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    [分享]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-03-19
    摘要 W RBCNra  
    nQtp4  
    高数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 M_OvIU(E  
    3Uy48ue  
    @L9C_a  
    +nz6+{li\  
    建模任务 f"{|c@%  
    JNJ96wnX1  
    K1gZ>FEY|N  
    概述 8JFns-5  
    A"V($:>U  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 "CX@a"  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 InAx;2'A:  
    _s1pif  
    :rBPgrt  
    m\0Xh*  
    光线追迹仿真 5}+&Em":  
    Cwh*AKq(  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 :j)v=qul  
    •单击go! KkIgyLM  
    •获得了3D光线追迹结果。 =(3Yj[>st  
    H,{WrWA  
    xa=Lu?t%<  
    JZo18^aD"'  
    光线追迹仿真  v<_wf  
    G0izZWc  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 ev{;}2~V  
    •单击go! 4eRV?tE9  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 a(eKb2CX  
    .:b&$~<  
    ;!C~_{/t  
    O-=~Bn _  
    场追迹仿真 Nueb xd  
    }MiEbLduN  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 GBvgVX<  
    •单击go! l9P=1TL  
    4#D<#!]^  
    sU=7)*$  
    DD?zbN0X  
    场追迹仿真(相机探测器) e!B>M{  
    8E+]yB"  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 nj (\+l5  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 ,u<oAI`  
    2LTMt?  
    .,9e~6}  
    0D s W1  
    场追迹仿真(电磁场探测器) =-m"y~{>3  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 S=@bb$4-T  
    yU{Q`6u T  
    gic!yhsS_  
    XH`W(  
    场追迹仿真(电磁场探测器) [Nw%fuB  
    6/=0RTd  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 ,8`CsY^1  
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    文件信息 ? koIZ  
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    更多阅读 K-2oSS56  
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    -Optical System for Inspection of Micro Structured Wafer }HKt{k&$  
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    QQ:2987619807  %ZR<z$  
     
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