-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2026-04-22
- 在线时间1968小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 $6d5W=u$H [9yy<Z5
Io('kCOR; #5X+.!L 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 2TQ<XHA\ LfvRH?<W 建模任务 .la_u8A] .RbPO#(
u!McPM8Yk r4]hcoU 由于组件倾斜引起的干涉条纹 k?Njge6@ :GM3n$
"}0)~,{xB v5W-f0Jo 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 ;20sh^~ EEHTlqvR
\WZSY||C|_ p)~EG=p 文件信息 PE6ZzxR|U< 8(H!iKHe
\M*c3\&~,e Z{_YH7_ cY|@s?3NND QQ:2987619807 :]8!G- Z
|