举例:设置三个光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双曲面。声明该系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。 OR4!YVVQ
RLE ? gSSli[
ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE R*9NR,C
WAVL .6562700 .5875600 .4861300 pZk6w1d!
APS 1 D. Kqc
GLOBAL 02\JzBU
NOSEQUENTIAL _dU8'H
UNITS MM d"ZU y!a
OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3 nWJ:=JQ i"
0 AIR zE|Wn3_sd
1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000 ufrqsv]=
1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000 ghAi{@s$)
1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR ;:mu}
1 CC -1.04500000 nX^1$')gp
1 AIR zN~6HZ_:^
2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000 L9FHgl?
2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR }gGkV]
2 AIR ^$-Ye]<
END }$kQs!#
?WpenUWk
RSOL 10 20 2 0 123 ]|U-y645
PLOT .A6lj).:
<G~>~L.E
BLUE KrcgIB8X
PUP 1 200 ? 2#(jZ# 2
y'}O)lO1
OBI INDEX 0 1 VK:8 Nk_y
TRACE P 0 0 200 8K{[2O7i)
.Cz %:%9
OBI INDEX 0 0 QI}E4-s8
RED Xsuwa-G!5~
TRACE P 0 0 200 Pc_VY>Ty
2i7e#
OBI INDEX 0 -1 mC[UXN/
GREEN 7dOyxr"H-
PUPIL 1 200 tX%`#hb?s
TRACE P 0 0 200 P0Z!?`e=M
END /6+NU^
-#s [F S
M4m$\~zf
评估光线分布的方法: \or G63T:
1.查看在最终表面上的足迹图 A],ooiq<
在Edit Window中输入: LF*&(NC
IQH[Q9%
PUPIL 1 400 o[1ylzk}+
RED Sw[{JB;y,
OBI IND 0 0 k2 Q
qZxm!
PLOT 2 1 0 0 $`VFdAe
TRACE P 0 0 400 9GLb"6+PK
OBI IND 0 1 <F=9*.@D
BLUE A,gEM4
TRACE P 0 0 400 k`{7}zxS
OBI IND 0 -1 D y-S98Y
GREEN I?Aj.{{$G%
TRACE P 0 0 400 iK()&TNz
END q,>?QBct*
%9v@0}5V
%A/_5;PZ/
Tr&M~Lgb)
2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。 ~b~2
>c9
: 9t4s#.
OBI INDEX 0 1 >rsqH+oL
GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS ?sz)J3
OBI INDEX 0 0 M~Ttb29{
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS @`36ku
OBI INDEX 0 -1 "Z=5gj
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS kgdT7
6uPcXd:8ZR
FOR RECTANGLE eYX5(`c[
SIZE 5 5
*f%>YxF
VARY Y POSITION FROM -50 TO 50 N_pUv
PLOT Ev"|FTI/
这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形探测器从下到上对其进行检查。 {LHR!~d}5f
IuF_M<d,
\!]hU%Un
3.使用另一个特性 照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面光束的均匀性。 7nq3S
输入格式: Iq7}
M=qb^~ l