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摘要 z.!N|"4yr `X}:(O^GO 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 L"NHr~ <"J]u@|
:t{~Mi=T [YfoQ1 建模任务 w{6C4~0 67YC;J]n=z ksOGCd^G7 概述 Y8\P"qb 4
"HX1qP •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 @)?]u
U"L •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 {K]5[bMT NEIkG>\7q
>sfg`4 &$F<]]& 光线追迹仿真 FM >ae-L- r8J 7zTD& •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 LdV&G/G-#D •单击go! yZ|"qP1 •获得了3D光线追迹结果。 T)rE#"_]{ $/++afim
DAB9-[y+ s9;6&{@%wO 光线追迹仿真 En?V\|, !Qe;oMqy} •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 l%0bF9\ •单击go! ff\~`n~WZ •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 t'rN7.d d,b4q&^X8
RZm%4_p4s ,Of^xER` 场追迹仿真 G@[8P?M=Z 6Dlm.~G •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 f"QiVJq •单击go! qN)y-N.LI( IOcQI:4.` d(T4Kd$r %9J@##+ 场追迹仿真(相机探测器) BBB@M $J`O-"M
•上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 MzJCiX^ •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 G*fo9eu5$ GM%+yS}(P
hmO2s/~ mgq!) 场追迹仿真(电磁场探测器) }}AIpYp,P •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 /BL:"t@- k$w~JO!s .Pc>1#z&[ <v_=k],W 场追迹仿真(电磁场探测器) 2$JGhgDI ;b$P*dSG} •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 ,ks2&e 1 em,/>"
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gZ3M] 文件信息 Z2% HQL2 Rh!UbEPjC
2ym(fk.6{ rFRcK>X\L M!UTqf7XL QQ:2987619807 mmAm@/
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