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摘要 \o[][R#D )&O2l 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 `(HD'f ud3 :
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nu\AEFT <CuUwv
'A 建模任务 ,VVA^'+ C+**!uYIB *MmH{!= 概述 (y]Z *p:EW Kc\8GkdB •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 l3Zi]`@r •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 fPD.np} X,w X)9]J
W_M#Gi/AL 0V3dc+t)O 光线追迹仿真 aH."|
*. 9~W]D!m, •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 ^ l#6Es •单击go! 4:rwzRDY •获得了3D光线追迹结果。 oH=?1~e L-`V^{R]
sA?8i:]O: jr)M], 光线追迹仿真 C1NU6iV^z QtnNc!,n •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 'EIe5Op •单击go! '/xynk%)xw •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 F62 uDyY Ni>Ns=n
nRBS&&V OS#aYER~/ 场追迹仿真 %}TJr]'F a^l)vh{+ •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 FcM)v"bF&] •单击go! =i vlS (NFrZ0 ;av!fK F3(SbM- 场追迹仿真(相机探测器) &fB=&jc*j `C: 7N=9 •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 YtvDayR> •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 7<WUjK| 8:& !F`o
$CMye; yL ;7s^slVzF 场追迹仿真(电磁场探测器) c#{|sR5 •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 Ac U@H0 ZS+m}.,whQ H8w[{'Mei
%"r9;^bj&< 场追迹仿真(电磁场探测器) -crMO57/ v`K%dBa •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 {g nl6+j &UH0Tw4
8WV5'cX ]8%E'd 文件信息 n`Z}tQ%)o X[.%[G|oj}
9 RDs`>v wzy[sB274 更多阅读 Crc6wmp X% 05[N -Optical System for Inspection of Micro Structured Wafer "=DQ { (L -Imaging of Sub Wavelength Gratings by Using Vector Beam Illumination S6M7^_B4F Xd A]);, e^N~)Nlj QQ:2987619807 :"#
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