切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 1356阅读
    • 0回复

    [分享]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    6589
    光币
    27094
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-03-19
    摘要 YXTd^M~@D  
    QCvst*  
    高数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 c+]5[6  
    *7!*kq g!u  
    G+jcR; s  
    qISzn04  
    建模任务 `xu/|})KI  
    Ec|5'Kz]  
    ~@EBW3>~5  
    概述 1EA}[x  
    ZbLN:g}  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 "?Xb$V7  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 2ee((vO&  
    ScTeh  
    mX QVL.P\  
    ,2^zX]dgM  
    光线追迹仿真 C-L["O0[  
    (Qz| N  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 I=wA)Bli1p  
    •单击go! ? Eh)JJt  
    •获得了3D光线追迹结果。 "(SZ;y  
    ~JxAo\2i  
    rTLo6wI  
    ~0XV[$`L  
    光线追迹仿真 FR1se  
    agxR V  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 Rac4a@hZ  
    •单击go! s4Y7x.-  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 99..]  
    nV+]jQ~o  
    nXcOFU  
    9x[|75}l  
    场追迹仿真 5nJmabw3  
    +UC-  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 !JVpR]lWS  
    •单击go! lhhp6-r  
    U4$CkTe2Y  
    '9#h^.  
    z2.ZxL"*  
    场追迹仿真(相机探测器) Zp*0%x!e  
    [}!obbM  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 Sej\Gt  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 )nJh) {4\  
    .f]2%utHB  
    6N.+  
    7e D<(  
    场追迹仿真(电磁场探测器) ~J,e^$u  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 .|9o`mF7  
    q2KWSh5  
    L;s,xV  
    3"J85V%h]n  
    场追迹仿真(电磁场探测器) QnNddCiu=  
    KF4}cM=.5  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 iH""dtO  
    dY%>C75O  
    Me e+bp  
    #'jd.'>  
    文件信息 vD*9b.*  
    }c~o3t(7`b  
    v&i,}p^M5  
    4Sxt<7[f  
    更多阅读 5Myp#!|x:  
    `;fk,\8t%  
    -Optical System for Inspection of Micro Structured Wafer )w3HC($g  
    -Imaging of Sub Wavelength Gratings by Using Vector Beam Illumination
    %;{R o)03  
    j? P=}_Ru  
    EZvf\s>LT  
    QQ:2987619807 C%y!)v_x  
     
    分享到