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    [分享]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-06-23
    摘要 J/]o WC`u  
    ^:cb $9F  
    高数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 7}#*3*]  
    H)j [eZP  
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    U+9- li  
    建模任务 [$1: &!(!  
    [U%ym{be ^  
    r3[t<xlFf  
    概述 =qV4Sje|q  
    aeuf, #  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 PuCwdTan_  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 [Hv*\rb  
    I8<Il ^  
    KlVi4.]  
    ~{1/*&P  
    光线追迹仿真 C}(<PNT  
    8m/FKO (r  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 <K DH  
    •单击go! ,<0Rf  
    •获得了3D光线追迹结果。 w&wA >q>&  
    gtaV6sD  
    bxd3  
    TZ&4  
    光线追迹仿真 [|:QE~U@  
    ;xW8Z<\-  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 ! F0rd9  
    •单击go! PZ  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 0v_6cYA  
    * 1 |YLy  
    ":UWowJO  
    msA' 5>  
    场追迹仿真 Ax5mP8S  
    3iu!6lC  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 G*P[z'K=  
    •单击go! KXoL,)Hl  
    L?=#*4t  
    ^3Z7dIUww  
    7af?E)}v  
    场追迹仿真(相机探测器) eW\?eq+ `A  
    JYZ2k=zh  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 88Fb1!a5Z  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 -:)DX++  
    J- t=1  
    wb(*7 &eP:  
    A|p@\3 P*A  
    场追迹仿真(电磁场探测器) ( GFgt_  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 c8^+^.=pX  
    &ui:DZAxj|  
    Zw;$(="  
    |Hx%f  
    场追迹仿真(电磁场探测器) kJ%{ [1fr  
    /[\6oa  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 33=Mm/<m$P  
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    文件信息 (\Rwf}gyR  
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    fC=fJZU7$  
    QQ:2987619807 E)KB@f<g*  
     
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