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    [分享]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-03-19
    摘要 0"i QHi  
    9!6u Yf+  
    高数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 i1!Y {  
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    +[pJr-k  
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    建模任务 wYh]3  
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    4hW:c0  
    概述 . Fm| $x  
    aUKa+"`S  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 )9+H[  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 +B4i,]lCx  
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    0kaMYV?  
    3vEwui-5  
    光线追迹仿真 \4uj!LgTb  
    hO(A_Bw  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 QG09=GQ  
    •单击go! cpx:4R,  
    •获得了3D光线追迹结果。 zvT8r(<n}  
    /L` +  
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    4!Lj\.!$  
    光线追迹仿真 ZsGJ[  
    ;z~j%L%b  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 ~2QD.(  
    •单击go! rC6EgWt<V  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 la`f@~Bbr1  
    XKvH^Z4h{l  
    kM3#[#6$!  
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    场追迹仿真 $Eo-58<q  
    cY.5z:7u~v  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 ephvvj~zW4  
    •单击go! ` bZgw  
    (1%A@ 4  
    4K >z?jd  
     r^,"OM]  
    场追迹仿真(相机探测器) JC7:0A^  
    8B6 -f:  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 ?qbq\t  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 *Q;?p hr  
    2QKt.a  
    A#]78lR  
    e,l-}=5* P  
    场追迹仿真(电磁场探测器) @[]#[7  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 _Pn 1n  
    UFyk%#L  
    |^OK@KdL1  
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    场追迹仿真(电磁场探测器) I~,bZA  
    <6C:\{eo  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 <BK?@Xy  
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    文件信息 ~g*5."-i  
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    更多阅读 dHtEyF  
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