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摘要 !Fs<r)j &[N_{O| 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 ,kl``w|1M |qU~({=b
~ftR:F|9 AOz~@i^ 建模任务 Zcg-i:@ ID<[=es6 ]u:Ij|.'y0 概述 EiyHZ 90ov[|MkM •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 "{c@}~ •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 P0k.\ 8qz #F6M<V'
"I @akM$x Q!I><u 光线追迹仿真 Vl'rO_?t 9%m^^OOf •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 -U\s.FI.AR •单击go! ?u0qYep: •获得了3D光线追迹结果。
^b^buCYw PWO5R]
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光线追迹仿真 ' t^ r2N/ RcZ&/MY •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 <~u-zaN<W •单击go! +WguWLO" •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 8x 8nQ*_ Fc|N6I'o
:4LWm<P z$Qy<_l 场追迹仿真 ^+kymZ omT^jh •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 c_aj-`BKp •单击go! sHOBT,B L D%SLJ: N9u {)u ^S(QvoaQ 场追迹仿真(相机探测器) mApl;D X K?yMy,9%Yw •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 }}oIZP\qM •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 };f^*KZ=0 H8m[:K]_H
SPauno <M ?.c:k;j 场追迹仿真(电磁场探测器) /4upw`35]
•使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 cqcH1aSv ~b%dBn]n> zXkq2\GHA Ga pM~~ 场追迹仿真(电磁场探测器) g\*2w
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•使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 /PG%Y]l0b |\)Y,~;P
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Fw^^sB 文件信息 O@skd2 iEbW[sX[4
6t'.4SR qV-1aaA bzZ7L-yD QQ:2987619807 Ty*+?#`
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