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摘要 2\=cv \^%5! 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 N^8
lfc$a &tw
建模任务 >SZ9,K4Gs $[P>nRhW 6'N!)b^- 元件倾斜引起的干涉条纹 Q{Lsr, 5-pz/%, a4M`Bk;mb 元件移位引起的干涉条纹 $MG. I[h $W;IW$ U-EX)S^T[{ 文件信息 kV Z5>D$ ;.r > U"v}br-kb
QQ:2987619807
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