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摘要 .qZz'Eq[ Er
j{_i?R? 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 r/ g{j u$[8Zmgzz
'hBnV xd& AmDOv4 建模任务 2!B|w8ar 'ZMh<M[ [j'!+)>_ 概述 t7x<=rW7u W5`p Qdk •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 )/)u.$pi •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 ]9/A=p?J@ L{F]uz_[x
@U5gxK* %?gG-R 光线追迹仿真 Tt~[hC
h SIrNZ^I •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 E:**gvfq •单击go! K\U`gTGc •获得了3D光线追迹结果。 Z@Q*An g&2g>]
Y3:HQ0w`| ]9w)0iH 光线追迹仿真 _p0Yhju? qX-5/;n •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 hui
#<2{ •单击go! Sj(>G; •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 ~$T>,^K
y ,(x`zpp _
<H60rON zMP6hn 场追迹仿真 hjg1By( |f$+|9Q? •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 =Vs?=|r •单击go! V>)/z|[ #`|Nm3b }WC[<AqI *'8q?R?7g 场追迹仿真(相机探测器) &57~i=A
3 IW<rmP=R& •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 \X*y~)+K` •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 A~vx,|I Qv~@
U~ a\v8l~ #bt f|\D 场追迹仿真(电磁场探测器) p! :oT1U •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 K(upzn*a S5>ztK.e PsNrCe%e QEt"T7a[/ 场追迹仿真(电磁场探测器) q6-o!>dLQ (VMCVZ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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W>w(|3\ >uYQt~s 文件信息 cb)7$S L1!~T+%uQ
MhHh`WUGh bskoi;)u 更多阅读 nrev!h u=qK_$d4 -Optical System for Inspection of Micro Structured Wafer 1ds4C:M+< -Imaging of Sub Wavelength Gratings by Using Vector Beam Illumination `x
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