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摘要 s8tI_h C}!$'C| 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 V{"5)Ly?fu 'C[gcp 建模任务 $)'{+1 Y)uNzb6R 74KFsir@ 元件倾斜引起的干涉条纹 HloP NE&} kh`X92~ 4
Hu+ljdjB 元件移位引起的干涉条纹 A1:Fe9q t'z]<7
3{:d$- y 文件信息 0xPML}|V .$q]<MK8 ztTpMj
QQ:2987619807
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