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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 [,Gg^*umS  
    [y(MCf19  
    任务/系统说明 [n@] r2g)3  
    J1k>07}|  
    _6Sp QW  
    j#|ZP-=1_  
    亮点 S jqpec8  
    oA 1yIp  
    e'~3oqSvR  
    }bxs]?OW>  
     在复杂光学系统中,包含光栅(如,非常大的数值孔径(NA)) yWK)vju"  
     严格分析光栅衍射效率 5m@V#2^P  
     考虑入射光的方向分布 BGSw~6  
    )lkjqFQ(  
    说明:光源 6k%f  
    {7[Ox<Ho  
    x2xRBkRg=  
    5pX6t  
    说明:光束分束器 {}9a6.V;}  
    t@(HF-4~=  
    1 MFbQs^  
     wwqEl(  
    说明:检测透镜系统 '1[Ft03  
    vM={V$D&  
    vx =&QavL  
    2 ?C)&  
    说明:微型晶片 ]Wup/o  
    }f ?y* H  
    F59 TZI  
    KNl$3nX  
    说明:检测物镜 _`X:jj>  
    +{]j]OP  
    @7 }W=HB  
    X$ D6Ey  
    说明:探测器 [),ige  
    h[ ZN+M  
    4eu O1=  
    gGYKEq{j(  
    结果:3D光线追迹(只有0级) JF]JOI6.e  
     *CMx-_  
    kZ~~/?B  
    i b m4fa  
    结果:3D光线追迹(所有级) xdPx{"C 3  
    637: oT_`O  
    4H/OBR  
    _1^'(5f$  
    结果:光线追迹 f);FoVa6  
    Ri'n  
    pg.%Pdr<$  
    UiWg<_<t  
    结果:场追迹 2wn2.\v M  
    9WHddDA  
    iU-j"&L5  
    $b\P|#A  
    结果:线性偏振光的场追迹 \e_O4  
    XW9!p.*.U  
    Bvj0^fSm  
    KoYF]  
    文档和技术信息 a*;b^Ze`v  
    I fir ,8  
    *j=% #  
    @HW*09TG  
    hZ3bVi)L\  
    QQ:2987619807 *:1ey{w:  
     
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