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摘要 MQv2C@K9F 8[|RsM 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 Q'~2,%3< 6(`Bl$M9
)`ZTu -| clZjb 建模任务 Z+< zKn} )NwIEk>Tf <d\Lvo[ 概述 9aE!!
(E ^=nJ,-(h_ •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 6-@
X •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 ;{e ;6Hq ,
LP |M:
5Y\wXqlY 9*+%Qt,{B 光线追迹仿真 :Q\{LB c $Y!$I.+ •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 CmNd0S4v •单击go! 8yH* •获得了3D光线追迹结果。 vElVw.
P 0!c^pOq6
6Y|jK<n?H Qifjv0&;u 光线追迹仿真 *jps}uk< <xm>_~,w •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 =?}
t7}# •单击go! $~|#Rz%v •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 lqO" 3@r_t|j
CV~\xYY 0{/P1 场追迹仿真 l;I)$=={= U`D.cEMfH •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 7[wHNJ7)r •单击go! )19As8rL/o a$7}_kb vpy_piG| HeagT(rN' 场追迹仿真(相机探测器) f#RI&I\ Xj/U~ •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 b5hJaXJN •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 DlkHE8r\ qV%t[>
. mDh9V5 :HrD[KT 场追迹仿真(电磁场探测器) sbZ$h
< •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 Im;8Abf 'sCj\N %z6.}4h oJ cR)H 场追迹仿真(电磁场探测器) nDh]: t= %-y%Q.;k? •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 2 0Xqs, HSk gS
OC|9~B1 :/N/u5.] 文件信息 IR (6 4~Ptn / g
*t{$GBP /P~@__XN #"^F:: b- QQ:2987619807 TO.71x|
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