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摘要 Hn)^C{RN*{ bb/A}<
zD 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 J(,gLl ^?0WE
[9CBTSr viS7+E|O 建模任务 3XjY Vc|QW F+Hmp\rM# 概述 ug`Jn&x! ~|wh/]{b9 •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 .a]av •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 Bb5RZ#oa JHVesX
HFj@NRE6 &ujq6~# 光线追迹仿真 60p*4>^v Q@l.p-:^U •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 LCpS}L; •单击go! XlxB% •获得了3D光线追迹结果。 @F5QgO J&r c$%I^f}'
Wf$P+i* H]f8W]"c[ 光线追迹仿真 euh rEjwkH `~W ?a •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 ^w}BXVn •单击go! Ria*+.k@"B •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 a*@4W3;7 8nRxx`U\q
y"0!7^ +@C|u' 场追迹仿真
A,|lDsvM $k3l[@;hE •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 RZKczZGZg •单击go! ^pa -2Ao6 v/7iu*u 7;:Uv= _/[(&}M 场追迹仿真(相机探测器) )VR/a h)C`w'L •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 %MUwd@,
•下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 Jro%zZle wn{DY
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}#f~"-O .3T#:Hl 场追迹仿真(电磁场探测器) M)CE%/P •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 Kkds^v6 !"x&tF GSu&Z |