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摘要 hGkJ$QT U(#JC(E-# 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 aydNSgu G:p85k`
$rI 1|;^ rlD!%gG2x 建模任务 &a;?o~%*]i a6-.|tt#t px"H 概述 xP!QV~$> S>r",S •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 |-G2 pu; •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 O`Gq7=X NB4O,w
fP V n; "L:4 7!8 光线追迹仿真 U(9_&sL Z Cjw)To( •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 t:5-Ro •单击go! #
)y/aA •获得了3D光线追迹结果。 @1Q-.54a o$buoGSPc
C!a1.&HHZ7 i5t6$|u:&m 光线追迹仿真 S.)Jp-&K 94?WL •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 80wzn,o
S •单击go! V@!)Pw •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 4a"Fu<q z8'1R6nq
m$kQbPlatN b.@a,:" 场追迹仿真 D**GC QCF'/G •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 n+Kv^Y`qxO •单击go! B+j]C$8} J+J,W5t^ Ch_rV+ 0{|HRiQH9+ 场追迹仿真(相机探测器) E5d$n*A wDZ<UP=X •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 WXl+w7jr •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 `;E/\eG" >w@+cUto
.mt%8GM 2t-w0~O 场追迹仿真(电磁场探测器) );\c{QF •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 |4Q*4s %, kP_[!>Q _!R$a- _XV%}Xb' 场追迹仿真(电磁场探测器) [d6! #Ub_m@@4 •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 t>I.1AS o@Oz
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DPTk5o[ {`QHg O 文件信息 K>@yk9)vi \ ;npdFy
//U1mDFT aa`(2%(: U]iI8c QQ:2987619807 @h%V:c
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