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光学测量>显微 &lSNI5l \]f+{d-& 任务/系统描述 Y?J/KW3 GJcxqgk$
7Qd$@ m >dJuk6J&c& 亮点 FqA4 OU Ut\:jV=f
ub~ t} o}:x-Y 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 PB$beQ 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 G)I`
M4}*n 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 Z3{1`"\<K
&Jj|+P-lY 说明:光源 "ymR8y' Ue9Y+'-x
{Z8GG XN Uw 说明:透镜系统 /i>n1>~yn Rkg8 9n\>Yieu &"K_R(kN 说明:样品结构 aq_K,li#w {guOAT-w W%>T{}4 V9$T=[ 说明:探测器 MZQDFuvDxZ _LwF:19Il P1rjF:x[* R;Dj70g 结果:3D光线追迹 fEL 9J{ \DujF>:
g@!U^mr*3 /A,w{09G 结果:场追迹矩形光栅 5e,u*J] MF< ZB_@ bKsjbYuo <<?32r~ 结果:场追迹锯齿形光栅 #tu>h )S+fc= ph5{i2U0 文件&技术信息 ]$L5}pE3 J1I,;WGf
=9ff983 a r8iuwfZ H5Eso*v@ QQ:2987619807 !Ea >tQ|
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