切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 907阅读
    • 0回复

    [分享]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    6107
    光币
    24688
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-06-17
    摘要  97-=Vb  
    =CGB}qU l0  
    NU |vtD  
    r;'Vy0?AL  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 dePI&z:  
    .N~YVul[a*  
    建模任务 rG"QK!R5  
    Ou,Eu05jt'  
    YH-+s   
    oaMh5 FPy  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 LAcK%  
    OJTEvb6nPg  
    Q ~>="Yiu  
    h6uv7n~4  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 \rPT7\ZA  
    6Cvg-X@  
    $]I" ,ef  
    O$$$1VHYo  
    文件信息 6"PwOEt  
    HP G*o  
    ,W:Bh$%  
    3oE3bBj  
    6j5?&)xJ  
    QQ:2987619807 t}A n:  
     
    分享到