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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 j,:vK  
    (g>8!Gl  
    任务/系统说明 {`X O3  
    y5oC|v7  
    PG@Uygahu  
    (fSpY\JPI  
    亮点 I=vGS  
    Zndv!z  
     Aw7oyC!  
    Hi V7  
     在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） i'6>_,\(  
     严格分析光栅衍射效率 k|kn#X3X  
     考虑入射光的方向分布 Py}] {?  
    Ug2^cgL  
    说明：光源 f_{O U E  
    Y2Z<A(W  
    @'D ,T^I  
    p|q}z/  
    说明：光束分束器 Uo D@ix&0  
    =zetZJg  
    ke~S[bL%-  
    .66_g@1  
    说明：检测透镜系统 KV1/!r+*  
    &@&0n)VTd  
    IRq@~vdt)  
    =&9x}4`;%  
    说明：微型晶片 Vm_<eyI2  
    2%i3[N*  
    ,.Sd)JB'  
    iUH{rh!  
    说明：检测物镜 I4Y; 9Gg  
    y?r:`n  
    <aScA`\B#  
    K4.GAGd  
    说明：探测器 5:T)hoF@  
    7UVhyrl  
    AJ%x"  
    "{1SDbwmMo  
    结果：3D光线追迹（只有0级） D on8xk  
    +DpiX&^h   
    s\Zp/-Q  
    0Qa kFt  
    结果：3D光线追迹（所有级） vwc)d{ND  
    ){_D  
    *  11|P  
    <D1>;C  
    结果：光线追迹 _7^4sR8=  
    (*XSr Q  
     DqQ+8 w  
    2)W~7GED  
    结果：场追迹 <* 4'H  
     n}f*>Mn  
     p%?VW  
    }}cS-p  
    结果：线性偏振光的场追迹 uFXu9f+  
    |IgH0 zZ  
    8'n xc#&  
     doj$chy  
    文档和技术信息 N8-!}\,  
    jcY:a0[{D  
     bVbh| AA  
    *pZhwO !D  
     >&`S$1 o  
    QQ：2987619807 U`-]U2 "  
     
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