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摘要 %BT]h3dcSS ]n"U])pJd 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 gq4X(rsyD M)Z!W3 建模任务 3` D[' .N#KW t.
(6tL] 元件倾斜引起的干涉条纹 w-NTw2x,& vCK+v
r! PRFl%M.H` 元件移位引起的干涉条纹 ufw[Ei$I: VeY&pPQ |