举例:设置三个
光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置
光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。
?c2TT
Q RLE
{_~G+rqY ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
[GP(r WAVL .6562700 .5875600 .4861300
aOHCr>po, APS 1
H_j<%VW GLOBAL
16>uD;G NOSEQUENTIAL
oB\Xl)A< UNITS MM
1IV
0a OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
+i^s\c!3; 0 AIR
PWMaB 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
$Y`aS^IW 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
K_5&_P1 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
duS #&w 1 CC -1.04500000
yd72y'zi 1 AIR
KVR}Tp/R 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
H5s85"U# 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
#$w#"Nr9k 2 AIR
%RN-J*s] END
/pU6trIM 8UIL_nPO RSOL 10 20 2 0 123
[&CM-`
N PLOT
MuobMD}jqe 5u46Vl{ BLUE
j;v%4G PUP 1 200
UTQKlwPa 'j_H{kQy OBI INDEX 0 1
9oP{Al TRACE P 0 0 200
skz]@{38 D5pF:~tQ(j OBI INDEX 0 0
@vYmkF` RED
L"iyjL<M TRACE P 0 0 200
ql~{`qoD~ 2&0<$> OBI INDEX 0 -1
XO#)i6}G GREEN
)$B+3f PUPIL 1 200
#/Fu*0/)` TRACE P 0 0 200
N1~V +_mM END
oKi1=d+T
<%D"eD BozK!"R_< 评估光线分布的方法:
{z /^X<T 1.查看在最终表面上的足迹图
f_!`~`04 在Edit Window中输入:
;p
5v3<PC *Qx|5L!_ PUPIL 1 400
o#P3lz RED
\Byk`}
9 OBI IND 0 0
7f%Qc %B PLOT 2 1 0 0
kqW<e[ TRACE P 0 0 400
V;-.38py OBI IND 0 1
n u8j_grW BLUE
*+j{9LK TRACE P 0 0 400
7NB 9Vu|gD OBI IND 0 -1
&}0wzcMg GREEN
0@K:Tq-mF TRACE P 0 0 400
A dEbyL END
RzRvu]]8
fG2&/42J "&#WMi Oawr S{ 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
6
2`PK+ As~p1%nok OBI INDEX 0 1
mBZDl4 ' GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
[A9,!YY OBI INDEX 0 0
1Bk*G>CX9( GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
5o| !f OBI INDEX 0 -1
)L<?g!j~ GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
O;0<^M/0G y)/$ge_U FOR RECTANGLE
]jVSsSv SIZE 5 5
mvA xx`jc VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
bepYeT
PLOT
QHzX
5$IM 这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
c =N]!
,MO
>3`ctbe |5IY`;+9 3.使用另一个特性
照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面
光束的均匀性。
gQh Ccv 输入格式:
2v9s@k/k)6
3.<6;?