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摘要 }AA">FF'y4 I`(53LCqo 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 ImG8v[Q
E 4D2U,Ds
;:_AOb31N ~&<t++ g 建模任务 PJ;WNo8 [|ZFei)r xVw@pR; 概述 ?_FL
'G Pn^ `_ •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 _}Qtx/Cg •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 wgIm{;T[u JRi:MWR<r
" >.tPn D{s87h 光线追迹仿真 ^utOVi VsJ+-IHm •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 xhbN=L •单击go! nhdZC@~E0 •获得了3D光线追迹结果。 O-HS)g$2 \#(1IC`as
J/jkb3 qF4tjza;k 光线追迹仿真 (_|*&au J C 2nmSXV •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 C{}PO u •单击go! |YsR;=6wT •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 s2"`j-iQ iAZ8Y/
t1YB )M.s<Y 场追迹仿真 m=sEB8P ~9 .=t ' •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 ']TWWwj$ •单击go! eJTU'aX* &muBSQ- 6`O,mpPu4G 8 7(t<3V& 场追迹仿真(相机探测器) I)V=$r{ 0:
a2ER|J •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 |dLr #+'az •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 6w7; b"A,q
TdgK.g 4 ]CF-#q}' 场追迹仿真(电磁场探测器) mA{?E9W •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 5aizWz ?VNtT/ sJ|pR=g)! ,Q56A#Y\ 场追迹仿真(电磁场探测器) X#t tDB ,_u7@Ix •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 Cu8mN B{H +#MXeUX"
;Y\LsmZ;F fr/EkL1Dl 文件信息 ;:D-}t; .qSDe+A
&Gjpc>d (p{%]M 更多阅读 gLX<>|)* (M$0'BV0 -Optical System for Inspection of Micro Structured Wafer !CUl1L1DSi -Imaging of Sub Wavelength Gratings by Using Vector Beam Illumination L]H'$~xx* \1!Q.V ]UkH}Pt'3 QQ:2987619807 D+3?p
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