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摘要 [E9V#J89 Gm,vLs9H$T 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 ^*CvKCS /RVy?)hVT#
Yt]tRqrh;T 3V)ef$Y0 建模任务 ~SI`%^L r57&F`{ PI
KQ}aq= 概述 !Zowe*` m:kXr^!D •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 M^q< qS>d •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 !+sC'/ G`n|fuv
#[|~m;K(w )7$1Da|. 光线追迹仿真 p~Tp=d)/ 7_OC&hhL •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 Gv
'; •单击go! 6`KR •获得了3D光线追迹结果。 UL9]LEGG
Rm@#GP`
[v@3|@ ]><K8N3Z 光线追迹仿真 C`G+b{o r7Vt,{4/ •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 `SFA`B)[5@ •单击go! 'eyzH[l,( •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 vY 0EffZ #&V7CYJ
OQlmzg 7a$K@iWU 场追迹仿真 D4@).% YmrrZ&]q •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 v|!u]!JM •单击go! xq6
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9 :G.u{cw b 7XTOB_HO / @v V^!#1 场追迹仿真(相机探测器) f ZEyXb 0+-"9pED>E •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 y4\(ynk •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 ,/fB~On- Yfbo=yk
a+HGlj 2> Y ~TR`y
场追迹仿真(电磁场探测器) {yo{@pdX> •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 yH=Hrz:<eM ]_"c_QG %bN+Y' O]-)?y/ 场追迹仿真(电磁场探测器) c-GS:'J{ Abw=x4d(i •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 l|kGp~ 8+*
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-dto46X c-jE1y< 文件信息 MG}rvzn@ jv;8Mm
{6I)6}w!k q1a*6*YB ?&`PN<~2z QQ:2987619807 <r>1W~bp.q
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