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摘要 ?v^NimcZ <q63?Ms' 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 `_/bg(E NuZ2,<~9
W>3S%2d LV}R 9f 建模任务 U`v2Yw3E -wU]L5uP ,dC.|P' ` 概述 W(q3m;n 17hoX4T •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 H'AN osv •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 j~v`q5X d/_D|ivZ=
\ `Hp/D1 c4z&HQd 光线追迹仿真 RZ6y5 *g5bdQ:Av~ •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 hHJiGVJ=V •单击go! 1>(EvY}Y\ •获得了3D光线追迹结果。 U>tR :) #X Q/y} (
%.Y5%TyP IQ&PPC 光线追迹仿真 aH}/+Hu- bBIh}aDN •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 0ix(1`Z •单击go! *aErwGLB8 •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 e=;A3S 1UP
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U HT<p=o'$Z 场追迹仿真 n#!c!EfG ; Y/nS •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 }rQ Qe:{]B •单击go! Jg#0g
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fHiL%]z sL@\,]Y 3IxC@QR 场追迹仿真(相机探测器) \,S|>CPQ ~n=DI/AJ@- •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 a1pp=3Pd?~ •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 M?l v bPVk5G*ruP
~'M<S=W aRTy=~ 场追迹仿真(电磁场探测器) v_KO xV:<` •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 gC}}8( k $RDlM X}( s(6 >0HH#JW 场追迹仿真(电磁场探测器) /&Q{B f ]SJ#:7 •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 y[N0P0r l: Gz&} OO
y:)^*2GA-B !!\}-r^y% 文件信息 ]i
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