举例:设置三个
光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置
光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。
DkIkiw{L RLE
r3kI'I|bq ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
lDpi1]2 WAVL .6562700 .5875600 .4861300
Wama>dy% APS 1
c1^3lgPv GLOBAL
Yem\`; * NOSEQUENTIAL
pIXQ/(h31 UNITS MM
"duJl- OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
A3n"zxU 0 AIR
9Dl \S F[ 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
P#xn!fMi 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
ZKvh] 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
q
mB@kbt 1 CC -1.04500000
hD*?\bBs0 1 AIR
vEsSqzc 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
[=Z{y8#:J 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
N9Ml&*%oX{ 2 AIR
*/)gk=x8 END
h2>0#Vp3j :q=OW1^k^ RSOL 10 20 2 0 123
5f5ZfK3<i PLOT
@oEDtN mm 8O BLUE
8`2K=`]ES+ PUP 1 200
eG v"&kr !xI![N^ OBI INDEX 0 1
;vitg"Zh> TRACE P 0 0 200
X&IY(CX {>Px.%[< OBI INDEX 0 0
4pqZ!@45| RED
?KN_J TRACE P 0 0 200
Ce:ds% >UMnItq(l OBI INDEX 0 -1
.kIf1-(<U GREEN
'UxA8i(
PUPIL 1 200
K="+2]{I TRACE P 0 0 200
c'2ra/?k END
v,0D GR~
(a?Ip)`I je-s%kNlJ 评估光线分布的方法:
>=H8>X 1.查看在最终表面上的足迹图
H<;j&\$q 在Edit Window中输入:
U&R$(k0zS sYpogFfV PUPIL 1 400
9YABr>
? RED
OxZ:5ps OBI IND 0 0
B}X#oA PLOT 2 1 0 0
%a `dOEO TRACE P 0 0 400
$}$@)!- OBI IND 0 1
|xm|Q(PG BLUE
;^]A@WN6_ TRACE P 0 0 400
rRYf.~UH@P OBI IND 0 -1
V{{x~Q9 GREEN
(#]KjpIK
TRACE P 0 0 400
Ysu/7o4 END
@:B1
+b W|Q>u (rn x56I$ 4)I#[&f 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
yxbTcZ U@nwSfp:G OBI INDEX 0 1
JuSS5 _& GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
;kBies>V OBI INDEX 0 0
[<QWTMjR GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
@XC97kGWp OBI INDEX 0 -1
MVZ>:G9: GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
S!_?# ^t [[Z>(d$8 FOR RECTANGLE
46Nf|~ SIZE 5 5
fx:KH:q3 VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
4a!7|}W PLOT
'.,.F0{x 这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
M7,MxwZ0k
;0}2@Q2@ZK ^<0 NIu} 3.使用另一个特性
照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面
光束的均匀性。
zi
.,?Q 输入格式:
\DK*>
k
KTt$Pt/.