举例：设置三个
光源，每个光源包含在一个圆锥体中，该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式（PUP 1），设置
光线数为200；使用三种不同颜色追迹三个光源的光线，追迹光线数为200，来绘制一个旋转实体图。
z<AQ;b RLE
Y Y]LK%- ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
]v9<^! WAVL .6562700 .5875600 .4861300
71)HxC[6vA APS 1
MhJ`> .z1
GLOBAL
,'ndQ{\9 NOSEQUENTIAL
<|m"Q!f UNITS MM
E oOrA@N OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
KNK0w 5 0 AIR
hcN$p2- 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
gu"Agct4 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
xt3IR0 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
xJO[pT v 1 CC -1.04500000
69IBG,N' 1 AIR
nQ/ha9v=n 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
y "){? 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
w5&UG/z%l 2 AIR
k@wT,?kD END
my04>6 j0
YemOP9 RSOL 10 20 2 0 123
J@R+t6$3O PLOT
@l@lE0 "ENgu/A! BLUE
>i=O =w PUP 1 200
SJy? ^
Ngh Q#c OBI INDEX 0 1
*Qyw
_Q TRACE P 0 0 200
3Um\?fj>}( wuh$=fya OBI INDEX 0 0
dXdU4YJ X RED
.Q?AzU,2D TRACE P 0 0 200
40 :YJ_n k_y@vW3 OBI INDEX 0 -1
N>gv!z[E GREEN
XKR?vr7A2 PUPIL 1 200
73]%^kx= TRACE P 0 0 200
3J [P(G>Q END
Z 4t9q`}h 
0TVO'$Gv i VW'e&v1 . 评估光线分布的方法：
YjsaTdZ!& 1.查看在最终表面上的足迹图
`T~M:\^D 在Edit Window中输入：
m =opY~&h @9QHv PUPIL 1 400
Zegs V| RED
A70_hhP OBI IND 0 0
KK7Y"~ 9&- PLOT 2 1 0 0
AWf zMJ;VS TRACE P 0 0 400
Z0-W% W OBI IND 0 1
%VwB
? BLUE
S&]J Y TRACE P 0 0 400
c| p
eRO. OBI IND 0 -1
`;i|
%$TU GREEN
< 27e7H*6 TRACE P 0 0 400
(]iw#m{ END
wN*e6dOF 
JQ.ZAhv pX!S*(Q{ rl6vt*g 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型，再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
snN1 w0Us8JNGz OBI INDEX 0 1
Gz6FwU8L GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
Oys.8%+ P OBI INDEX 0 0
YF."D%? GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
)"f>cYF OBI INDEX 0 -1
we{*%8I; GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
_c %~\LOk S Xgpj FOR RECTANGLE
/'ybl^Km SIZE 5 5
3` = "4 VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
ef| Y2<P PLOT
E!ZDqq 这里，为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
o_={x rmIA 
fzw6VGTf ;qzCoe 3.使用另一个特性
照明模式（IPAT），它会绘制最终表面的照明图案，以便检查最终表面
光束的均匀性。
{;z3 $/JB 输入格式：
*d(wO l5[ 
La3f{;|u5M
