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摘要 W-1sU g[AN +N7"EROc 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 J||E;=%f-Q \Y+") 建模任务 P:qz2Hw pzi q0 fa4=h;>a+ 元件倾斜引起的干涉条纹 qIz}$%!A X{`1:c'x 7|Xe&o<n 元件移位引起的干涉条纹 S"Kq^DN oXdel
Ju? bi.wYp(*6L 文件信息 )(lJT&e 1\y@E _W}(!TKO
QQ:2987619807
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