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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    离线infotek
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 sq1v._^s  
    2/.I6IbL  
    任务/系统说明 bZd)4  
    5_E,x  
    c^%&-],  
    Nd;,Wz]  
    亮点 >w)A~ F<  
    iK=SK3)vR  
     4j VFzO%.  
    r E<Ou"  
     在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） H*VZ&{\7  
     严格分析光栅衍射效率 x&YcF78  
     考虑入射光的方向分布 D<UX^hU   
    sB'Z9  
    说明：光源 Nx^r&pr  
    GZk{tTv  
    Z Vj  
    0VwmV_6'<W  
    说明：光束分束器 2:tO"   
    _1U7@v:<@  
    =b[q<p\  
    J~(M%] &k^  
    说明：检测透镜系统 {*Tnl-m~  
    ]] Jg%}o  
    8>l#F<@5  
    #Ss lH  
    说明：微型晶片 +VdC g_  
    t?6_^ 08  
    r8Pdk/CW^  
    (Aw!K`0Y1  
    说明：检测物镜 z3 Ro*yJU  
    #Y;tobB  
    F` "bMS  
    >+ E  
    说明：探测器 aK4ZH}XHE"  
    NAt; r  
    O0cKmh6=  
    [|E|(@J  
    结果：3D光线追迹（只有0级） $S_G:}tna  
    jo ^+  
    dlB?/J<  
    cs6I K6wo  
    结果：3D光线追迹（所有级） Y~C;M6(P  
    h:l4:{A64  
    MTUJsH\  
    :3$-Qv X  
    结果：光线追迹 W\l"_^d*  
    d-BUdIz  
     [S#QGB19  
    %jRqrICd  
    结果：场追迹 t!JD]j>q  
    Y[WL}:"93  
     zy!mP  
    [H&Z / .{F  
    结果：线性偏振光的场追迹 <oP"kh<D4  
    cJ#|mzup  
    B9(e"cMm  
     Rd^X.  
    文档和技术信息 F3 z:|sTqc  
    p?qW;1  
     XEvDtDR  
    Z{gJm9  
     p@Ng.HE  
    QQ：2987619807  Lkl+f~m  
     
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