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摘要 g"f^YEQ_ =,]M$M 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 Yw
`VL)v(y 2uEu,YC
AG2jl/ T]`"
Xl8 建模任务 1)ne-e
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$L sJ=B:3jS0 概述 AR^Di`n! [8#l~
|U •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 Bw[V K7 •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 PN=yf@<V3F "Q4{6FH+mB
#u^d3
$Nj ;GSj}Nq 光线追迹仿真 LLiX%XOh p10->BBg •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 dZZ/(oE> •单击go! *1Q?~ •获得了3D光线追迹结果。 Vo()J4L va<pHSX&I@
=j-{Mxb3 6yqp<D0SP) 光线追迹仿真 8qveKS]vZ Jjv&@a} •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 >{Djx •单击go! iDr0_y*t •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 `N+ P, 1)y}.y5S
{;r5]wimb F44")fY 场追迹仿真 v80e]M! gO%3~f!vY# •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 1|--Xnv •单击go! gC.T5,tn zuw6YY8kQ I]58;|J NT0q!r/! 场追迹仿真(相机探测器) "-
AiC6u 7JbrIdDl| •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 "\
md •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 ryPzq}# ~Q5HM
QMP:} %?ad.F+7 场追迹仿真(电磁场探测器) R4?/7 •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 7-)KTBFL *
-)aGL udMq>s; TD<. :ul] 场追迹仿真(电磁场探测器) <#sK~G %y'#@%kO:S •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 38F8(QU{ LvS`
zKo,B/Ke4 P:G^@B3^ 文件信息 [LE_lATjU K7|BXGL8r8
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