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摘要 HVC\(h,)i M]6=Rxq1:E 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 87*R#(( Tp9LBF
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{A]('t AKS(WNGEp 建模任务 (V
|P6C 6/GhQ/T%D 8x+K4B"oe 概述 o XGf#>keg 6z/8nf +u •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 ~>C!l k •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 #M_QSD}& oiklRf
^tpy8TQ bjR&bIA: 光线追迹仿真 -,Q<*)q{ I{M2nQi •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 F9d][ P@@ •单击go! $i =-A •获得了3D光线追迹结果。 E
fqa*,k D-[0^
d` ^@/1tO 0wOgQ n 光线追迹仿真 hR. EZ|. L:'Y#VI{ •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 AjZT- Q0L •单击go! |Q7Ch]G •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 Z-:$)0f ~L?p/3m
L*FnFRhU (L~3nN;rr 场追迹仿真 \Ud2]^D= y_J{+ •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 Jq.26I= •单击go! S:DB%V3 dAga(<K N["(ZSS =lVfrna 场追迹仿真(相机探测器) m@jOIt!< y*zZ }> •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 b5yb~;0 •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 q.MM|;_u` !lHsJ)t
9WBDSx_(Q `5x,N%9{ 场追迹仿真(电磁场探测器) dLjT^ 9 •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 !WDdq_n*v c5Offnq'1 K5k,47" B{zIW'Ld 场追迹仿真(电磁场探测器) Q>||HtF$A c-gaK\u}j} •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 Wlt shZo 9#_49euy|P
\)r#?qn4z; L9G=+T9 文件信息 Xf#uK\f .%D] z{''
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