-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2025-10-11
- 在线时间1872小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 0"iQHi 9!6u Yf+ 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 i1!Y{ 0bjZwC4J
+[pJr-k hfs QAa 建模任务 wYh]3 Kj:'Ei7 4hW:c0 概述 . Fm| $x aUKa+"`S •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 )9+H[ •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 +B4 i,]lCx T^Hq 5Oy
0kaMYV? 3vEwui-5 光线追迹仿真 \4uj!LgTb hO(A_Bw •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 QG09=GQ •单击go! cpx:4R, •获得了3D光线追迹结果。 zvT8r(<n} /L` +
%
xBQX 4!Lj\.!$ 光线追迹仿真 ZsGJ[
;z~j%L%b •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 ~2QD.( •单击go! rC6EgWt<V •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 la`f@~Bbr1 XKvH^Z4h{l
kM3#[#6$! YyC$\HH6 场追迹仿真 $Eo-58<q cY.5z:7u~v •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 ephvvj~zW4 •单击go! `bZgw (1%A@4 4K
>z?jd r^,"OM] 场追迹仿真(相机探测器) JC7:0A^ 8B6-f: •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 ?qbq\t •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 *Q;?p
hr 2QKt.a
A#]78lR e,l-}=5*P 场追迹仿真(电磁场探测器) @[]#[7 •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 _Pn
1n U Fyk%#L |^OK@KdL1 LVJn2t^ 场追迹仿真(电磁场探测器) I~,b ZA <6C:\{eo •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 <BK?@Xy [!`5kI
;+lsNf /$|-!e<5b\ 文件信息 ~g*5."-i Nu+DVIM
"1rT>
ASWI igF<].'V 更多阅读 dHtEyF b
T** y?2 -Optical System for Inspection of Micro Structured Wafer ~F>'+9?Sn -Imaging of Sub Wavelength Gratings by Using Vector Beam Illumination 2j$~lI WpC9(AX5g 2g;Id.i> QQ:2987619807 STz@^A
|