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摘要 `0U\|I# <Bn0wr8)\
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@,,G]4zZ! 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 [6g$;SicT q#8\BOTP | 建模任务 cjGN=|`u C"5P7F{
Ue;Z)} a;;
Es 由于组件倾斜引起的干涉条纹 nJv=kk1|o 7O|`\&RYR
*mj=kJ7(
rt*>)GI]b 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 5K?/-0yG <uFj5.
_0^>^he ->;2CcpHB 文件信息 G~&8/ s )n9,?F#l
w]h8KNt JBc*m G{X7;j e QQ:2987619807 !9r%d8!z
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