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    [分享]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-28
    光学测量 > 干涉测量 @vrV*!  
    .sj^{kGE  
    任务/系统说明 ?)1{)Erf8x  
    Dqe^E%mc  
    < !dqTJos  
    By9*1H2R  
    亮点 ^WNrGF  
    <c,u3cp  
    A3S<.. g2  
    YGPy@-,E  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换;  )8UWhl=  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真 qycI(5S,  
    2h=!k|6  
    具体要求:光源 O2BDL1o  
    X6mqi;+  
    %e(z /"M=`  
    Ts ^"xlK  
    具体要求:用于准直的消色差透镜 A' /KUi  
    2m35R&  
     $W9{P;  
    Gmq/3tw  
    !cAyTl(_  
    %d(^d  
    c(n&A~*AJ%  
    de;GrPLAi  
    具体要求:分束器 0 Emr<n  
    Qe} `~a9P  
    X90J!  
    -:Ia^{YN  
    具体要求:参考光路反射镜 d)R:9M}v  
    sPMa]F(  
    [-;_ZFS{  
    <p\6AnkMr  
    0VGPEKRh  
    ' )?f{  
    具体要求:测试光路反射镜 .Jrqm  
    # P?6@\  
    , 'ZD=4_  
    G_k~X"  
    具体要求:探测器 o(r\E0 I  
    {6c2{@  
    pm\x~3jHs  
    ;r>snJ=M  
    结果:3D光线追迹 5KDGSo  
    HaYE9/xS  
    "(3BvMA&!9  
    I*IhwJFl/  
    结果:场追迹 1}:bqI.<W  
    nM-h&na{s  
    Ju3*lk/j-  
    )d$glI+  
    结果:移动样品的场追迹结果 Lv'D^'I  
    dz *7gL;7G  
    %9M~f*  
    通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 j^;I3_P  
    N#Zhxu,g!  
    文件&技术信息 E !a|Xp  
    -#2)?NkeE  
    )YX 'N<[  
    'C:>UlzLy  
    P  '>SmQ  
    QQ:2987619807 B|4X}*@SX  
     
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