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    [分享]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-06-23
    摘要 ;%r#p v~  
    l@ +]XyLj  
    高数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 #>m#i1Nu  
    i-(^t1c  
    8Y.25$  
    rBv  
    建模任务  g?qh  
    2TN+ (B#Z!  
    2k,!P6fgl  
    概述 fmDU  
    5>J{JW|  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 u:+wuyu  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 k T$yHB #  
    BJgg-z{Y  
    M<t>jM@'A#  
    nu {bEp  
    光线追迹仿真 Pdc- 3  
    w$~|/UrLf  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。  -lM4*+f  
    •单击go! S/j~1q_|G  
    •获得了3D光线追迹结果。 S0V%JY;Gv  
    =]h5RC  
    RW!D! ~  
    )NeI]p  
    光线追迹仿真 @Oe!*|?mS  
    tcYbM+4e  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 Xp <RG p7E  
    •单击go! 9/OB!<*V|  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 U[\aj;g)  
    _ukKzY  
    i 7:R4G(/#  
    g>h5NrD N  
    场追迹仿真 `A5^D  
    z= pb<Y@X  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 ar.w'z  
    •单击go! ^E&':6(  
    KDP7u  
    Ic 4>kKh  
    M IPmsEdBi  
    场追迹仿真(相机探测器) 0Y#S2ty  
    =T$-idx1l  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 S_cba(0-|\  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 AY['!&T  
    yW.s?3X  
    ^\kv> WBE  
    (KaP=t}  
    场追迹仿真(电磁场探测器) * ";A~XNx  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 D'e'xU  
    ~g$Pb[V  
    #z{9:o7[-  
    *h Ph01  
    场追迹仿真(电磁场探测器) I^'kt[P'FZ  
     ]qCAog  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 :(EU\yCzK  
    kQXtO)  
    rt] @Z`w  
    7-81,ADv(  
    文件信息 kKnz F  
    k WYjqv  
    >IO}}USm  
    9,y*kC  
    F,^Q'$ !  
    QQ:2987619807 H XF5fs  
     
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