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摘要 )BRKZQN ca+[0w@S 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 b!M"VDjQ ~c6}
`a9L%z *Q1~S]g 建模任务 #-h\. #s :d ~|jS D %JlbH8 概述 G7D2{J{1 28
3H •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 eI@
q|"U •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 u ElAnrm F{ELSKcp.
<8,cuX\ @)K%2Y` 光线追迹仿真 Z}-Vf$O~ @^uH`mc •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 }. z&P' •单击go! KoS*0U<g6 •获得了3D光线追迹结果。 bGorH=pb5R 7 w3CXY
GtwT `c'W-O/ 光线追迹仿真 X6^},C'E.: ]D,MiDph •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 GIAc?;zY •单击go! \%p34K\ •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 Zy_V9j[n }6 K^`!
not YeY7wR [xKd7"d/n 场追迹仿真 2}W0
F2* n#=o?!_4 •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。
GLGz2 ,# •单击go! D0BI5q Iuh/I +[7 Y F*OU"2U Reu*Pe 场追迹仿真(相机探测器) }cN@[3v )$,"u4 •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 ]G2uk` •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 %sRUh0AL t>H`X~SR?
07hF2[i ;m2<eS`o' 场追迹仿真(电磁场探测器) YX*Qd$chZ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 EKp@9\XBC ooV*I|wcI
y7^{yS[, sUYxT>R 场追迹仿真(电磁场探测器) 6eokCc"o uWrQ&}@ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 D0N9Ksq K x~|jq
Ig5L$bAM~ n k2om$nN 文件信息 5cWw7V<m xB !6_VlB
b9XW9O`B Ks\ NE=;5 7G)H.L)$m" QQ:2987619807 z(\4M==2O
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