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光学测量>显微 { jhr< QA<Jr5Ys 任务/系统描述 Zrvz;p@~ e6d<dXx
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zx-81fx+k 亮点 '7+4`E }
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iNK +n#V[~~8AI 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 %KmiH
;U 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 +tVaBhd! 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 c&AygqN ]`kmjn 说明:光源 p4'G$]# jg.QRny^ *.!Np9l,V KU8Jbl*
说明:透镜系统 dYL"h.x .7l&1C)i R:#k%}W EJsM(iG]~M 说明:样品结构 k&,~qoU oZ!m ;\=M;Zt W3 'q\+ 说明:探测器 `[W[H(AjQ N7O-2Z * &ge "x{,? =~=*&I4Dp 结果:3D光线追迹 3?1`D/ /7}It$|nhy
D^=J|7e P;Ga4Q. 结果:场追迹矩形光栅 `QyO`y=?[Y ;4.!H,d kzt(i Y_6 m+lvl 结果:场追迹锯齿形光栅 nv@8tdrc ~])t 6i p$PKa.Y3 文件&技术信息 5u*-L_ gK[YQXfTy
i*#-I3 Z@]e{zO $shoasSuI QQ:2987619807 xHz[t6;4;
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