 ~L){O*Z F50JJZ
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