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摘要 ?Tuh22J{Q _?G\^^ 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 2IjqTL a]X6) 6
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Jq6p5jr" 建模任务 yWzvE:!) u"T5m PNc200`v4_ 概述 Dj!J 4uD 0?p_|X'_ •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 8.-PQ •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 -HoPECe }GkEv}~t
$,i:#KT` X0vkdNgW 光线追迹仿真 ,?&hqM\ 8(3vNuyP •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 Q|5wz]!5Y( •单击go! tm]75*? •获得了3D光线追迹结果。 D<xP x .\U+`>4av
?5B}ZMW ~-M7 光线追迹仿真 bO2$0!=I QJ"Bd`wc •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 T$}<So| •单击go! U +mx@C_ •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 {xM%3 _^a.kF
Nm,vE7M *39sh[*} 场追迹仿真 =z=Guvcn` d+&V^qLJ •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 #mllVQ •单击go! 4uNcp0 hJd#Gc~*M sXhtn'<v }Bc6:a 场追迹仿真(相机探测器) Wb4sfP_ m%Ef]({I •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 .7)A8R7Wt •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 !/jx4w~R ,YkQJ$
*\joaw vxqMo9T 场追迹仿真(电磁场探测器) <M$hj6.tn •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 q!AS}rV -Q$$2QW! ! prU!5- 1/&j'B 场追迹仿真(电磁场探测器) a#raUF7e aB'<#X$x •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 !o.g2 <c\aZ9+V
I)Y$?" RsV<*s 文件信息 =r_ SMTu l|&|+u#
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