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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    离线infotek
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 |U#DUqw  
    sltk@  
    任务/系统说明 =f>HiF  
    )o{VmXe@@  
    Zvxp%dES  
    HOfF"QAR$  
    亮点 zLP],wB  
    NS@{~;#R  
     MEEAQd<*  
    <P1rqM9^  
     在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） U R}kB&t  
     严格分析光栅衍射效率 R2l[Q){!  
     考虑入射光的方向分布 4IZlUJ?j+c  
    AM'gnP>  
    说明：光源 ?w*yW;V`  
    wxj>W[V  
    1]j^d  
    \<ZLoy_  
    说明：光束分束器 m%pBXXfGYj  
    >V(zJ  
    `fz,Lh*v  
    ym\(PCa5`  
    说明：检测透镜系统 c5("-xB  
    atyu/+U'}  
    oU8>Llt=$  
    UFe(4]^  
    说明：微型晶片 {b1UX9y  
    & 1_U1  
    nd:E9:  
    ZHCr2^w6  
    说明：检测物镜 bg}+\/78#  
    MLV:U  
    r,4lqar;E  
    D<t~e$H  
    说明：探测器 %k2FPmA6  
    /THnfy \  
    ]dG\j^e|  
    3;-^YG  
    结果：3D光线追迹（只有0级） y])).p P  
    \vCGU>UY  
    h*3{6X#(/  
    ;#&fgj  
    结果：3D光线追迹（所有级） 4PWAGuN^  
    JO=1ivZl  
    =1Z;Ma<;  
    b:kXNDc  
    结果：光线追迹 Ly7!R$X  
    K"\MU  
     &cu!Hx  
    jJBnDxsA  
    结果：场追迹 YTQps&mD.  
    EB!daZH,  
     [ ]^X`R  
    KzphNHd  
    结果：线性偏振光的场追迹 Gr: 3{o`  
    26L~X[F  
     )\ZzTS  
     Cqx v"NN  
    文档和技术信息 c2*`2qK#  
    `#Kx|x6  
     tHh HrMxO  
    !tXZ%BP.u  
     ~e">_;k6  
    QQ：2987619807 r &%.z*q  
     
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