举例：设置三个
光源，每个光源包含在一个圆锥体中，该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式（PUP 1），设置
光线数为200；使用三种不同颜色追迹三个光源的光线，追迹光线数为200，来绘制一个旋转实体图。
1*c0\:BQ;z RLE
hc@;}a\Y ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
;6\Ski0=l WAVL .6562700 .5875600 .4861300
tZJ
9}\r APS 1
R'1vjDuv GLOBAL
z m_hLk NOSEQUENTIAL
Y/:Q|HnXQ UNITS MM
5sf fDEU]A OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
] aL [ 0 AIR
3'gd'`Hn/ 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
4`^TC[ 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
JydQA_ 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
a*$ 1la'Uf 1 CC -1.04500000
%_i0go, ^ 1 AIR
|)>G eE 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
R&-W_v+ 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
.DV#-tUh 2 AIR
BZ'y}Zu*
END
`6l24_eKf ^*owD;]4_ RSOL 10 20 2 0 123
XQ |j5] PLOT
JOE{&^j 9g^./k\8% BLUE
={&TeMMA PUP 1 200
hc4`' r; '!|E+P- OBI INDEX 0 1
"b+3 &i| TRACE P 0 0 200
T l0+Bq t g m{gR OBI INDEX 0 0
7UEy L
}N RED
[]]LyWk TRACE P 0 0 200
9M-]~.O d T0 z^SG OBI INDEX 0 -1
eJw ii
GREEN
0ju wDd PUPIL 1 200
(x*2BE n| TRACE P 0 0 200
Y;F,GxR} END
N[?4yV2s 
G%x,t - "N[gMp6U 评估光线分布的方法：
Se] t;7j 1.查看在最终表面上的足迹图
@+Anv~B. 在Edit Window中输入：
bKTwG@{/k -<VF6k< PUPIL 1 400
HpgN$$\@ RED
7E84@V[\ OBI IND 0 0
^SL}wC x PLOT 2 1 0 0
TY{? 4 TRACE P 0 0 400
%L=h}U13 OBI IND 0 1
o@V/37! BLUE
0a;F X0S& TRACE P 0 0 400
GmWQJY X\ OBI IND 0 -1
~'YSVx& ) GREEN
? wiq
3f 6 TRACE P 0 0 400
\=: g$_ l END
zw;(:fgY# 
hE3jb.s(> 1oVD Oo ',-X#u
2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型，再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
N`mC_) 9$w)_RX9W OBI INDEX 0 1
-T ="Ml & GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
xVmUmftD OBI INDEX 0 0
:~ YyHX GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
S>zKD OBI INDEX 0 -1
Y&:\s8C GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
}&^bR)= %4g4 C# FOR RECTANGLE
dodz|5o% SIZE 5 5
BqJrL/( VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
~#xs
`@{s PLOT
ZCq\Zk1O& 这里，为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
PyJblW 
xuC6EK+ ZkG##Jp\> 3.使用另一个特性
照明模式（IPAT），它会绘制最终表面的照明图案，以便检查最终表面
光束的均匀性。
o0v m?CL# 输入格式：
rEyMSLN 
m3ZOq
B-
