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摘要 4/Vy@h"A3 Mohy;#8Wk 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 &.\|w ,r,~1oV<"
X@ljZ 'm;M+:l
6 建模任务 owA0I'|V-A a-`OE" f[@M 概述 4E Hb .?TPoqs7Z •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 .CrrjS w •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 2Qoj>Wy{ "!yKX(aTX
-V'`;zE6 A/ eZ!"Y 光线追迹仿真 iw,F)O 5X7kZ!r •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 ^UF]%qqOn •单击go! M!=WBw8Y]a •获得了3D光线追迹结果。 2C@hjw( cU y,q]PO
Y:nF.An3 bw@DcT&, 光线追迹仿真 JlR'w]d M, L"i
B'= •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 >.D0McQg •单击go! (1bz.N8z •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 ZKGS?z %j].'
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pai>6p !;SpQ28 场追迹仿真 eQk ~YA]K Y$^x.^dT, •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 K8dlECy •单击go!
TA47lz q qAH@)} LE_1H> hT&,5zaWdv 场追迹仿真(相机探测器) Mk=;UBb$X mm3goIi;Y •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 i^{.Q- •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 1i}Rc: _tfZg /+)
^n@. >4:W:;R 场追迹仿真(电磁场探测器) r)|X? •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 p{j
}%)6n JM{S49Lx '3>kD H+ =&*:) 场追迹仿真(电磁场探测器) 29"eu#-Qj s,TKC67.%+ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 XA~Rn>7&H PUB|XgQDY:
(o_fY. pRtxyL"y 文件信息 j%iz> y2V9!
a1p:~;f}[ 5_+vjV;5 更多阅读 /&=E=S6 Z*d8b -Optical System for Inspection of Micro Structured Wafer \#5t%t -Imaging of Sub Wavelength Gratings by Using Vector Beam Illumination 8<$6ufvOv [L1pDICoy 9?r|Y@xh ] QQ:2987619807 w,NK]<dU@
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