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摘要 Ad^dF'SN 92s4u3L; 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 *@CVYJ'< !&qx7eOSpP
+d.u##$ 3(aRs?/O 建模任务 2TE\4j G!nl'5|y [SK2 x4 概述 1aBD^^Y 5BrU'NF •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 )>ug{M%g •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 7F,07\c izXbp02
rH[5~U r;c' NqP 光线追迹仿真 bjuYA/w< u
wH)$Pl •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 s4x'f$r •单击go! YI L'YNH •获得了3D光线追迹结果。 -kWO2 uCY(:;[<
~C%2t{" PthIdaN@ 光线追迹仿真 y2oB]^z&n Su$18a"Bc •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 0eQ~#~j& •单击go! x eJ9H~^ •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 b\kN_ eV"d v*R
=6.8bZT\ b{Z^)u2X 场追迹仿真 1_N~1Ik kA?X^nj@ •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 WAtg •单击go! Q2JdO 6[96 jjJc1 p0 $ \? N<W j)g_*\tQ 场追迹仿真(相机探测器) C!oS=qK?] it(LphB8 •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 ^</65+OT+ •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 Nr>c'TH *LY~l
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h$E\2lsE 场追迹仿真(电磁场探测器) )B-MPuB •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 FZ[@])B jA20c(O xI=}z s`$NW^'] 场追迹仿真(电磁场探测器) <dju6k7uz 6Cz7A •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 BSx j~pun KzEuPJ?
<'PR;g^# Tns?mQ 文件信息 zvek2\*rO -ET*M<
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