角分辨散射测量仪ALBATROSS

发布:summer20200907 2021-03-25 10:49 阅读:992
左图:角分辨光散射测量仪ALBATROSS;右图:532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
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系统简介 {U @3yB  
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ALBATROSS(3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement )是一个大型的测量样本反射光,透射光,以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高,并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光,也可测量光散射的光谱特性。 &^QPkX@p  
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特征及技术参数 v|@1(  
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-  可测量参数:散射光(角分辨散射ARS,双向反射分布BRDF, W kkxU.xXE  
-  双向透射分布BTDF,散射损耗),θ-2θ测量,反射,透射。(3D) Y`li> .\  
-  入射光与探测器可共面或异面。 *@M3p}',M  
-  入射角,散射角(方位角和极角)以及光源的偏振态均可调整。 McP.9v}H0_  
-  可对样品进行扫描。 s (PY/{8  
-  动态范围: 13个数量级。 X#J6Umutm  
-  最低ARS级别:5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 1i-[+   
-  对粗糙度的最小分辨率:< 0.1 nm 。 ,b.n{91[]x  
-  波长范围:225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 qu{mqkfN>  
-  样本规格:最大尺寸直径700mm。 h_ ZX/k  
-  方便操作的测量及分析软件 P[i\e7mR  
-  可分析值: 粗糙度,PSD等。 &?<AwtNN  
0X"\ a'M_  
应用 P;U@y" s  
F=Y S^  
对表面,薄膜以及材料性质进行表征和分析 )x\z@g  
-  产品质量检测。 g9V.13k  
-  光学性能分析。 z,Xk\@  
-  粗糙度分析。 /tC9G@Hl  
仪器咨询QQ:939912426 lX;mhJj!  
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