举例：设置三个
光源，每个光源包含在一个圆锥体中，该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式（PUP 1），设置
光线数为200；使用三种不同颜色追迹三个光源的光线，追迹光线数为200，来绘制一个旋转实体图。
Zb&"W]HSf RLE
-O\ f y! ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
dL~^C I WAVL .6562700 .5875600 .4861300
~])Q[/=p APS 1
&eb8k2S GLOBAL
5Z:T9F4 NOSEQUENTIAL
Vjd(Z UNITS MM
sR^b_/ElxT OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
KquuM ]5S 0 AIR
=@c;%x 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
4dy !2KZN 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
Wt.['`c< 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
bB)$=7\ 1 CC -1.04500000
> Edsanx 1 AIR
RXw1HRR$V 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
jX0^1d@ 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
y
t7 >, 2 AIR
1'P4{T0 [ END
E;, __ $y{.fj y3 RSOL 10 20 2 0 123
6s>io%,: PLOT
?_r{G7|D P/xE n_*v BLUE
8n["/5, PUP 1 200
3Kc9*] D putRc??o; OBI INDEX 0 1
_2{2Xb TRACE P 0 0 200
0+&K; >f4[OBc OBI INDEX 0 0
uzT+, RED
L={\U3 __k TRACE P 0 0 200
u}P:9u&h6X Gqj(2.AY OBI INDEX 0 -1
o'Fyo4Qd GREEN
j3H_g ^ PUPIL 1 200
_.E{>IFw TRACE P 0 0 200
B@S~v+Gr END
eSHsE 3}h
M!i*DU+SE m WHyk "l 评估光线分布的方法：
'h^Ya?g 1.查看在最终表面上的足迹图
ex^ 9 l b 在Edit Window中输入：
;kWWzg "G ,,:H9v PUPIL 1 400
T]/5aA4 RED
+
)z5ai0m OBI IND 0 0
( P=WKZMPN PLOT 2 1 0 0
g7^|(!Y% TRACE P 0 0 400
0FLCN!i1 OBI IND 0 1
@eDs)mY BLUE
[ LQOP3f TRACE P 0 0 400
m#R"~ > OBI IND 0 -1
.R#-u/6g( GREEN
? JTTl; TRACE P 0 0 400
'p78^4'PL END
2h#.:!/SMw 
Mlr'h}:H G
B,O ng~LCffpY 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型，再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
R4T@ ]l&W <lNNT6[/r OBI INDEX 0 1
aOd | ;Z GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
R*D5n>~ OBI INDEX 0 0
x^ `IZ{! GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
}p-/R' OBI INDEX 0 -1
?6>* mdpl GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
Ujlbcv6+ !
2knS S FOR RECTANGLE
=v 'Aub SIZE 5 5
+'+ Nr< VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
CBNt
_y PLOT
2b,edJVt? 这里，为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
I3b*sx$ 
4)>UTMF Nr+~3:3 3.使用另一个特性
照明模式（IPAT），它会绘制最终表面的照明图案，以便检查最终表面
光束的均匀性。
p_%,JD 输入格式：
w<zzS: PF* 
/Oi(5?Jn
