-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2026-03-10
- 在线时间1939小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 TAL,(&[s l4Au{%j\ 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 3Z0ez?p+5 ,9,cN-/a
l,fwF ua _uXb 9 建模任务 d1jg3{pwA 8*zORz ?)NgODU 概述 ]S0=&x@, {Jbouj?V! •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 *.us IH2 •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 Vh ?5 oU l0w~Xn
g)dKXsy(F g"{`g6(+ 光线追迹仿真 8|JPQDS7 (N"9C+S} •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 / jLb{Ky •单击go! Ly46S •获得了3D光线追迹结果。 mUan(iJ /07iQcT(
xiv8q/ q}PUwN6 光线追迹仿真 -6W$@,K zK_Q^M` •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 HXm&` •单击go! (N6=+dNY •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 |zbM$37?k x)R1aq
Prc( ~%eZQgqA* 场追迹仿真 &>n:7 5X PoQ^ •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 I*z|_}$ •单击go! :]icW^% /z
m+ #.<Dq8u :jAsm[ 场追迹仿真(相机探测器) HQZJK82 )Vz=:.D •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 v65]$%F? •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 (fYYcpd,k 4`Cgz#v
{
C%#w1k J``5;%TJp 场追迹仿真(电磁场探测器) lSfPOx;* •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 rR4?*90vjj 8UzF*gS m2%n: T|&u? 场追迹仿真(电磁场探测器) ZcHd.1fXh (zPsA •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 *V_b/Vt !'C8sNs
)j QrD` Sc ijf 9 文件信息 W!+eJ!Da vA{DF{S4
Jt:)(&-t 8%`h:fE 更多阅读
z5_jx&^Z BXNC(^ -Optical System for Inspection of Micro Structured Wafer "yK)9F[9Mo -Imaging of Sub Wavelength Gratings by Using Vector Beam Illumination 6P
T) %(S!/(LWW zjTCq; G QQ:2987619807 _aU
:[v*!
|