-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2026-02-11
- 在线时间1927小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 8>E_bxC an4^(SY 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 JYY:~2
pzo9?/-
];-DqK' Y:~A-_ 建模任务 o)X(;o D^?jLfW8 hnQDm$k 概述 J3]W2m2Zw 6I$laHx? •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 +h64idM{U •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 V)$y _f~(g1sE
$`2rtF +<G |Ru- 光线追迹仿真 -+'fn$ 19Cs
3B \4 •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 @R5jUPUVV •单击go! Bf72 .gx{0 •获得了3D光线追迹结果。 pJ` M5pF 'IorjR@40
hi{#HXa yGNZw7^( 光线追迹仿真 K3jPTAw=# Ub0hISA •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 iqzl (9o.D •单击go! jWn!96NhlL •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 4%8}vCs U4DQ+g(A
bIFKP TZ`@pDi 场追迹仿真 nkKiYr p2c4 <f-M •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 *%G$[= •单击go! Lx{bR= 2Xu?/yd yI&{8DCCw |-WoR u 场追迹仿真(相机探测器) ]L'FYOfrpx dQoZhE •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 -S7PnR6 •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。
-= W" 59?@55
HT]v S}s f8ap+][ 场追迹仿真(电磁场探测器) \JJ>y •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 b-/zt Z@u =j)y.x( -mSiZ rAc
Yt9M# 场追迹仿真(电磁场探测器) _eB?G L{v^: •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 OH.Re6Rr )$V &Nf
$ae*3L>5M pUvbIbg+ 文件信息 `w_?9^7mH h[5<S&
S(7_\8h 5e!YYt> 更多阅读 .YvE -Jo8jE~>V -Optical System for Inspection of Micro Structured Wafer jzuOs,:R -Imaging of Sub Wavelength Gratings by Using Vector Beam Illumination 3pxm0| M`W%nvEDE Nhh2P4gH QQ:2987619807 dcFqK~
|