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摘要 N4A&"1d& l_bL,-|E8
FPvuzBJ r>E\Cco 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 2]2{&b u ^GE^Q\&D& 建模任务 :jBZK=3F> P8"6"}B;T
5r^1CFO "3\oQvi. 由于组件倾斜引起的干涉条纹 n?zbUA# Fq vQk
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Y||yzJdC J 5Wz4`' 文件信息 N$C{f;xV oG+K '(BB
di"C]" ; oK#\HD4U P#w}3^ QQ:2987619807 &7$,<9.
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