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摘要 zVv04_: gLE7Edcp6V 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 M!M!Ni BsZ{|,oQnZ 建模任务 d h^^G^ ~9Cz6yF Ap\AP{S4 元件倾斜引起的干涉条纹 lo&#(L+2 W</n=D<,I E{Pgf8 元件移位引起的干涉条纹 S06Hs~>Y 1U\$iy8}
Aw!gSf) 文件信息 UFn8kBk N?4q 4YU/uQm
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