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    [分享]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-06-23
    摘要 %;-r->  
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    高数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 p/4}SU  
    O@7={)6qc  
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    建模任务 &l;wb.%ijW  
    ~H\1dCW  
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    概述 {Ip)%uR  
    G}N T[  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 } :9UI  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 88~ lP7J  
    wU(N<9  
    &?(472<f**  
    5lYzgt-oP  
    光线追迹仿真 geJO#;  
    N3SB-E+  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 ^ygh[.e,  
    •单击go! gVU&Yl~/^  
    •获得了3D光线追迹结果。 wpS $ -  
    )sBbmct_S  
    ^h~oxZJw  
    0OF]|hH  
    光线追迹仿真 eczS(KoL4  
    W;y ,Xs  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 MB3 0.V/\  
    •单击go! b _%W*Q  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 J]mq|vE  
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    场追迹仿真 $,DX^I%!  
    6,:`esl  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 ~RIn7/A  
    •单击go! ns;nle|m  
    C Y K W4  
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    @ 9q/jv`  
    场追迹仿真(相机探测器) Tj_~BT  
    M-+pYv#&P  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 O({vHqN>  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 x39n7+j4  
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    u[yUUYe  
    _?J:Z*z?  
    场追迹仿真(电磁场探测器) 6z>Zm1h  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 w 7Y>B`wm?  
    Tt*n.HA  
    /m+q!yi &  
    o])2_e5  
    场追迹仿真(电磁场探测器) 7\p<k/TS  
    N,Ys}qP  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 7.DAwx.HYK  
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    文件信息 p@x1B &Z  
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    QQ:2987619807 EPMdR66  
     
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