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光学测量 > 干涉测量 &}Wi@;G]2 Cj4Y, N 任务/系统说明 C{^I}p ?)(/SZC0 ~' 955fK> `5h^!=" 亮点 fVY I D6?h
6`J M[z1B!rT +FadOx7X$ •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; w.J$(o(/ •对相干效应以及干涉图样的高速仿真; ({C[RsY=6 ^&mrY[;S 具体要求:光源 tw<Oy^i /%,aX[ @|t]9 <Fx%P:d 具体要求:用于准直的消色差透镜 EZ"i0u S&IW]ffK |XG&[TI- " x`C"Z7t AhA&=l
i; #&r}J t>N2K-8Qh 2SlL`hN>Z 具体要求:分束器 J!~kqNI 1QD49) `p* 43nV J%r:"Jm[y1 具体要求:参考光路反射镜 fB7Jx6 #T>?g5I ;P ju O z^tzP~nI DMDtry?1: ]ke9ipj]: 具体要求:测试光路反射镜 xq,ql@7 BGj!/E y5aPs z <+
[N* 具体要求:探测器 R6Md_t\ (=WYi~2v P=<lY}, -u"|{5? ' 结果:3D光线追迹 S~fP$L5 m(9I+` !Z\Gv1 0n2H7}Uq 结果:场追迹 R(&3})VOa 1Vz^?t: L'KKU4zj mP6}$D 结果:移动样品的场追迹结果 C_q2bI D8~\*0-> V;CRs\aYf 通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 {4/*2IRN9h d&|5Rk
~ 文件&技术信息 F[jqJzCz 0iR?r+| 3 i>NKS V?.=_T< v_U/0
0 QQ:2987619807 M,ybj5:6
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