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光学测量>显微 5D]30 7z/(V\9B 任务/系统描述 2xL!PR- ?ae[dif
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dfhno; 2,8/Cb 亮点 f%Z;05 TbKP8zw{
>bX-!<S k9^+9P^L 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 ,Lt~u_ lve 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 IFd )OZ5 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 inr%XS/m o~OwE7H)A 说明:光源 [):{5hMA 2~G,Ia p4m^ ~e &\J?[>EJ. 说明:透镜系统 T:K" S s@u,`pr %XEKhy >\|kJ?h 说明:样品结构 @9}),hl` "*Lj8C3|n 18DTv6?QG bx hP jAL 说明:探测器 )z2|"Lp G$?|S@I, 0[n c7)sW ^%\)Xi 结果:3D光线追迹 P &;y]
,)E 1fz*SIjG
u-AWJc+F . G0_&gx` 结果:场追迹矩形光栅 {l&Ltruhz d&}pgb-Md , vY)n6 !GlnQ`T 结果:场追迹锯齿形光栅 OOEV-= Q0pC4WJ` ES^>[2Y 文件&技术信息 E
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[<]Y+33 1 L+=|*: 4`'8fe/" QQ:2987619807 Um]p&phVL
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