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摘要 "I.6/9 (;l@d|g 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 ic2D$`M BsQ;`2 建模任务 GE/!$3 #fuUAbU0X 3B1\-ry1M 元件倾斜引起的干涉条纹 G^c,i5}w g&$=Y7G yLa@27T\A 元件移位引起的干涉条纹 9M96$i`P Z=JKBoAY k~>(XG[x& 文件信息 (T%F^s5D KL&/Yt /Y0~BQC7!
QQ:2987619807
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