-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2026-02-11
- 在线时间1927小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 Vhr 6bu] O%haaL\ 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 +cKOIMu9 *||Q_tlz
G6+6uWvl 9%bErMHL 建模任务 \A)Pcc}7 SpYmgL?wJ MSRk|0Mcr 概述 *adznd M?GkHJ %! •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 p#_5w •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 Zo
}^"u @th94tk,
drk BW}_ upX@8WxR 光线追迹仿真 |~PaCw8-ge 6As%<g= •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。
g/i%XTX> •单击go! xA`j:zn'j •获得了3D光线追迹结果。 cOZBl;} @#$(Cs*{]
e8#83|h \CVHtV 光线追迹仿真 W/}_ y8q q]VB}nO •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 #9F>21UU •单击go! u[oV
Jvc •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 E!BzE_|i $EEn]y
&fl RrJ </1]eDnU 场追迹仿真 _zi| GD =8%*Rrj^ •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 sriDta?Cz •单击go! j>uu3ADd2 ek]nLN u6Wan*I? >,h{` 场追迹仿真(相机探测器) IV1Y+Z ) %5DM ew •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 cza_LO( •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 72.Msnn DHv86TvJt
#NYHwO<0- }L&LtW{X 场追迹仿真(电磁场探测器) $mE3 FJP> •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 *Ms"{+C SMJRoK3 k_ywwkG9lU ';My"/
Z- 场追迹仿真(电磁场探测器) j"aY\cLr t 0fn*;f8{XJ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 q-ko)] 'Cz*p,
F&m9G >r &1?6Q_p6c 文件信息 dUt4]
ar )0ydSz`B
NQX?&9L`r &R?to>xr\ 更多阅读 LHXR7Fjc =QbOvIq -Optical System for Inspection of Micro Structured Wafer f 1+ -Imaging of Sub Wavelength Gratings by Using Vector Beam Illumination R=&-nC5e !{+.)%d'g c@"FV,L> QQ:2987619807 /<IWdy]$3
|