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摘要 ]%!u7z|\6 Y F*OU"2U 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 'FYJMIs <EST?.@~+ 建模任务 Zy09L}5 9P +Y+Y6Ac[} Zc?ppO 元件倾斜引起的干涉条纹 YTw#JOO HEGKX] *@TZ+{t 元件移位引起的干涉条纹 Vi$-Bw$@ v
36%Pj` )IJQeC 文件信息 =V^.}WtO b?eu jxqg z'`y,8Y 1l
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