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    [分享]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-28
    光学测量 > 干涉测量 '3%JhG)#  
    j-~x==c-;  
    任务/系统说明 e>F i  
    aPU.fER  
    #%Hk-a=>)#  
    ko-3`hX`  
    亮点 "0*yD[2  
    QR+xPY~  
    ! qVuhad.  
    fnXYp !  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; m!22tpb  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真 Cs:?9G  
    'iY~F0U  
    具体要求:光源 b]0]*<~y  
    )2z<5 `  
    Oy}^|MFfA  
     W8blHw"  
    具体要求:用于准直的消色差透镜 8k( zU>^  
    5taR[ukM  
    h+gaKh=k+  
    <mrvuWg0  
    0Cg}yyOz  
    }4uHT.)  
    a/\SPXQ/9  
    n%faD  
    具体要求:分束器 -R]Iu\  
    V),wDyi  
    GyC/39<P  
    TS_5R>R3  
    具体要求:参考光路反射镜 !1b}M/Wx  
    I`~Giz7@  
    f]pHJVgFV  
    d/8p?Km  
    'iM#iA8  
    %nS(>X<B  
    具体要求:测试光路反射镜 Z bW!c1s{  
    @Ojbu@A  
    {g C?kp  
    ybC0Ee@  
    具体要求:探测器 ~|lEi1|  
    <~ Dq8If  
    A_!N,< -  
    &lCOhP#  
    结果:3D光线追迹 >]L\Bw  
    SeV`RUO  
    A'tv[T d8,  
    } =p e;l  
    结果:场追迹 UVd ^tg  
    -k?K|w*X  
    SHc?C&^S  
    4<j7F4  
    结果:移动样品的场追迹结果 D03QisH=  
    B:>>D/O  
    s||c#+j"8  
    通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 mz2v2ma  
    O:]e4r,'  
    文件&技术信息 S`Xx('!/|  
    b$eN]L   
    ~eyZH8&  
    p)qM{`]G\  
    h ^.jK2I  
    QQ:2987619807 h+c9FN  
     
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