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摘要 G`n
$A/9Q nyi!D 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 'o}[9ZBjn [HYr |T
1Zn8CmE V YyxU/UnhG 建模任务 {rR(K"M u*Xp%vNe $4xSI"+M% 概述 Bz_'>6w vb]kh_ •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 ="YGR: •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 0)Ephsw MBg[hu%
:1UMA@HP ecs 0iW-, 光线追迹仿真 )pHlWi|h z5$Q"Y.D •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 kd^H}k •单击go! o:Kw<z,$H •获得了3D光线追迹结果。 U&WEe`XM Kb(11$U
/_l\7MeI =J]WVA,GqA 光线追迹仿真 c$ZVvu 1`7zYW&L •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 wUCxa>h' •单击go! K#Ck,Y" •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 @5nFa~*K% jj[6 oNKE1
`?Q
p>t d:';s~ 场追迹仿真 r+Ki`HD% `RnWh9 •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 /jGBQ-X •单击go! swF{}S" 0h@FHw2d V,_m>$Mo tsc`u> 场追迹仿真(相机探测器) }aRib{L VQla.Y •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 EpAgKzVpJ •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 Vbl-Ff 12n:)yQy
u)0I$Tc" N;|^C{uz 场追迹仿真(电磁场探测器) vt#;j;liG •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 E7A!,A&> |[>@Kk4 k|)fl l z lr! 场追迹仿真(电磁场探测器) *XTd9E^tXq 0y9 b0G •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 p +i1sY &|>~7(
5^ Qa8yA>7 rz "$zc.) 文件信息 >Wr%usNxc /IpCo
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