举例:设置三个光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双曲面。声明该系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。 -%8*>%
RLE e nsou!l
ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE :\I88
-N@'
WAVL .6562700 .5875600 .4861300 N#(p_7M
APS 1 y\M]\^[7
GLOBAL =+{SZh@
NOSEQUENTIAL 49vKb(bz{
UNITS MM !zc?o?~z
OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3 B(+J?0Dj
0 AIR ] B
ZSW
1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000 ^Ec);Z
1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000 6M({T2e
1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR |Tn+Aq7
1 CC -1.04500000 R5_xli%
1 AIR d|T87K>|r"
2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000 `;?`XC"m
2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR Pc"g
2 AIR Npq_1L
END W dM?{;
#
|$AoI
RSOL 10 20 2 0 123 h B@M5Mc$
PLOT VJp; XM
!% ' dyj
BLUE zQpF,N<b
PUP 1 200 wGRMv1|lIu
.d}7c!
OBI INDEX 0 1 Qq,w6ekr
TRACE P 0 0 200 W|NT*g{;M
1|U8DK
OBI INDEX 0 0 '3h"Ol{b
RED ;"gUrcuY
TRACE P 0 0 200 }q-* Ls~
(RhGBgp
OBI INDEX 0 -1 C"X; ,F<
GREEN >fX_zowX
PUPIL 1 200 s48 { R4
TRACE P 0 0 200 9d5|rk8VS
END WoYXXYP/E
st91rV$y?
Ze?(N~
评估光线分布的方法: >St]MS
1.查看在最终表面上的足迹图 <G+IbUG:
在Edit Window中输入: ^)\z
Zt3Y<3o
PUPIL 1 400 8v|?g8e3
RED k;)t}7(
OBI IND 0 0 f9ziSD#
PLOT 2 1 0 0 |3ob1/)p0
TRACE P 0 0 400 CAs8=N#H%
OBI IND 0 1 xna4W|-
BLUE oQsls9t
TRACE P 0 0 400 hXF#KVqx
OBI IND 0 -1 qj$6/V|D
GREEN GxFmw:
TRACE P 0 0 400 A9:dHOmT^U
END )p?p39>h
d q.'[
vCj,aSW
Z+3j>_Ss
2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。 -D?-ctFYj^
@)iAV1r"
OBI INDEX 0 1 b ~5Q|3P 9
GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS 0vi)my;!
OBI INDEX 0 0 ~a5-xWEZ
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS #RN"Ul-B|
OBI INDEX 0 -1 xoT|fgb
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS szZ8-Y
f>i" j
FOR RECTANGLE bOvMXj/HV=
SIZE 5 5 3$~6+i
VARY Y POSITION FROM -50 TO 50 *{#l0My
PLOT :\Pk>a
这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形探测器从下到上对其进行检查。 3M@!?=|U
v \xuq`
rzk]{W
3.使用另一个特性 照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面光束的均匀性。 . #7B10
输入格式: MhaoD5*9
&IZthJqV