角分辨散射测量仪ALBATROSS

发布:summer20200907 2021-03-25 10:49 阅读:1087
左图:角分辨光散射测量仪ALBATROSS;右图:532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
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系统简介 aXG|IN5 *m  
HFTeG4R  
ALBATROSS(3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement )是一个大型的测量样本反射光,透射光,以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高,并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光,也可测量光散射的光谱特性。 VzIZT{  
6({)O1Z  
特征及技术参数 B|yz~wu S  
< W`gfpzO  
-  可测量参数:散射光(角分辨散射ARS,双向反射分布BRDF, GDe,n  
-  双向透射分布BTDF,散射损耗),θ-2θ测量,反射,透射。(3D) *s-s1v  
-  入射光与探测器可共面或异面。 *o\AP([@  
-  入射角,散射角(方位角和极角)以及光源的偏振态均可调整。 _| cSXZ|  
-  可对样品进行扫描。 +N7<[hE;  
-  动态范围: 13个数量级。 H&%oHyK  
-  最低ARS级别:5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 F$jy~W_  
-  对粗糙度的最小分辨率:< 0.1 nm 。 Otx>S' 5  
-  波长范围:225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 X }i2qv  
-  样本规格:最大尺寸直径700mm。 }9W[7V?  
-  方便操作的测量及分析软件 Ha/Qz'^S;  
-  可分析值: 粗糙度,PSD等。 l4.ql1BX@y  
JZ![:$:  
应用 !g6=/9  
q_`j-!  
对表面,薄膜以及材料性质进行表征和分析 VpAwvMw  
-  产品质量检测。 G`jvy@  
-  光学性能分析。 /kK!xe  
-  粗糙度分析。 .0RQbc9  
仪器咨询QQ:939912426 wIR"!C>LE  
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