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摘要 c`>\R<Z ] }iC~B} 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 Y!`?q8z$G W@G[ gS\T
6M6QMg^ ^Y&Cm.w 建模任务 0L1P'*LRU NqWHR~& pFK
|4u 概述 Z 0:2x(x9 8x{vgx @M •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 l=oVC6C •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 EK'&S=] e%P;Jj476
7mjj% ~L1O\V
i 光线追迹仿真 lVFX@I =pI y((_V%F} •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 AWi87q •单击go! (HF,p,h_ •获得了3D光线追迹结果。 4"2/"D0 Lr^xp,_ n
EzyIsp> _
@b/2' 光线追迹仿真 DG-vTr CvW((<? •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 (w-u"1& •单击go! pxbNeqK@p •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 lEDHx[q oL@ou{iQ
F:g{rm[ zJ:r0Bt 场追迹仿真 ob7_dWAG VqrMi *W6 •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 ^;3rdBprm •单击go! c 2@@Rd~M OW}A48X[+ +m.8*^ $iPN5@F 场追迹仿真(相机探测器) tb{{oxa,k Fdw[CYHz •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 FNM"!z •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 =Q}mJs Sg$\ab $
0%F.]+6[O4 E,fp=. 场追迹仿真(电磁场探测器) 6y_Z'@L •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 hyKg=Foq QL2y,?Mz7 orHD3T%& Y/66`&,{ 场追迹仿真(电磁场探测器) cv4M[]U~ \Ji2uGT •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 ;8T=uCi I
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\#jDQ HdUW(FZ 文件信息 cmU+VZ#pk CD1=2
O`jA-t T:">,*| UMwMXmZNJ QQ:2987619807 [Be53U{=
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