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摘要 td+[Na0d >2)!w 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 P+3)YO1C =`%%*
\y/+H ..^,* 建模任务 .]Z,O>N .LNqU#a q}5&B=2pM 概述 II_MY#0X Xgm9>/y •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 dnTXx*I: •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 *-9b!>5eD :Ee5:S
#D!3a%u0 j Ns eD 光线追迹仿真 VAR/"
@KYmkxW •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 <kor;exeJ •单击go! {EupB? •获得了3D光线追迹结果。 ~9ILN~91 RwwX;I"o%
Qod2m$>wp} K#{E87G( 光线追迹仿真 (.3L'+F x]U (EX`t$ •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 _'oy
C(:} •单击go! iJE|u •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 [G|2m_ h Tn^:%(
`o*g2fW! Dy^4^ J5+ 场追迹仿真 3/@'tLtN W.,J' •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 M>k7
'@G •单击go! aa1XY&G"! QX~*aqS3s8 9tC8|~Q \9k{"4jX\ 场追迹仿真(相机探测器) M !OI :v \>/:@4oK •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 |@-WC. •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 #(*WxVE I.e'
[%nG_np =-pss 47 场追迹仿真(电磁场探测器) z?"5="D •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 aLXA9? cuk2\> Xl Azz]TO PvT8XSlTx! 场追迹仿真(电磁场探测器) M7Hk54U+t p r0V) C6 •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 :g9z^ $g #-HN[U?Gs
khv! \^&DD TcfBfscU 文件信息 r IK|} 5 ?s"v0cg+
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