举例：设置三个
光源，每个光源包含在一个圆锥体中，该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式（PUP 1），设置
光线数为200；使用三种不同颜色追迹三个光源的光线，追迹光线数为200，来绘制一个旋转实体图。
<5? pa 3 RLE
f14^VTzP/# ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
2t4\L3 WAVL .6562700 .5875600 .4861300
* bd3^mP APS 1
Khb Ku0Z GLOBAL
!
,bQ;p3g| NOSEQUENTIAL
ftG3!} UNITS MM
_jc_(;KPF OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
=ecLzk" +F 0 AIR
u &w})`+u5 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
o@BV&| 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
d[>HxPwo 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
kU+|QBA@ 1 CC -1.04500000
?=ffv]v| 1 AIR
:r@t ' 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
{#:31)P 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
{zWR)o .= 2 AIR
9vz\R-un END
8P zGUn;\ -OSj<m< RSOL 10 20 2 0 123
|{&M#qXe PLOT
>{N}UNZ$} >MGWN BLUE
<sw@P":F PUP 1 200
~ ;LzTL zGFD71=# OBI INDEX 0 1
<n4` #d TRACE P 0 0 200
jM &d i l2LLM {B OBI INDEX 0 0
r=&,2meo RED
K8aqC{ TRACE P 0 0 200
vjq2(I)u uN:KivVe OBI INDEX 0 -1
wS);KLe3 GREEN
h7 E~I
J PUPIL 1 200
ujRXAN@mC TRACE P 0 0 200
~L"$(^/ END
PR
Mg6 
8f/KN h7#s y-db CYMc 评估光线分布的方法：
B
ytx.[zbX 1.查看在最终表面上的足迹图
~ %8P0AP 在Edit Window中输入：
P&uSh?[ ^ !+Xul_XG PUPIL 1 400
N^dQX,j RED
!JDr58 OBI IND 0 0
iCPm7AU PLOT 2 1 0 0
? Bpnnwx TRACE P 0 0 400
'< U&8?S OBI IND 0 1
l[Z o,4* BLUE
@ QQ%09* TRACE P 0 0 400
J(l\VvK OBI IND 0 -1
:YI5O/gsk? GREEN
dMH_:jb TRACE P 0 0 400
$
]s^M=8 END
"5&" Ij,/ 
7a1o#O
x%l(0K {5~h 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型，再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
&em~+ 83 n@8Y6+7i OBI INDEX 0 1
C gx:6TRS GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
d ItfR'$ OBI INDEX 0 0
o Fj_o GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
[ ,;e ,ld OBI INDEX 0 -1
!fzS' pkk. GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
taE
p AH#mL FOR RECTANGLE
P |t yyjO SIZE 5 5
u%~'+= VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
A?H#bRAs PLOT
TQ]gvi |m 这里，为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
ENuL!H>;* 
^eh.Iml'@ ;OlnIxH(W 3.使用另一个特性
照明模式（IPAT），它会绘制最终表面的照明图案，以便检查最终表面
光束的均匀性。
uu.X>agg 输入格式：
l8FJ \5'M 
.; F<X \_
