-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2025-04-17
- 在线时间1766小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 @FdtM<X ~H7m7 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 x<~ pqq8] m:)v>v u 建模任务
"^Tb8! P<
O [S oOmPbAY 元件倾斜引起的干涉条纹 e%U0^! 8 ;l7wme8Qk 4nXS}bW f 元件移位引起的干涉条纹 D7olu29 iaLsIy#h bQrH8) 文件信息 +I;b,p 1ePZs$ ]xCJ3.9
QQ:2987619807
|