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摘要 H%etYpD W#E(?M[r 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 ~Uey'Xz _RbM'_y+E
SM%/pu; {}rnn$HQe 建模任务 dpK- ecQ{ePoU .ZV='i()X 概述 I$p1^8~L "}#%h&, •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 wy8Q=X:vP •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 ;obOr~Jx'5 O!^ >YvOh
J3~%9MCJ '=%`;?j 光线追迹仿真 j*[P\Cm
D~BL Txq •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 %P M#gnt@ •单击go! |TP, •获得了3D光线追迹结果。 }mzd23^W>P KO~KaN
_x1W\# Z^z{,
u;! 光线追迹仿真 LMx/0 Yh!=mW!OY •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 MmfBFt* •单击go! 1G"ohosmF •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 OzD\*,{7 *9uNM@7&0
<7SE| u$C\#y7 场追迹仿真 ~]QQaP X7AxI\h •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 bmK •单击go! `/`iLso&- </D.}ia |JF,n~n IW&*3I<K 场追迹仿真(相机探测器) (,jsZ!sl m;\nMdn •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 !=PH5jTY •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 rks"y&&Nc 5>+@.hPX
[DDe}D3C -gk2$P- 场追迹仿真(电磁场探测器) 4H%#Sn#L^! •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 ej@4jpHQN |>.MH j6RV{Lkr_ 7)5G 1 场追迹仿真(电磁场探测器) Xwdcy J! >l><d!hw •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 :$k1I-^R )W>$_QxbN
nOd;Zw G+Z ,ic 文件信息 G4*&9Wo J$42*S Y
[?|yQ x r7g@(K 更多阅读 NK/y,f6 LKp;sV -Optical System for Inspection of Micro Structured Wafer #n{4f1TZ -Imaging of Sub Wavelength Gratings by Using Vector Beam Illumination >
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