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    [分享]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-03-19
    摘要 !@6P>HzY$  
    q,e{t#t  
    高数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 KOQiX?'  
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    建模任务 [ H~Yg2O  
    tYe+7s  
    $q"/q*ys  
    概述 Lg;b17  
    UxGr+q  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 Mz?xvP?z  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 jb~W(8cj  
    O }ES/<an  
    >M}\_c=  
    For`rfR  
    光线追迹仿真 $0-}|u]5U  
    dz3KBiq  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 v jTs[eq>  
    •单击go! /0S2Om h  
    •获得了3D光线追迹结果。 TT85G&#  
    5} v(Ks>  
    WFGcR9mN?  
    Dw%V.J/&o  
    光线追迹仿真 .J/x@  
    b `W2^/D  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 S.: m$s  
    •单击go! miWPLnw=L  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 2H,^i,  
    6%j v|\>  
    v?s]up @@h  
    # NoY}*  
    场追迹仿真 3SI~?&HU!/  
    "mbjS(-eg  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 5l(8{,NDt  
    •单击go! )2nx5 "  
    $uPM.mPFE  
    /~8<;N>,+  
    G{ |0}  
    场追迹仿真(相机探测器) CMcS4X9/}  
    ?g ~w6|U(r  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 ?Aq \Gr  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 6w?l I  
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    (Xak;Xum1  
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    场追迹仿真(电磁场探测器) QbN7sg~~  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 xr;:gz!h  
    K)D5%?D  
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    场追迹仿真(电磁场探测器) Wzn!BgxRr  
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    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 ZaNZUVBh  
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    文件信息 `rwzCwA1  
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