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摘要 z|b4w7I pb{P[-f 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 ldX]A#d. t'Q48QAb?
+u=xBhZ r\3In-(AT 建模任务 WJ.PPq>]F /BIPLDN6 y~luuV;uj 概述 ADBw" ? > gN]`$==c[ •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 .M!
(|KE4 •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 DSjo%Brd- lpp'.HTP
kv5Qxj} Ti)n(G9$ 光线追迹仿真 XW#4C*5?d e+6~JbMV •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 gEe}xI •单击go! p~mB;pZ%; •获得了3D光线追迹结果。 gvU6p[ D V+Tj[:ok
*"4<&F
S q@!:<Ra,){ 光线追迹仿真 =[k9{cVW =az$WRV+7! •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 SA&wW\Ym] •单击go! Sph+kiy| •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 e!-'O0-Kw ;,A\bmC
sS|zz,y };+s0:H 场追迹仿真 @!MbPS f@}( <# •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 zV&3l9?U •单击go! t!=S[ g&bO8vR= Qpc{7#bp 0PfFli`2; 场追迹仿真(相机探测器) }F.1j!71L +\ySx^vi •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 >r*Zm2($MR •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 `Q8 D[
@3@%9E
&qU[wn:1 B%pvk.` 场追迹仿真(电磁场探测器) |}}]&:w2 •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 Gt%kok Kaa*;T![ @$*c0.
|z 4(&'V+o 场追迹仿真(电磁场探测器) M,@SUu v" !eq]V9 •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 JU@$( 8j$q%g
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5lg&oO cm3Y!p{p" 文件信息 [Ok8l=' $>UzXhf}\
(wfg84 [GuDMl3hC ?MYD}`Cv QQ:2987619807 >guQY I@4,
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