举例:设置三个
光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置
光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。
Ee&hG[sx RLE
DKh}Y
!Q=: ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
;SfNKu WAVL .6562700 .5875600 .4861300
GP* + APS 1
Yy]T
J GLOBAL
=K:(&6f<t NOSEQUENTIAL
JL.5QzA UNITS MM
Xq|nJ|h OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
nB=0T`vQ 0 AIR
iSlFRv?a 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
rnu
e(t 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
;
yyO0Ha 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
T j`y J!0 1 CC -1.04500000
hm3jpWi8 1 AIR
k5a\Sq} 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
?yp0$r/ 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
*wwhZe4V 2 AIR
6^sHgYR END
]c}=5m/ _Fizgs RSOL 10 20 2 0 123
aM$\#Cx PLOT
4YLs^1'TG0 uArR\k(
BLUE
k,rWa PUP 1 200
GQx9u^> E:FO_R(Xq OBI INDEX 0 1
.jU Z TRACE P 0 0 200
"V3}t4 \X&
C4# OBI INDEX 0 0
h~w4, T RED
M/{g(|{ TRACE P 0 0 200
M-Y0xWs x5OC;OQc OBI INDEX 0 -1
B;!f<"a8 GREEN
)r9b:c\ PUPIL 1 200
y? "@v. TRACE P 0 0 200
[Uli>/%JB END
H?uukmZl
1TjZ#yP%1 2J<&rKCF 评估光线分布的方法:
Pdw#o^Iq^ 1.查看在最终表面上的足迹图
,GrB'N{8e 在Edit Window中输入:
$}R$t- ,)h)5o(? PUPIL 1 400
}>&KUl RED
JDv-O&] OBI IND 0 0
cXN _*% PLOT 2 1 0 0
W&(f&{A TRACE P 0 0 400
.
uR M{Bs OBI IND 0 1
|y"jZT6R}t BLUE
xMI+5b8 TRACE P 0 0 400
aV>aiR= OBI IND 0 -1
m&IsDAn GREEN
WJ+>e+ TRACE P 0 0 400
z<pJYpxH END
Km3&N
g{>^`JtP zX kx7d8 =MLf[ 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
h1+hds+ q* !3C OBI INDEX 0 1
H9`
f0(H GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
_8><| 3d OBI INDEX 0 0
}"zC
>eX& GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
0xpx(T[ OBI INDEX 0 -1
f vLC_'M GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
'#Dg8/r! A+
0,i FOR RECTANGLE
d~*TIN8Ke~ SIZE 5 5
/smiopFcq VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
Lw*]EG|? PLOT
u+D[_yd^ 这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
Ct]A%=cZW
/\=MBUN 4nkE IZ 3.使用另一个特性
照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面
光束的均匀性。
+.Bmkim 输入格式:
9"sDm}5%
](K0Fwo`;"