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摘要 ^F?&|clM/ 85EQ5yY 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 OD']: 3@5=+z~CW
PoEqurH0 n wI!O 建模任务 %| G"-%_E Kwc6mlw~M XqM3<~$ 概述 =^H4 Yck/5 fgihy •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 cRX~z •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 5[j`6l -
0?^#G}3}
d #jK=:eK 3\T2?w9u( 光线追迹仿真 7d92Pe ''\;z<v •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 Ltjbxw"Qd •单击go! NEa>\K<\ •获得了3D光线追迹结果。 (C]o,7cYS i#%aTRKHd6
A(]H{>PMy ~b{Gz6u> 光线追迹仿真 s,a}?W Be+0NXLVy •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 OFje+S •单击go! }w4QP+ x •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 V.wqZ {G 5BBD.!
?f/n0U4w =_YG#yS 场追迹仿真 t4?DpE +2 Af&~T •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 /c):}PJ^#7 •单击go! R *F l8
XD"_Iq! 9W5onn o:V|:*1Q 场追迹仿真(相机探测器) |p$spQ 43V}#DA@ •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 mDZ*E !B •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 ax
41N25 !nAX$i~
{}:ToIp 'U'yC2BI n 场追迹仿真(电磁场探测器) }^B6yWUN •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 OT&k.!= F: mq'<Q Rb3V^;i )?wJF<[_# 场追迹仿真(电磁场探测器) N>>uCkC O#Wh
TDF" •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 &>H!}"Yk )Wb0u0)_
aM4k *|H? r_;9'#&' 文件信息 ^U]UqX` " LJq%E
fU!<HDh VE8;sGaJ "W(Q%1!Wi QQ:2987619807 ;qBu4'C)T
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