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    [分享]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-06-23
    摘要 z|b4w7 I  
    pb{P[-f  
    高数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 ldX]A#d.  
    t'Q48QAb?  
    +u=xBhZ  
    r\3In-(AT  
    建模任务 WJ.PPq>]F  
    /BIPLDN6  
    y~luuV;uj  
    概述 ADBw" ? >  
    gN]`$==c[  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 .M! (|KE4  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 DSjo%Brd-  
    lpp'.HTP  
    kv5Qxj}  
    Ti)n(G9$  
    光线追迹仿真 XW#4C*5?d  
    e+6~JbMV  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 gEe}xI  
    •单击go! p~mB;pZ%;  
    •获得了3D光线追迹结果。 gvU6p[D  
    V+Tj[:ok  
    *"4<&F S  
    q@!:<Ra,){  
    光线追迹仿真 =[k9{cVW  
    =az$WRV+7!  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 SA&wW\Ym]  
    •单击go! Sph+kiy|  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 e!-'O0-Kw  
    ;,A\bmC  
    sS|zz,y  
    };+s0:H  
    场追迹仿真 @!MbPS  
    f@}(<#  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 zV &3l9?U  
    •单击go! t!=S[  
    g&bO8vR=  
    Qpc{7#bp  
    0PfFli`2;  
    场追迹仿真(相机探测器) } F.1j!71L  
    +\ySx^vi  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 >r*Zm2($MR  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 `Q8 D[  
    @3@%9E  
    &q U[ wn:1  
    B%pvk.`  
    场追迹仿真(电磁场探测器) |}}]&:w2  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 Gt%kok  
    Kaa*;T![  
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    4(&'V+o  
    场追迹仿真(电磁场探测器) M,@SUu v"  
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    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 JU@$(  
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    文件信息 [Ok8l='  
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    QQ:2987619807 >guQY I@4,  
     
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