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摘要 u{*SX k [3@):8
高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 $ mI0Bk }oNhl^JC
yfm^?G|sW $5*WLG&AK 建模任务 a|?4) {>F7CT'G6 M{*Lp6h 概述 uh?>-
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4 •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 [AW"
D3 •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 FD8N"p -k"^o!p
IhA* " vo#UtN:q 光线追迹仿真 V?=8".GiX DuOG { •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 %Jrt4sg[j- •单击go! @0SC"CqM •获得了3D光线追迹结果。 TqddOp 19j+lCSvH
:Cp'm'omb ?'<nx{!c 光线追迹仿真 jb^N|zb \xS&v7b •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 GPGm]G t •单击go! FG)$y[* •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 ANps1w#TP n2fbp\ I
/\WQxe 2!$gyu6bpG 场追迹仿真 `^4vT3e FGh]S-A •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 %,k][V •单击go! XGkkB T"0,r$3: j<)9dEM' |e2be1LD 场追迹仿真(相机探测器) y})70w@+_ (bh95X •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 4`8< •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 npNB{J[ 6A=8+R'`F
4M^G`WA}t9 HVC>9_:] 场追迹仿真(电磁场探测器) (1NA •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 44F`$.v96 b&5lY p"d hjQ~uqbg ;j)FnY=: - 场追迹仿真(电磁场探测器) ._+J_ts Y]3>7q% •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 {4-[r#R<M b@2J]Ay E*
A4]s~Ur w&x!,yd; 文件信息 Iy6$7~ >~Qr
RJ$7XCY%`* fa<v0vb+ PtTH PAKj QQ:2987619807 E]6z8juO6
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