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摘要 ~$jRn(2 9U4 D$M 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 ,v#O{ma 0t(2^*I?>
D%*Ryg u\q(v D. 建模任务 3jx /1VV TZ#^AV=ae >+9:31p
概述 pCC3r t( qs>&Xn •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 8gxo{<,9 •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 6&;h+;h V<ii
_%wB*u,X U'LPaf$O 光线追迹仿真 jx#9
}z F,dst •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 b#(X+I •单击go! D]twid~OS •获得了3D光线追迹结果。 &EhOSu {8"Uxj_6V
"$.B@[iY@ CI1K:K AM 光线追迹仿真 pv,z$3Q 3Mq%3jX •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 Zg9VkL6Z6 •单击go! +`7!4gxwK! •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 A_Y5{6@ quS]26wQz
vDIsawbHD 84<zTmm 场追迹仿真 *z^Au7,& jN!VrRA •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 L;=3n[^x •单击go! ?-'GbOr! nG%<n SB`xr!~A] p_i',5H( 场追迹仿真(相机探测器) gnadx52FP ?u5jXJ0L •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 )"J1ET,z •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 ?e\u_3-9 kDG?/j90D
VAp 1{ uANpqT}! 场追迹仿真(电磁场探测器) qIxe)+. •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 oA8A
@,-L -EE}HUP) b3ys"Vyn Js(MzL 场追迹仿真(电磁场探测器) U ]7;K>.T Z=
=c3~ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 iO"ZtkeNr !+DhH2;)F
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8px 文件信息 eH~T PH $h[Q}uW
\0Ba? S263h(H ,BR W= QQ:2987619807 `~D{]'j
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