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摘要 Z.E@aml\
%XiF7<A& 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 :vo#( xI(t!aYp 建模任务 2{oU5e .0b4"0~T6 P&.-c _ 元件倾斜引起的干涉条纹 S*w; $`Y H*R4A E0 Q)L6+gW^ 元件移位引起的干涉条纹 M%"{OHj!o Uxb>)36I &{zRuF 文件信息 7I;A5f $-p#4^dg K bM1b
QQ:2987619807
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