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摘要 tORDtMM9+ <.7W:s,f= 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 :+DAzjwO< %4To@#c
(K"t</] y(#F&^| 建模任务 @7PE&3 I@a7!ugU65 -JF|770i 概述 DA4!-\bt@ U|h@Pw z •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 Iq":
U •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 ;rta#pRn
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I|[aa$G }\ui}\ 光线追迹仿真 ;Wr,VU] Z42v@?R.!W •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 }Lwj~{ •单击go! "=!QSb •获得了3D光线追迹结果。 h$zPQ""8 @p2dXJeR<
;v+CQx s.dn~|a 光线追迹仿真 H"?-&>V- J=]w$e ?.P •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 cl7+DAE •单击go! f<'&_*7,|t •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 Zk;;~ESOU uJp}9B60_
"Lpt@g[HF k0D&F;a% 场追迹仿真 Sdt2D .}y
Lz •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 NtOR/*
•单击go! 3yD5u nt[0krG v <Ze$^e& TuCOoz@d 场追迹仿真(相机探测器) 't_=%^q o_*|`E •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 ~O
6~',KD •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 u]MF
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&Y=NUDt_ >a-+7{}; 场追迹仿真(电磁场探测器) ng<`2XgU •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 ta 6WZu 246lFxG. rqh,BkQ0t zXf+ie o 场追迹仿真(电磁场探测器) D\l.?<C g4$%)0x% •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 +@qk=]3a fY"28#
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d=KOV;~); C[&&.w8Pm 更多阅读 /[IQ:':^ xR&,QrjQG -Optical System for Inspection of Micro Structured Wafer KE&}*Nf[ -Imaging of Sub Wavelength Gratings by Using Vector Beam Illumination KE3
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