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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 Ge76/T%{Q  
    M/}i7oS]  
    任务/系统说明 B{1yMJA  
    a$G hb]  
    iyMoLZ5  
    1w>G8  
    亮点 -}Rh+n`  
    qPCI@5n3T?  
    ITjg]taD  
    ,9 .NMFn  
     在复杂光学系统中,包含光栅(如,非常大的数值孔径(NA)) <|:$_&(  
     严格分析光栅衍射效率 1qwJPM  
     考虑入射光的方向分布 mpl^LF[  
    ` h1>rP  
    说明:光源 ~@iYP/=/Q  
    'W[Nr  
    ;S+"z;$m  
    "6iq_!#L  
    说明:光束分束器 ;7!u(XzN  
    Zb~G&. 2g  
    x ~@%+d  
    J5\2`U_FZ  
    说明:检测透镜系统 !(N,tZ  
    hHsO?([99  
    ?qtL*;  
    bj 0-72V  
    说明:微型晶片 1ka58_^  
    ]@sLX ek  
    ~G~:R  
    2>inyn)S  
    说明:检测物镜 Y-*]6:{E  
    vslN([@JR  
    ~"vRH  
    6;}FZ  
    说明:探测器 U9q6m3#$  
    p%CcD]o  
    R6G%_,p$7  
    {s[,CUL0  
    结果:3D光线追迹(只有0级) /909ED+)>9  
    b#_u.vP  
    K_BF=C.k  
    OlYCw.Zu  
    结果:3D光线追迹(所有级) ,wk %)^  
    h)yAg e  
    1$ {Cwb/F  
    c(!{_+q"  
    结果:光线追迹 B,ZLX/c9  
    K]Q1VfeL=  
    8x<; AL|`  
    <ApzcyC  
    结果:场追迹 )Ft>X9$  
    >J@hqW  
     Z_?r5M;  
    ^2!l/(?  
    结果:线性偏振光的场追迹 ZCCwx71j  
    ?rv5Z^D'  
    OYNPZRu  
    JUC62s#_z  
    文档和技术信息 +8q]O%B   
    ngQ]  
    4w0Y(y  
    $~2qEe.h  
    pL)o@-k#%  
    QQ:2987619807 s4Z5t$0|  
     
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