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光学测量 > 干涉测量 +4:eb)e bG]0| 任务/系统说明 Or? )Nlg6x *6?mZ*GYY
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(4H}2 8._uwA<[ 亮点 Cx2#
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LFax$CZc AIg4u(j •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; :(A&8<}-6 •对相干效应以及干涉图样的高速仿真; NA0nF8ek i%FC
lMF 具体要求:光源 ;5ki$)v" 8{ZTHY- 86{>X5 + gxl7jY 具体要求:用于准直的消色差透镜 D"pT?\kO 32z4G =l GNJ/|9 Q$U5[TZm )g'J'_Sl U
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3 T 9qftMDLZJ\ M=raKb?F 具体要求:分束器 -zFJ)!/? tpGT~Y( 2p&$bft v^JzbO~|gj 具体要求:参考光路反射镜 I(*3n" r.eK; Ikdj?"+O [\W&
cA Nt7 tY;<S}[@7w 具体要求:测试光路反射镜 `0qjaC s6~;)(r f- XUto &b|RoPV 具体要求:探测器 v7"VH90`! /Z6lnm7wJ N)"8CvQL tBGLEeL/. 结果:3D光线追迹 4NID:< ~pZ0B#K
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'6M6e( 结果:场追迹 Nud =K'P= c0zcR)=mL
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d?:L ZR\N~. 通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 EsKgS\`RZ zd[k|lj 文件&技术信息 7y=O!?* ^y@
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