使用蒙特卡罗方法验证最终BTOL预算的统计数据。 rmQ\RP W Monte-Carlo模拟两种输入格式： Pa[?L:E 单行格式： | @ *3^' MC NSAMPLES LIBLOC [ QUIET ] [ QTOL{QNUM/ALL} zh jJ>d%w QLIB [ tstat ]] Rf?%Tv0\ 或MC NSAMPLES MULTI [ QUIET ] … PF6 7z]<o 在这一行中，你给出了标准透镜的库位置和你想要评估的模拟元件的数量。您可以在一次运行中设置最多 500 个元件。 @.1 Qs`pt 另一种输入： |,{+;: MC ITEMIZE |eF.ZC)QWh SAMPLES NSAMPLES <"A#Eok|4 LIBRARY { LIBLOC / MULTI } nNu[c[V [QUIET ] (rIXbekgB
[ WORST { QNUM / ALL } QLIB ] 'Q R4~`6I [THSTATS { tstat } ] *#6|!%? g [WEDGES { RANDOM / ALTERNATE / CLOCK} ] hR0]8l | [TEST ] $YPQC GO , 8~dz 可选的QUIET 将禁止在命令窗口中滚动的输出; 因此，较长的 MC运行将更快完成。 建议您首先运行没有此选项的短 MC 运行，以确保优化（如果有）按预期执行，然后使用更大的样本运行，并设置选项。始终显示最终统计数据。 [NjajA~z>F tI'e ctn QTOL 给出将触发最坏情况示例的质量描述符的值。如果您想捕获所有最坏情况的样本，请输入一个负数。 QNUM 指定要监视哪个质量描述符， QLIB 给出一个将示例存储到其中的库位置。如果所有的命令都被替换为 QNUM，程序就会监控所有的质量描述并捕捉到整体上最糟糕的值的系统。 y}Cj #I+a
GBW 7Y 5c) w Z w0aHEvH/ 显示所设计的所有
参数的直方图以及分布图：
.01TTK * MC PLOT［DIST］
t"tNtLI 可选的DIST 绘制分布
函数而不是直方图。 此函数显示处于或优于横坐标值的个案百分比。
0S_Ra+e X tR`? 这个命令仅在MC分析后才有意义，必须遵循BTOL分析。
oW8;^u 例如：对下面
镜头进行
公差分析和MC分析。
h~ZNHSP: 
gsi<S6DQ8 输入BTOL程序如下：
il7 !} 
Nl=+.d6 Qo kHZKj!!R 运行BTOL.REFLERTOR.MAC后，可在Command Window中查看公差分析数控，部分结果如下：
|\/~
8qP 
[|jIC ?n Y/, q& 再CW中输入MC 100 10 QUIET -1 ALL 1
F\:{}782u 
L^&do98 Sw[=S '(l 然后输入MC PLOT和MC PLOT DIST分别得到直方图和分布图：
f}A^]6MO: 
)|Jr|8 ,~iFEaV+ 直方图：
{<"[D([ 
} cR i
A ga,A'Z 分布图：
L-SdQTx_ 
lf}?!*V`+ POkXd^pI Kgps_tY% ]D?oQ$ q 7
