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    [分享]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-06-17
    摘要 @UQ421Z`  
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     i"d&U7Q  
    $8WWN} OC  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 z)Lw\H^/  
     aUk]wiwIR9  
    建模任务 |8?e4yVd  
    53WCF[  
     X^Fc^U8  
    i ?PgYk&}  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 PUmgcMt  
    nzU;Bi^m  
     89Ir}bCr  
    K5!OvqzG  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 NG_7jZzXA9  
    hBi/lHu'  
     L7]o^p{g}Q  
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    文件信息 2Q5 -.2]  
    mDx=n.lIz  
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    $plqk^P  
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    QQ：2987619807 ow{J;vFy\  
     
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