切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 1010阅读
    • 0回复

    [分享]高NA物镜聚焦的分析 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    6354
    光币
    25915
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-05-19
    摘要 _ :Ag?2  
    >J9oH=S6  
    高NA物镜广泛用于光学光刻,显微镜等。因此,在聚焦仿真中最基本的就是考虑光的矢量性质。 使用VirtualLab对这种镜头进行光线追迹和场追迹分析非常方便。通过场追迹,可以清楚地展示不对称焦斑,这源于矢量效应。相机探测器和电磁场探测器为聚焦区域的研究提供了充分的灵活性,可以让用户深入了解矢量效应。 !|ak^GE:(%  
    c;?fMX  
    */:uV B,b2  
    ]:>,A@7  
    建模任务 EU7|,>a  
    M(x$xAiD  
    Lk\P7w{  
    概观 jhu07HX_  
    Rk!X]-`=  
    }}v9 `F  
    光线追迹仿真 >/[GTqi  
     ]^'@ [<  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”(Ray Tracing System Analyzer)作为仿真引擎。 [S5\#=_4S  
    ~5FW [_  
    •点击Go! LUB${0BrA  
    •获得3D光线追迹结果。 g0R~&AN!g  
    1 zw*/dp  
    %\]* OZ7  
    o1 M$.*  
    光线追迹仿真 7 d LuX   
    c\a_VRN>r  
    8YC_3Yi%  
    •然后,选择“光线追迹”(Ray Tracing)作为仿真引擎。 .7K7h^*F  
    •单击Go! > pI;%'  
    •结果,获得点列图(2D光线追迹结果)。
    vz.>~HBP  
    q`-;AG|xF  
    !*R qCS,  
    Cj~'Lhmv'T  
    场追迹仿真 [!!Q,S"  
    }gJ(DbnV  
    3EJt%}V$k  
    •切换到场追迹并选择“第二代场追迹”(Field Tracing 2nd Generation)作为仿真引擎。 ns6(cJ^a  
    •单击Go!
    J8mdoVt  
    d3=KTTi\  
    phM>.y_  
    15o9 .   
    场追迹结果(摄像机探测器) H\TI[JPAl  
    gNt(,_]ZR  
    j4qJ.i  
    •上图只显示整合了Ex和Ey场分量的强度。 4$P0:  
    •下图显示整合了Ex,Ey和Ez分量的强度。 tQS5hwm*  
    Ez分量:由于在高NA情况下相对较大的Ez分量,可以看到明显的不对称性。 Q%xC}||1s"  
    @`gk|W3  
    V4_=<W  
    6I%5Q4Ll  
    场追迹结果(电磁场探测器) ZIQ [bE7  
    y&V@^ "`  
    =3L;Z[^9  
    •所有电磁场分量均使用电磁场探测器获得。
    Z<vKQ4 G  
    V#iPj'*   
    J:Qa5MTWp  
    文件信息 9jw\s P@  
    YJ\Xj56gv  
    /pT =0=  
    Ymg|4 %O@  
    0N $v"uX@  
    QQ:2987619807 1,% R;7J=g  
     
    分享到