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摘要 `Ph4!-6# /:yKa=$ 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 7F|T5[*l 2!]':(8mR
F P
mLost c/T]=S[ 建模任务 %@H;6
%I6iXq# Q
CfA3* 概述 ,p$1n; T=b5th} •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 n]9y Cr •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 I!# 42~\ %\r4c*O1q
l Fzb$k}_{ Q6.},o 光线追迹仿真 s`H}NjWx TmzEZ<} &7 •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 =H!u4
•单击go! ?"qU.}kGL •获得了3D光线追迹结果。 WNd(X} = UTv
lQ!6n x]y~KbdeB 光线追迹仿真 !Otyu6& $[FO(w@f •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 lXv{+ic •单击go! lg1?g)lv •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 ~Qzm!Po, x8zUGvtQ
G+\2Aj Eer rIV 场追迹仿真 =P0~=UP ,Y9lp)w •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 7*@qd& •单击go! i'`Z$3EF) $+7MY-9T K-p1v!IC Sfh \4h$H 场追迹仿真(相机探测器) AbLOq@lrK dk{yx(Ty •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 #W!@j"8eK •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 'y;[
fwo7 Ov?k4kJ
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%3z-^#B= 场追迹仿真(电磁场探测器) q|gG{9 •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 _E&*JX t55
' DFR.F:O% /Pi{Mv eZM 场追迹仿真(电磁场探测器) ":eHR}Hzx uN6TV*]: •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 JsVW:8QO~ `C] t2^
=$Xdn' `4 w0*;k; 文件信息 9<\wa/# qrm~=yU%
"'II~/9 O1rnF3Be 3x'BMAA+ QQ:2987619807 [<f\+g2ct
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