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    [分享]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-06-23
    摘要 MQv2C@K9F  
    8[|RsM   
    高数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 Q'~2,%3<  
    6(`Bl$M9  
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    建模任务 Z+< zKn}  
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    <d\Lvo[  
    概述 9aE!! (E  
    ^=nJ,-(h_  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 6-@ X  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 ;{e;6Hq  
    , LP |M:  
    5Y\wXqlY  
    9*+%Qt,{B  
    光线追迹仿真 :Q\{LBc  
    $Y!$I.+  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 CmNd0S4v  
    •单击go! 8yH*  
    •获得了3D光线追迹结果。 vElVw. P  
    0!c^pOq6  
    6Y|jK< n?H  
    Qifjv0&;u  
    光线追迹仿真 *jps}uk<  
    < xm>_~,w  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 =?} t7}#  
    •单击go! $~|#Rz%v  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。  lqO"  
    3@r_t|j  
    CV~\xYY  
    0{/P1  
    场追迹仿真 l;I)$=={=  
    U`D.cEMfH  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 7[wHNJ7)r  
    •单击go! )19As8rL/o  
    a$7}_kb  
    vpy_piG|  
    HeagT(rN'  
    场追迹仿真(相机探测器) f#RI&I\  
    Xj/U~  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 b5hJaXJN  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 Dl kHE8r\  
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    . mDh9V5  
    :&#HrD[KT  
    场追迹仿真(电磁场探测器) sbZ$h <  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 Im;8Abf  
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    场追迹仿真(电磁场探测器) nDh]: t=  
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    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 2 0Xqs,  
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    OC|9~B1  
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    文件信息 IR(6  
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    QQ:2987619807 TO.71x|  
     
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