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摘要 x_ySf!ih
-HT L5 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 /s-d? -~'kP /E^
'aPCb`^;w 5TET<f6R 建模任务 h]C2 8=N /$OIlu ^%zNa6BL 概述 Fhi5LhWe+. aa=b<Cd •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 <W|1<=z( •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 !'PlDGD ~mcZUiP9
]1Qi=2' iJ*%dio 光线追迹仿真 9R:(^8P8 tD^a5qPh •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 (v|`LmV •单击go! </hR!Sb] •获得了3D光线追迹结果。 ]84YvpfW MZiF];OY
agTK= a?\ `
光线追迹仿真 HtS#_y%( @YrGyq •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 9>zDJx •单击go! |Qq+8IeYG •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 j5A\y^Kv U*xxrt/On/
5z[6rT=a k^yy$^=< 场追迹仿真 SJF 2k[da hf[IEK •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 TQ2i{e •单击go! %SFw~%@3&~ 6<Be#Y]b :!hk~#yvJ9 '&{(:,!B 场追迹仿真(相机探测器) 9Iy[E,j l85CJ+rg •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 @hBx,`H^ •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 MSFNw ~EPjZ3 ?
;p .j @]yQJuXA&Z 场追迹仿真(电磁场探测器) !zl/0o •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 q2D`1nT [ y$j9 @)06\h DvU~%%(0^ 场追迹仿真(电磁场探测器) r$Kh3EEF`E hiT9H5 6> •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 cRPr9LfD@ t>=GVu^
l!Nvn$hm CcbWW4 ) 文件信息 KS8\F0q c
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\y<+Fac1S r]xdhR5 baA HP" QQ:2987619807 mT}Aje-L
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