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摘要 1Z/(G1 hE'-is@7 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 i(rL|d+' <Uk}o8E ehGLk7@7& c)6m$5] 建模任务 Gt8M&S-; : %_LpZ jh?H.;** 概述 D#9m\o_ -lr
vKrt7 •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 z}77Eh< •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 0I-9nuw,^; niMsQ +B,}Q r 60^`JVGWH 光线追迹仿真 6fE7W>la sg^zH8,3 •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 6IN
e@ •单击go! fh&nu"& •获得了3D光线追迹结果。 \}yc`7T:L0 '|6]_ >mbHy<< jKz$@gP 光线追迹仿真 wyH[x!QX ih-#5M@ •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 m+`cS=-. •单击go! F>SRs =_ •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 { T/[cu< OR P\b nmee 'oEw x /(^7#u, 场追迹仿真 Y,qI@n< np|Sy;: •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 yt+L0wzzB •单击go! r5S[-`s; ^)/0yB >>4qJ%bL 0Uz"^xO[" 场追迹仿真(相机探测器) d(ZO6Nr Q :^lI`9'*R •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 etQCzYIhn •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 B9 _X;c i'<[DjMDlm dM.f]-g A7{\</Z 场追迹仿真(电磁场探测器) R3f89 •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 B&M%I:i Qab>|eSm \k7"=yx ,C\i^>= 场追迹仿真(电磁场探测器) ^cC,.Fdw @-07F,'W, •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 nQZx=JK 1/B>XkCJ ~Y[r`]X`"m @f>-^ 文件信息 AG
nxYV"p R`5.[?Dt nt;m+by 5:[0z5Hww 更多阅读 3Y4?CM&0v k!j5tsiR -Optical System for Inspection of Micro Structured Wafer r.=K~A -Imaging of Sub Wavelength Gratings by Using Vector Beam Illumination @}u*|P* D(op)]8 x3=A:}t8 QQ:2987619807 Ys9[5@7
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