举例:设置三个光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双曲面。声明该系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。 PAwg&._K
RLE 5"am>$rh
ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE ;CMC`h9,
WAVL .6562700 .5875600 .4861300 eH955[fVd4
APS 1 %"Q!5qH&
GLOBAL .p9h$z^
NOSEQUENTIAL %_MR.J+m2
UNITS MM )95yV;n
OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3 a{HgIQg_>R
0 AIR j{R|]SjW2H
1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000 THgzT\_zq
1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000 .eNwC .8i
1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR 6Y)^)dOi
1 CC -1.04500000 W4*BR_H&*
1 AIR jL+}F /~r
2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000 #}7m'F
2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR eBTedSM?t
2 AIR 2{kfbm-89t
END *rz(}(r
'lsq3!d.
RSOL 10 20 2 0 123 ;9p5YxD
PLOT jfPJ5]Z
ICbdKgLz
BLUE T{4fa^c2J
PUP 1 200 (vsk^3R[6
qm8n7Z/
OBI INDEX 0 1 &@utAuI
TRACE P 0 0 200 Usf"K*A
06 Esc^D
OBI INDEX 0 0 ^xw [d}0S
RED q\t>D
_lU
TRACE P 0 0 200 8^/Ek<Qb|
&iiK ZZ`_o
OBI INDEX 0 -1 <<On*#80w
GREEN 0/P-> n~
PUPIL 1 200 bC4*w
O
TRACE P 0 0 200 f93rY<
END 0tm_}L$g=b
Be>c)90bO_
*CY6
a
评估光线分布的方法: >)J47j7{c
1.查看在最终表面上的足迹图 xDA,?i;T
0
在Edit Window中输入: W[X!P)=w]
7! b)'W?
PUPIL 1 400
wy_;+ 'Y
RED ?sf2h:\N
OBI IND 0 0 76_8e{zbr
PLOT 2 1 0 0 ssX6kgq_(
TRACE P 0 0 400 S5E,f?l
OBI IND 0 1 6 ,pZRc
BLUE YNgR1:l
TRACE P 0 0 400 U~#^ ^
OBI IND 0 -1 .)^3t~
GREEN G<u.+V
TRACE P 0 0 400 @@{_[ir
END ;TV'PJ
9HNh*Gc=
ghobu}wuF
"Eok;io
2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。 \|pK Z6*s
*4hOCQ[
OBI INDEX 0 1 8A8xY446)
GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS 1f@U:<:
OBI INDEX 0 0 o.A}``
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS $~G0#JL
OBI INDEX 0 -1 J!A/r<
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS WrHgF*[
cfC; eRgq~
FOR RECTANGLE 3h[:0W!C]
SIZE 5 5 + 1+A3
VARY Y POSITION FROM -50 TO 50 {b-0_
PLOT t.>te'DK/
这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形探测器从下到上对其进行检查。 Yn$>QS 4
r>Qyc
fD\^M{5f
3.使用另一个特性 照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面光束的均匀性。 -@ UN]K
输入格式: 0.u9f`04
[!:-m61