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光学测量 > 干涉测量 5#yJK>a7 /0Rt +` 任务/系统说明 8x!+tw7 >a?OXqYP
[vZfH!vLP j{-mQTSD 亮点 AlAh
S< |E"Xavi>
(ra:?B C+X)">/+L •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; )[e%wPu4e •对相干效应以及干涉图样的高速仿真; 6#OL
;Y]_ $'WapxF 具体要求:光源 16a_GwfM / c4;3>IS N8Rm}) =}B4I
具体要求:用于准直的消色差透镜 5xG|35Pj 5HWwl.D E.?E~}z 7}2sIf[I >cGh| _9 ~E^yM=:h n25irCD` K> c8r8! 具体要求:分束器 va`l*N5 2r PcNh9 H1aV}KD d ,h~u{ 具体要求:参考光路反射镜 N#<zEAB yYxeNE" Yio>ft&g] # i`A4D
_A@fP[C bLU^1S8Z 具体要求:测试光路反射镜 &CB.*\0 2eZk3_w ]7XkijNb >N+bU{s 具体要求:探测器 M<SbVP|V" ``2QOu 1 }}4sh5z rX|y/0)F 结果:3D光线追迹 b0~H>cnA zIAu3 3/A!_Uc( N$=(1`zM= 结果:场追迹 yr/]xc$ 7yqSt)/U
AF9[2AH=Y =!pu+&I 9 结果:移动样品的场追迹结果
l0:e=q2Ax Z1)jRE2dl :{TmR3. 通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 ';;p8bv+ LK
文件&技术信息
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