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摘要 'd;aAG f`\J%9U _O 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 A)d0Z6G` glKPjL * 建模任务 {l_D+B; @Eh(GZN 3+:NX6Ewb* 元件倾斜引起的干涉条纹 |8x_Av0 *tkf)[( 99]s/KD2yb 元件移位引起的干涉条纹 CUjRz5L L;b-=mF /w2IL7} 文件信息 vt5>>rl S_VzmCi 7ruWmy;j
QQ:2987619807
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