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案例315.01:光栅起偏器的参数优化 d~qQ_2M[G pp"#pl 这个案例说明了对于一个用于VIS光起偏的亚波长光栅的参数优化过程。 dvjj"F'Bf GGEM&0* 关键词:参数优化,光栅,起偏器,亚波长 9{OO'at? exJc[G&t( 所需工具箱:高级光栅工具箱 x7/Vf,N FShjUl>mV 相关案例:100.01,101.01 y#B=9Ri=z `;Tf _6c 相关教程和技术说明:Tutorial 101.01, TN.021 QO}~"lMj ldUZ\z(* 建模任务: Mu> E#+2)Q 平面波入射周期为200nm的镀铬线性矩形光栅,基底为融石英,产生TE模的起偏。 =KHb0d |. Cd)g8< j%s,%#al 优化目标: xg/( -$<oY88 —TE模偏振光的透过率最大化 pL1ABvBB 9k ~8n9 —TM模偏振光的透过率最小化 5NZuaN c ^ds|7i]a 优化函数: G/p\MzDko `hO%(9V9 —最小化TE的透过率 T"{~mQ* Ck
)W= —最小化偏振度(要求>50:1) -c&=3O! nrKAK^
QIMd`c |1!fuB A —使用力优先级使TE透过率的均匀误差最小化 UDr1t n 9JP:wE~y
0a89<yX `f}s<At 优化的自由变量为: bK%F_v3' aInt[D( —缝宽:10—190mm a%Q`R;W Zzjx;SF —光栅深度:20—200nm Dst;sLr[, wA$7SWC 优化算法: 5%\K 3R<r[3WP —使用Parameter run 进行一个全波长的全局搜索使得TE透过率的最大值最小同时使得偏振对比度的最大值最低。全局搜索不是强制的,但是它帮助确定在几个最大值和最小值之间确定优化参数的起始点。 OU%"dmSDk —参数优化使用下山简法(局部优化)和模拟退火法(全局优化)。参数优化使得找到在偏振对比度和TE透过率之间的一种平衡。 P?V+<c{ :G 5p`;hGo 光路流程图和偏振分析器: #a=]h}&1? #B~;j5 偏振光栅的光路流程图存储在文件“Scenario_315.01_Optimization_of_Grating_Polarizer_01”中。 c;]\$#2 )8oyo~4? 对于给定的波长范围,偏振分析器被用来计算相关偏振方向的最大和最小值。并可以计算 和 的反射或透射的最大和最小值。像偏振对比度这样高级的优化函数也可以被计算出来。 0bh
6ay4 C&Q[[k"kb Parameter Run 的全局搜索: kEq~M10 T3oFgzoO Parameter Run文件存储在“Scenario_315.01_Optimization_of_Grating_Polarizer_02”中。 []@@ MXaik+2 Parameter Run 设置 e">&B]#} 0x~+=GUN 缝宽:10—19nm 步长10nm; 8i]
S[$Fc Vwp>:'Pu 规划深度:20——200nm 步长10nm; ppIXS( *Hn=)q 使用扫描模块进行所有参数的整合研究。 T%%EWa<a uxxk&+M 在自由参数模块中选择深度和缝宽。 JvXuN~fI{[ ,M`1 k 使用扫描模块进行参数联合调查。 ys[xR=nbD 优化函数依据迭代次数进行显示: .>;??BG} l tNI+G 左图显示了最小化TE透过率,右图显示了最小化偏振对比度。 )8^E{w^D} bJMsB|r TE透过率和偏振对比度对于不同参数设置已经达到了最大化。 HR?T !:\0}w$- 参数构成: ef*Z;HI0 |e#W;q$v 缝宽50nm,规划深度200nm;最小TE透过率72.7%;最小偏振对比度62;TE透过率均匀误差7%; | t:UpP l\L71|3" g 局部参数优化: Caj H;K\ tb?TPd-OY 使用局部参数优化的参数优化文件存储在“Scenario_315.01_Optimization_of_Grating_Polarizer_03”中。 ;V~x[J|x UBW,Q+Q 起始值为:缝宽:50nm,规划深度200nm; ^/?7hbr AB%i|t 参数和优化函数被严格定义,以便在TE透过率,偏振对比度和TE透过率均匀误差之间找到平衡。 DC).p'0VL O\Y*s cPZ\iGy L=;T$4+p 参数定义: &I
~'2mpk x_O:IK.> 规划深度为20-200nm,权重1e20 rx|
,DI J[l7p6xk 缝宽10—190nm权重1e20 ]lKUpsQI H5d@TB,` 优化函数定义: 7@ONCG 7)D[ }UXz ——TE效率最小值被最大化(全波段) rhOxyY0 @>VX]Qe^X ——偏振对比度大于50(全波段)
3-{WFnA ?i0u)<H ——均匀误差最小化,但对于通用优化函数只具有较低影响。 |^Yz*r?BJ n\Lsm <
`;Mf>V 选择下山简法进行局部优化。 y)|d`qC\ @P0rNO%y 左图显示了最小化TE透过率,右图显示了最小化偏振对比度。 19R~&E's %Qj$@.*:
+Goh`!$Rj9 优化好的光路流程图存储在“Scenario_315.01_Optimization_of_Grating_Polarizer_04”中。 _0
43, L}Sb0 o. 优化过的参数为: (ZF~
t^Bs3;E^ 缝宽:46nm;规划深度200nm;最小化偏振对比度50;TE透过率的均匀误差7% A]QGaWK 21<Sfsc$ 结论: SefF Ci%4 -h|[8UG^b 偏振分析器允许评估偏振光栅的波长和角独立性。 g@O?0,+1 #(}{*dR Parameter Run允许对参数空间进行全局搜索找到局部参数优化的合适起始点。 |2TH[J_a "}0QxogYE 最后使用下山简法进行偏振光栅的局部参数优化。 cfBlHeYE 4+>~Ui_# 6&i])iH QQ:2987619807 u*\QVOF
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