举例:设置三个
光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置
光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。
5!'R'x5e RLE
hncS_ZA ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
fJ)N:q` WAVL .6562700 .5875600 .4861300
MvFM, APS 1
Q;$
9qOF GLOBAL
[F/^J|VMV NOSEQUENTIAL
^w:OS5 %R UNITS MM
uFwU-LCe OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
yaH
Trh% 0 AIR
j>0<#SYBu 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
3[0w+{(Q 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
_ yfdj[Ot` 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
r-RCe3%g% 1 CC -1.04500000
*2JH_Cj` 1 AIR
ds*m6#1b 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
,c4c@|Bh? 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
*:=];1O 2 AIR
8G 0 END
u.Mqj"o\ _Kc1 RSOL 10 20 2 0 123
.A3DFm3 t PLOT
UI!6aVL. \*f;!{P{ BLUE
I2TD.wuIW PUP 1 200
rr |"r I3Lg?bZ OBI INDEX 0 1
cCM
j\H@ TRACE P 0 0 200
cu[!D}tVU NTqo`VWe OBI INDEX 0 0
W8f`J2^"M RED
2HcsQ*H]G TRACE P 0 0 200
^C!mCTL1N \,>_c OBI INDEX 0 -1
c {1V. GREEN
3c c1EQ9 PUPIL 1 200
mJ)tHv"7 TRACE P 0 0 200
; D1FAz END
f#@S*^%V$ 6fh{lx> /&CUspb 评估光线分布的方法:
>@^<S_KVh 1.查看在最终表面上的足迹图
G49Ng|qn 在Edit Window中输入:
D9ANm"# |y.zocBj PUPIL 1 400
{tPnj_|n< RED
TbOJp OBI IND 0 0
|5W8Q|>% PLOT 2 1 0 0
i-`,/e~XT TRACE P 0 0 400
nz^nptw OBI IND 0 1
h~ $& BLUE
}04Dg' TRACE P 0 0 400
"X`RQ6~]> OBI IND 0 -1
r,5-XB GREEN
/T,zZ9= TRACE P 0 0 400
|Eb&}m:E$ END
=(%*LY!Xc l$F_"o?&S@ My. dD'C L#n}e7Y9 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
+4Q[N;[+* *2`:VFEV OBI INDEX 0 1
im=5{PbJ^ GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
XJUEwX OBI INDEX 0 0
cST\~SUm GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
I-,>DLG OBI INDEX 0 -1
?FN9rhAC GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
W+8^P(
K %*6RzJO6 FOR RECTANGLE
3!aEClRtq SIZE 5 5
GWgd8x*V VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
X<Z(]`i PLOT
Vb2\/e:k 这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
GA\2i0ow 0pD[7~ ^o *6XRjq^# 3.使用另一个特性
照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面
光束的均匀性。
5C B%=iL{ 输入格式:
I] jX7.fx #7o0dE;Kg9