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摘要 {6A3?q ULAAY$o@5 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 {3!v<CY' *qGxQ?/
4Yx?75/ gNN{WFHQX: 建模任务 P b2exS( 7pmhH%Dn$ A=E1S{C 概述 ~x`OCii kcI3pmgj •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 2et7Vw •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。
"ifYy>d Wu9@Ecb
}"%tlU!} ;#cb%e3 光线追迹仿真 OZs^c2
W xR\$2( •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。
x.~Z9j •单击go! fD]}&xc •获得了3D光线追迹结果。 8`kK)iCq i\2~yXw\
DNC2]kS< R/xeC [r 光线追迹仿真 n<uF9N< 9}jF]P*Q •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 Y6&w0~?! •单击go! ; Sq_DP1W •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 AWc7TW :WJ[a#
seB ^o} ab: yH ') 场追迹仿真 6ix8P;;}# >7p?^*&7; •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 g%Sl+gWdJ •单击go! #\_N-bVu .B+R+2uY3 >/Gz*. y}FTLX $ 场追迹仿真(相机探测器) #Huvn4x {'NdN+_C •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 JJPU! •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 @~qlSU& 4U*J{''L
mADq_`j py6|uGN 场追迹仿真(电磁场探测器) d dkh*[ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 q~48lxDU 4siNY4i" D .oX>L#: #H fvY}[o 场追迹仿真(电磁场探测器) 3pl/kT.\ RtwlPz<~S •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 # y%Q{ <,$(,RX
N.vt5WP $e)d!m. 文件信息 6sJN@dFA
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e ^1sX22k L}T:Y). QQ:2987619807 1JMEniB+9
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