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案例315.01:光栅起偏器的参数优化 :AB$d~${M> F\;G'dm 这个案例说明了对于一个用于VIS光起偏的亚波长光栅的参数优化过程。 i~6qOlLD- F&lvofy23 关键词:参数优化,光栅,起偏器,亚波长 +Te;LJP tcf>9YsOr 所需工具箱:高级光栅工具箱 ]T! >] x,
^j=n 相关案例:100.01,101.01 ceR zHq= g k[8' 相关教程和技术说明:Tutorial 101.01, TN.021 C_=WL( v9OK
< 建模任务: .qCD(XZ+ q~=]_PMP 平面波入射周期为200nm的镀铬线性矩形光栅,基底为融石英,产生TE模的起偏。 50.cMms .5zqpm E(oI0*S.5 优化目标: X)|b_ 3Z }Z_w8+BZ —TE模偏振光的透过率最大化 F\Gi;6a PSQ5/l?\> —TM模偏振光的透过率最小化 j9YI6X" *s9
+ 优化函数: >I3#ALF ayJKt03\O\ —最小化TE的透过率 $!x8XpR8s L= fz:H —最小化偏振度(要求>50:1) :YU_ \EV COa"zg
q]Cmaf ( V\"x#uB —使用力优先级使TE透过率的均匀误差最小化 &!#a^d+` 0 ,tZWPF-
VSCOuNSc ;_GS<[A3 优化的自由变量为: nxP>IfSA /,z4tf —缝宽:10—190mm ^E8XPK]-~ $4y;F] —光栅深度:20—200nm d([NU; Bg*Oj)NM 优化算法: AAE8j. 9GuG"^08 —使用Parameter run 进行一个全波长的全局搜索使得TE透过率的最大值最小同时使得偏振对比度的最大值最低。全局搜索不是强制的,但是它帮助确定在几个最大值和最小值之间确定优化参数的起始点。 3PLv;@!#j} —参数优化使用下山简法(局部优化)和模拟退火法(全局优化)。参数优化使得找到在偏振对比度和TE透过率之间的一种平衡。 i*' 6" jX79Nm| 光路流程图和偏振分析器: aCe<*;b@ e`fN+ 偏振光栅的光路流程图存储在文件“Scenario_315.01_Optimization_of_Grating_Polarizer_01”中。 `Pv[A y1!c:& 对于给定的波长范围,偏振分析器被用来计算相关偏振方向的最大和最小值。并可以计算 和 的反射或透射的最大和最小值。像偏振对比度这样高级的优化函数也可以被计算出来。 WUSkN;idVG ~r6qnC2 Parameter Run 的全局搜索: ,mR$YT8 'Jww}^h1 Parameter Run文件存储在“Scenario_315.01_Optimization_of_Grating_Polarizer_02”中。 QXnL(z V^WR(Q} Parameter Run 设置 B(x i
r<38; a 缝宽:10—19nm 步长10nm; xioL6^(Qk, :4PK4D s7 规划深度:20——200nm 步长10nm; j()<.h;' -ckk2D? 使用扫描模块进行所有参数的整合研究。 y,i:BQJ< 445}Yw5;9 在自由参数模块中选择深度和缝宽。 FWv-_ &y/ 使用扫描模块进行参数联合调查。 4i>sOP3
B 优化函数依据迭代次数进行显示: x'OE},>i P)Vm4u
1 左图显示了最小化TE透过率,右图显示了最小化偏振对比度。 KPIc?|o/6 7RQ.oee TE透过率和偏振对比度对于不同参数设置已经达到了最大化。 >
Q+Bw"W< >L F
y:a 参数构成: Mj2o>N2, h=uwOi6} 缝宽50nm,规划深度200nm;最小TE透过率72.7%;最小偏振对比度62;TE透过率均匀误差7%; Ly1V@ \*Roa&<! 局部参数优化: 2yk32| r]p
0O( 使用局部参数优化的参数优化文件存储在“Scenario_315.01_Optimization_of_Grating_Polarizer_03”中。 8y5iT?.~vy :|3n`, 起始值为:缝宽:50nm,规划深度200nm; C=&7V j]\3>. 参数和优化函数被严格定义,以便在TE透过率,偏振对比度和TE透过率均匀误差之间找到平衡。 F3$@6J8<[z ]5X=u(} OTs vox|( #%t&f"j2 参数定义: dGU io? pJ Iq`)p5 规划深度为20-200nm,权重1e20 7/nnl0u8 G j^J pG 缝宽10—190nm权重1e20 J0@<6~V6o D7.|UG?G 优化函数定义: 9Ml^\| ^a&-GhX; ——TE效率最小值被最大化(全波段) Te=[tx~x B@Acm ——偏振对比度大于50(全波段) X_yAx)Do
<WN? ——均匀误差最小化,但对于通用优化函数只具有较低影响。 gPs%v`y)*D +cS%b}O`$ LWQ.!;HY p 选择下山简法进行局部优化。 kk_$j_0 /,v>w, 左图显示了最小化TE透过率,右图显示了最小化偏振对比度。 $I40 hk EHk(\1!V 34ij5bko_) 优化好的光路流程图存储在“Scenario_315.01_Optimization_of_Grating_Polarizer_04”中。 gFR9!=,/V% 5g9lO]WDI 优化过的参数为: >*#clf;@p 7?Vo([8 缝宽:46nm;规划深度200nm;最小化偏振对比度50;TE透过率的均匀误差7% FV>j
!>Y oxkA+}^j8M 结论: <i9pJGW XRi/O)98o 偏振分析器允许评估偏振光栅的波长和角独立性。 <xOv0B "RPX_ Parameter Run允许对参数空间进行全局搜索找到局部参数优化的合适起始点。 )c
vA}U.z >_3+s~ 最后使用下山简法进行偏振光栅的局部参数优化。 $F V!HD >iefEv\ .kO!8Q-;% QQ:2987619807 ,})x1y
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