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    [分享]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-06-23
    摘要 +112{v=!i  
    cr!W5+r  
    高数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 /Pg)7Zn  
    I </P_:4G  
    XMI*obS'z  
    ^~[7])}g6  
    建模任务 nd8<*ru$  
    OX;(Mg|  
    t`K9K"|k  
    概述 eA!Z7 '  
    EE  1D>I  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 2O=$[b3  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 :.+w'SEn4M  
    HqWWWCWal  
    71nZi`AR  
    gGVt ( ^  
    光线追迹仿真 }U_^zQfaj  
    ElW\;C:K*  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 ]vQa~}  
    •单击go! fS4foMI63)  
    •获得了3D光线追迹结果。 *U1*/Q.  
    F-3=eKZ  
    yf:0u_&]  
    YdCl  
    光线追迹仿真 :5~Dca_iU4  
    #-B<u-  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 jo"nK,r  
    •单击go! )W\ )kDh!  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 ~},H+A!?  
    0e8  
    %h ;oi/pe  
    oi0O4J%H  
    场追迹仿真 ]  & ]G  
    tQzbYzGb7  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 js"Yh  
    •单击go! F4\:9ws  
    X]}ai5  
    _]*[TGap  
    h:pgN,W}  
    场追迹仿真(相机探测器) Q+Nnj(AQY  
    TE&E f$h  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 E4Q`)6]0  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 ? /!Fv/  
    3)VO{Cj!  
    9'p| [?]v  
    Z6gwAvf<  
    场追迹仿真(电磁场探测器) ~*EipxhstJ  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 <tTNtBb  
    Lb$Uba-_  
    9*iVv)jd  
    d >L8S L  
    场追迹仿真(电磁场探测器) '(r?($s  
    BpA7 z/  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 1<x5{/CZ  
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    fPN/Mxu  
    文件信息 @ ~{TL  
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    e{2Za   
    QQ:2987619807 eiOAbO#U  
     
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