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摘要 ,?I(/jI &eU3(F`. 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 w\p9J0 W5|j1He& (N7O+3+G 5 1"8Py 建模任务 zqY)dk Q]^Yi1PbS !KAsvF,j 概述 3Mur*tj# G#|Hu;C6" •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 RU7!U mf •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 J,9%%S8/C vsc&Ju%k moaodmt]x ~+=E"9Oo 光线追迹仿真 *CzCUu:%t tR5tPPw •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 /-><k,mL? •单击go! >r=6A
•获得了3D光线追迹结果。 J+lGh9G z$66\/V'] w1cw1xX* ldYeX+J
_ 光线追迹仿真 svqvG7 Nkx0CG* •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 I=o'+>az •单击go! s+'XQs^{aj •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 ,&[7u9@ i_NJ -K #%4=)M>^ ]H>+m
9 场追迹仿真 ![).zi+m z|Ap\[GS •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 M}u1qXa •单击go! 95[wM6?J VjY<\WqbS 8ZW?|-i m9woredS, 场追迹仿真(相机探测器) GY9y9HNZ GyuV
% •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 GZ"&L?ti •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 b[yE~EQxr 'bC]M3P s%^o*LQ|9 ^EuW(
" 场追迹仿真(电磁场探测器) 2uEhOi0I •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 gJK KR]4* \q,s?`+B i%MA"I\9 dqxd3,Z 场追迹仿真(电磁场探测器) g}m+f]| c_Tzyh7l4 •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 Qm; BUG] !!*;4FK"q >T QZk4$ ogJ<e_m 文件信息 Mc:bU |by@ :@*y St2Q7K5s{ *Q5x1!#z# 更多阅读 !)nD xM`p >D~w}z/fk -Optical System for Inspection of Micro Structured Wafer !LiQ 1`V{ -Imaging of Sub Wavelength Gratings by Using Vector Beam Illumination -%H%m`wD c|Y!c!9F {@45?L(' QQ:2987619807 2f^-~dz
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