切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • Zemax光学设计从入门到精通 光学系统设计：理论、仿真与系统检测 Zemax光学设计实践基础(陈家璧) ZEMAX光学系统设计实战
    讯技光电:VirtualLab Fusion独家供应商 光学设计与光学元件 CODE V,LightTools,RSoft,LucidShape 计算光学带来的成像革命
    发帖 回复
    返回列表
    • 1426阅读
    • 0回复

    [分享]马赫-曾德尔干涉仪 [复制链接]

    		 上一主题 下一主题
    离线infotek
    科学家
     
    发帖
    6441
    光币
    26350
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-04-16
    摘要 gH// TbS  
     [K@!JY  
    干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓，缺陷，机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程，在非序列场追迹的帮助下，我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪，本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 dB/I2uGl>  
    UkbQ'P+oS  
    建模任务 H1qw1[%0y  
    C{,] 1X6g  
    JU \J  
    元件倾斜引起的干涉条纹 UuC"-$:  
    (ai-n,y  
    vk+%#w  
    元件移位引起的干涉条纹 t}+c/ C%b=  
    PH%gX`N  
    il%tu<E#J~  
    文件信息 Yn2^nT=8  
     j?hyN@ns  
    f/i,Zw  
    QQ：2987619807
     
    回复
    举报
    分享到
    发帖 回复
    返回列表