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摘要 K.zs;^ cv1L!Ce, 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 :]jtV~E\ {`
gC 4#!P $^>vJk< 建模任务 x{5*%}lX8 .[A S Ey%NqOs0# 概述 ?K#$81;[ /Qy0vAvJ •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 HPB1d!^ •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 {}e IpK,+ v$Z1Lh
h^,a 1' #YdU,y=B 光线追迹仿真 | w -W=v iDJ2dM}v •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 (%, ' •单击go! Yd'ke,Je •获得了3D光线追迹结果。 "Xc=<rX rK wkj)
9b6h!( hI0l2OE 光线追迹仿真 Cv33?l-8%_ I^=M>_s4 •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 n9 DFa3 •单击go! Y.J$f<[R •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 WkE;tC* cyyFIJj]
GYO"1PM xH uyfQLk 场追迹仿真 rD gl@B3 IZLX[y •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 @}:(t{>;e7 •单击go! ;p8xL)mUP F_`Gs8-VH W#7c`nm J%'|IwA 场追迹仿真(相机探测器) u#<]>EtbB !WXSrICX[ •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 fsoS!6h0k •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 m{|n.b vr$[
b._pG(o1 /<~IKVz\& 场追迹仿真(电磁场探测器) vSh)r 9 •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 4j5plm= ="4 )! *RhdoD|a %BJ V$tO 场追迹仿真(电磁场探测器) E),T, t [f] •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 &I8ZVtg ~Q5HM
QMP:} %-D2I 文件信息 &>SE9w/?o BZ.H6r'Q
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