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摘要 yU_9a[$V A3q*$.[ 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 @i1q]0 UA(;fZ@ 建模任务 Y[G9Vok
VX BY(
eV! n)RM+g 元件倾斜引起的干涉条纹 KB[QZ`"%! 0>@[o8 fM^<+o@ 元件移位引起的干涉条纹 {Hk/1KG> vr4S9`, _yVPpA[a 文件信息 6Xa.0(h +)gB9DoK jBRPR
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QQ:2987619807
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