角分辨散射测量仪ALBATROSS

发布:summer20200907 2021-03-25 10:49 阅读:1252
左图:角分辨光散射测量仪ALBATROSS;右图:532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
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系统简介 _dd! nU\A|  
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ALBATROSS(3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement )是一个大型的测量样本反射光,透射光,以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高,并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光,也可测量光散射的光谱特性。 U| Fqna  
2.%)OC!q&5  
特征及技术参数 -fA=&$V  
90W= v*  
-  可测量参数:散射光(角分辨散射ARS,双向反射分布BRDF, ZMgsuzg  
-  双向透射分布BTDF,散射损耗),θ-2θ测量,反射,透射。(3D) Zo&i0%S\E  
-  入射光与探测器可共面或异面。 JyE-c}I  
-  入射角,散射角(方位角和极角)以及光源的偏振态均可调整。 62R";# K  
-  可对样品进行扫描。 &wK:R,~x6  
-  动态范围: 13个数量级。 BC.3U.  
-  最低ARS级别:5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 C5dM`_3L  
-  对粗糙度的最小分辨率:< 0.1 nm 。 hE(R[hc  
-  波长范围:225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 ]?VVwft  
-  样本规格:最大尺寸直径700mm。 8*0QVFn$  
-  方便操作的测量及分析软件 hc q&`Gun  
-  可分析值: 粗糙度,PSD等。 59)w+AW  
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应用 ,1mL=|na  
O^~IY/[  
对表面,薄膜以及材料性质进行表征和分析 -8qCCV&1i  
-  产品质量检测。 >1!u]R<3  
-  光学性能分析。 7zw0 g~+  
-  粗糙度分析。 8<Iq)A]'Z  
仪器咨询QQ:939912426 gvT}UNqL  
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