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光学测量 > 干涉测量 YiL^KK [oXr6M: 任务/系统说明 W kp He
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]}&HvrOld 亮点 ?aB%h
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;kG"m7-/ •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； =
~*Vfx •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； 7~N4~KAUS
{8;}y[R 具体要求：光源 t="nmjQs c4Q%MRR  Vhn Ir#L+ Lo)T 具体要求：用于准直的消色差透镜 :yw(Co]f 0d 0ga^O &g8 Xjx&zj  #>z !ns "{bc2# F \^'-=8<* >  Iy4 R E P| LS-_GslE7\ 具体要求：分束器 r'*#i>PkQD (2RuQgO  u@Z6)r'
/p}pdXS 具体要求：参考光路反射镜 P+e {,~o au+:-Khm  W:}t%agis
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tI.ho 具体要求：测试光路反射镜 u0Z MrIJ y"_rDj`  XE;' K`%
$>wN:uN( 具体要求：探测器 vNm4xa% 16~5 ;u  jS#YqVuN *oh , Va 结果：3D光线追迹 & TN.6Hm3 ?'tFTh  !<h-2YF<M +.u
HY`A 结果：场追迹 iqWkhJphv T.WN9= N
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,L\KS^> 结果：移动样品的场追迹结果 6>b#nFVJ vhU#<59a1  tCj \U+; 通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 W$gjcsv
LZJFp@ 文件&技术信息 ny<D1>{90 *M$$%G(4
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