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摘要 wk9qyv< ;ElwF&"!X 高NA物镜广泛用于光学光刻,显微镜等。因此,在聚焦仿真中最基本的就是考虑光的矢量性质。 使用VirtualLab对这种镜头进行光线追迹和场追迹分析非常方便。通过场追迹,可以清楚地展示不对称焦斑,这源于矢量效应。相机探测器和电磁场探测器为聚焦区域的研究提供了充分的灵活性,可以让用户深入了解矢量效应。 IIh \d.o :P/0 " G2 {R5F ! bnzIDsw!Q 建模任务 !5^&?plC@ &@U)
Neb") 概观 nBg
tK 2~B9 (| &P:2`\' 光线追迹仿真 bdYx81 :k/Z| •首先选择“光线追迹系统分析器”(Ray Tracing System Analyzer)作为仿真引擎。 g3*J3I-O cOoF +hz0O •点击Go! Ox%.We5 •获得3D光线追迹结果。 E``\Jre@ '7yVvd Qz4n%| vxZ :l 光线追迹仿真 "lnI@t{o U
UYx-x /r?EY&9G •然后,选择“光线追迹”(Ray Tracing)作为仿真引擎。 :8LK}TY7 •单击Go! c2~oPUj •结果,获得点列图(2D光线追迹结果)。 oR@1/lV f+V^q4 L7"B`oa(p .T*89cEu 场追迹仿真
`)n/J+g IfzW%UL ZOzwO6(_ •切换到场追迹并选择“第二代场追迹”(Field Tracing 2nd Generation)作为仿真引擎。 VlFhfOR6t •单击Go! OhiY < t2_pwd*B XtftG7r9S La8 D%N 场追迹结果(摄像机探测器) G_v^IM#B= \F8:6- |y DaFv •上图只显示整合了Ex和Ey场分量的强度。 Jq8:33s •下图显示整合了Ex,Ey和Ez分量的强度。 2*pNIc Ez分量:由于在高NA情况下相对较大的Ez分量,可以看到明显的不对称性。 l|L
]==M Sej(jJX1 qk_YFR?R LA4,o@V` 场追迹结果(电磁场探测器) p"|0PlW /L;
c -^ 9D{p^hd •所有电磁场分量均使用电磁场探测器获得。 5-! Zm] nq 9{{oe a"!r]=r 文件信息 ~yu\vqN Q7(I' %ou@Y` ppR;v LB/1To QQ:2987619807 4;)aGN{e
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