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    [分享]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2020-10-28
    光学测量 > 干涉测量 ?rY+,nQP  
    GL _hRu  
    任务/系统说明 Z+=WICI/2  
    _FU}IfG>t  
    k*OHI/uiow  
    I+QM":2  
    亮点 w\M"9T  
    [b3$em<^JV  
    Z 5g*'  
    3e>U(ES  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; vR (nd  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真 y7,t "XV  
    411z -aS  
    具体要求:光源 vXZ )  
    9rIv-&7'm  
    P'<j<h6  
    _0y]U];ce  
    具体要求:用于准直的消色差透镜 ]x66/O\0u  
     c& $[a%s  
    *uSlp_;kB  
    lk[u  
    ]z]=?;ty%  
    TrNh,5+b  
    {L \TO,  
    qeC^e}h  
    具体要求:分束器 'J)9#  
    (1[Z#y[  
    ,."wxP2u  
    !hE F.S  
    具体要求:参考光路反射镜 nkz<t   
    1d$wP$  
    "([lkn  
    %q.5; L  
    *,)1Dcv(  
    r*ziO#[  
    具体要求:测试光路反射镜 t*fH&8(  
    )(rr1^Xer  
    BjHp3-A'  
    A"0Yn(awWu  
    具体要求:探测器 3T>6Q#W5eO  
    dA<SVk*0Q  
    0b<Qs88yd>  
    "Xl"H/3r  
    结果:3D光线追迹 Y5P9z{X=  
    ;2[OI  
    1r5Z$3t\  
    Zad>i w}  
    结果:场追迹 wKoar  
    O]?\<&y  
    EztuVe  
    9?^0pR p  
    结果:移动样品的场追迹结果 |,({$TrF  
    F=PBEaX  
    @LY[kt6o  
    通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 C' WX$!$d  
    />uE)R$  
    文件&技术信息 )TBm?VMe  
    xZ* B}O{{H  
    o5YL_=7m  
    I]42R;Sc  
    Xc&J.Tw#4*  
    QQ:2987619807 B,` `2\B  
     
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