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    [分享]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-06-23
    摘要 lUMdrt0@z  
    x$(f7?s] 1  
    高数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 ] }X  
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    建模任务 ]J]h#ZHx  
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    -H-~;EzU  
    概述 0Y5_PTWb+Y  
    @=f\<"$vt  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 f`66h M[  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 ;xn0;V'=  
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    M rb)  
    ku M$UYTTX  
    光线追迹仿真 1m0c|ckb  
    3HK\BS  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 ] @fk] ]R  
    •单击go! )Xyn q(  
    •获得了3D光线追迹结果。 I1&aM}y{G  
    IO:G1;[/2L  
    f(7GX3?  
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    光线追迹仿真 bi;1s'Y<D  
    "tpSg  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 L9#g)tf 8T  
    •单击go! C+&l< fM&  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 B4 }bVjs  
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    场追迹仿真 }\k"n{!"  
    .(2ik5A%9  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 ;i+#fQO7Q  
    •单击go! FJ?IUy 6  
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    8, >P  
    u\nh[1)a)  
    场追迹仿真(相机探测器) ^_mj  
    U~7c+}:c  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 "g8M0[7e3  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 b>JDH1)  
    ^K@C"j?M/  
    ]e@Oiq  
    $L]lHji  
    场追迹仿真(电磁场探测器) ;sFF+^~L  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 g eCM<]  
    FaJ&GOM,  
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    场追迹仿真(电磁场探测器) jRV/A!4  
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    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 q> C'BIr  
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    4+ Z]3oIRE  
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    QQ:2987619807 ~&bq0 (  
     
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