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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    离线infotek
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 H064BM  
    _IHV7*u{;  
    任务/系统说明 IxN9&xa  
    kOrZv,qFG[  
    GTPHVp&y  
    5J.bD)yrP  
    亮点 IVnHf_PzF  
    UBU=9a5  
     w>&aEv/f  
    HXC ;Np  
     在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） edq4D53  
     严格分析光栅衍射效率 CT <7mi!  
     考虑入射光的方向分布 A/$QaB,x  
    V*;(kEqj  
    说明：光源 ha<[b ue  
    MTh<|$   
    yx8z4*]kH  
    @Sn(lnlB  
    说明：光束分束器 %g$o/A$  
    ] )\Pqn(  
    uk:(pZ-uJ  
    :K,i\  
    说明：检测透镜系统 cGzPI +F  
    ,.8KN<A2]'  
    dh iuI|?@  
    =U9*'EFr  
    说明：微型晶片 @ CL{D:d  
    !X#OOqPr=  
    ] IQ&>z}<  
    [ -K&R  
    说明：检测物镜 X=&ET)8-Y  
    z (wc0I  
    M#6W(|V/  
    wH&!W~M  
    说明：探测器 ;(Or`u]Dr  
    s WvBv  
    '3fu  
    BoWg0*5xb  
    结果：3D光线追迹（只有0级） )F>#*P  
    L|7R9+ZG  
    Qx#"q'2  
    &i6mW8l  
    结果：3D光线追迹（所有级） #&aqKV Y  
    &)ChQZA  
    ~rKrpb]ow  
    hd<c&7|G'  
    结果：光线追迹 - %h.t+=U  
    lT?v^\(H  
     VA_PvL.9  
    .@U@xRu7|  
    结果：场追迹 s};{ZAtE  
    9~XA q^e  
     *vxk@ `K~  
    }2.`N%[  
    结果：线性偏振光的场追迹 `(V3:F("@  
     }q`S$P;  
    Vn}0}Jz  
     Jhhb7uU+  
    文档和技术信息 3yF,ak {Sl  
    l<LI7Z]A  
     <0&*9ZeD  
    O KR "4n:  
     $ @`V  
    QQ：2987619807 IueFx u  
     
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