举例:设置三个光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双曲面。声明该系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。 Ysi
g T
RLE ]N{0:Va@D
ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE %rkk>m
WAVL .6562700 .5875600 .4861300 ^tH#YlV4>9
APS 1 !CUoHTmB
GLOBAL x@>&IBiL
NOSEQUENTIAL -&2B@]]
UNITS MM V5`^Y=X(%
OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3 ^aZAw%K
0 AIR %~xGkk"I
1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000 eH%RNtP`
1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000 w5=tlb
1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR ^dm!)4W
1 CC -1.04500000 x_#-tB
1 AIR \G|%Zw|
2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000 3AcD,,M>>
2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR ;gg\;i}^
2 AIR ?.=}pAub
END PU<PhuMd
2";SJF'5\
RSOL 10 20 2 0 123 #/2$+x
PLOT I@#;nyAj"
p[AO'
xx
BLUE *l&S-=]
PUP 1 200 hr05L<?H
kzn[
=P
OBI INDEX 0 1 Z3TS,a1I4
TRACE P 0 0 200 81LNkE,
mTNB88p8^D
OBI INDEX 0 0 _nh[(F<hz
RED 4NN$( S-W
TRACE P 0 0 200 2i{cQ96
K14^JAdY/
OBI INDEX 0 -1 Z6p5*+
GREEN ~@ jY[_
PUPIL 1 200 KJ2Pb"s
TRACE P 0 0 200 X1{[}!
END (6l+lru[
RwI[R)k
gKz(=
评估光线分布的方法: wr(*?p]R
1.查看在最终表面上的足迹图 %WTEv?I{Ga
在Edit Window中输入: 5irwz4.4
fA/m1bYxg
PUPIL 1 400 s~I6SA&i
RED
HB+|WW t>
OBI IND 0 0 'H5M|c$s
PLOT 2 1 0 0 ]?O2:X
TRACE P 0 0 400 2d%}- nw
OBI IND 0 1 X$%4$
BLUE 9,j-Vp!G
TRACE P 0 0 400 <JMcIV837
OBI IND 0 -1 qy)_wM
GREEN $$b
9&mTl#
TRACE P 0 0 400 &k-Vcrcz
END #U8rO;$
<f CKUc
J^R=dT!
0Wa}<]:^
2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。 d8-A*W[
98=wnWX6$
OBI INDEX 0 1 H~ZV*[A`
GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS akw,P$i
OBI INDEX 0 0 .#02
ngh
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS }_=eT]
OBI INDEX 0 -1 <)+y=m\eJ
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS T91moRv
3(C\.oRc
FOR RECTANGLE V%$/#sza
SIZE 5 5 ;XM{o:1Y[
VARY Y POSITION FROM -50 TO 50 f&v9Q97=
PLOT "-@[R
这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形探测器从下到上对其进行检查。 Z{&cuo.@<]
D}8EER b
Eu"_MgD
3.使用另一个特性 照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面光束的均匀性。 N?Lb
输入格式: rZ8`sIWQt
|rm g#;/D