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光学测量>显微 nv5u%B^ L*?!Z^k 任务/系统描述 =?0QqCjK) ,=[*Lo>O i~qfGl p6) i+M*J#' 亮点 dGgP_S zXc}W*ymj Qs+ k)e, Fm j= 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 sM\&.<B 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 S-E++f9D~ 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 I6OSC&A` 9]_GNk-D 说明:光源 4?]oV%aP) E*v]:kok J l7z|Q S & QZV q" 说明:透镜系统 fB#XhO ,9/5T: 2 `"y{;PCt_ I
8Y*@$h 说明:样品结构 ^GXEJU7U fCEz-TMW + Oobb-v "xwM+ AC 说明:探测器 ~oi_r8K +*EKR _dmL}t- a[O6YgO 结果:3D光线追迹 g_D-(J`IK, r*cjOrvI
kG3!(?: jL4>A$ 结果:场追迹矩形光栅 XNmQ?`.2' kr_oUXiX Hql5oA y1(P<7:t? 结果:场追迹锯齿形光栅 8Uj: Ku%6$C!, 3YTIH2z5 文件&技术信息 rye)qp| :Ee ?K G\/IM d/B* 9.Ap~Ay. QQ:2987619807 DPPS?~Pq
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