举例:设置三个
光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置
光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。
pk`5RDBu RLE
g&{CEfw& ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
-<L5; WAVL .6562700 .5875600 .4861300
eLLOE)x APS 1
# [
+n( GLOBAL
#"8'y NOSEQUENTIAL
j\"d/{7Q UNITS MM
yuC|_nL OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
PjofW%7F 0 AIR
H_,4N_hL 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
Sk:x.oOZ 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
0"Euf41 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
"[-W(= 1 CC -1.04500000
?9%$g?3Z 1 AIR
J:J/AgJuH 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
k{O bm
g 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
-g:i'e 2 AIR
%g^:0me` END
_DAqL@5n c>3j$D+ RSOL 10 20 2 0 123
g6+5uvpd PLOT
Nf)SR#;
[aG BLUE
T9'HQu PUP 1 200
RP^vx`9h bc:3 5. OBI INDEX 0 1
nN^lY=3 TRACE P 0 0 200
=f23lA *CbV/j"P? OBI INDEX 0 0
;.<HpDfG_ RED
rxs:)# ?A TRACE P 0 0 200
?o`:V|<v xj9xUun OBI INDEX 0 -1
}346uF7C GREEN
4'tY1d PUPIL 1 200
>vR2K^ TRACE P 0 0 200
*yY\d.6( END
jtq^((Ux
J qmL|S) .;S1HOHz4 评估光线分布的方法:
yu@Pd3 1.查看在最终表面上的足迹图
x<OVtAUB 在Edit Window中输入:
j/F('r~L m>3\1`ZF~< PUPIL 1 400
fW[RCd RED
=diGuIB OBI IND 0 0
}$sTnea PLOT 2 1 0 0
xJnN95`R@ TRACE P 0 0 400
NTO.;S|2% OBI IND 0 1
W`P>vK@= BLUE
MttFB;Tp TRACE P 0 0 400
uRYq.`v, OBI IND 0 -1
2[j`bYNe GREEN
?>I TRACE P 0 0 400
=6f)sZpPh END
]"?<y s
3.g 4X?=zd 9g'6zB =;F7h
@: 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
c4r9k-w0E 9]lyV OBI INDEX 0 1
3lEP:Jp GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
0LSJQ9\p OBI INDEX 0 0
A0,e3gb GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
'i: lV' OBI INDEX 0 -1
.6I'V3:Kg GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
sTep2W.9 SG1AYUs
V FOR RECTANGLE
=fdW H4 SIZE 5 5
0%Y}CDn_ VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
?<5KLvG v PLOT
1_]%, 这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
:7 JP(j2
\m1^sFMZ WTjmU=<\ 3.使用另一个特性
照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面
光束的均匀性。
_^ic@h3'X~ 输入格式:
E1`_[=8a9
!&`\MD>;~R