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    [分享]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-28
    光学测量 > 干涉测量 4TP AD)C  
    +b9gP\Hke  
    任务/系统说明 5i<E AKL  
    ![>j`i  
    ;fdROI  
     L.E6~Rv  
    亮点 E1=WH-iA0  
    EAdr}io  
     3ih3O  
     1TOT}h5  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； $jc&Tk#  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； K5h2 ~  
     Q^B !^_M  
    具体要求：光源 d,hKy2  
    U= Gw(  
    ']x`d  
    r?:zKj8/u  
    具体要求：用于准直的消色差透镜 T3JM8  
    (3_m[N\F  
    ,?3)L   
    B@8M2Pl  
    h@^d Vg  
    1+{V^) V?  
    o>#ue<Bc6  
    bXx2]E227  
    具体要求：分束器 RTL A*  
    ]"*sp  
    THOXs; k0  
     PQ#zF&gL9t  
    具体要求：参考光路反射镜 wT taj08D  
    0sQt+_Dl%L  
    LdPA`oI3j  
    'X$J+s}6&  
    2fa1jl  
     0+iaO"%  
    具体要求：测试光路反射镜 }Qqi013E L  
    :Sd"~\N+  
    B5pWSS  
     R9!GDKts%  
    具体要求：探测器 L] syD n  
    )~Pj 3  
    ,drcJ  
    /}ADV2sF  
    结果：3D光线追迹 ]46-TuH  
    >$g+Gx\v4  
    /Cl=;^)  
    T2%{pcdV/  
    结果：场追迹 vhEXtjL  
    (H_YYZ3ZX  
    D2@J4;UW*W  
     x+%(z8wD  
    结果：移动样品的场追迹结果 {'^!S" 9x  
    9iwSE(},  
    =8p *Ijs  
    通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 [8h~:.d`  
     `yvH0B -  
    文件&技术信息 Mqk[+n  
    `El)uTnuZ[  
     F.DR Gi.i  
    E[nJ'h<h  
     v!~ ;Q O  
    QQ：2987619807 5>nb A8  
     
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