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摘要 z?NMQ8l|:6 E;Akm': 扫描干涉仪是用于执行表面高度测量的技术。 通过利用白光光源的低相干性,仅当光程长度差在相干长度内时才会出现干涉图样。 因此,它可以实现精确的显微镜测量。在本案例中,氙气灯和迈克尔逊干涉仪被构建并用于测量表面平滑变化的样品。 3oH .1M/ llbf(!
cO]_5@#f'8 k}xXja* 建模任务 A2fc_A/a I\%a< f~HC%C
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^D< •定义元件的位置和方向 U3R;'80 f − LPD II:位置和方向[教程视频]QQ1824712522 =;hz,+ •正确设置通道以进行非序列追迹 P!c.!8C$ −非序列追迹的通道设置[用例] P2U^%_~ •使用参数运行检查影响/变化 U`G −参数运行文档的使用[用例] gk & JDp"!x{O #(i9G^K (KHO'QNMt^ VirtualLab Fusion技术 `%%/`Qpj; Zb p+b; 文件信息 ,;&j*qFi O[$,e% O)bc8DyI
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