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摘要 }\pI`;*O| V5|ANt 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 3Ob.OwA s6H'}[E<
K%^n. (!j#u)O 建模任务 ~j0rORy] v
gN!9 DE?v'7cmA 概述 @KG0QHyiU t6+m` Kq •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 V"FQVtTx7 •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 '<Z[e`/ @Mk`Tl
}5 o?7}? pYO =pL^Q 光线追迹仿真 MvVpp;bd R>'
%}|v/ •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 ]@q%dsz •单击go! <@<rU:o=V •获得了3D光线追迹结果。 =x~I'|%3 >rG>Bz^Pu
5dBftTv? GW2\YU^{ 光线追迹仿真 ^l &lwSRVt h8rW"8Th •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 :t?B) •单击go! HL)!p8UHJ •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 8^mE< &H(yLd[
]`^! ]Ql ^E&PZA\,; 场追迹仿真 OLw]BJXYaE e3~MU6 •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 7]{g^g.9- •单击go! 9hp&HL)BOa Uqr>8|t? yzK; p|UL<M9{a] 场追迹仿真(相机探测器) OG\i?N 8&<:(mAP •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 gesbt •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 .hTqZvDa XN<SKW(H3
q*!R4yE; C nD
wh 场追迹仿真(电磁场探测器) _0H oJ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 Z~'t'.=z 5'%I4@Qn+ !\4x{Wa] m_NX[>&Y3 场追迹仿真(电磁场探测器) hU)t5/h;K ~/OY1~c •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 <O#&D|EMd| 1#vy# '
1 $E(8"l d\z6Ob"t 文件信息 ttP7-y /Vlc8G
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