举例:设置三个
光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置
光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。
]>M\|,wh RLE
ixA.b#!1 ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
r+#{\~r7T WAVL .6562700 .5875600 .4861300
wra0bS)4 APS 1
(d4btcg GLOBAL
kN=&" NOSEQUENTIAL
1Uup.( UNITS MM
]I|(/+}M OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
@c^ Dl 0 AIR
I>?oVY6M@u 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
HH*y$ 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
J~%43!X\K 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
36.,:!%p 1 CC -1.04500000
jPSVVOG 1 AIR
}=X: F1S 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
oC`F1!SfOO 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
$w(RJ/ 2 AIR
um%_kX END
N
sdpE?V xn*$Ty+ RSOL 10 20 2 0 123
.B]l@E-u PLOT
G*IP?c>= mx^Ga=:
? BLUE
!(lcUdBd PUP 1 200
h0<PQZJ i~h@}0WR" OBI INDEX 0 1
MtkU]XKGT TRACE P 0 0 200
9FDu{4: ;<Q%d~$xy} OBI INDEX 0 0
hDxq9EF RED
(;#c[eKy TRACE P 0 0 200
`X<B+:>v- jn^X{R\ OBI INDEX 0 -1
zT>!xGTu7~ GREEN
}JFTe
g PUPIL 1 200
+vkmS TRACE P 0 0 200
X+!+&RAN* END
Z:9 Q~}x8
e|Ri e!5} #6Kd 评估光线分布的方法:
[v~,|N>w 1.查看在最终表面上的足迹图
b,Wm]N 在Edit Window中输入:
u%C oo ujV{AF`JfB PUPIL 1 400
r *K RED
@jn&Wf? OBI IND 0 0
H*0Y_H= PLOT 2 1 0 0
= Pv_,% TRACE P 0 0 400
hC2Fup1 @ OBI IND 0 1
C@XS BLUE
s#Dj>Fej TRACE P 0 0 400
:7K
a4 OBI IND 0 -1
HAn{^8"@ GREEN
NifQsy)*% TRACE P 0 0 400
mGE!,!s} END
x)C}
*X.1b! M">v4f&K1! "'CvB0> 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
vh\i ^ AA5G`LiT OBI INDEX 0 1
yV.p=8: GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
h~>1-T8 OBI INDEX 0 0
MtJ-pa~n GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
?I?G+(bq OBI INDEX 0 -1
qA[lL( GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
zyS8LZ-y9 S"!6]!~^ FOR RECTANGLE
"L2*RX.R SIZE 5 5
y`RzcXblIZ VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
b~zSsws. PLOT
R&cTMd 这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
XmQ;Roe
hF$`=hE,F~ +0Q 3.使用另一个特性
照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面
光束的均匀性。
B_d\eD 输入格式:
=7V4{|ESfy
?"@Fq2xgB4