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摘要 lUMdrt0@z x$(f7?s] 1 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 ]}X 6d~'$<5on
[a<SDMR -D~%|).' 建模任务 ]J]h#ZHx L{Vqh0QD& -H-~;EzU 概述 0Y5_PTWb+Y @=f\<"$vt •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 f`66h M[ •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 ;xn0;V'= k~z Iy;AZ
Mrb) ku
M$UYTTX 光线追迹仿真 1m0c|ckb 3HK\BS •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 ]
@fk] ]R •单击go! )Xyn
q( •获得了3D光线追迹结果。 I1&aM}y{G IO:G1;[/2L
f(7GX3? *}W_+qo" 光线追迹仿真 bi;1s'Y<D "tpSg •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 L9#g)tf
8T •单击go! C+&l<
fM& •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 B4 }bVjs "@8li^
18:%~>.! lU8Hd|@- 场追迹仿真 }\k"n{!" .(2ik5A%9 •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 ;i+#fQO7Q •单击go! FJ?IUy 6 \Y}8S/] 8, >P u\nh[1)a) 场追迹仿真(相机探测器) ^_mj U~7c+}:c •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 "g8M0[7e3 •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 b>JDH1) ^K@C"j?M/
]e@Oiq $ L]lHji 场追迹仿真(电磁场探测器) ;sFF+^~L •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 geCM<] FaJ &GOM, 5l*&>C[(i nzeX[* 场追迹仿真(电磁场探测器) jRV/A!4 SasJic2M •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 q> C'BIr >[*qf9$
4+ Z]3oIRE (Ep\Z 6* 文件信息 /&94 eC 6)Lk-D
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