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    [分享]马赫-曾德尔干涉仪 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-04-16
    摘要 &I/qG`W  
     _{)9b24(  
    干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓，缺陷，机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程，在非序列场追迹的帮助下，我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪，本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 psUE!~9,  
    ^_W40/c3  
    建模任务 <<,>S&/  
    X#`dWNrN  
    v+6e;xl8  
    元件倾斜引起的干涉条纹 2+Yb 7 uI,  
    |##GIIv;i  
    ^~1<f1(  
    元件移位引起的干涉条纹 vy9dAl  
    :o8MUXH$  
    $FX,zC<=  
    文件信息 R5(T([w'  
     cP rwW 6  
    p$XKlg&  
    QQ：2987619807
     
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