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摘要 u"VS* hSH Mn^zYW|( 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 1IA5.@G: d;suACW
ij)Cm]4(2 +$beo2x6 建模任务 r:.uBc&_ ?s{C// 99ASIC! 概述 D,W\ gP/h% mb\t/p •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 $-pbw@7 •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 0g(6r-2)7 =&NOHT>
H*U` [QEwK|!L 光线追迹仿真 d?Y-;-|8Qh Sni=gZ K •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 B\<ydN •单击go! 6Dzs? P •获得了3D光线追迹结果。 m4**>!I LcUlc)YH5
{OxWcK\2@h _`aR_%Gx 光线追迹仿真 X5E
'*W (:} <xxl •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 Va9q`XbyO •单击go! #MM&BC •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 ,t~sV@ap lBiovT
cF.mb*$K 8W{~wg` 场追迹仿真 %h* 5xB]Tt EzP#Mnz^ •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 NNX%Bq •单击go! ER<eX4oU 5#u.pu o>u!CL< 9.8,q 场追迹仿真(相机探测器) ZlM_m
>,o 2v^lD(' •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 Jr?!Mh- •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 )5i*/I\ ?'+8[OHiF^
#:W%,$9\P x(6vh2#vD 场追迹仿真(电磁场探测器) /+P5)q
TKL •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 :@e\'~7sH q%.bnF/Yd 8nu> gA |uQ[W17^N 场追迹仿真(电磁场探测器) ]PVto\B= @U7Dunu*f •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 syMm`/*/G- }bgo )<i
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*s`H >Fh#DmQ 文件信息 &<{}8/x8( =+(Q.LmhC
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