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    [分享]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-28
    光学测量 > 干涉测量 +4:eb)e  
    bG]0|  
    任务/系统说明 Or? )Nlg6x  
    *6?mZ*GYY  
    N (4H}2  
    8._uwA<[  
    亮点 Cx2# 0$  
    -Rpra0o. C  
    LFax$CZc  
    AIg4u(j  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; :(A&8<}-6  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真 NA0nF8ek  
    i%FC lMF  
    具体要求:光源 ;5ki$)v"  
    8{ZTHY -  
    86{>X5+  
    gxl7j Y  
    具体要求:用于准直的消色差透镜 D"pT?\kO  
    3 2z4G =l  
    GNJ /|9  
    Q$U5[ TZm  
    )g'J'_Sl  
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    9qftMDLZJ\  
    M=raKb?F  
    具体要求:分束器 -zFJ)!/?  
    tpGT~Y(  
    2p&$bf t  
    v^JzbO~|gj  
    具体要求:参考光路反射镜 I(*3n"  
    r.e K;  
    Ikdj?"+O  
    [\W&  
    cANt7  
    tY;<S}[@7w  
    具体要求:测试光路反射镜 `0qjaC  
    s6~;)(r  
    f- XUto  
    &b|RoPV  
    具体要求:探测器 v7"VH90`!  
    /Z6lnm7wJ  
    N)"8CvQL  
    tBGLEeL/.  
    结果:3D光线追迹 4NID:<  
    ~pZ0B#K J  
    ,,u hEoH  
    '6M6e(  
    结果:场追迹 Nud =K'P=  
    c0zcR)=mL  
    g)#?$OhP"  
    He=C\"  
    结果:移动样品的场追迹结果 K? o p3}f?  
    ee? d ?:L  
    ZR\N~.  
    通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 EsKgS\`RZ  
    zd[k|lj  
    文件&技术信息 7y=O!?*  
    ^y@ W\  
    WOn<;'}M&  
    g8.z?Ia#5Z  
    ``CM7|)>`  
    QQ:2987619807 u:APGR^  
     
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