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摘要 S<oQ}+4[~ b=LF%P 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 h([0,:\ :C%47qv
I'IB_YRL4 ?0J0Ij, 建模任务 0j@Ix EPs T-P@u-DU Z=9dMND 概述 i$O#%12l <xF?~7 •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 M {x ie •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 t<lyg0f wo(j}O-
G%OpO.Wf /=M.-MU2 光线追迹仿真 4A~)b"j5 \Da~p9T& •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 ` u=<c •单击go! %HEmi; •获得了3D光线追迹结果。 ? ).(fP nHU3%%%cU
z(UX't (q :yD@5) 光线追迹仿真 A_Gp&acs$ 1UyH0`& •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 y''V"Be •单击go! jr1Se9u D •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 AIfk"2 nO
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=sa yP t^$Div_%G 场追迹仿真 rxkBg0Z`a Na;t#, •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 =+Tsknq •单击go! Ja=N@&Z# :wCC^Y] ]}_,U!`8 =0Y'f](2eW 场追迹仿真(相机探测器) zf")|9j .Bijc G •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 1
'%-y •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 A'v[SUW'm 5oa]dco
Z{16S=0 %>]#vQ| 场追迹仿真(电磁场探测器) <on)"{W13 •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 :\T_'Shq %w%zv2d Es,0'\m& rN'k4V"K 场追迹仿真(电磁场探测器) gU*I;s> .=aMjrME •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 6!o/~I# :if5z2PE/
^)'||Ly kjfxjAS=m 文件信息 L/%xbm~ 1r&AB!Z #
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