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摘要
k;xIo(: ;{f4E)t 7 高NA物镜广泛用于光学光刻,显微镜等。因此,在聚焦仿真中最基本的就是考虑光的矢量性质。 使用VirtualLab对这种镜头进行光线追迹和场追迹分析非常方便。通过场追迹,可以清楚地展示不对称焦斑,这源于矢量效应。相机探测器和电磁场探测器为聚焦区域的研究提供了充分的灵活性,可以让用户深入了解矢量效应。 U)iq }>< v7 #jd&f,Tt .p$tb2%r 建模任务 Xjs`iK=w k5/W'*P }?^5L7n 概观 VFLW@ RSK5 }2 /7jb&f 光线追迹仿真 ^M~Z_CQL2 FoB^iA6e •首先选择“光线追迹系统分析器”(Ray Tracing System Analyzer)作为仿真引擎。 8m"jd+ vj hh4$k •点击Go! &^1{x`Qo= •获得3D光线追迹结果。 ~zph,bk d_aHUmI^"
}\3jcnn tiQeON-Q_ 光线追迹仿真 =Cg1I\ ['jr+gIfQ 1yV+~)by3 •然后,选择“光线追迹”(Ray Tracing)作为仿真引擎。 -cP7`.a •单击Go! ^SC2k LI •结果,获得点列图(2D光线追迹结果)。 TAp8x AtYqD<hl: p` /c&} fF]w[lLDv 场追迹仿真 ,Aw
Z% KuJNKuHa. G;Py%8 •切换到场追迹并选择“第二代场追迹”(Field Tracing 2nd Generation)作为仿真引擎。 z[+Sb; •单击Go! PB?92py& 0I['UL^!F ?'RB'o~ gnN"6r1 场追迹结果(摄像机探测器) xZ(ryE% )];Bo.QA *~0U4kw+ •上图只显示整合了Ex和Ey场分量的强度。 FW)VyVFmk •下图显示整合了Ex,Ey和Ez分量的强度。 p-XO4Pc6 Ez分量:由于在高NA情况下相对较大的Ez分量,可以看到明显的不对称性。 Z~1uyr( K7c[bhi_w
-OXC;y M2pFXU?] 场追迹结果(电磁场探测器) 2KtK.2; 7 PnZC
I!Mw W[<ZI>mf •所有电磁场分量均使用电磁场探测器获得。 ,#U[)}im _"[Ls?tRX
$Ts;o 文件信息 yS1i$[JV W5,&*mo
r1[c+Hy C`qE ,2. u~7fK QQ:2987619807 XNJ3.w:R
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