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摘要 {=F/C,- J/[=p<I) 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 Jo@|"cE= @te!Jgu{
~ xft Z yE `/J' 建模任务 :9^;Qv* gqu?o&>9 PfC!lI
BU 概述 vTlwRG=5 !V
i@1E •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 Si6al78 •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 .HkL2m _nbBIaHN{
YKO){f5 fjs
[f'L 光线追迹仿真 =8; {\ o1FF"tLkN •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 ?kB2iU_f+ •单击go! b\-&sM(W" •获得了3D光线追迹结果。 wnM9('\ DDPxmuNG
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qi?w= 光线追迹仿真 Z;:u'= d5D$&5Ec •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 YN!>} •单击go! ^(|vsFzn •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 2\7`/,U6 .zn;:M#T
]cGA~d z#]Jv!~EPE 场追迹仿真 (&+kl q
?sMP~RHQ •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 rz@=pR : •单击go! b+f'[; ,]+z)
Y0_),OaY ++V=s\d7 场追迹仿真(相机探测器) i1>-QDYnJ q^r#F#*1l •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 Y@b.sMg{ •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 :&:JTa1cv mw='dFt
:j]vf8ec &<UMBAS 场追迹仿真(电磁场探测器) lsy?Ac •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 :1iqT)&|8F /Rg*~Ers
* 76Vl6cPu> +=.W<b 场追迹仿真(电磁场探测器) m<0&~rg FvJd8kV •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 w0C~*fn3l @O[}QB?/fi
ho0@ l %5A+V0D0' 文件信息 sfOHarww Oh'Y0_oB>
\o/n I+dbZBX ;~\MZYs3m QQ:2987619807 qt;y2gf=
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