举例:设置三个光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双曲面。声明该系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。 Q&oC]u(="&
RLE w%>aR_G
ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE qFV;n6&V
WAVL .6562700 .5875600 .4861300 SNQz8(O
APS 1 <9Lv4`]GU5
GLOBAL 6H(fk1E
NOSEQUENTIAL ;b, -$A
UNITS MM Fg_?!zR>6
OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3 4JX`>a{<
0 AIR aR`_h=a
1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000 &p/S>qKu#
1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000 *ah>-}-
1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR ( rA\_FOJ
1 CC -1.04500000 2#>$%[
1 AIR *ge].E
2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000 #pS]k<o%1
2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR `,F&y{A
2 AIR Q%M'[L?[
END 8QkWgd7y
sN}s61
RSOL 10 20 2 0 123 w$w>N(e
PLOT -@EBbM&
A[sM{i~Z
BLUE b&\3ps
PUP 1 200 4 e=/f,o1
Nrab*K(][
OBI INDEX 0 1 I-RdAVB/Ep
TRACE P 0 0 200 zWCW: dI
r1[E{Tpz
OBI INDEX 0 0 U%mkhWn
RED (z8]FT
TRACE P 0 0 200 DhtU]w}
_hAj2%SL
OBI INDEX 0 -1 M/::`yJQu
GREEN p)?qJ2c|
PUPIL 1 200 ?z \q Mu
TRACE P 0 0 200 sDLVYD
END ]`#xR*a
S5:"_U
m.\ >95!
评估光线分布的方法: `c qH}2s#
1.查看在最终表面上的足迹图 9_M H
在Edit Window中输入: c,v^A+sZu
A}>|tm7|
PUPIL 1 400 &&(4n?
RED #~bU}[{
OBI IND 0 0 @+0@BO12
PLOT 2 1 0 0 q7 %=`l
TRACE P 0 0 400 N.fQ7z=Z(M
OBI IND 0 1 Yv#J`b@y
BLUE RZ#alFL,
TRACE P 0 0 400 ?~VWW<lR
OBI IND 0 -1 B-y0;0
GREEN ;,F-6RNj
TRACE P 0 0 400 B$} wF<`k7
END VTy,43<
ImUQ*0
?G~/{m.
ZYwBw:y}y
2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。 h/0<:eZ*
8k+q7
OBI INDEX 0 1 ,$MWk(S
GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS cM> G>Yzo
OBI INDEX 0 0 Lu8%qcC
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS UA69_E{JCH
OBI INDEX 0 -1 Ct =E;v7}
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS IEno.i\
)V[w:= *
FOR RECTANGLE U<ku_(2"#
SIZE 5 5 j:rs+1bc
VARY Y POSITION FROM -50 TO 50 :,h=2a_ 8
PLOT !L0E03')k
这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形探测器从下到上对其进行检查。 ZXssvjWQV}
7':5
*@bg/S
K%
3.使用另一个特性 照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面光束的均匀性。 /?.r!Cp
输入格式: WryW3];0OR
`'G),{ j