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光学测量>显微 s xp>9& 8%D 2G i 任务/系统描述 hMvLx>q3) (^).$g5Hg
)4BLm '6zD`Q 亮点 ^6(Nu|6\@ of k@.TmO
ny{Yr>:2 .~t.B!rVSB 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 j!<(` 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 !O}^ Y 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 TcM;6h` Q&A^(z} 说明:光源 VuWBWb?0Q <@z!kl ^>ICycJ {WoS&eL 说明:透镜系统 \T]'d@Wyd \DC0` `}Z`aK lqoJ2JMy 说明:样品结构 TtKV5 FLzC kzJ:6 `8sC>)lrwu EAPjQA-B? 说明:探测器 -)LiL sOUQd-!" VW/ICX~"d gJC~$/2 结果:3D光线追迹 Ufr,6IX GLE/ 1
ev"f@y9Do LX2Re
]& 结果:场追迹矩形光栅 cA8A^Iv:0 0c6Ea>S[ K*[`s'Ip- {\62c;. 结果:场追迹锯齿形光栅 ]]^eIjg>a6 v%$c_'d @zGz8IF 文件&技术信息 me@xl} lzDA0MPI:
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x^]J^L45 x@*!MC# QQ:2987619807 2{;~Bgd
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