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光学测量 > 干涉测量 *`T&Dlt'8 MDt?7c 任务/系统说明 P^W47
SO tb3fz")UC
m28w4
A8GlE 亮点 oW6<7>1M7 _B FX5ifK
Dj(7'jT .
*xq = •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; WEAXqDjM •对相干效应以及干涉图样的高速仿真; *!@x<Hf< %Oqe7Cx>+ 具体要求:光源 s;$TX30 4 >+8I =S P@`"MNS ygt)7f5 具体要求:用于准直的消色差透镜 a@ }r[0O ;NeEgqW" /j@ `aG(a rxeXz< JZxF)]^ ~la04wR28 \ZZy`/~z*7 ^VPl>jTg 具体要求:分束器 :9#{p^:o gi@ji-10 ?I#hrv@ Hd`p_?3] 具体要求:参考光路反射镜 ?^4sE-C6 [:@?,?V\N <W')
~o} )^f
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J1S ){6)?[G 具体要求:测试光路反射镜 z>;+'>XXgx MPy][^s! x]cZm^ 5?0gC&WfN 具体要求:探测器 K(fLqXE% UDtbfc7bk <>Ddxmw a;(zH*/XK 结果:3D光线追迹 l5]oS?>y HTyF<K b7sE rGGepd 结果:场追迹 :P~&
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E?4@C"Na 13_~)V 结果:移动样品的场追迹结果 k&iScMgCTH `G0rF\[ pQ(eF0KG 通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 7 P^{*! (,c?}TP 文件&技术信息 ;s.5\YZ"k "u8o?8+q~
[*{\R`M 2*wO5v pQ^,. [[ QQ:2987619807 TKu68/\)
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