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光学测量 > 干涉测量 A,{X<mLFb a?/GEfd 任务/系统说明 vcy}ZqWBO d>*?C!xE
V.vA~a $NC1>83 亮点 Xi^3o SH2|xn
oA%8k51>~K :^tw!U%y1 •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; l69&-Nyg •对相干效应以及干涉图样的高速仿真; JziuwL5, N@lTn}U 具体要求:光源 ?F1NZA[%t yQ-&+16^ v=zqj}T ;,![Lar5L 具体要求:用于准直的消色差透镜 o?$kcI4 jFY6}WY)}7 &Ed7|k]H swJ3_WhbdT
DvCs 5 G=W!$(: l2QO\O
I9m wYQTG*&h 具体要求:分束器 s+&Ts|c# WL$nchS9 Q?-HU,RBO M9'Qs m 具体要求:参考光路反射镜 SQhk)S knrR%e; <NZ^*] WPi^;c8
0g}+%5]yg .VG$`g" 具体要求:测试光路反射镜 -\6nT'P \g<9_ {U1
j@pKm 9v>BP`Mg 具体要求:探测器 @ FVan px;5X4U '2mR;APz B?`n@/ 结果:3D光线追迹 2c`m8EaJ VN`T:!& p?(w! O Um YReF<<_ 结果:场追迹 >Pne@w!* q$FwO"dC
SFCKD/8 KdY3
结果:移动样品的场追迹结果 &~VWh}=r eAKK uML d\Cx(Lb[ 通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。
{* S8n09v ReE-I/n8f 文件&技术信息 .J:04t1 y+xw`gR:
V^fSrW] M,xhQ{eBY gI8r SmH QQ:2987619807 , ,1H#;j
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