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摘要 !@6P>HzY$ q,e{t#t 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 KOQiX?' jCJbmEfo9@
d]3c44kkK{ "7w~0?} 建模任务 [H~Yg2O t Ye+7s $q"/q*ys 概述 Lg;b17 UxGr+q •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 Mz?xvP?z •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 jb~W(8cj O
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>M}\_c= For`rfR 光线追迹仿真 $0-}|u]5U dz3KBiq •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 v jTs[eq> •单击go! /0S2Omh •获得了3D光线追迹结果。 TT85G 5}
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WFGcR9mN? Dw%V.J/&o 光线追迹仿真 . J/x@ b`W2^/D •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 S.: m$s •单击go! miWPLnw=L •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 2H,^i, 6%jv|\>
v?s]up @@h #NoY}* 场追迹仿真 3SI~?&HU!/ "mbjS(-eg •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 5l(8{,NDt •单击go! )2nx5" $uPM.mPFE /~8<;N>,+ G{ |0} 场追迹仿真(相机探测器) CMcS4X9/} ?g~w6|U(r •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 ?Aq
\Gr •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 6w? l
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(Xak;Xum1 Mk3~%` 场追迹仿真(电磁场探测器) Qb N7sg~~ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 xr;:gz!h K)D5%?D \!*3bR ?k|}\l[X1 场追迹仿真(电磁场探测器) Wzn!BgxRr =&!L&M<< •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 ZaNZUVBh %2S+G?$M?
0P+B-K>n b}f#[* Z 文件信息 `rwzCwA1 o4[
w[K!m.p,u O<*l"fw3 更多阅读 ,k9@%{4 l O BCH%\;g -Optical System for Inspection of Micro Structured Wafer B#A
.-nb -Imaging of Sub Wavelength Gratings by Using Vector Beam Illumination XEUy,>mR i"B q*b@ 1#Ls4+]5 QQ:2987619807 tc|`cB3f
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