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摘要 K[9 <a>D` +I')>6 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 II2oV}7? VP"L_Um
D`gY6wX c[YC}@l%a 建模任务 @GEvI2Vf.0 '3xSzsDn </}[x2w?] 概述 &Y,Rm78 M\GS&K$lq •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 i7p3GBXh[ •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 z6Hl+nq B ;CC[>
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O\2 ]l\J"*"aB 光线追迹仿真 +uH1rF_&@ g,1\Gj%y •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 <;Xj4
J •单击go! W[vak F •获得了3D光线追迹结果。 1]qhQd-u 3Y8%5/D5
O[m+5+ ,JjTzO 光线追迹仿真 +Gjy%JFp P--#5W;^oB •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 ei"FN3 Rm •单击go! 1,/oS&?E •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 m3,v&Z +[>m`XTq
Coyop#q#"{ lKa}Bcd 场追迹仿真 cL}g7D s*Fmu7o43 •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 rj6wKfz •单击go! _ '}UNIL [k.<x'# P3:hGmk8|j p3-sEIw}Ru 场追迹仿真(相机探测器) 5bAy@n S |B7HS5 •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 x;C\G`9N •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 i#eb %9Mn VfQSfNsi
-dza_{&+iZ }6o` in>M 场追迹仿真(电磁场探测器) =T+<>/[ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 {%
;tN`{M 5` Q#2 {5RM)J1 PsTwJLY 场追迹仿真(电磁场探测器) Wx^L~[l {>syZZ,h •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 k6$.pCH6 R@ihN?k
+H+OYQ>^ ;]'mx 文件信息 "zYlddh L-q.Q
/9i2@#J}W1 VJm).>E3k -MeGJX:^I QQ:2987619807 g
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