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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 (Fqa][0  
    I.a0[E/,  
    任务/系统说明 2GUupnQkD  
    Abf1"#YImy  
    h>W@U9  
    +* D4(  
    亮点 (I~\,[  
    ^@"c`  
    ,LZ(^ u  
    rKp1%S1  
     在复杂光学系统中,包含光栅(如,非常大的数值孔径(NA))  2d~LNy  
     严格分析光栅衍射效率 (: OHyeNt  
     考虑入射光的方向分布 )&z4_l8`=  
    N7pt:G2~%  
    说明:光源 tBv3~Of.  
    KIIym9%  
    Q S;F+cmTh  
    u~}%1  
    说明:光束分束器 Qi:j)uDW  
    l5HWZs^  
    4#h ?Wga  
    @H+~2;B,  
    说明:检测透镜系统 y\Dn^  
    @'gl~J7  
    +c r  
    p%8 v`  
    说明:微型晶片 !qaDn.9  
    $}4K`Iu  
    `j:M)2:*y  
    $m8leuo)  
    说明:检测物镜 8 }z3CuM  
    XN(tcdCG  
    QT;Va#a  
    {,Fcd(MU  
    说明:探测器 A6i et~h[  
    k(v"B@0  
    6ZOAmH fs  
    f?0D%pxc}&  
    结果:3D光线追迹(只有0级) ,ey0:.!;  
    "& Mou  
    -ek1$y9)  
    ob]dZ  
    结果:3D光线追迹(所有级) ?@3&dk~ni  
    o\60 n  
    R+F,H`  
    ]v GgJ<  
    结果:光线追迹 :A#+=O0\z  
    x;mJvfX  
    Y'JL(~|  
    t9Vb~ Ubdb  
    结果:场追迹 ALAL( f`  
    RpAiU  
    EZ{/]gCK  
    $`v+4]   
    结果:线性偏振光的场追迹 O4N-_Kfp/  
    0[i}rC9&  
    6WO7+M;z  
    FF3&Y^+^"  
    文档和技术信息 C d|W#.6  
    yl]UUBcQ  
    <N-=fad]  
    m r2S!  
    _ .!aBy%xf  
    QQ:2987619807 \ =Nm5:  
     
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