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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 & Gt9a-ne  
    (^4%Fk&I-  
    任务/系统说明 #75;%a8  
    w$!n8A qs  
    W2k~N X#@  
    ,O+7nByi[V  
    亮点 btE+.V  
    PrcM'Q  
     N@>S>U8C  
    M@3H]t?  
     在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） 4c yv 8  
     严格分析光栅衍射效率  Ui.F<,E  
     考虑入射光的方向分布 '37b[~k4  
    koU.`l.  
    说明：光源 b,W '0gl  
    8K/lpqw  
    Ww~0k!8,t  
    5W48z%MN  
    说明：光束分束器 9.B7Owgr89  
    .wSAysiQ|P  
    #@fypCc  
    uI[*uAR  
    说明：检测透镜系统 sFTIRVXN,  
    SOL=3hfb^  
    :KLD~k7yA(  
    \v_C7R;&  
    说明：微型晶片 G dU W$.  
    ;~J~g#  
    wGH@I_cy>  
    ZJ(!jc$"*%  
    说明：检测物镜 :Mk}Suf&H  
    -Me\nu8(RF  
    G;;~xfE'  
    I'C ,'  
    说明：探测器 wW4S@m  
    qu%s 7+  
    ?+\,a+46P_  
    A@OV!DJe]  
    结果：3D光线追迹（只有0级） Ul Iw&U  
    De_</1Au!2  
    [)A#9L~s=  
    ~aG-^BAS  
    结果：3D光线追迹（所有级） O|~'-^  
    $EIkk= z  
    wrU[#g,uvr  
    vp@+wh]#  
    结果：光线追迹 ]Yex#K   
    jxaoQeac  
     h'p0V@!N  
    MVdx5,t  
    结果：场追迹 #Au&2_O  
    N3<Jh  
     d ] ;pG(  
    ay4xOwcR  
    结果：线性偏振光的场追迹 f,>i%.  
    }i:'f 2/  
    FF/R_xnx  
     D$E9%'ir  
    文档和技术信息 rR~X>+K  
    ~x:] ch|  
     ;g jp&g9Q  
    ~*Qpv&y)  
     $lA,{Q  
    QQ：2987619807 I:<R@V<~#  
     
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