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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 uRpBeH]Z"  
    w{r8kH  
    任务/系统说明 { m'AY)  
    ; [FLT:$  
    _N@(Y:  
    xj7vI&u.  
    亮点 #N$9u"8C  
    Hnd+l)ng  
    9(Jy0]E~  
    ;?`@"YG)  
     在复杂光学系统中,包含光栅(如,非常大的数值孔径(NA)) JRo;(wqZ  
     严格分析光栅衍射效率 q~M2:SN@X  
     考虑入射光的方向分布 F 3s?&T)[G  
    .:N:pWe  
    说明:光源 r>O|L%xpv  
    YD9!=a$  
    &Sa~/!M  
    WN\PX!K9  
    说明:光束分束器 V)h y0_  
    1mix+.d  
    +99Bi2H}o  
    e=L*&X  
    说明:检测透镜系统 g>T  
    f"P$f8$  
    a'A s  
    (l_:XG)7~b  
    说明:微型晶片 8i[LR#D)  
    _#vGs:-x&  
    ^vaL8+  
    t}~UYG( h~  
    说明:检测物镜 ]x_F{&6U8  
    O2lIlCL  
    \4QH/e  
    }I'^./za  
    说明:探测器 Qsji0ikG  
    ,J& 9kYz  
    u(Rk'7k  
    `;/XK,m-  
    结果:3D光线追迹(只有0级) Qt~B#R. V  
    D )gD<  
    lRH0)5`  
    ;W~4L+e  
    结果:3D光线追迹(所有级) & g$rrpTzv  
    7 Kjj?~RA  
    y]^#$dK(z  
    u# 3)p  
    结果:光线追迹 +o u Y  
    ~j]dct7  
    *{nunb>WO  
    }Aw47;5q;  
    结果:场追迹 [S)G$JW  
    0ERsMnU'  
    BUDGyl/=  
    XmlIj8%9[&  
    结果:线性偏振光的场追迹 {#9,j]<  
    s>r ^r%uK  
    H0+:XF\M  
    'e85s%ru  
    文档和技术信息 D:)~%wu Lt  
    Z/c_kf[  
    `V@z&n0P6  
    Wp`C:H  
    K( z[ }  
    QQ:2987619807 sJv`fjf%8  
     
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