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摘要 ;%r#pv~ l@ +]XyLj 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 #>m#i1Nu i-(^t1c
8Y.25$ r Bv 建模任务 g?qh 2TN+ (B#Z! 2k,!P6fgl 概述 fmDU 5>J{JW| •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 u:+wuyu •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 k T$yHB # BJgg-z{Y
M<t>jM@'A# nu{bEp 光线追迹仿真 Pdc- 3 w$~|/UrLf •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 -lM4 *+f •单击go! S/j~1q_|G •获得了3D光线追迹结果。 S0V%JY;Gv =]h 5RC
RW!D!~ )NeI]p 光线追迹仿真 @Oe!*|?mS tcYbM+4e •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 Xp<RGp7E •单击go! 9/OB!<*V| •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 U[\aj;g) _ukKzY
i7:R4G(/# g>h5NrDN 场追迹仿真 `A5^D z= pb<Y@X •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 ar.w'z •单击go! ^E&':6( KDP7u Ic4>kKh MIPmsEdBi 场追迹仿真(相机探测器) 0Y#S2ty =T$-idx1l •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 S_cba(0-|\ •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 AY['!&T yW.s?3X
^\kv>WBE (KaP=t} 场追迹仿真(电磁场探测器) *
";A~XNx •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 D'e'xU ~ g$Pb[V #z{9:o7[- *h Ph01 场追迹仿真(电磁场探测器) I^'kt[P'FZ ]qCAog •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 :(EU\yCzK kQXtO)
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