举例:设置三个
光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置
光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。
00?_10x) RLE
K/Q%tr1W0 ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
$Z{ap WAVL .6562700 .5875600 .4861300
_M;n.?H
APS 1
m#\I&(l+ GLOBAL
9vQI
~rz? NOSEQUENTIAL
ZU=omRh5
UNITS MM
4jOq.j OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
b6`_;Z 0 AIR
gQ< >S 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
|6cz r 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
;qA(!`h+ 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
-x~4@~ 1 CC -1.04500000
eucacXiZ 1 AIR
[tKH'}/s= 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
P}2i[m.*, 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
zS9HR1 2 AIR
d@$]/=% END
>@g+%K] ^\ N@qL RSOL 10 20 2 0 123
eWN[EJI< PLOT
u8w4e!rKo6 AYVkJq ? BLUE
mMNT.a PUP 1 200
^^9O9] n A<#A OBI INDEX 0 1
c:J;Q){Xz TRACE P 0 0 200
T{A_]2
G Q7!";ol2 OBI INDEX 0 0
(~6D`g`B RED
TrYt(F{t TRACE P 0 0 200
:t7M'BSm2z O`;e^PhN OBI INDEX 0 -1
4N!Eqw GREEN
lpy(un PUPIL 1 200
Z[,A>tJ TRACE P 0 0 200
8]`LRzM END
;kX:k~,]}> ^Fn~@' R0WI s:k2 评估光线分布的方法:
S [$Os7 1.查看在最终表面上的足迹图
@VzD>?) 在Edit Window中输入:
e5GJ:2sH 3axbWf3[ PUPIL 1 400
8mmHefZ}2! RED
V-7A80!5 OBI IND 0 0
J)o =0i>* PLOT 2 1 0 0
~+~^c| TRACE P 0 0 400
Xi:y3 5q OBI IND 0 1
ru#CywK{{; BLUE
ndXUR4 TRACE P 0 0 400
Z ? F*Z0y OBI IND 0 -1
>Oz~j>jL GREEN
=o+js;3 TRACE P 0 0 400
?a]1$>r END
a,YU)v^ )HL[_WfY eyIbjgpV YQ`m;< 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
ju8DmC5
ds#om2) OBI INDEX 0 1
}#Q?\ GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
}jI=* OBI INDEX 0 0
.szc-r{ GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
p%]ZG, OBI INDEX 0 -1
u&npUw^Va GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
(nUSgZz5 m35$4 FOR RECTANGLE
{Rv0@)P$ SIZE 5 5
}Y=X{3+~. VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
^rX5C2}G\D PLOT
qQ/<\6Sl 这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
6$y$ VeW q(nPI sq;nUA= 3.使用另一个特性
照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面
光束的均匀性。
@krh <T6| 输入格式:
_KSlIgQ
}0 tDQo1,(oY