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光学测量 > 干涉测量 S}f<@-16P A
m1W<` 任务/系统说明 "poTM[]tZ7 D ` X6'PP
Rx"Qwi, \U ]."c4S_)| 亮点 5mNXWg7#] ;wxt<
S:uEK a0.3$ •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; <3x#(ms!! •对相干效应以及干涉图样的高速仿真; xi\RUAW }gi'%e 具体要求:光源 4Z<l>! O*{H;7Pv 0Ida]H e:D"_B 具体要求:用于准直的消色差透镜 6<$|;w-OV *SMPHWH[c RbM~E~$ jGhg~-m
d)ZSzq mRY6[*u UeMe4$m PEt8,,x<" 具体要求:分束器 J\$l3i/I mZVOf~9E *9ub.:EUwV 7B!Qq/E?g 具体要求:参考光路反射镜 D>e\OfTR: 5l/l] SvP\JQ<c %=8(B.I!
=DTOI KBqaI(( 具体要求:测试光路反射镜 dd7nO
:] {/xs9.8:JX DjzBG*f/ gNN"
H#=2 具体要求:探测器 ,Z7Z!.TY! L{A-0Ffh ]N"F?3J 8 $,,>R[; w 结果:3D光线追迹 WTYFtZD[yH ('6g)@=\U U.7y8#qf3R :U. )YHY 结果:场追迹 i!$^NIcJ 9Y%?)t.2
:+Q"MIU b\;u9C2y' 结果:移动样品的场追迹结果 :t{vgi D9 mhLRi\[c ) J-\?,4mcP 通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 X/8iJ-KB SKpPR;=q|: 文件&技术信息 }`N2ZxC0AQ ;;'a--'"
53t-'K0l YATdGLTeq MR_bq_) QQ:2987619807 iQ{&&>V%
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