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摘要 +112{v=!i cr!W5+r 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 /Pg)7Zn I
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XMI*obS'z ^~[7])}g6 建模任务 nd8<*ru$ OX;(Mg| t`K9K"|k 概述 eA!Z7 ' EE 1D>I •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 2O=$[b3 •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 :.+w'SEn4M HqWWWCWal
71nZi`AR gGVt( ^ 光线追迹仿真 }U_^zQfaj ElW\;C:K* •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 ]vQa~} •单击go! fS4foMI63) •获得了3D光线追迹结果。 *U1*/Q. F-3=eKZ
yf:0u_&] YdCl 光线追迹仿真 :5~Dca_iU4 #-B<u- •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 jo"nK,r •单击go! )W\)kDh! •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 ~},H+A!? 0e8
%h ;oi/pe oi0O4J%H 场追迹仿真 ]&]G tQzbYzGb7 •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 js"Yh •单击go! F4\:9ws X]}ai5 _]*[TGap h:pgN,W} 场追迹仿真(相机探测器) Q+Nnj(AQY TE&E f$h •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 E4Q`)6]0 •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 ? /!Fv/ 3)VO{Cj!
9'p| [?]v Z6gwAvf< 场追迹仿真(电磁场探测器) ~*EipxhstJ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 <tTNtBb Lb$Uba-_ 9*iVv)jd d
>L8SL 场追迹仿真(电磁场探测器) '(r?($s BpA7
z / •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 1<x5{/CZ <*iFVjSI(
GX19GI@k fPN/Mxu 文件信息 @ ~{TL P `<TO
71Q`B#t0'Z vyc<RjS_x e{2Za QQ:2987619807 eiOAbO#U
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