举例:设置三个光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双曲面。声明该系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。 BM)a,fIgo
RLE riaL[4c
ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE qe(C>qjMbG
WAVL .6562700 .5875600 .4861300 hNgT/y8
APS 1 x_?K6[G&}
GLOBAL 9f5~hBlo
NOSEQUENTIAL .*>C[^
UNITS MM u|u)8;'9(
OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3 ~|ZAS]
0 AIR H1KXAy`&
1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000 Gv
}
1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000 :eB+t`M
1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR O&~
@ior
1 CC -1.04500000 7Q~W}`Qv'
1 AIR hb/Z{T'
2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000 f;l}Z|dok6
2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR |E||e10wR
2 AIR <mTo54g
END >c5
b].U/=Hs
RSOL 10 20 2 0 123 ]~f-8!$$R
PLOT xy$aFPH!-
:P+7ti@
BLUE -~4kh]7%
PUP 1 200 o54=^@>O<j
R"CF xo
OBI INDEX 0 1 -;qK_x
TRACE P 0 0 200 d/$e#8
&G\C[L
OBI INDEX 0 0 -HuIz6
RED .Zs.O/
TRACE P 0 0 200 5xNOIOpDB
3!QXzT$E
OBI INDEX 0 -1 p?P.BU\CR
GREEN w+5OI9
PUPIL 1 200 AxTFVot
TRACE P 0 0 200 s=E6HP@q
END }S13]Kk?=
-qpM 6t
=T?Xph{
评估光线分布的方法: 5bI4'
;
1.查看在最终表面上的足迹图 T<yfpUzX
在Edit Window中输入: !/|B4Yv
L5 Ai
PUPIL 1 400 bmKvvq
RED {`J!DFfur
OBI IND 0 0
z{V#_(
PLOT 2 1 0 0 )fS6H<*
TRACE P 0 0 400 np}0OX
OBI IND 0 1 3!#FG0Z
BLUE |N
2r?b/g
TRACE P 0 0 400 a8k`Wog
OBI IND 0 -1 1 un!
GREEN t 0p
TRACE P 0 0 400 G2@'S&2@s
END +x4*T
,5 3`t
('d,Sh
,MHF
2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。 /!/Pk'p=/
B/hQvA;(
OBI INDEX 0 1 g ssEdJ
GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS ;9J6)zg !n
OBI INDEX 0 0 G- ]_
d
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS b0se-#+
OBI INDEX 0 -1 ?"?AH/E D
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS r(n>N0:0Ls
.O+,1&D5
FOR RECTANGLE c5i7mx:.
SIZE 5 5 &rG]]IO
VARY Y POSITION FROM -50 TO 50 MBQ|*}+;
PLOT -ntQqHs
这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形探测器从下到上对其进行检查。 />>KCmc
R7FI{A
?\X9Ei
3.使用另一个特性 照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面光束的均匀性。 PBiA/dG[;
输入格式: W}(T5D" 3x
.=hVto[QC