角分辨散射测量仪ALBATROSS

发布:summer20200907 2021-03-25 10:49 阅读:1029
左图:角分辨光散射测量仪ALBATROSS;右图:532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
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系统简介 kM JA#{<  
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ALBATROSS(3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement )是一个大型的测量样本反射光,透射光,以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高,并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光,也可测量光散射的光谱特性。 R?Ou=p .  
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特征及技术参数 pRez${f.(s  
J? 4E Hl  
-  可测量参数:散射光(角分辨散射ARS,双向反射分布BRDF, EjF2mkA*  
-  双向透射分布BTDF,散射损耗),θ-2θ测量,反射,透射。(3D) C" 2K U*  
-  入射光与探测器可共面或异面。 6eB2mcV  
-  入射角,散射角(方位角和极角)以及光源的偏振态均可调整。 mzGMYi*  
-  可对样品进行扫描。 3!*qB-d  
-  动态范围: 13个数量级。 x o{y9VS  
-  最低ARS级别:5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 :T9 P9<  
-  对粗糙度的最小分辨率:< 0.1 nm 。 %s;=H)8  
-  波长范围:225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 1Z_2s2`p  
-  样本规格:最大尺寸直径700mm。 "?n;dXYSi  
-  方便操作的测量及分析软件 ]IM/R@  
-  可分析值: 粗糙度,PSD等。 &`LR{7m  
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应用 VLP'3 qX  
0Z&ua  
对表面,薄膜以及材料性质进行表征和分析 8bf~uHAr  
-  产品质量检测。 7 ~9Lj  
-  光学性能分析。 b+tm[@|,v  
-  粗糙度分析。 o+% ($p  
仪器咨询QQ:939912426 8iwH^+h~  
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