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光学测量 > 干涉测量 v`HER6 Z}J5sifr 任务/系统说明 qb>41j9_t 3e_tT8
`\kihNkJn3 CL=%eSsuD 亮点 qO#3{kW i5VZ,E^E
vrnvv?HPrR T6U/}&{O •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; {M]_]L{&7 •对相干效应以及干涉图样的高速仿真; !+GYu;_
L:$4o 具体要求:光源 ;tjOEmIiU ^4dE8Ve"@ 8tj]@GE <xI<^r'C9e 具体要求:用于准直的消色差透镜 7oE0;' |R`"Zu` f9.?+.^_ 77P\:xc AI|vL4*Xd "tJ+v*E 4&iQo' #-/W?kD 具体要求:分束器 n5:uG'L\ ;J%:DD 7EJ2 On @)Qgy}*5 具体要求:参考光路反射镜 l2D*b93
Y t(D l A ^1} M5dYcCDE
66yw[,Y ]}2)U 具体要求:测试光路反射镜 =RoG?gd{R M(%H AGlBvRX7e i'IT,jz! 具体要求:探测器 {{G)Ry*pb ~k"+5bHa* TEtmmp0OD HIg2y 结果:3D光线追迹
5ZCu6A vObZ|>.J~O MpV<E0CmE JJ: ku&Mb 结果:场追迹 YpZB-9Krf M\ATT%b:
=pH2V^<<# w"hd_8cO 结果:移动样品的场追迹结果 ?CpVA gabfb# Ji4p6$ .j- 通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 +
G@N [+ud7l 文件&技术信息 I^NDJdxd ,AP&N'
2t= =<x `#""JTA" wJp<ZL QQ:2987619807 57\ 0MQO
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