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摘要 xl9(ze dk8y>uLr_ 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 {(!)P + ~~ Z0.[
SBz/VQ nzWQQra|? 建模任务 !-ZP*V3}h #'8)u)! P#v^"}.Wd 概述 O{nC^`X {6:&
%V •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 E[ 0Sst x •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 PqI![KxZW F:_FjxU
@7 -D7 -F1P28<? 光线追迹仿真 (rIXbekgB yi|:}K$ •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 F^xaz^=`u •单击go! \6i9q= •获得了3D光线追迹结果。 {zu/tCq? K k`<f d
jzQ I>u c8q G\\t[ 光线追迹仿真 ]| z")gOE ~T7\8K+ $ •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 /3s@6Ex}E •单击go! F=:c5z •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 ^(J-dK ?`"<DH~:0B
&*jixqzvn c[Yq5Bu{y 场追迹仿真 PYaOH_X. e_^KI •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 0OEtU5lf`y •单击go! z30= ay1 +yvBSpY so'eZ"A: *50ZinfoG 场追迹仿真(相机探测器) ijg,'a~3E
[-QK$~[ g •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 Sw[=S '(l •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 HaS[.&\S0 95VqaR,
~;` fC|) RBPYGu'6B 场追迹仿真(电磁场探测器) u"eZa!# •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 xR _DY'z Qve`k<Cj" 3EAX] *SWv*sD 场追迹仿真(电磁场探测器) j_hjCQ e_\SSH@tw •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 WtMcI>4w uLF\K+cz
s9=pV4fA~w &MBOAHhze 文件信息 9
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