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摘要 ^vPM\qP#g P~/Glak
^iAOz-H ~UA:_7#\M 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 ,)^4H>~V 'o;>6u<u 建模任务 ^}vL ZA $a|C/s+}7>
H/n3il_-I [(Ss^?AJW 由于组件倾斜引起的干涉条纹 #\U;,r N]f"+
I/:M~ b k`ulDQu 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 %2>ya>/M </~!5x62Oy
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`R]B<gp 文件信息 ',`GdfAsH R3=PV{`M
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VU0s `(NMHXgG+ QQ:2987619807 SKO*x^"eU
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