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    [分享]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-06-23
    摘要 {= F /C,-  
    J/[=p<I)  
    高数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 Jo@|"cE=  
    @te!Jgu{  
    ~ xft  
    Z yE `/J'  
    建模任务 :9^;Qv*  
    gqu?o&>9  
    PfC!lI BU  
    概述 vTlwRG=5  
    !V i@1E  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 Si6al78  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 .HkL2m  
    _nbBIaHN{  
    YKO){f5  
    fjs [f'L  
    光线追迹仿真 =8; {\  
    o1FF"tLkN  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 ?kB2iU_f+  
    •单击go! b\-&sM(W"  
    •获得了3D光线追迹结果。 wnM9('\  
    DDPxmuNG  
    rdJ d#S  
    5[* qi?w=  
    光线追迹仿真 Z;:u'=  
    d5D$&5Ec  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 YN!>}  
    •单击go! ^(|vsFzn  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 2\7`/,U6  
    .zn;:M#T  
    ]cGA~d  
    z#]Jv!~EPE  
    场追迹仿真 (&+kl q  
    ?sMP~RHQ  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 rz@=pR :  
    •单击go! b+f'[;  
    , ]+z)   
    Y0_),OaY  
    ++V=s\d7  
    场追迹仿真(相机探测器) i1>- QDYnJ  
    q^r#F#*1l  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 Y@b.sMg{  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 :&:JTa1cv  
    mw='dFt  
    :j]vf8ec  
    &<UMBAS  
    场追迹仿真(电磁场探测器) lsy?Ac  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 :1iqT)&|8F  
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    76Vl6cPu>  
    +=.W<b  
    场追迹仿真(电磁场探测器) m<0&~rg   
    Fv Jd8kV  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 w0C~*fn3l  
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    文件信息 sfOHarww  
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    QQ:2987619807 qt;y2gf=  
     
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