举例:设置三个
光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置
光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。
\^"Vqx RLE
/Tm+&Jd ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
ydYsmTr WAVL .6562700 .5875600 .4861300
?#
FYF\P APS 1
zu{K"7Bx GLOBAL
ial{A6X NOSEQUENTIAL
=bC' >qw} UNITS MM
9gw;MFP)D OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
~9FL]qo 0 AIR
:Q=y'< 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
EG t
50 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
L}rZ1wV6 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
HP]5"ziA 1 CC -1.04500000
CYy=f- 1 AIR
=YgH-{ 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
N s0,Z#Z+ 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
:Q("
2 AIR
hxMRmH[f: END
2H.g!( Oza 4E 5;wH RSOL 10 20 2 0 123
T,9q~*" PLOT
07:V[@' #;ObugY, BLUE
aUEr& $ PUP 1 200
?K7uy5Y K0j%\]\Tp OBI INDEX 0 1
z8t;jw TRACE P 0 0 200
JK<[]>O rHw#<oV OBI INDEX 0 0
xtP:Q9!N RED
k*N!U[] TRACE P 0 0 200
,M{G
X 4Z%1eOR9V OBI INDEX 0 -1
bI:W4y>I= GREEN
tcXXo&ZS PUPIL 1 200
o!+%|V8Y TRACE P 0 0 200
p2 1| END
ugTsI~aE
O$6&4p*F. \OkZ\!<hg 评估光线分布的方法:
Gl'G;F$Y- 1.查看在最终表面上的足迹图
/_m)D;!y 在Edit Window中输入:
yYJ_;Va *
rlVE PUPIL 1 400
v%T'!(0j/ RED
:<zIWje OBI IND 0 0
pTq DPU PLOT 2 1 0 0
5xdeuBEY8 TRACE P 0 0 400
li3,6{S# OBI IND 0 1
"!zJQl@ BLUE
=AzPAN#e TRACE P 0 0 400
xkRMg2X.>9 OBI IND 0 -1
nQOdM#dP GREEN
*V',@NH#Os TRACE P 0 0 400
8&8!(\xv END
G-)e(u
8_4!Ar>2 .kFO@: G!$~'o%/ 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
Z}!'fX." _2G _Io OBI INDEX 0 1
%:`v.AG GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
=>5Lp OBI INDEX 0 0
rwXpB<@l@ GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
`$JvWN,kB OBI INDEX 0 -1
EP@u4F GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
KX9IC5pR $Ah
p4oiE FOR RECTANGLE
:lo5,B;k SIZE 5 5
P
_fCb VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
/gF)msUF PLOT
5n2!Y\ 这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
8WQ#)
}UsH#!9. Ygk_gBRiC 3.使用另一个特性
照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面
光束的均匀性。
F_:zR,P%# 输入格式:
<$-^^b(y
^
34Ng