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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 }JpslY*aS  
    1VyO?KX '  
    任务/系统说明 Y9co?!J 5M  
    eM1;Nl  
    +{Vwz  
    +v[$lh+  
    亮点 [;V1y`/K1  
    < jocfTBk  
     Zh~Lm  
    <*(UvOQuX  
     在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） ZTPOD.:#  
     严格分析光栅衍射效率 A*26'  
     考虑入射光的方向分布 X5oW[  
    T.m)c%]^/  
    说明：光源 p`l[cVQ<  
    d`],l\o C  
    ^* /v,+01f  
    B 1ZHV^  
    说明：光束分束器 divZJc  
     eS@!\H x  
    PHiX:0zT  
    3NxaOO`  
    说明：检测透镜系统 E[Ws} n.  
    MCrO]N($b  
    }$k`[ivBx(  
    bmq XP  
    说明：微型晶片 ";Ig%]  
    feq6!k7  
    s3E~X  
    ^B6i6]Pd=9  
    说明：检测物镜 2p;}wYt  
    +@7x45;D  
    A*;^F]~'  
    Nj@?}`C 4  
    说明：探测器 xd BZ^Q  
    =|JIY  
    wyA(}iSq  
    Wo WM  
    结果：3D光线追迹（只有0级） ; # ?0#):-  
    VU0tyj$  
    >\oJ&gdc  
    at(p,+ %  
    结果：3D光线追迹（所有级） .gkPG'm[  
    ]pP2c[;  
    Ho._&az9cT  
    %WT:RT_  
    结果：光线追迹 5NvyK[w]  
    uj1E* 98m  
     v7OV;e a$  
    \NQ)Po@z  
    结果：场追迹 2:5gMt  
    +=H>s;B  
     [dF=1E>W_J  
    NUnc"@  
    结果：线性偏振光的场追迹 z&vms   
    #`L}.  
    >/`c mNmb  
     ]GR q  
    文档和技术信息 ?N?pe}  
    dUtIAh-j  
     Oi[9b  
    @[kM1:G-F{  
     ]j$p_s>  
    QQ：2987619807  aC }1]7  
     
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