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摘要 .@V>p6MV _%B`Y ?I` 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 [t'"4 ]42l:at
s,x]zG" 2T9Z{v 建模任务 1L7,x @w eo[^ij w (1a{m?ht 概述 O/nS,Ux ^eii
4 •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 DAi[3`C •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 x
,W+:l9~s f6) H!SI
r MlNp?{_ 7(Kc9sJC%% 光线追迹仿真 WTx;,TNG 1\uS~RR •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 ,?+yu6eLb •单击go! =UY@,*q:c •获得了3D光线追迹结果。 dGe ;U&VPIX$
X*Zv,Wm +L6d$+ 光线追迹仿真 AP%h!b5v ;Lu|fQ#u* •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 \ :.p8` •单击go! b8&9pLl •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 /Y:Zqk3 p20Nk$.
|1o]d$3m 4tjRju? 场追迹仿真 m`~ Qr~ mf#oa~_ •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 rH,N.H#] •单击go! ~WSC6Bh@9 cf9y0 _[W=1bGJ Wj&s5;2a 场追迹仿真(相机探测器) .PgkHb=l@ K9R[
oB]b •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 >\ W" 3. •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 &BkNkb 0 xlAaIo)T
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UgBA #~b9H05D 场追迹仿真(电磁场探测器) ) =[Tgh •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 S(pfd2^ y06 2/$*$ C;` fOCz^ M%/D:0 场追迹仿真(电磁场探测器) ^^m%[$nw&r DWAU8>c+ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 6x 0>E^~ j^gF~Wz^
_~!,x.Dbp ?k#%AM 文件信息 J0IK=Y hY!G>d{J
LBg#KQ@ zv41Yv!x} 更多阅读 $aG'.0HW WKG=d]5 -Optical System for Inspection of Micro Structured Wafer ,3wo -Imaging of Sub Wavelength Gratings by Using Vector Beam Illumination f]Vz !hM~ wP%;9y2B z,)Fvs4U. QQ:2987619807 HwHI$IB
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