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光学测量＞显微 p- zLi! O":x$>'t 任务/系统描述 -6 DfM, P$w0.XZa
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4bu <0Q`:'\.> 亮点 z3>} (+
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 e;[/ytz"d' )5e}Id 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 J 9>uLz 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 Imi_}NB+ 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 )e Ub@ Eu 6Zkus20 说明：光源 K b{ \N7
E!82  9 ?h)U|J?G ?p6+?\H 说明：透镜系统 k>2 x m [N H[n#  kOJs; k
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PGfQN 说明：样品结构 I~#'76L[ %*:-4K  2<|+h=
& 1Te: &d 说明：探测器 MW`q*J`Yo $yhQ)@#1  a i}8+L8- }vp\lK P 结果：3D光线追迹 |W{z,e01x J/ <[i rC
 .4.zy]I id GM%Faur 结果：场追迹矩形光栅 p Sc<3OI &!m;s_gi  mp !6MO Q
yO$ ]9 结果：场追迹锯齿形光栅 [u/g =^+u  S9-K (<2PhJ| 文件&技术信息 xZbm,. v \jZvP`.2
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LlX 7g _! QQ：2987619807 =Tb~CT=
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