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光学测量 > 干涉测量 |cf-S8pwY 3X`9&0:j% 任务/系统说明 {h7 vJ^ #@$80eFq
0X5cn 0L^ Oh*~+/u}q 亮点 _TOWqV^ p)yP_P
gmRc4o 3!{imQT •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; !S':G •对相干效应以及干涉图样的高速仿真; :rVR{,pL 1+;bd'Ie 具体要求:光源
dZ`Y>wH_ OuTV74 p2Ep(0w,R5 xo_STLAw 具体要求:用于准直的消色差透镜 FBNLszT{L ^?`fN'!p RW. qw4 Ayw_LCUD @-!P1]V| Yub}AuU`v G;G*!nlWf 0!\C@wnH 具体要求:分束器 ;`78h?` wf\"&xwh? Sv n7.Ivep @.eN+o9| 具体要求:参考光路反射镜 BV~J*e bkV<ZUW|; ]<>cjk.ya ^Spu/55_
?'MkaG0g XHk"nbj 具体要求:测试光路反射镜 2 ?t@<M] @Z~YFnEJi >&PM'k 2LtDS?)@ 具体要求:探测器 _nMd \)~d,M}kK PXMd=,} =0g!Q 结果:3D光线追迹 |2j, X9m^i2tk k:Pn.< ="voJgvw 结果:场追迹 Z=a%)Ki?Ag > <YU'>%
v76Gwu$d ^^N|:80 结果:移动样品的场追迹结果 `}Zqmfs |(>`qL{| BPO5=]W 7 通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 Tx;a2:6\[ b)d;eS 文件&技术信息 Nm?^cR5r qIi
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