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    [分享]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-03-19
    摘要 '_lyoVP  
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    高数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 >XcbNZV  
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    J*o :RnB  
    建模任务 cv=nGFx6  
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    lM86 *g 'l  
    概述 [^EU'lewnW  
    )@09Y_9r  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 F l83 Z>  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 L(\sO=t  
    an_qE}P  
    b'Pq [ )  
     Zf68 EB  
    光线追迹仿真 [R+zzl&Zw  
    }S<2({GI  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 'Y IFHn$!  
    •单击go! (~:k70V5  
    •获得了3D光线追迹结果。 rlT[tOVAY  
    l=8)_z;~D  
    "u~l+aW0  
    F1J Sf&8  
    光线追迹仿真 (# Z2  
    BIEc4k5(  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 M>D 3NY[,  
    •单击go! IT! a)d  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 )z&0 g2Am  
    +-&N<U  
    :@jhe8'w  
    )SQ*"X4"  
    场追迹仿真 d"<Q}Ay  
    U_v{Vs  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 S+3'C  
    •单击go! %^n9Z /I  
    C9E l {f  
    0,)B~|+  
    ML'4 2z Y  
    场追迹仿真(相机探测器) zWoPa,  
    YLmzMD>  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 TC[_Ip&  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 ,B%M P<Rz1  
    sP$bp Z}  
    }ddwL  
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    场追迹仿真(电磁场探测器) ZHUA M59bx  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 4d4le  
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    场追迹仿真(电磁场探测器) J\<7M8   
    -FytkM^]6  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 ^'.=&@i-  
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