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摘要 s{iYf : #K)HuT 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 #x%O0 ;TW@{re
YK[O#V 5Cz:$-+ 建模任务 +>:X4A* ;w6\r!O, VUt
6[~? 概述 <XLATS8Y }'X}!_9w> •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 ]\3dJ^q|% •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 k2;8~LqF <N`rcKE%~P
bpU^|r^W *aT!|; 光线追迹仿真 6Q wL P)}:lTe
•首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 Nvew^c)x •单击go! _@RW7iP> •获得了3D光线追迹结果。 t(_XB|AKm 4l3N#U0Q
W%$p,^@S5 <$=8'$T81 光线追迹仿真 R0=/
Th - om/gk4S2 •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 Hv
IN' •单击go! '$U"RP^( •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 4Fz^[L}[ :#|77b0
|mM7P^I t)v#y!Ci" 场追迹仿真 ,~kMkBkl~ ^#Z(&/5f0 •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 Cn{UzSKfs •单击go! o1g[(zky 97&6i TYA [ z&y]~ N4}h_mh^' 场追迹仿真(相机探测器) >l7
o/*4 WW_X:N~~e\ •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 N CsUC •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 lA ,%'+- oC?b]tzj
1ii.nt1u i &KbzOY 场追迹仿真(电磁场探测器) =kCpCpET •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 mee-Qq:} n/8fv~zU [+%*s3`c# ~/.&Z`ls 场追迹仿真(电磁场探测器) REsThB $i2gOz •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 ZcQm(my UnMDdJ\
C[s*Na- lWdE^- 文件信息 c8Opc"UE q)vD "{0.
m|y]j4 K0#tg^z5d z/TZOFaM QQ:2987619807 $C>EnNx
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