举例:设置三个光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双曲面。声明该系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。 4BUK5)B
RLE 04T*\G^:=
ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE d
q+7K
WAVL .6562700 .5875600 .4861300 9<0$mE^:
APS 1 y>pq*i
GLOBAL :b3lJ-dB
NOSEQUENTIAL 1rvf\ [
UNITS MM $M8>SLd
OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3 U
K]{ ]-
0 AIR uN?O*h/(
1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000 8d*<Aki?;
1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000 MWd_6XM
1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR cO"Xg<#y
1 CC -1.04500000 N6m*xxI{
1 AIR b6E8ase:F
2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000 Stp*JU
2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR <=GzK:4L
2 AIR aR(Z~z;C
END ,h)T(
w
_6Y+
RSOL 10 20 2 0 123 6O|\4c;
PLOT }s)&/~6
FoelOq6
BLUE ]&tr\-3
PUP 1 200 NtP.)
3lrZ-k+S{
OBI INDEX 0 1 N~K)0RETn
TRACE P 0 0 200 AB|VO4-?
"ih>T^|
OBI INDEX 0 0 'I01F:`
RED JV6U0$g_S
TRACE P 0 0 200 CR|&VxA
}SvWC8
OBI INDEX 0 -1 Z=5}17kA
GREEN r1H['{$
PUPIL 1 200 ;g)Fhdy!
TRACE P 0 0 200 ug3lMN4UX
END z%gtV'
lIc9,|FL
sN`o_q{Q
评估光线分布的方法: Appz1q
1.查看在最终表面上的足迹图 :8!3*C-=
在Edit Window中输入: ] GPz>k
Ru\Lr=9
PUPIL 1 400 )LMuxj
RED 1?#p !;&
OBI IND 0 0 rOf
PLOT 2 1 0 0 ALieUf
TRACE P 0 0 400 tVh4v#@+
OBI IND 0 1 +mW$D@Pf
BLUE oHFDg?Z`
TRACE P 0 0 400 Y\9*e5?`I3
OBI IND 0 -1 ``)1`wx$
GREEN ^9f`3~!#bc
TRACE P 0 0 400 )tQ6rd'
END 9^*YYK}%
d"`>&8*
v2X0Px_
kvVz-PJy
2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。 !!X9mI|2|
-oT+;2\2
OBI INDEX 0 1 Saq>o.
GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS U;dt-3?=.h
OBI INDEX 0 0 ?D 9#dGK
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS YhK/pt43C
OBI INDEX 0 -1 #$rT 4Nc;
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS wgP3&4cSUc
pXEVI6 }
FOR RECTANGLE Z8n%=(He
SIZE 5 5 Im1qWe
VARY Y POSITION FROM -50 TO 50 e>9{36~jh
PLOT T eTOj|
这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形探测器从下到上对其进行检查。
_q}%!#4
!PTbR4s
s-S"\zX\D
3.使用另一个特性 照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面光束的均匀性。 ;pK"N:|
输入格式: #;\;F PuZ
Jm,X~Si