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光学测量>显微 pX>ua5Z ) >>u|#@z 任务/系统描述 9l]UE0yTL/ ~u_K&X
?Ia4H S2koXg( 亮点 G*)s%2c>h *)j@G:
O]e6i%? v
t^r1j 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 tpv?`(DDU 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 >[Xm|A# 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 pu\b`3C( |x1$b7 说明:光源 fl!mYCPv 98D{{j92 }U2[? '4J&Gp x 说明:透镜系统 `y1BTe& ::4"wU3t M.o?CX' hWe}'L- 说明:样品结构 f?2zLE>u fdd~e52f 5|yZEwq 'jh2**i 34 说明:探测器 II.<S C X32RZ9y /DLr( 8&?^XcJ*x 结果:3D光线追迹 qv.[k<~a> 2;&mkcK'
c}YJqhk0J V%i<;C 结果:场追迹矩形光栅 \V._Z>] -Bl/4p uEBQoP2 5kK=S 结果:场追迹锯齿形光栅 ^/G?QR Xfj)gPt} !.9l4@z# 文件&技术信息 RI?NB6U FL59
g* %bzfk=| |__d 8a >r~0SMQr QQ:2987619807 fwRGT|":B
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