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摘要 1eQa54n [F{q.mZj 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 Y1? wf. qE?*:$
D]n9+!Ec1f ={ P 建模任务 I:M]#aFD 'oSs5lW ~ /s(.oji 概述 DU(QQ53 /KGVMBifM •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 s<,[xkMB •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 h^o>9s/|/H 7(c7-
W(U:D?e ?IRp3H 光线追迹仿真 2k}~"!e1 KY 085Fvs •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 =yo?] ZS •单击go! ~k>H4hV3 •获得了3D光线追迹结果。 x9S~ns+r zzOc
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8U}BSM_<2 &`"Q*N2{ 光线追迹仿真 A'Q=DoE ? t<yk(q •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 =_~bSEqyRI •单击go! p2T<nP<Pt •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 ('k;Ikut n<RvL^T=
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0-[ 'MZX"t 场追迹仿真 Q'-g+aN ~1e?9D •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 (
-^- •单击go! #+$pE@u7A >a;0<Ui&Q pxC:VJ; /S9s%scAy 场追迹仿真(相机探测器) f Cg"tckE J3/2>N]/} •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 S
?v^/F •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 i$`OOV=/e 2^Y@e=^A
=e\E{K'f@ =)tU]kp 场追迹仿真(电磁场探测器) 7bcl^~lY •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 .CU~wB@h bEx8dc`Q w]2tb B#Sg:L9Tr' 场追迹仿真(电磁场探测器) |Uf[x[ x-W6W •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 N0UL1[ur g+CTF67
{ zGM[A Tz/=\_} 文件信息 FUy!j|W6f xOfZ9@VU
M@)^*=0H 4DGc[ ruqx#]- QQ:2987619807 Hz A+Oi
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