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摘要 ]r6bJ2 N3<Jh 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 v_0!uT5~NE K7c8_g*>4=
|5Pbc&mH8A =jt_1L4 建模任务 rUjr'O0 r.;iO0[/ ZZ*k3Ce 概述 z%tu6_4j ~0|hobk •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 =1\wZuK# •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 C6~dN&q nif'l/@"
^E17_9? ?y)X $D^ 光线追迹仿真 Ui!|!V- dAl<'~g •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 |$2N$6\SP •单击go! K3DJ"NJ<Ji •获得了3D光线追迹结果。 9AzGk=^
j:3Hm0W3
nn4Sy,cz qI*1+R} 光线追迹仿真 {1|7N
GQ T(^8ki •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 NfF:[qwh •单击go! /8\&f%E •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 yW?%c#9D LB7I`W
&Ld8Z9IeFp [)>8z8'f 场追迹仿真 @!3^/D3 L$Ar]O) •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 I>Fh*2 •单击go!
hP8&n9o `+c9m^ e~]e9-L>I g8A{aHb1} 场追迹仿真(相机探测器) >[4|6k|\x l>Ja[`X@ •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 4^_Au^8R( •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 eh4"_t WV"QY/e3
VQMd[/ *[:CbFE0y 场追迹仿真(电磁场探测器) luk2fi<$ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 k+GnF00N^8 BV?N_/DXp f?zK" M`pTT5r 场追迹仿真(电磁场探测器) ~{Rt4o _W SliQwm5 •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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P [k7N+W8 文件信息 =M{CZm `+BaDns
qS}RFM5| rRrW {&u7kWD| QQ:2987619807 4$DliP
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