举例:设置三个
光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置
光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。
YSP\+ZZ RLE
D$}hoM1 ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
//63|;EEkl WAVL .6562700 .5875600 .4861300
cp`Jep<T APS 1
&-=~8 GLOBAL
w}3N!jNDv NOSEQUENTIAL
2;v:Z^& UNITS MM
oco,sxT OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
syl7i>P 0 AIR
//7YtK6 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
UIAazDyC 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
X:i?gRy" 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
T!c|O3m 1 CC -1.04500000
?X|)0o 1 AIR
7Eyi~jes 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
Nf]?hfJ 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
(<Cq_Kw 2 AIR
$g>bp<9v4 END
v9f+ {Y%- H$I~Vz[\yb RSOL 10 20 2 0 123
`%Ih'(ne PLOT
@[r[l#4yUi ~J].~^[ BLUE
2.^{4 1: PUP 1 200
|Hf|N$ :!aLa}`@ OBI INDEX 0 1
8jz>^.-o TRACE P 0 0 200
u"0{)
, "@G[:(BoB< OBI INDEX 0 0
H:DR?'yW RED
u>
{aF{ TRACE P 0 0 200
KU8,8:yY kkl'D!z2g OBI INDEX 0 -1
mF
1f( GREEN
!ZTghX}D PUPIL 1 200
+R*DE5dz TRACE P 0 0 200
\TP$2i%W END
gv67+Mf
{ "]!zL 38w^="-T 评估光线分布的方法:
N@|<3R!N*e 1.查看在最终表面上的足迹图
XM\\Imw 在Edit Window中输入:
sa.H,<; xNIrmqm5] PUPIL 1 400
"l&SRX?g RED
# xO PF9 OBI IND 0 0
KYiJXE[Q- PLOT 2 1 0 0
m1W) PUy TRACE P 0 0 400
cW*v))@2 OBI IND 0 1
4Fp[94b BLUE
ta?NO{* TRACE P 0 0 400
N:lE{IvRJ OBI IND 0 -1
]wid;< GREEN
63E6nW M TRACE P 0 0 400
6Q :Wo)^! END
'w,gYW
,>B11Z}PH c0o]O[ ^SpQtW118 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
gXI-{R7Me {F<0e^* OBI INDEX 0 1
%_|KiW GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
3wfcGQn|sD OBI INDEX 0 0
4. R(`#f GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
n3p@duC4 OBI INDEX 0 -1
=dQ[I6 GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
$W7}Igx# 0`E G-Hw FOR RECTANGLE
_*H Hdd5I SIZE 5 5
%Yu~56c- VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
D?dBm PLOT
i
bzY&f 这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
qWH^/o
M-t9M~ Rrh6-]A 3.使用另一个特性
照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面
光束的均匀性。
W.^zN' a 输入格式:
fnq 3ic"V
g**!'T4&o