举例:设置三个光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双曲面。声明该系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。 0KHA5dt
RLE [wjA8d.
ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE n>+M4Zb
WAVL .6562700 .5875600 .4861300 {&4+W=0
n
APS 1 bv4lgRE6Y
GLOBAL 0V}%'Ec<e
NOSEQUENTIAL i?A4uyYwS
UNITS MM ,+oQ 5c(f
OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3 -$QzbRF5R
0 AIR DdN{=}A
1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000 egYJ.ZzF0
1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000 E/Q[J.$o
1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR =xw) [
1 CC -1.04500000 TC<_I0jCh
1 AIR {}s7q|$
2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000 Oq|RMl
2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR >TeTa l
2 AIR @tM1e<
END 4@.qM6 \\q
?N~rms
e
RSOL 10 20 2 0 123 DKPX_::
PLOT X<OwB -N
{uM*.]
BLUE BB.^-0up
PUP 1 200 ^GD"aerNr
&
VJ+X|Z
OBI INDEX 0 1 XPBKQm_}
TRACE P 0 0 200 >KNiMW^V
~dkS-6q~Q
OBI INDEX 0 0 ;/XWX$G@
RED MXh0 a@*]
TRACE P 0 0 200 QgqR93Ic
2TXrVaM
OBI INDEX 0 -1 7.,C'^ci
GREEN H!y1&
PUPIL 1 200 u3a"[DB9c
TRACE P 0 0 200 DJdW$S7
END }u5/
1aP3oXLL
7v]>ID
评估光线分布的方法: )>QpR8
G-
1.查看在最终表面上的足迹图 Q(
U+o-
在Edit Window中输入: xA& tVQ2!
1Mn=m w
PUPIL 1 400 i+
]3J/J
RED 5/F1|N4
OBI IND 0 0 F0qpJM,
PLOT 2 1 0 0 v-B{7
~=#Z
TRACE P 0 0 400 i882r=TE3
OBI IND 0 1 J: vq)G\F
BLUE I<L
TRACE P 0 0 400 _ I"}3*
OBI IND 0 -1 J&CA#Bg:w
GREEN 0/5
a3-3{
TRACE P 0 0 400 2w_[c.
END B5{ wSr
(HbA?Aja
rE$0a-d2B
"
R!,5HQF;
2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。 uH="l.u
cc- liY"
OBI INDEX 0 1 |L[/]@|
GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS <| 8N\FU{
OBI INDEX 0 0 Q=9Ce@[
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS :d}I`)&
OBI INDEX 0 -1 @rI+.X
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS `v?XFwnV`
$ha,DlN
FOR RECTANGLE 6l]jmj)/
SIZE 5 5 %;/?DQU
VARY Y POSITION FROM -50 TO 50 KG<. s<
PLOT sB`.G
这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形探测器从下到上对其进行检查。 i]x_W@h
3N c#6VI
RT`.S
uN
3.使用另一个特性 照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面光束的均匀性。 zW#P
~zS
输入格式: AK$&'t+$}7
uaghB,i'n