举例:设置三个
光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置
光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。
80TSE* RLE
hsr,a{B%$ ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
Km7HB!=< WAVL .6562700 .5875600 .4861300
&ejJf{id APS 1
JKN0:/t7Q GLOBAL
H`odQkZ! NOSEQUENTIAL
u/-ul UNITS MM
l*V]54|ON3 OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
`irz'/"p 0 AIR
a NhI<.v 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
-'ePx f 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
FW~%xUSE5 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
scZdDbL6+ 1 CC -1.04500000
| #Z+s- 1 AIR
*{5p/}p 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
SEu1M}+E 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
sH(@X<{p 2 AIR
Q}zAC2@L END
MHar9)$} yE1M+x./ RSOL 10 20 2 0 123
>={?H?C PLOT
VSns_>o ZZ|a`U BLUE
++=t|ZS
U PUP 1 200
QT)D|]bH jYE<d&Cq OBI INDEX 0 1
L@xag-b
i TRACE P 0 0 200
g$$i WC!S< x$ z9:'U OBI INDEX 0 0
ntK#7(U' RED
,v(K|P@ TRACE P 0 0 200
O1!hSu& Jse;@K5y OBI INDEX 0 -1
3Run.Gv\ GREEN
mNhVLB PUPIL 1 200
4B?8$&b TRACE P 0 0 200
@)n xX))a END
bWU4lPfP
%N``EnF2 eb%`ox@& 评估光线分布的方法:
a^wGc+ 1.查看在最终表面上的足迹图
B.
'&[A 在Edit Window中输入:
tgeX~. O)v?GQRj PUPIL 1 400
Nmu;+{19M RED
Y.FqWJP=p OBI IND 0 0
"%^T~Z(_j PLOT 2 1 0 0
R<wPO-dX TRACE P 0 0 400
;QZ}$8D 6Q OBI IND 0 1
~\HGV+S!g} BLUE
+Wgp~$o4 TRACE P 0 0 400
Z|l/6L8 OBI IND 0 -1
^&^~LKl~ GREEN
i|M^QKvF TRACE P 0 0 400
vq(ElXTO END
r5#8Vzr
P[Q3z$I} BF >678h UqsJ44QEZ 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
b{X,0a{* W#^W1j>_G OBI INDEX 0 1
{|:ro!& GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
VR:4|_o OBI INDEX 0 0
xb6y=L GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
cviPCjM OBI INDEX 0 -1
G%Dhj)2} GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
]!%
p21e YC,)t71l{ FOR RECTANGLE
O:G5n 5J SIZE 5 5
=H8
LBM VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
>s*ZT%TF PLOT
.A6i?iROe 这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
hW~XE{<
,\".|m1o. J]m[0g7O_ 3.使用另一个特性
照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面
光束的均匀性。
Uxll<z, 输入格式:
G&7!3u
a%FM)/oI|T