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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 M~.1:%khM  
    TCkMJs?  
    任务/系统说明 L3*HgkQQ  
    p@d_Ru  
    ]#'& x%m  
    py%:,hi  
    亮点 ey n-bw  
    *(Z\ "o!  
     rX?%{M,xFw  
    c+##!_[9  
     在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） wF*9%K'E  
     严格分析光栅衍射效率 kJCeQK:W  
     考虑入射光的方向分布 =8Z-ORW51  
    #9HX"<5  
    说明：光源 -6e^`c6{  
    {m_y<  
    |[)pQGw  
    P9jSLM  
    说明：光束分束器 zu,Yuq  
    e?KzT5j:  
    ]i>,oxBWe  
    }LoMS<O-[  
    说明：检测透镜系统 Qs<L$"L1  
    8\+DSA  
    u Vo"_c w  
    ?kF? ~\c  
    说明：微型晶片 oE,TA2  
    #[Rs&$vQm  
    jcRe),  
    F;T;'!mb  
    说明：检测物镜 FgMQ=O2  
    1'1>B  
    0y2zjXM;3  
    bR?xz-g%<3  
    说明：探测器 tHr4/  
    ` ^;J<l  
    @c).&7  
    E *782>  
    结果：3D光线追迹（只有0级） O.{  
    |*l^<==  
    ('o} EoXS  
    wU"w  
    结果：3D光线追迹（所有级） b)r;a5"<5  
    n"@){:{4?  
    Ny2bMj.o  
    3jHE,5m  
    结果：光线追迹 7R,;/3wWjG  
    #oN}DP  
     qI<c47d;q  
    a;\a>N4  
    结果：场追迹 O,#,`2Qc  
    #8y"1I=i&  
     JkKbw&65  
    G9@5 !-  
    结果：线性偏振光的场追迹 3Z7gPU!H=  
    &}\{qFD;  
    Nv3u)?A3w  
     {`(MK6D8 c  
    文档和技术信息 :m>Vp  
    1-Dw-./N  
     CZ =]0zB  
    nQ{~D5y,,  
     bH!_0+$P  
    QQ：2987619807 mE &SAm5#d  
     
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