举例:设置三个
光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置
光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。
4a(g<5wfI RLE
mA&RN"+V ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
hg[l{)Q WAVL .6562700 .5875600 .4861300
tU+@1~
~ APS 1
D}zOuB,S GLOBAL
GOv92$e NOSEQUENTIAL
w o-O_uZB UNITS MM
qWRNHUd OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
K!IF?iell 0 AIR
>$7wA9YhL 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
"wT~$I" 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
Ov$N" 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
(t]lP/
1 CC -1.04500000
uvu**s 1 AIR
'#cT4_D^lI 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
qPFG+~\c 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
~[d=s 2 AIR
pr0@sri@ END
h]J&A }XfS#Xr1aV RSOL 10 20 2 0 123
p?dGZ2` [I PLOT
8\qCj.>S ka?IX9t\ BLUE
<Dt/Rad PUP 1 200
% j[O&[s}
-4*'WzWr OBI INDEX 0 1
,cGwtt( TRACE P 0 0 200
xZ9}8*Q&: bR>o!(M'Z\ OBI INDEX 0 0
"!%w9 RED
veYsctK~ TRACE P 0 0 200
Pe+ 8~0o=R CX&yjT6` OBI INDEX 0 -1
nLFx/5sL GREEN
*j_fG$10g PUPIL 1 200
BNL8hK`D TRACE P 0 0 200
yNhscAMNn END
`}k&HRn
1jUhG2y ^*cMry 评估光线分布的方法:
v @$evmA 1.查看在最终表面上的足迹图
h}anTFKP 在Edit Window中输入:
%468s7Q[Mi b2/N H1A PUPIL 1 400
C>w9
{h RED
X] JpS OBI IND 0 0
p:[`%<j0 PLOT 2 1 0 0
ADLa.{ TRACE P 0 0 400
;+r) j"W OBI IND 0 1
)AnlFO+V BLUE
@n~>j&Kp TRACE P 0 0 400
|l6<GWG+ OBI IND 0 -1
NgE&KPj\ GREEN
5I8FD".i TRACE P 0 0 400
s%L"
c END
xu%!
b0
eZR8<Z% K\^&_#MG 7U{b+=,wK 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
)F%wwc^r }l]3m=) OBI INDEX 0 1
8}"f|6Wm GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
Ry8WNVO}R OBI INDEX 0 0
PNxVW GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
yNLa3mW OBI INDEX 0 -1
8aZey_Hw;+ GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
MUCJ/GF* Z5*(W;; FOR RECTANGLE
7?Qt2tr SIZE 5 5
U>L=.\\| VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
48~m=mI PLOT
A5.'h< 这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
ZHiICh|et%
^O$[Y9~*
~P]HG;$?n 3.使用另一个特性
照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面
光束的均匀性。
w}U5dM` 输入格式:
o%4&1^ Vg
WB=<W#?w7%