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摘要 X=-gAutfE= &*LA_]1@ 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。
)@sJTAK w50.gr7
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kTD}" %2 Ki&WS<,0Z 建模任务 sj?`7kg u-]vK $l0eI 概述 ym-lT|>Z mdmZ1:PBM •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 rQ9?N^&!% •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 (xjoRbU* .Bm ^3A
q!ulE{ ^ U4
go8 光线追迹仿真 ^!-E`<jW8 )Gu0i7iN •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 Rh05W_?Js •单击go! n0>5'm%ES •获得了3D光线追迹结果。 Q6e'0EIKC N{0+C?{_
ZEXj|wC J7 Oa})-+' 光线追迹仿真 '=Ip5A{S / c,{& •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 bahc{ZC2 •单击go! J, (U<%n •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 0%q{UW2 )- Wn'C'Z
xIq"[?m n9mM5H47 场追迹仿真 BIHHRCe:@n %nG~u,_2f •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 WsK"^"Z •单击go! P^uP$D "`8H:y )f:!#v(K 6cgpg+-a 场追迹仿真(相机探测器) `gBXeG2fn %Hl:nT2M •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 D!OG307P •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 !)l%EJngL t2!$IHE:
m,"cbJ
/ o q'J*6r 场追迹仿真(电磁场探测器) b'Piymx •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 leX7(Y;!a7 ~8n~4 (d GM;Dq8 zwniS6R1 场追迹仿真(电磁场探测器) CoKj'jA X<@y*?D9D •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 sWpRX2{5, PL$(/Z
VK@i#/jm `hQ!*f6 文件信息 %+j]vP ;?Y`e
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