举例:设置三个
光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置
光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。
cEc_S42Z RLE
U'K{>"~1a ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
?cRGdLP'D WAVL .6562700 .5875600 .4861300
!|@hU/ APS 1
y
+2 GLOBAL
q}'ww NOSEQUENTIAL
eK)R=M@i UNITS MM
*(>,\8OVf OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
5y`n8. (? 0 AIR
X@j.$0eK 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
+thkx$o 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
].e4a;pt 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
A)j',jE&1 1 CC -1.04500000
2/ES.>K!. 1 AIR
h]{V/ 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
7yM "G $ 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
!um~P 2 AIR
psaPrE END
V~%C me XHER [8l RSOL 10 20 2 0 123
l}jC$B`5 PLOT
o,D7$WzL rUL_=>3 BLUE
q<Sb>M/\, PUP 1 200
9>I&Z8J$M uZ/XI {/ OBI INDEX 0 1
KyQd6 1 TRACE P 0 0 200
A$=h'!$ 3<%ci&B OBI INDEX 0 0
#PJHwvr RED
pcrarj TRACE P 0 0 200
mN&B|KWU %UXmWXF4$ OBI INDEX 0 -1
F).7%YfY GREEN
P1u(0t PUPIL 1 200
LjEG1$F> TRACE P 0 0 200
BJNZH# " END
A6Vb'Gqv{
FBP'AL| km,I75o. 评估光线分布的方法:
p`I[3/$3 1.查看在最终表面上的足迹图
)kpNg:2p 在Edit Window中输入:
C4H$w:bVk f]C`]qg PUPIL 1 400
qOs'Ljx6l RED
"pInb5F OBI IND 0 0
h%UM<TZ]" PLOT 2 1 0 0
L4t(Y7 TRACE P 0 0 400
xMr=tU1C OBI IND 0 1
w =2; QJ< BLUE
s$D" TRACE P 0 0 400
JUpb*B_z OBI IND 0 -1
S\dG>F>S GREEN
!(8)'<t9 TRACE P 0 0 400
lK%)a +2 END
R}E$SmFg
y)K!l:X >z|bQW#2 Is[n7Q 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
nIEIb.- K3.z>.F'h OBI INDEX 0 1
"~:P-]`G GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
I1 +A$<Fa OBI INDEX 0 0
\ !qe@h< GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
6c[Slq!KA OBI INDEX 0 -1
Q>g-xe 1 GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
U9Gg#M4tY +|6E~#zklY FOR RECTANGLE
JE_GWgwdv SIZE 5 5
m}32ovpw VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
u$rSM0CJ PLOT
qE*h UzA 这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
U7xKu75G1
rKkFflOVO OIY 3.使用另一个特性
照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面
光束的均匀性。
P%y9fU2[ 输入格式:
q"-+`;^7(-
pebNE3`#