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摘要 vi|Zit N9`97;.X 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 PpFsp( )x afUTAP@
Rcf=J){D6 M=[th 建模任务 b{pg!/N4 [gZDQcU *B{-uc3o 概述 L|J~9FM `xIh\q •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 MD4\QNUa)* •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 @\PpA9ebg% !tBeuemN%
4>k
I^ 2d~LNy 光线追迹仿真 bKUyBk,\# )&z4_l8`= •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 N7pt:G2~% •单击go! d$[8w/5Of •获得了3D光线追迹结果。 =ybGb7? w[sR7T9*
Fr;lG _:%U_U 光线追迹仿真 [-58Ezyr `:4MMr9 1 •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 +5-fk>o •单击go! Ut_mrb+W •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 6(.H3bu }{mG/(LX8
7}o6_i !qw4mN 场追迹仿真 !7c'<[+Hm Fx5ZwT
t •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 Z(UD9wY5m •单击go! A$<>JVv i6PE6>
1/ @G(xaU'u \k4pK &b 场追迹仿真(相机探测器) @'HT;Q!\Vd Q"'V9m7
i •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 *]2R.u •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 iokPmV 9`INC~h
n.Vtc-yZU a[ i>;0 场追迹仿真(电磁场探测器) SUc6/'Rdr •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 n$
dw<y doH2R@ 8nsZ+,@+[ phS>T 场追迹仿真(电磁场探测器) @?d?e+B ngLJ@TP- •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 4Cd#sQ |!xpYT:
8T7f[? zLK\I~rU! 文件信息 `VXZ khm Of#K:`1@
6qDfcs _k|g@" Efvq?cG& QQ:2987619807 hb<k]-'!
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