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摘要 ?N<* ATCL wIz<Y{HA= 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 #.UooFk+Y [
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P 建模任务 YA O,
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o+l >_(Xb%w 概述 B1oi]hDy : I28Zi* •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 T>e!DOW; •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 PuqT&|wP l :TqvL'9o
e)LRD&Q /Y:&307q 光线追迹仿真 _?kjIF ;BUJ5 •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 Ol6jx%Je` •单击go! ;3OQgKI •获得了3D光线追迹结果。 hC?:XVt W'u6F-$2
P7 O$* xV[X#.3 光线追迹仿真 P?VGY #\[h.4i •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 ~q4KQ&.! •单击go! @&t';"AE •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 [X]yj t=o0
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0B#9CxU% A94ZG: 场追迹仿真 5drc8_fZ 56t9h/y •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 Md(AqaA •单击go! .|iMKRq ggtGecKm @^]wT_r A Vf'"~? 场追迹仿真(相机探测器) QPB@qx#@ +?Vj}p; •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 _jg&}HM •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 ".A+'pJ L)W1bW}
G66sPw gcDo o2RE 场追迹仿真(电磁场探测器) @TF^6)4f •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 `!WtKqr%B .'N:]G@! qpzzk9ba[ f.8Jp<S2K 场追迹仿真(电磁场探测器) "}
=RPc%9 d5h]yIz^ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 uvR9BL2= )rcFBD{vM
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