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摘要 Y~#m-y F|3Te?_ 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 Gs;wx_k^ )isz
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}Tf~)x &?flH; 建模任务 /]m5HW(P7K 6r{NW9y' |;e K5(| 概述 ~kPHf_B;z L#mf[a@pCn •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 TeaP\a •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 ^N#B(F ;"46H'>!
2\80S[f =aZgq99 光线追迹仿真 Uo?g@D _ K["qm{X_ •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 69ZGdN •单击go! %^tKt •获得了3D光线追迹结果。 ]R[j]E. a)w
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5<ZE.'O ))m\d * 光线追迹仿真 y(/"DUx v&Xsyb0CaM •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 T1AD(r\W5 •单击go! 0N.B=j| •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 L!G]i;=: v,bCj6
Ahl-EVIr< >tc#Ofgzd 场追迹仿真 :_9MS0 r Q)?Bhf •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 ramYSX@ •单击go! QS(aA*D *|WS, [`pp[J-~7 iY@wg 8ry 场追迹仿真(相机探测器) xVYy`_| &%eWCe++ •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 #o`y<1rN •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 KA~eOEjM pY@$N&+W
IBfLb(I 8i$quHd&x 场追迹仿真(电磁场探测器) *i LlBE •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 2kukQj(n W^dk: HK}br!? ].ZfTrM] 场追迹仿真(电磁场探测器) @ ;T|`Y=7 RHO| g0 •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 aE aU_f/ M9[52D!{
YA+jLy6ZL ?XCFRt,ol 文件信息 @QOlo-u H(|n,c
/%&Kbd =n@"lY u[ v@,n]" QQ:2987619807 2Xw=kw u
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