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光学测量>显微 Fa%1]R @wR3L:@ 任务/系统描述 X<L=*r^C,= =\O#F88ui
#hxYB g{Hgs 亮点 ]Lub.r dEJqgp}\p
<N vw*yA )dkU4] 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 ]I\GnDJ^ 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 sF
{,n0<8 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 n5$#M Z~J]I|R: 说明:光源 KR>)Ek PQ4mNjXN <,M"kF: A<+Dx
说明:透镜系统 +HS]kF H i(j/C V'i-pn2gyu t1?aw< 说明:样品结构 R(wUu#n$ oPKLr31zt E8!`d}\# OS z71;j 说明:探测器 KnG7w^ }^&S^N7 $:~;U xh= \4N8-GwZQ 结果:3D光线追迹
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s)E \ <w9~T TS 结果:场追迹矩形光栅 MKBDWLCB &&&-P\3 +x2JC' -H m{Q
#f\< 结果:场追迹锯齿形光栅 \qG?'Iy 8&2+=<Q~ pkn^K+<n, 文件&技术信息 Cy;UyZ ` g]
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