举例：设置三个
光源，每个光源包含在一个圆锥体中，该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式（PUP 1），设置
光线数为200；使用三种不同颜色追迹三个光源的光线，追迹光线数为200，来绘制一个旋转实体图。
,3g]= f RLE
0KNH=;d} ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
W0p#Y h:{_ WAVL .6562700 .5875600 .4861300
}bj,& c
APS 1
}V93~> GLOBAL
FRs|!\S= NOSEQUENTIAL
"!w[U{ UNITS MM
c +"O\j' OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
+J}k_'4& 0 AIR
xKkVSEup 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
YGZAtSf3z 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
HfZ (U5 ~ 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
TZ`]#^kU 1 CC -1.04500000
&</ @0 1 AIR
o} bj!h]N 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
&?uzJx~ 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
? 45K%;.9Q 2 AIR
-jklH/gF\% END
2={K-s20 D7n&9Z RSOL 10 20 2 0 123
B 7x"ef PLOT
e!L sc3@ l{%Op\ BLUE
x u\/]f) PUP 1 200
iNa C ZC b(.o|d /P OBI INDEX 0 1
l[!C-Tq TRACE P 0 0 200
!W 6 5 p(t") OBI INDEX 0 0
q>Ar.5&M_ RED
R`<{W(J;r TRACE P 0 0 200
AS/\IHZ\ LRLhS<9 OBI INDEX 0 -1
{f6A[ZO; J GREEN
n"Z,-./m PUPIL 1 200
nd*!`P TRACE P 0 0 200
dBi3ZC AF END
c^q O@%s 
_dRn0<#1(k LI5cUCl 评估光线分布的方法：
1 _:1/~R1 1.查看在最终表面上的足迹图
Q Kuc2 1 在Edit Window中输入：
O (WMTa'% NVM2\fs PUPIL 1 400
pdXgr)Uv RED
=[C S2VQ' OBI IND 0 0
$ SD@D6`lL PLOT 2 1 0 0
E&Zx]?~ TRACE P 0 0 400
\T#(rt\j OBI IND 0 1
!h ~# L"z BLUE
%lq7; emtp TRACE P 0 0 400
;*$8iwBQ_ OBI IND 0 -1
?28G6T]/?d GREEN
@ #O| TRACE P 0 0 400
d . lu END
OM&\Mo 
vp}># & ]ge^J3az$u 1k70>RQ&69 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型，再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
Dg2#Gv0B -|iA!w#31 OBI INDEX 0 1
G^eFS; GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
i|! 9o: OBI INDEX 0 0
k=q%FlE GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
R~mMGz OBI INDEX 0 -1
RBp(dKxM$w GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
{bsr
9.k( WaZ@ FOR RECTANGLE
tS.b5 $Q SIZE 5 5
J*4_|j;Z-E VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
d=u%"3 6y PLOT
UBk
5O& 这里，为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
" u$ ]q1S 
)<&CnK
8 $*cfOC 3.使用另一个特性
照明模式（IPAT），它会绘制最终表面的照明图案，以便检查最终表面
光束的均匀性。
6"c!tJc7j 输入格式：
'rx, f
9g,L1 W*
