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光学测量>显微 lVd-{m) -Q?c'e 任务/系统描述 ;C:|m7| 5=<KA
V,'_BUl+x }oSgx 亮点 g&EK^q @)[8m8paV
Q{'4,J-w ~%M*@fm 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 g"Ueo'd* 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 W ;+()vC 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 o:3(J} XD0a :T) 说明:光源 +_bxza(ma{ x^pt^KR; ;~d$OM @H~oOf 说明:透镜系统 =2NrmwWZs *!*%~h8V ^q&|7Ou- -U
A &Zt 说明:样品结构 L$s ENOm 7l=Tl[n I^u~r. -vY5h%7kf 说明:探测器 =2QP7W3mg< r7R.dD/. )s,tBU+N )S`[ gK 结果:3D光线追迹 &nI>`Q' G%>[7 ]H
}' Y)"8AIA Gr/}&+S 结果:场追迹矩形光栅 `zw % ZnzO]
EStui>ho o~\.jQQxa 结果:场追迹锯齿形光栅 ='4)E6ea? +Ss3Ph ~tRGw^<9 文件&技术信息 |K{d5\_ 6aHD?a o
*V\.6,^v 4pQf*l8e Ok{1{EmP QQ:2987619807 YwF&-~mp7n
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