-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2026-02-06
- 在线时间1927小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 ?r@euZ& tkdhT8_ 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 amf=uysr {+[~;ISL
D%LM"p ww"ihUX 建模任务 )61CrQiY X|L8s$> {xt<`_R 概述 XKp %7; 2]NP7Ee8Z •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 I=hgfo •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 ovCk:Vz a<Pi J?
7|6tH@4Ub uqZLlP# 光线追迹仿真 *MkhRLw\, t Zj6=# •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 MAR
kTxzi •单击go! <C6/R]x# •获得了3D光线追迹结果。 xy$FS0u tZ[BfO
~0?p @8 ~U8#Iq1 光线追迹仿真 c}mJ6Pt `.%;|"xR •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 ?w#
>Cs( •单击go! GT%V,OJ
•结果得到点图(二维光线追迹结果)。 *6*#"#D Wnl8XHPn
?9vBn |d D! @K 场追迹仿真 oAWk<B(@ 1s\10 hK1c •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 1:7>Em<s •单击go! |]A{8BBC fokT)nf~^8 $?Aez/ $},:z]%D 场追迹仿真(相机探测器) K@n.$g h9+ylHW_cp •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 #2ZXYH} •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 C4Z~9fzT 6WfyP@f
-xXNzC n{BC m % 场追迹仿真(电磁场探测器) (53dl(L? •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 /F;*[JZIb ?xQlX%&`6 JIb<>X, F:pXdU-xf 场追迹仿真(电磁场探测器) zp4ru\ `r*6P^P •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 g#[9O'H 7gVWu"
#]lUJ
&M}e iZMsN*9[ 文件信息 +ZRsa`'^ 20?i4h_
puqLXDjA/ Y ga}8DU 更多阅读 I J4"X#Q/ MCh8Q|Yx4 -Optical System for Inspection of Micro Structured Wafer a+{g~/z;,Q -Imaging of Sub Wavelength Gratings by Using Vector Beam Illumination t C 6 c4j (X!/tw,. eU%5CVH.v QQ:2987619807 i"rMP#7
|