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摘要 Qs8Rb ]%| F<Z13]| 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 Ev1gzHd!i _>Oc>.MB
NPt3#k^bW [}?E,1Q3 建模任务 wl%I(Cw{] /k=krAz. {[r}gS% 概述 SM[VHNr,- o65I(` •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 )$QZ",&5 •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 X/A(8rvCr qE{L42
'F Cmbry !+3nlG4cw 光线追迹仿真 _?;74VWA
X"Q\MLy •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 2%~+c|TH.) •单击go! pw=o}-P{ •获得了3D光线追迹结果。 .-.b:gdO( /3qKsv#
XOPiwrg%p kFQx7m 光线追迹仿真 ic?(`6N8 !'kr:r}gg •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 -}"nb-RR\ •单击go! He LW* •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 opon"{ a- 7RJ.
rVDOco+w +pbP;zu 场追迹仿真 ZEG~ek=jM 9PJnKzQ4 •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 dIk9C|-. •单击go! jluv}*If 256V
xn :VlMszy}B3 (4FZK7Fm 场追迹仿真(相机探测器) gmtS3, M8f[ ck •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 "Q;Vy t •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 \r-v]]_<d 8,]wOxwqi
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B{7u 场追迹仿真(电磁场探测器) G Cp90 •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 >9X+\eg- ZKVM9ofXRi -5,+gakSk .8]=yPm 场追迹仿真(电磁场探测器) e
J:#vX86 8hZc#b; •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 <|VV8r93 c"NGE
@Qd5a(5W M -z>m]YDH 文件信息 r-&* `Jh a0hgF_O1
P7;q^jlB s,7OoLE 更多阅读 UDHMNubB f!JSb?#3 -Optical System for Inspection of Micro Structured Wafer Hh &s.ja -Imaging of Sub Wavelength Gratings by Using Vector Beam Illumination z"V`8D \;!g@?CA F& ['w-n% QQ:2987619807 uo7[T*<Q
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