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光学测量>显微 =q(GHg;' |xr\H8:(! 任务/系统描述 JR9$.fGJ D H^T x
Y-~~,Yl~ td{O}\s7D 亮点 .5> 20\b2 wP"q<W
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6<Hu8$G| k_GP>b\"k 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 oc{EuW{Ag 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 !EF(*~r!9L 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 ]Z4zF"@ rrs"N3!aT 说明:光源 ,Vd7V}t T~gW3J X6RQqen3: uXQ >WI@eF 说明:透镜系统 ]M,06P>? ?mRE'# 59rY[&| !:fv>FEI9 说明:样品结构 TSL9ax4j cs_}&!c{ U!e6FHj7 uCzii o`S 说明:探测器 hPdx(E)8!d zPZF|%| PI|`vC|yy& h ?#@~ 结果:3D光线追迹 Xt,X_o2m|] )QY![&k}1z
kJ=L2g>W<. ])y{BlZ 结果:场追迹矩形光栅 ^[->
) oYX{R aW{L7N % b>cafu 结果:场追迹锯齿形光栅 iRV;Fks 3vJ12= tfiqr|z 文件&技术信息 rhY_|bi4P <9@7,2
D\]&8w6& Q!CO0w #i@h{R01 QQ:2987619807 t6u-G+}
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