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摘要 <P_B|Y4N/ 8F/JOtkGMt 扫描干涉仪是用于执行表面高度测量的技术。 通过利用白光光源的低相干性,仅当光程长度差在相干长度内时才会出现干涉图样。 因此,它可以实现精确的显微镜测量。在本案例中,氙气灯和迈克尔逊干涉仪被构建并用于测量表面平滑变化的样品。 #;hYJ Y h@+(VQ
^q\9HBHT M,g$ 建模任务 g_e_L39 {7^D!lis (3N;- 仿真干涉条纹 B qcFbY bj_oA
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