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摘要 C[sh, hX:"QXx 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 zeb=8Dg
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C1kYl0zR[ AIYmS#V1W2 建模任务 R%Y`=pK>} Lh.b5Q| 942lSyix 概述 FS6`6M.K 4<dcB@v •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 r!1D*v5&: •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 MRNNG6TUs 'k0[rDFc#3
`l;n:]+ "*1f;+\ 光线追迹仿真 YyAJ m^o l e4?jQQ@L •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 m,i,n9C-> •单击go! a' Ki;]q •获得了3D光线追迹结果。 Fb22p6r nfSbM3D]h
GPz(j'jU W]M)Q}:Y 光线追迹仿真 H,fZ!8(A_) Q_-_^J •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 \>LnLH( •单击go! ]V l]XT$Um •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 2WX7nK;I Q1d'~e
lGwl1,= _.IxRk)T 场追迹仿真 J%09^5:-z LEMfG~Czq •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 F:@70(<w% •单击go! 9{k97D/ ]^':Bmq 3vhnwDcK N{
Z
H 场追迹仿真(相机探测器) $vC1 K5sLk wO ?+Nh •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 @SZM82qU2z •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 F<>!kK/c r.3/F[.
S5~VD?O, f` =CpO* 场追迹仿真(电磁场探测器) w(kf •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 \drqG&wl VE+IKj!VG0 7K)6^r^ Bm&kkx.9P 场追迹仿真(电磁场探测器) /VmR<C?h 3)-/`iy# •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 7VcmVq}X MZ Aij
hX`}Q4(k 'smWLz} 文件信息 @-UL`+ pw7[y^[Qg
x77l~=P+! ]|`Cuc Q+4Xs.# QQ:2987619807 j'9"cE5_
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