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光学测量 > 干涉测量 @ vrV*! .sj^{kGE 任务/系统说明 ?)1{)Erf8x Dqe^E%mc
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By9*1H2R 亮点 ^WNrGF <c,u3cp
A3S<..g2 YGPy@-,E •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; )8UWhl= •对相干效应以及干涉图样的高速仿真; qycI(5S, 2h=!k|6 具体要求:光源 O2BDL1o X6mqi;+ %e(z/"M=` Ts ^"xlK 具体要求:用于准直的消色差透镜 A' /KUi 2m35R& $W9{P; Gmq/3tw !cAyTl(_ %d(^d c(n&A~*AJ% de;GrPLAi 具体要求:分束器 0Emr<n Qe}`~a9P X90J! -:Ia^{YN 具体要求:参考光路反射镜 d)R:9M}v sPMa]F( [-;_ZFS{ <p\6AnkMr
0VGPEKRh '
)?f{ 具体要求:测试光路反射镜 .Jrqm #P?6@\ , 'ZD=4_ G_k~X" 具体要求:探测器 o(r\E0I {6c2{@ pm\x~3jHs ;r>snJ=M 结果:3D光线追迹 5KDGSo HaYE9/xS "(3BvMA&!9 I*IhwJFl/ 结果:场追迹 1}:bqI.<W nM-h&na{s
Ju3*lk/j- )d$glI+ 结果:移动样品的场追迹结果 Lv'D^'I dz*7gL;7G %9M~f* 通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 j^;I3_P N#Zhxu,g! 文件&技术信息 E !a|Xp -#2)?NkeE
)YX 'N<[ 'C:>UlzLy P '>SmQ QQ:2987619807 B|4X}*@SX
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