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摘要 VZl0)YLK DO*C] 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 B_1u<00kg nmAXU!t'
Ft>8 YYyU ) FsSXnZL 建模任务 =hb87g. f)fw87UPc f;6d/?= ~ 概述 |W[rywxx z{_Vn(Kg •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 _Xe< JJvq •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 +OP' / TW?
MS em
JG$J,!.\ KPrxw }P 光线追迹仿真 l$@lk?dc 5,fzB~$TX( •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 uvd> •单击go! "lAS
<dq •获得了3D光线追迹结果。 8zv6Mx 1EzA@3:{
[^P2Kn D~);:}}> 光线追迹仿真 ioQlC4Y ~|]\.^B •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 yQ2[[[@k@ •单击go! x$4'a~E •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 1 .CYs< w%na n=
fR{7780WZ 3_:k12%p 场追迹仿真 5T*7HC[ JE!Xf}nEi •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 BGOI •单击go! xJlq2cK \|s/_35( P]^]
T}5 ;B@l0)7(x 场追迹仿真(相机探测器) eZo%q,L
WR%iUO40 •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 ru
Lcu] •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 ^|z>NV5> T!r7RS
C\K-- X[}%iEWzT 场追迹仿真(电磁场探测器)
CQHlSV W •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
C5?M/xj 4G2V{(@QiZ 2q bpjm \Ld7fP 场追迹仿真(电磁场探测器) L"0L_G z9ZAY!Zhq] •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 .`9KB3 stScz#!
(Nf.a4O YFY)Z7fK 文件信息 ml2HA4X&$Y ^W*/!q7H
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