我国研究人员提出精确测量电光系数的新方法

最近，中国科学院上海光学与精细机械研究所(SIOM)的研究人员提出了一种新的基于χ(2)非线性光学技术的电光系数测量方法，用于精确测量KH2PO4 (KDP)和K(H1 xDx)2po 4(DKDP)的线性电光系数。 qpzyl~g:C  
)u0/s'  
相关结果发表在2021年1月18日的《光学快报》(Optics Express)上。 ?Ss~!38  
B~b ='jN  
目前对KDP族晶体电光效应的研究和应用主要集中在高氘含量的KDP和DKDP上。对于部分氘化的KDP晶体，虽然它们在许多领域都有重要的应用，但它们的电光系数却鲜有报道。 T7o7t5*  
"sWsK %  
同时，现有的电光系数测量方法主要基于线性光学效应，这就要求激光器在整个测量系统中严格保持偏振的稳定性。 #99=wn  
hZWkw{c  
在这项研究中，研究人员提出了一种利用χ(2)非线性光学技术的新方法。这个测量只依赖于非线性材料中的非线性过程，其他传递过程不会影响。 $LcMG,8%_  
=J]M#6N0  
基于该方法，精确测量了一系列不同氘代KDP晶体的线性电光系数，给出了不同氘含量的d KDP晶体线性电光系数的计算公式。 Z$%!H7w  
/%)(Uz  
此外，利用晶体的电光特性可以大大提高输出四次谐波能量的稳定性，为深紫外激光的产生和拓展KDP族晶体在激光技术和非线性光学领域的应用提供重要参考。