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芯片失效分析领取点列表 芯片失效分析领取点列表 彩页自取点：2021年3月17-19日 上海新国际博览中心 入场无需核酸检测证明
彩页主要内容为失效分析项目Decap；X-Ray；3D X-Ray；SAT；IV；FIB；EMMI；SEM；EDX；OM；Probe；切割制样；Rie；定点研磨；非定点研磨；高温存储；低温存储等介绍。  北京软件产品质量检测检验中心（简称：北软检测）成立于2002 年7月，是经北京市编办批准，由北京市科学技术委员会和北京市质量技术监督局联合成立的事业单位。2004年1月，国家质量监督检验检疫总局批准在北软检测基础上筹建国家应用软件产品质量监督检验中心（简称：国软检测），2004年10月国软检测通过验收并正式获得授权，成为我国第一个国家级的软件产品质量监督检验机构。 智能产品检测实验室，能够依据国际、国内和行业标准实施检测工作，开展从底层芯片到实际产品，从物理到逻辑全面的检测工作，提供芯片预处理、侧信道攻击、光攻击、侵入式攻击、环境、电压毛刺攻击、电磁注入、放射线注入、物理安全、逻辑安全、功能、兼容性和多点激光注入等安全检测服务，同时可开展模拟重现智能产品失效的现象，找出失效原因的失效分析检测服务，主要包括点针工作站（Probe Station）、反应离子刻蚀（RIE）、微漏电侦测系统（EMMI）、X-Ray检测，缺陷切割观察系统（FIB系统）等检测试验。实现对智能产品质量的评估及分析，为智能装备产品的芯片、嵌入式软件以及应用提供质量保证。 参展单位简介： 英铂科学仪器（上海）有限公司 冯明龙 18866607706  英铂科学仪器(上海)有限公司是一家专注于半导体晶圆级测试系统、微纳米科学等领域提供综合性解决方案的企业，为全国各大高校、科研院所及企事业单位提供先进的半导体测试系统及微纳米科学仪器设备，助祖国半导体科学事业的腾飞贡献一份绵薄之力! 山东华芯半导体有限公司 韩云水 15553139386  华芯公司起步于2008年，正值中国集成电路产业发展观望期，走到一条从无到有探索之路。2015年以前，根据省政府“先两头、后中间“战略部署，华芯采取自主构建产业链模式探索发展路径，之后依据自身实际积极进行战略调整，经过近十年发展，已成为中国领先的固态硬盘主控芯片和解决方案供应商。 三河建华高科有限责任公司 陶永军 13911284962  三河建华高科有限责任公司成立于2003 年6月13日 ，隶属中国电子科技集团公司第四十五研究所。公司地处北京东燕郊经济技术开发区海油大街253号，占地100亩；公司现有总资产1.668亿元，资产负债率0.4%，银行信用等级AA+。公司现有各类技术人员60余人，高级技术职称15人。 三河建华高科有限责任公司以打造“中国半导体制造设备的引领者”为目标，致力于半导体元器件材料加工（内圆切片设备）和芯片制造（匀胶/曝光/显影设备）及检测（探针测试设备）等专用设备的研究开发与生产制造，倾力建设华北地区高精密机械、光学、电器零部件制造中心。 山东赛克斯氢能源有限公司 栗心镇 13361005886  《半导体芯科技》 刘婷 13886033073  《半导体芯科技》中国版（SiSC）是全球知名权威杂志Silicon Semiconductor的“姐妹”杂志，由香港雅时国际商讯出版，报道最新半导体产业新闻、深度分析和权威评论。为中国半导体行业提供全方位的商业、技术和产品信息。《半导体芯科技》内容覆盖半导体制造、先进封装、晶片生产、集成电路、MEMS、平板显示器等。杂志服务于中国半导体产业，从IC设计、制造、封装到应用等方面。 《中国集成电路》 黄领 17321301825  中国半导体行业协会主办《中国集成电路》杂志，每月出版一次，可以免费刊登 一些IC 技术相关的文章。 杂志固定栏目包括业界要闻、产业发展、设计、制造、封装、应用（汽车电子、通信、计算机与消费电子，系统，系统设计）、企业与产品，栏目相关的都可以写。（杂志是纸媒形式，需要文章是首发） 《中国集成电路 China Integrated Circuit》是由国家工业和信息化部主管，中国半导体行业协会主办的全国性专业电子刊物。国际连续出版物号：ISSN 1681-5289，国内统一刊号：CN11-5209/TN。杂志自1992年创刊以来，一直致力于IC市场应用分析，介绍先进的IC设计与应用、制造工艺、封装测试、设备材料，积极推动集成电路在汽车电子、通信、计算机与消费电子、人工智能、物联网等领域的广泛应用。 投稿到huangling@cicmag.com  失效分析交流 赵工 010-82825511-728 13488683602 zhaojh@kw.beijing.gov.cn 分享到：
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