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摘要 "m>81-0 'J|_2*
"0TZTa1e BMf@M 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 dj%!I:Q>u zm;C\s rF 建模任务 >yDZw!C qqU 64E
_@/8gPT*i q5S9C%b 由于组件倾斜引起的干涉条纹 ],].zlN _o~nr]zx
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7 X4LJf Z3!`J& 文件信息 "kF g P!k{u^$L
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