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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 (WW,]#^  
    nDvny0^a  
    任务/系统说明 u%O^hcfb  
    `,(1'  
    @ %z5]w  
    &%Hj.  
    亮点 p Nu13o~  
    1F5F2OT$8  
     T^GdN_qF  
    >t8eVMMa  
     在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） tazBZ'\c  
     严格分析光栅衍射效率 nX Qz  
     考虑入射光的方向分布 0;TMwE  
    U2ANu|  
    说明：光源 PyHE >C%  
    Yb =8\<;  
    'q*1HNwGp  
    NUL~zb  
    说明：光束分束器 HIh oYSwB  
    y&__ 2t^u  
    j7-#">YL  
    xDr *|d  
    说明：检测透镜系统 5<w0*~Z d~  
    'd?8OV  
    ,iPkx(  
    9Zrn(D  
    说明：微型晶片 v2@M,xbxF:  
    JmYi&  
    "<O?KO 3K  
    *rEW@06^\  
    说明：检测物镜 F"23>3  
    {8jG6  
    jv0e&rt  
    "Ln\ZYB]  
    说明：探测器 w-nkf M~  
    FpRK^MEkG  
    %n}]$ d  
    G>_ZUHd I  
    结果：3D光线追迹（只有0级） SyYa_=En  
    U |4% ydG  
    mI`dZ3h  
    F37,u|  
    结果：3D光线追迹（所有级） xEiW]Eo  
    x@k9]6/zs  
    L7xTAFe  
    3]VTQl{P  
    结果：光线追迹 &FanD   
    rz.`$b  
     )O&$-4gL'  
    W4YC5ZH{l  
    结果：场追迹 fg1 zT~  
    |]]fcJOBP  
     i'EXylb  
    ss2:8up 99  
    结果：线性偏振光的场追迹 ]CL70+[^9  
    be@MQ}6>  
    o4Ba l^=[  
     '",5Bu#C  
    文档和技术信息 !{3pp  
    igQyn|  
     n_+Iw,a'm  
    (HJ60Hj  
     S n+Yi  
    QQ：2987619807 Z3/zUtgs  
     
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