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案例315.01:光栅起偏器的参数优化 [\&2& c6SXz%'k 这个案例说明了对于一个用于VIS光起偏的亚波长光栅的参数优化过程。 6Xbf3So ,T;D33XV 关键词:参数优化,光栅,起偏器,亚波长 dXsD%sG@ F_4Et
所需工具箱:高级光栅工具箱 RF~G{wz 3{wuifS 相关案例:100.01,101.01 9mjJC <5}j(jxz} 相关教程和技术说明:Tutorial 101.01, TN.021 8q;
aCtei U]g9t<jD 建模任务: @#;*e] 1a s_e*jM1 平面波入射周期为200nm的镀铬线性矩形光栅,基底为融石英,产生TE模的起偏。
7NnXt' :[0)Uu{ eBY/Y6 R 优化目标: ~ H/ZiBL@ JVr8O`>T —TE模偏振光的透过率最大化 N>1d]DrQR pgZQ>% —TM模偏振光的透过率最小化 &>QxL d# u!
dx+v d 优化函数: Ex
skd} yB 'C9wEH —最小化TE的透过率 ;'
H\s u7j,Vc'~ —最小化偏振度(要求>50:1) F/3L^k] }Z<Sca7
NytodVZ'3 dczSW]% —使用力优先级使TE透过率的均匀误差最小化 PZlPC#E- # s7e/GdKb
v>N*f~n 1b 2 优化的自由变量为: };<?W){!H uh \Tf5 —缝宽:10—190mm 23 #JmR <K,X5ctM} —光栅深度:20—200nm {3kz\FS e,lLHg 优化算法: o[i*i<jv- 4jZB%tH —使用Parameter run 进行一个全波长的全局搜索使得TE透过率的最大值最小同时使得偏振对比度的最大值最低。全局搜索不是强制的,但是它帮助确定在几个最大值和最小值之间确定优化参数的起始点。 N
Z,} v3 —参数优化使用下山简法(局部优化)和模拟退火法(全局优化)。参数优化使得找到在偏振对比度和TE透过率之间的一种平衡。 yK$aVK" OhlK;hvdB* 光路流程图和偏振分析器: ;%^{Zybh -=5~-72~ 偏振光栅的光路流程图存储在文件“Scenario_315.01_Optimization_of_Grating_Polarizer_01”中。 %d%?\jV b %~8f0B|im 对于给定的波长范围,偏振分析器被用来计算相关偏振方向的最大和最小值。并可以计算 和 的反射或透射的最大和最小值。像偏振对比度这样高级的优化函数也可以被计算出来。 &\b( O'{kNr{u Parameter Run 的全局搜索: #f/4%|t: 9)o@d`*
Parameter Run文件存储在“Scenario_315.01_Optimization_of_Grating_Polarizer_02”中。 yPs6_Qo!p y`
'#gH Parameter Run 设置 Q1rEUbvCE hZ!kh3@:` 缝宽:10—19nm 步长10nm; o4Cq /K 8eYEi 规划深度:20——200nm 步长10nm; *::.Uo4O tE <?L 使用扫描模块进行所有参数的整合研究。 #y[omla8 @^ *62 在自由参数模块中选择深度和缝宽。 @+Sr~:K 78~/1- 使用扫描模块进行参数联合调查。 Fq5u%S 优化函数依据迭代次数进行显示: (@qS *'aouS/?<6 左图显示了最小化TE透过率,右图显示了最小化偏振对比度。 *N:0L,8 :Ea|FAeK8 TE透过率和偏振对比度对于不同参数设置已经达到了最大化。 <r`;$K
z!18Jh 参数构成: r;*
|^> :@ VC Kq! 缝宽50nm,规划深度200nm;最小TE透过率72.7%;最小偏振对比度62;TE透过率均匀误差7%; E)f9`][ udIm}jRA" 局部参数优化: ysl#Rwt/2 z@pa;_ 使用局部参数优化的参数优化文件存储在“Scenario_315.01_Optimization_of_Grating_Polarizer_03”中。 WVKAA. kWy@wPqms 起始值为:缝宽:50nm,规划深度200nm; 9c }qVf-i 4
2DMmwB 参数和优化函数被严格定义,以便在TE透过率,偏振对比度和TE透过率均匀误差之间找到平衡。 w/rJj* $Bl51VjN \=mLL|a yjH'< 参数定义: r]DU ZH8 w^} 规划深度为20-200nm,权重1e20 U1pE2o- wU<j=lY?f 缝宽10—190nm权重1e20 )b>misb/ 5U4V_*V 优化函数定义: SK^(7Ws~0 W*#5Sk ——TE效率最小值被最大化(全波段) Ip=QtNW3\ XMT@<'fI ——偏振对比度大于50(全波段) QV:> x#=V ls!A'@J ——均匀误差最小化,但对于通用优化函数只具有较低影响。 /j4G} F kf4R5Y? VNIl%9:-l 选择下山简法进行局部优化。 >~Tn%u< 5(hv|t/a 左图显示了最小化TE透过率,右图显示了最小化偏振对比度。 _@[W[=|H wy${EY^h S-Vj$asv! 优化好的光路流程图存储在“Scenario_315.01_Optimization_of_Grating_Polarizer_04”中。 3&AJN#c {6:*c 优化过的参数为: As,e.V5! ~ss6yQ$ 缝宽:46nm;规划深度200nm;最小化偏振对比度50;TE透过率的均匀误差7% Y,Rr[i"j a%si:_ 结论: B@i%B+qCLv II.:k.D` 偏振分析器允许评估偏振光栅的波长和角独立性。 .74C~{}$ a|oh Ad Parameter Run允许对参数空间进行全局搜索找到局部参数优化的合适起始点。 .r6x9t Lw_|o[I} 最后使用下山简法进行偏振光栅的局部参数优化。 PsXCpyY!s I^ ![)# FC |Rkw/5 QQ:2987619807 SlR//h
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