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摘要 Y&S24aql q=%RDG+ 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 |$vX<. S mS^tX i5hg
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Z[Y
5OE %>~sJ0 建模任务 43mP]*=A EB2w0a5 +z9Q-d%O 概述 MUTj-1 H6) K('hC)1 •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 I1pWaQ0 •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 -o!$tI& )XvilCk1
,q}MLTSi )(ImLbM) 光线追迹仿真 q(`/Vo4g( @JD;k> •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 NWMFtT •单击go! 9aze>nxh. •获得了3D光线追迹结果。 Nv(9N-9r ldiD2
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4)A#2 k@/sn(x 光线追迹仿真 5*Y^\N ;1%-8f:lW •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 ti
I.W •单击go! sg$rzT-S4 •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 7R6ry(6N Q36qIq_0e
.P[ _<8 Bj1?x 场追迹仿真 aqj@Cjk4Z KY51rw. •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 czS+<
w •单击go! )N7Y^CN~ uI1q>[ ,N!o mt,OniU= Q 场追迹仿真(相机探测器) ;[M}MFc/` z^#;~I @M •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 45,1-? -! •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 j)<IRD^ ;<j0f~G`
&Low/Y'.jJ q,93nhs " 场追迹仿真(电磁场探测器) NT e5 •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 ,*7 (%k^` 3|'>`!hb ?~hHGf\^b6 @d
mV 场追迹仿真(电磁场探测器) #a'Ex=%rM +^=8ge} •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 l'/R&`-n kBD>-5Sn_T
=;2%a( apg=-^L' 文件信息 d@XV:ae -jb0o/:
-f% ' I%sFqh> JM x>][xD QQ:2987619807 \s=t|Wpu2
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