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摘要 ,=9e]pQ 7I6bZ;}d 高NA物镜广泛用于光学光刻,显微镜等。因此,在聚焦仿真中最基本的就是考虑光的矢量性质。 使用VirtualLab对这种镜头进行光线追迹和场追迹分析非常方便。通过场追迹,可以清楚地展示不对称焦斑,这源于矢量效应。相机探测器和电磁场探测器为聚焦区域的研究提供了充分的灵活性,可以让用户深入了解矢量效应。 P~)ndaQ *|f&a p<|I!n&9 ~ E)[!y 建模任务 P}%0YJ$6 T41&;?- I$Q%iZ{ 概观 ZwLD7j*) e#YQA 1`tE Hu. 光线追迹仿真 uhuwQS=X Ty"OJ •首先选择“光线追迹系统分析器”(Ray Tracing System Analyzer)作为仿真引擎。 UC,43 z H?M#7K~[ •点击Go! o@`&
h}
$ •获得3D光线追迹结果。 r@xMb,!H DR o@gYDn
>-Qg4%m LF'M!C9| 光线追迹仿真 74 c1i M-!eL< }mjJglK!N •然后,选择“光线追迹”(Ray Tracing)作为仿真引擎。 Phsdn`, •单击Go! SWjOJjn •结果,获得点列图(2D光线追迹结果)。 ~-,P1u! W^2Q"c#7F +w-UK[p ~RVx~hh 场追迹仿真 APT'2-I_ Ns-cT'1- ExDH@Lb •切换到场追迹并选择“第二代场追迹”(Field Tracing 2nd Generation)作为仿真引擎。 uf*sI •单击Go! GNXQD}L?b? Gd)@PWK wSp1ChS k k;p:P ?s5Y 场追迹结果(摄像机探测器) >Au]S` '#SacJ\L7
:\Z;FA@g(g •上图只显示整合了Ex和Ey场分量的强度。
h:[PO6GdX •下图显示整合了Ex,Ey和Ez分量的强度。 D-.XSIEMu Ez分量:由于在高NA情况下相对较大的Ez分量,可以看到明显的不对称性。 B.&ly/d 30Nya$$A=
5=g{%X Ga-AhP 场追迹结果(电磁场探测器) x. r~e)x= ,jyNV<dI ,TD@s$2x •所有电磁场分量均使用电磁场探测器获得。 +MKr.k2 U S+PI`
rUkiwqr~E 文件信息 i=%wZHc; dL<okw
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l@`s, QQ:2987619807 -OZRSjmY
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