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摘要 #0hX)7(j vEW;~FLd 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 p+#uPY1# #eR*|W7o
yngSD`b_P s:i$ s") 建模任务 kplyZ fW <qp 9iUkvnphh 概述 mY
|$=n5X "<txg%j\J •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 O`rAqO0F •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 0Eo*C9FP~ (LkGBnXE
L#m1!+J 0waQw7
E 光线追迹仿真 NcB^qv zT0FTAl^ •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 Vdh5s 292h •单击go! G'#a&6 •获得了3D光线追迹结果。 ft?J|AG ,M5zhp$
q: ?6 j@&F[ r 光线追迹仿真 cQA;Y!Q# Ro$l/lXl8t •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 u01x}Ff~6 •单击go! `G@]\)-! •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 ?2aglj*"v, _ ?xORzO
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UOe M(jSv 场追迹仿真 CRw.UC\ &3:-(:<U •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 "2o)1G •单击go! wS hsu_(i |36d<b Io l]uF!']f 6Y`eYp5A 场追迹仿真(相机探测器) Zb^0EbV xbvZ7g^ •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 ,1a6u3f, •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 MOJKz!% ~]O~a}]g(
L^Fni~ ~Yb5FYE 场追迹仿真(电磁场探测器) &) T5V •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 +j%!RS$ko ;vy" i <V5(5gx B#OnooJI 场追迹仿真(电磁场探测器) bd5\Rt MRV4D<NQ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 J4;w9[a$ V<*PaS..
4%Z! *W* O@ F0UM`! 文件信息 @/9#Z4&d0 cGIxE[n'
~a^mLnY@ 1I{vBeMj 更多阅读 iV58 m $BXZFC_1S -Optical System for Inspection of Micro Structured Wafer yT.h[yv"w -Imaging of Sub Wavelength Gratings by Using Vector Beam Illumination @!"w.@Y ZUyG
}6)J 'JU(2mF QQ:2987619807
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