举例:设置三个
光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置
光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。
h1_KZ[X RLE
4s&koH(x ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
$/i;UUd WAVL .6562700 .5875600 .4861300
~f2-%~ APS 1
8-vNXvl GLOBAL
%}~Ncn_r NOSEQUENTIAL
vn5]+-I UNITS MM
LTY(6we- OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
*O-si%@] 0 AIR
7^8<[8 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
rUF= uO( 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
x: Tm4V{ 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
0Z[8d0 1 CC -1.04500000
7+p=4i^@Zs 1 AIR
QXT*O 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
*}i.,4+y 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
,e>N9\* 2 AIR
T*C]:=) END
zTt6L6:u
Et0;1 RSOL 10 20 2 0 123
;lo!o9`< PLOT
?To r)>A' ~); 7D'[ BLUE
l7JY`x PUP 1 200
F0 FF:>< A[oxG;9xi OBI INDEX 0 1
5AT[1@H(_ TRACE P 0 0 200
O7RW*V:G@ $'VFb=?XrK OBI INDEX 0 0
ugt|'i RED
t7DT5SrR TRACE P 0 0 200
0l ]K%5# X}3o OBI INDEX 0 -1
*]
cm{N GREEN
Xn3Ph!\Z5e PUPIL 1 200
+lqX;*a=N
TRACE P 0 0 200
[&
&9F}; END
4h~o>(Sq B[O1^jdO h{cJ S9e} 评估光线分布的方法:
Lm }:` 1.查看在最终表面上的足迹图
ZjXpMx, 在Edit Window中输入:
)W/mt[; e'z[JG= PUPIL 1 400
_6 |lw&o07 RED
(-(sBQ a+ OBI IND 0 0
B@Q Ate7 PLOT 2 1 0 0
v [ 4J0 TRACE P 0 0 400
<OEu 4,~: OBI IND 0 1
@ zE>n BLUE
0xM\+R~, TRACE P 0 0 400
AA
um1xl OBI IND 0 -1
bEE'50D GREEN
2 -uL TRACE P 0 0 400
=)3tVH& END
58Fan*fO ~sSlfQWMzy jdGoPa\ 5Vzi{y/bL 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
C<\|4ERp 'lym^^MjL+ OBI INDEX 0 1
w#5^A(NR GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
T0ebW
w OBI INDEX 0 0
E8~Bp-G) GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
Y\len OBI INDEX 0 -1
N (W;(7 GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
X99:/3MXB' )q\|f_ FOR RECTANGLE
%_!YonRY|X SIZE 5 5
&AI/;zru VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
1#9 Q1@'OS PLOT
$)M8@d 这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
h`OX()N 9air"4 R*D0A@ 3.使用另一个特性
照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面
光束的均匀性。
|*Dklo9{ 输入格式:
<8>gb!D G ;5A