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    [分享]马赫-曾德尔干涉仪 [复制链接]

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    离线infotek
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-04-16
    摘要 zVv04_:  
    gLE7Edcp6V  
    干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 M!M!Ni  
    BsZ{|,oQnZ  
    建模任务 d h^^G^  
    ~9Cz6yF  
    Ap\AP{S4  
    元件倾斜引起的干涉条纹 lo&#(L+2  
    W</n=D<,I  
    E{Pgf8  
    元件移位引起的干涉条纹 S06Hs~>Y  
    1U\$iy8}  
    Aw!gSf)  
    文件信息 UFn8kBk  
    N?4q  
    4YU/uQm  
    QQ:2987619807
     
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