-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2026-02-04
- 在线时间1926小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 YXTd^M~@D QCvst* 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 c +]5[6 *7!*kqg!u
G+jcR; s qISzn04 建模任务 `xu/|})KI Ec|5'Kz] ~@EBW3>~5 概述 1EA} [x ZbLN:g} •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 "?Xb$V7 •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 2ee((vO&
ScTeh
mX
QVL.P\ ,2^zX]dgM 光线追迹仿真 C-L[" O0[ (Qz|
N •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 I=wA)Bli1p •单击go! ? Eh)JJt •获得了3D光线追迹结果。 "(SZ;y ~JxAo\2i
rTLo6wI ~0XV[$`L 光线追迹仿真 FR 1se a gxR
V •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 Rac4a@hZ •单击go! s4Y7x.- •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 99..] nV+]jQ~o
nXcOFU 9x[|75}l 场追迹仿真 5nJmabw3 +UC- •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 !JVpR]lWS •单击go! lhhp6-r U4$CkTe2Y '9#h^. z2.Z xL"* 场追迹仿真(相机探测器) Zp*0%x!e [}!obbM •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 Sej\Gt •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 )nJh) {4\ .f]2%utHB
6 N.+ 7e
D<( 场追迹仿真(电磁场探测器) ~J,e^$u •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 .|9o`mF7 q2KWSh5 L;s,x V 3"J85V%h]n 场追迹仿真(电磁场探测器) QnNddCiu= KF4}cM=.5 •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 iH""dtO dY%>C75O
Mee+bp #'jd.'> 文件信息 vD*9b.* }c~o3t(7`b
v&i,}p^M5 4Sxt<7[f 更多阅读 5Myp#!|x: `;fk,\8t% -Optical System for Inspection of Micro Structured Wafer )w3HC($g -Imaging of Sub Wavelength Gratings by Using Vector Beam Illumination %;{Ro)03 j?
P=}_Ru EZvf\s>LT QQ:2987619807 C%y!)v_x
|