举例：设置三个
光源，每个光源包含在一个圆锥体中，该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式（PUP 1），设置
光线数为200；使用三种不同颜色追迹三个光源的光线，追迹光线数为200，来绘制一个旋转实体图。
//6m2a RLE
L {5zA5#m ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
Rmd;u g9 WAVL .6562700 .5875600 .4861300
!-\*rdE {9 APS 1
5(D Cq(\P* GLOBAL
e@X~F6nP NOSEQUENTIAL
Ye(0'*-jyc UNITS MM
Lw!@[;2 OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
v3aiX 0 AIR
pGsVO5M? 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
\ &_
- 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
]A'e+RD4k 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
]CHMkuP[k 1 CC -1.04500000
|t.WPp5, 1 AIR
Q$RP2& 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
$'[(
DwLS 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
uYO?Rb&} 2 AIR
/nC"'d(# END
Z/ThY bk ew"[]eZ:ut RSOL 10 20 2 0 123
Bpqq-_@ PLOT
=@ON>SmPs sY1*Wo lA BLUE
1uD}V7_y" PUP 1 200
s'5
j vlG $ ]%k
<| X OBI INDEX 0 1
Kk??} TRACE P 0 0 200
rfCoi>{< ^&Qaf:M OBI INDEX 0 0
T mUn/ RED
A)VOv`U@2 TRACE P 0 0 200
5Pv>`E2^ n}._Nb
5 OBI INDEX 0 -1
KXdls(ROP GREEN
^(6.P)$ PUPIL 1 200
@c.QrKSaD TRACE P 0 0 200
4V[+6EV END
`d8$OC 
R hr]ML xi| iV1A 评估光线分布的方法：
<Ojf& C^Z 1.查看在最终表面上的足迹图
@Yt[%tOF+ 在Edit Window中输入：
G. (9I~! {q h`8 PUPIL 1 400
[.6uw=;o RED
4$y|z{[<
5 OBI IND 0 0
tb_}w@:kU PLOT 2 1 0 0
0ED(e1K#B TRACE P 0 0 400
c.d*DM}W OBI IND 0 1
mW ka!lT BLUE
b},OCVT? TRACE P 0 0 400
f)gA.Rz OBI IND 0 -1
qKWkgackP GREEN
7]
~'8 TRACE P 0 0 400
2M|jWy _ END
#>!!#e!* 
N (F9vZOs N!btj,vx n1!u
aUC 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型，再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
McA, TrHBbyqk OBI INDEX 0 1
k deJ B- GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
?2.< y_1 OBI INDEX 0 0
k.0$~juu GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
m T\] OBI INDEX 0 -1
iUSs) []H> GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
Z/a]oR@ )8P<ZtEU
FOR RECTANGLE
b/2t@VlL SIZE 5 5
|s s_< VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
[j:%O|h PLOT
( 8{h I 这里，为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
w'cZ\<N[ 
$L ;7SY? ;2& (]1X 3.使用另一个特性
照明模式（IPAT），它会绘制最终表面的照明图案，以便检查最终表面
光束的均匀性。
'fZHtnmc0 输入格式：
6B|IbQ^ 
h!MZ 6}zb)
