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光学测量>显微 ^]v}AEcmW H`".L^ 任务/系统描述 %TR->F jK{CjfCNz
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s$]I@;_ 亮点 ^@)+P/& 6znm?s@~
B8P%4@T d~n+Ds)%F 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 NeWssSje 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 6?t5g4q*nn 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 u&g} !Smc8 5H',Bm4- 说明:光源 CZ0 {*K: tG{Vn +~/ x~(Ul\EX P"~B2__* 说明:透镜系统 mg3jm 5Q^~Z}, *yJb4uALB a`{'u)@ 说明:样品结构 IAtZ-cM< $iB(N ZV EZ=M^0=Hpf "5e]-u' 说明:探测器 )dvOg'it kz??""G7/ pLIBNo? @.gCeMlOf 结果:3D光线追迹 c.XLEjV| |n~v_V2.0
XrvrN^'
zzxU9m~" 结果:场追迹矩形光栅 _l Jj 6= H1@"Yg8 j9,X.?Xvx :Rq D0>1 结果:场追迹锯齿形光栅 H4pjtVBr 1HZexV n1LS*-@ 文件&技术信息 [IYs4Y5 ="4jk=on
A76=^iw VOiphw` :4A^~+J QQ:2987619807 c]O4l2nCL
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