举例:设置三个光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双曲面。声明该系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。 )Zfb M|
RLE Ubh)}G,Mg
ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE pc;`Fz/`7
WAVL .6562700 .5875600 .4861300 9]|C$;kw@
APS 1 H$6;{IUz~
GLOBAL D#d/?\2
NOSEQUENTIAL E/ ^N
UNITS MM ,oJ$m$(Lj
OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3 !"
@<!
0 AIR 6vg` 8
1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000 {7EpljH@
1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000 "l B%"}
1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR u_Xp\RJ
1 CC -1.04500000 @$;I%
1 AIR >ni0:^vp
2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000 ixB"6O
2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR |[$TT$Fb
2 AIR R^yh,
END ZUl-&P_X
a*nCvZ
RSOL 10 20 2 0 123 3O|2Z~>3
PLOT <4-g2.\
)vGxF}I3
BLUE Dp?lgw
PUP 1 200 h~ehZJys
eo&G@zwN
OBI INDEX 0 1 @/='BVb'T
TRACE P 0 0 200 RH;A|[7T&
z#6(PZC}
OBI INDEX 0 0 ?',GR aD
RED {@[#0gPH
TRACE P 0 0 200 #d$lN}8
$ou/ Fn
OBI INDEX 0 -1 ./CDW
GREEN :,.HJ[Vg&
PUPIL 1 200 FMT_X
TRACE P 0 0 200 yL23Nqe
END E U'P
U
=Nr?F'<
X#ud_+6x
评估光线分布的方法: )k81
1.查看在最终表面上的足迹图 l=<},_]{
在Edit Window中输入: m:cWnG
^$y`Q@-9
PUPIL 1 400 {`9J8qRY
RED 5m?9O7Pg
OBI IND 0 0 )gk
tI!
PLOT 2 1 0 0 HE+D]7^
TRACE P 0 0 400 `_OB_F
OBI IND 0 1 -`PLewvX
BLUE CJ6v S
TRACE P 0 0 400 R+9 hog
OBI IND 0 -1 8o466m6/
GREEN A"IaFXB
TRACE P 0 0 400 zT'(I6S:)
END <m%ZDOMa
03!#99
g+-^6UG
/&5:v%L
2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。 Gyc_B
<WL] (-9I:
OBI INDEX 0 1 t6~~s
iQI'
GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS rfV{+^T;
OBI INDEX 0 0 v3cLU7bi?2
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS +;
=XiB5R
OBI INDEX 0 -1 fBKN?]BdN
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS x)f<lZ^L&H
<4N E)!#
FOR RECTANGLE WmE4TL^8?
SIZE 5 5 \(U|&
VARY Y POSITION FROM -50 TO 50 uIR
PLOT ix 5\Y
这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形探测器从下到上对其进行检查。 ^CB@4$!
@Suww@<
6ciA|J'MR
3.使用另一个特性 照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面光束的均匀性。 \psO$TxF=
输入格式: 9-y<= )
H`7T;`Yb