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    [分享]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-28
    光学测量 > 干涉测量 &}Wi@;G]2  
    Cj4Y, N  
    任务/系统说明 C{^I}p  
    ?)(/SZC0  
    ~' 955fK>  
    `5h^!="  
    亮点 fV Y I  
    D6?h 6`J  
    M[z1B!rT  
    +FadOx7X$  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; w.J$(o(/  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真 ({C[RsY=6  
    ^&mrY[;S  
    具体要求:光源 tw<Oy^ i  
    /%,aX [  
    @|t]9  
    <Fx%P:d  
    具体要求:用于准直的消色差透镜 EZ"i0u  
    S& IW]ffK  
    |XG&[TI- "  
    x`C"Z7t  
    AhA&=l i;  
    #&r}J  
    t>N2K-8Qh  
    2SlL`hN>Z  
    具体要求:分束器 J!~kqNI  
    1QD49)  
    `p* 43nV  
    J%r:"Jm[y1  
    具体要求:参考光路反射镜 fB7Jx6   
    #T>?g5I  
    ;P juO  
    z^tzP~nI  
    DMDtry?1:  
    ]ke9ipj]:  
    具体要求:测试光路反射镜 xq,ql@7  
    BGj!/E  
    y5aPs z  
    <+ [N*  
    具体要求:探测器 R6Md_t\  
    (=WYi~2v  
    P=<lY},  
    -u"|{5? '  
    结果:3D光线追迹 S~fP$L5  
    m(9I+`  
    !Z\Gv1  
    0n2H7}Uq  
    结果:场追迹 R(&3})VOa  
    1Vz^?t:  
    L'KKU4zj  
    mP6}$ D  
    结果:移动样品的场追迹结果 C_q2bI  
    D8~\*0->  
    V;CRs\aYf  
    通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 {4/*2IRN9h  
    d&|5Rk ~  
    文件&技术信息 F[jqJzCz  
    0iR?r+|  
    3 i>NKS  
    V?.=_T<  
    v_U/0 0  
    QQ:2987619807 M,ybj5:6  
     
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