举例:设置三个
光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置
光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。
YEV;GFI1 RLE
/;_$:`|/ ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
4 4QW&qL!( WAVL .6562700 .5875600 .4861300
mTH[*Y, APS 1
>%"TrAt GLOBAL
0uKm)t/ NOSEQUENTIAL
i8<5|du&? UNITS MM
<c@dE OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
+
o< 7* 0 AIR
SMvlEj^ 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
a\-5tYo`u 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
fCa
lR7! 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
R]od/u/$ 1 CC -1.04500000
+4t
\j<T 1 AIR
wB 8548C}- 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
+2E~=xX 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
"j%Gr:a 2 AIR
lxTqGwx END
>CCy2W^W XPYf1H RSOL 10 20 2 0 123
\sGJs8#v][ PLOT
"7alpjwb t":^:i'M BLUE
d}E6d||A PUP 1 200
3Mh_&%!O }`whg8 fZ OBI INDEX 0 1
= r=/L TRACE P 0 0 200
D6_#r=08 M9V,;* OBI INDEX 0 0
a"O9;&};& RED
uF,%N TRACE P 0 0 200
W[!bF'-10 ^CwS'/fdN OBI INDEX 0 -1
W*c^(W GREEN
5;{*mJ:F PUPIL 1 200
yj,+7[) TRACE P 0 0 200
5k_%%><: q END
PClwGO8'&
I~
SFY>s Y0'~u+KS`5 评估光线分布的方法:
b4^a
zY 1.查看在最终表面上的足迹图
<D nv=)Rq 在Edit Window中输入:
qB3&F pgW KG5B6Om5' PUPIL 1 400
YcaLc_pUx RED
P`hg*"<V OBI IND 0 0
!Je!;mEvI PLOT 2 1 0 0
;hDIoSz TRACE P 0 0 400
D>#Jh>4 OBI IND 0 1
b#e|#!Je BLUE
Y%rC\Ij/i TRACE P 0 0 400
>*w(YB]/$V OBI IND 0 -1
Rm.9`<Y GREEN
Qa16x<Xlm TRACE P 0 0 400
vP<8,XG END
~o;*{ Q
() HIcu*i \ U`rF a67NWH 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
9T;l* 8-vNXvl OBI INDEX 0 1
%}~Ncn_r GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
vn5]+-I OBI INDEX 0 0
LTY(6we- GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
?6^KY+ 5`C OBI INDEX 0 -1
o2(*5*b!@e GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
F[|aDj@q e ;@u+b0
j FOR RECTANGLE
x: Tm4V{ SIZE 5 5
0Z[8d0 VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
.7zdA IKW PLOT
d 'wWj 这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
V@>s]]HMq#
R75np^ ,e>N9\* 3.使用另一个特性
照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面
光束的均匀性。
[.iz<Yh 输入格式:
[[:wSAO>6'
4THGHS^