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摘要 J/]o WC`u ^:cb
$9F 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 7}#*3*] H)j[eZP
,Ou1!`6?t U+9-li 建模任务 [$1: &!(! [U%ym{be^ r3[t<xlFf 概述 =qV4Sje|q aeuf, # •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 PuCwdTan_ •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 [Hv*\rb I8<Il^
KlVi4.] ~{1/* &P 光线追迹仿真 C}(<PNT 8m/FKO (r •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 <K DH •单击go! ,<0Rf •获得了3D光线追迹结果。 w&wA >q>& gtaV6sD
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TZ&4 光线追迹仿真 [|:QE~U@ ;xW8Z<\- •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 !F0rd9 •单击go! PZ •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 0v_6cYA *1|YLy
":UWowJO msA' 5> 场追迹仿真 Ax5mP8S 3iu!6lC •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 G*P[z'K= •单击go! KXoL,)Hl L?=#*4t ^3Z7dIUww 7af?E)}v 场追迹仿真(相机探测器) eW\?eq+ `A JYZ2k=zh •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 88 Fb1!a5Z •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 -:)DX++ J-t=1
wb(*7 &eP: A|p@\3P*A 场追迹仿真(电磁场探测器) (
GFgt_ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 c8^+^.=pX &ui:DZAxj| Zw;$(=" |Hx%f 场追迹仿真(电磁场探测器) kJ%{ [1fr /[\6oa •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 33=Mm/<m$P ~mN g[]
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