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光学测量>显微 ;muxIr`? hl?G_%a 任务/系统描述 Zo}wzY~x>I ,-#8/9ts
>8+:{NW yZ=wT,Y 亮点 >p Y0f } @13vn x
uFNVV;~RFI DYkNP:+ 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 k2o98bK&; 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 <eKF 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 JlJy3L8L FP=%e]vJ 说明:光源 {(#Dou E c[-@5x -v#0.3zm h-<2N)>! 说明:透镜系统 oA`'~~! +m kub}<a Svj%O( \?A 7{IY 说明:样品结构 nn!W-Bsqjh =n|n%N4Y e>\[OwF-x Ha{# 说明:探测器
`b 6j7 ]wCg'EUB 9T#d.c24 )OxcJPo 结果:3D光线追迹 8TIc;'bRM y6tzmyg
J P'|v" dq[X:3i 结果:场追迹矩形光栅 ousvsP%' 7xidBVx v?Q&06PMRc FYh+G-Y# 结果:场追迹锯齿形光栅 mb_*FJB-_ BMMWP gOaL4tu 文件&技术信息 fH[Yc>(oj FYU)sQ
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