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摘要 00p 7sZU^ N'1~ wxd 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 g}-Z]2(c# D^{:UbN
MocH>^, v3"xJN_,[p 建模任务 NZuFxJ-` M&FuXG% e2fct|' 概述 Zy%Z]dF C] w< &o •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 h~@+M5r, •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 c
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))*z FV %np#Bv-L 光线追迹仿真 lo: ~~l O m •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 )'~FDw\6 •单击go! }v,THj •获得了3D光线追迹结果。 Y
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p#d UL9 <T[N.mB 光线追迹仿真 +a-@
!J~: HH?*"cKF~ •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 to 6Q90( •单击go! +df?N •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 A.O~'')X (Y)h+}n5N
%#9 ~V PNgMLQI6 场追迹仿真 \T9UbkR 1,QZnF!.x •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 e9_+$Oo •单击go! ]gksyxn3 Ba0D"2CgY kVnyX@ |vz;bJG 场追迹仿真(相机探测器) sjgR \`AU (N|xDl&; •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 I;-5]/, •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 ?w/nZQWi z|*6fFE
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% 场追迹仿真(电磁场探测器) vXyo •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 p,\bez
Q+(:n)G_6E tq[",&K i%PHYSJ. 场追迹仿真(电磁场探测器) T zYgH *u'`XRJU/ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 Xl6ZV,1=n7 \BaN5+B6
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