举例:设置三个光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双曲面。声明该系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。 9
r!zYZ`)
RLE 9;E=w+
ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE ffZ~r%25{
WAVL .6562700 .5875600 .4861300 8]ZzO(=@{
APS 1 Yc:%2KZ"
GLOBAL SIe!=F[
NOSEQUENTIAL #c^V%
UNITS MM Y;"k5+ q
OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3 CD$#}Id
0 AIR ~HZdIPcC
1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000 d$zJLgkA
1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000 Y%pab/Y
1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR 2cR[~\_9.
1 CC -1.04500000 xN 1P#
1 AIR o~Se[p
2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000 &{}Mds
2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR L*6'u17y
2 AIR U1[)e D`
END Qp>leEs]+6
Vy\Vpp
RSOL 10 20 2 0 123 t|aV:x
PLOT t`Kbm''d[
>f(?Mxh2
BLUE 2KlQ[z4Ir
PUP 1 200 U2q6^z4l
z
p E|
OBI INDEX 0 1 Lc*>sOm9
TRACE P 0 0 200 ;<[X\;|'
O tG\Uw8
OBI INDEX 0 0 '![oLy
RED H iyg1
TRACE P 0 0 200 L:z0cvn"
xa>| k>I
OBI INDEX 0 -1 ;_o]$hV|
GREEN |>.Q U3
PUPIL 1 200 yvAO"43
TRACE P 0 0 200 4&/CES
END v pI9TG
Gt w>R
uDf<D.+5Ze
评估光线分布的方法: ,X4e?$7g
1.查看在最终表面上的足迹图 dbI>\khI
在Edit Window中输入: OQVrg2A%(
GG}%
PUPIL 1 400 (]|h6aI'}
RED 8Zv``t61
OBI IND 0 0 RBX<>*
PLOT 2 1 0 0 ([>ecS@eO
TRACE P 0 0 400 Vwkvu&4
OBI IND 0 1 B`*,L\LZ*
BLUE ']_2@<XW)
TRACE P 0 0 400 SQKhht`M
OBI IND 0 -1 Syk)S<
GREEN !"<[&
TRACE P 0 0 400 T]#V
END :^;c(>u{
}z3j7I
=2Y;)wrF
jr6_|(0
i6
2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。 x#rgFY,TY
O%bbyR2
OBI INDEX 0 1 %uW=kr
GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS Lb*KEF% s
OBI INDEX 0 0 e8m,q~%#/
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS Ndmt$(b
OBI INDEX 0 -1 |)-kUu
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS nm'l}/Ug
+mQ5\14#
FOR RECTANGLE |P|B"I<?
SIZE 5 5 ^^y eC|~N:
VARY Y POSITION FROM -50 TO 50 c_lHj#A(l
PLOT v^|U?
这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形探测器从下到上对其进行检查。 i\R0+O{
UKS5{"=T[
7|rH9Bc{U
3.使用另一个特性 照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面光束的均匀性。 BZR{}Aj4pa
输入格式: .~z'm$s1o
E$8JrL