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光学测量>显微 .0?A0D?sP g1&>.V}! 任务/系统描述 v^3s?VD f:KZP;/[c
0N`N $tB `dDj 亮点 L-[A1#n XWag+K
AS/z1M_U jhH&}d9 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 ky@ZEp= 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 usR+ZQaA 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 P`AW8Y6o mKuY=#R P 说明:光源 7[ZoUWx Q)2i{\GPVn |./{,", (CInt_dBw~ 说明:透镜系统 K8RV=3MBLD iaHL&)[YK p9![8VU ?.^n,[2 说明:样品结构 N^4CA@'{ O'h f8w xq&r|el I+W:}}"j 说明:探测器 (Rh$0^)A Q$b4\n?44 Hq#q4Y $;Z0CG 结果:3D光线追迹 `PZcL2~E E?S
m\G45%m F+)g!NQZ 结果:场追迹矩形光栅 Egmp8:nZl@ B["jndyr `t3w|%La} & tjL*/ 结果:场追迹锯齿形光栅 lQ&J2H<w W/<Lp+p {LBL8sG 文件&技术信息 g[N3jt@ uc aa;zj
$bl<mG%#9 E8L\3V4 {9vMc QQ:2987619807 iLQ;`/j
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