举例:设置三个
光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置
光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。
Z
Q*hrgQ RLE
^^!G{*F ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
NLx TiyQy WAVL .6562700 .5875600 .4861300
{0a\<l APS 1
h:G>w`X GLOBAL
"WtYqXyd NOSEQUENTIAL
jK[*_V UNITS MM
GB}= OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
WPpO(@sn 0 AIR
T4}Wg=UKg 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
(`#z@,1 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
8b-mW>xsA 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
Qa:[iF 1 CC -1.04500000
='+I dn#5 1 AIR
FVL{KNW~i 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
YuIF}mUr" 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
9I<~t@q5e@ 2 AIR
iWA?FBv END
|w#~v%w OR
$i,N| RSOL 10 20 2 0 123
cvT@`1 PLOT
F1-C8V2H 0J466H_d{ BLUE
[Pjitw/? PUP 1 200
[MbbL ="vg/@.>i OBI INDEX 0 1
[YODyf}M>\ TRACE P 0 0 200
.$y'>O*$G dXM8iP OBI INDEX 0 0
kQd|qZ=:w RED
0&CXR=U5 TRACE P 0 0 200
:qB|~"9O ^LB] OBI INDEX 0 -1
Wuk8&P3 GREEN
{{M/=WqC PUPIL 1 200
:Ru8Nm TRACE P 0 0 200
w8 UUeF END
B@dCCKc%/
Os9EMU$ LCj3{>{/= 评估光线分布的方法:
kkb+qo 1.查看在最终表面上的足迹图
(4ZO[Ae 在Edit Window中输入:
ae@!M b.?;I7r
PUPIL 1 400
M?}:N_9<J RED
|7A}LA OBI IND 0 0
's5rl PLOT 2 1 0 0
m`q&[: TRACE P 0 0 400
sSGXd=": OBI IND 0 1
]yqE6Lf9 BLUE
T2azHo7 TRACE P 0 0 400
Qhc;Zl OBI IND 0 -1
olxxs( GREEN
gCG#?f TRACE P 0 0 400
Kj3Gm>B<y END
emrA!<w!W
ZADMtsk QE)zH)(
]W2#8:i 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
ZbdGI@ SRk!HuXh OBI INDEX 0 1
!'BXc%`x[ GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
HB}rpiB OBI INDEX 0 0
Lq;iR GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
vbtZ5Gm OBI INDEX 0 -1
_TsN%)m GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
oZ tCx C8Mx>6 FOR RECTANGLE
&Q}%b7 SIZE 5 5
{}Is&^3Z VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
CqZHs
9+e& PLOT
+5Dc5Bl 这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
+s8R]3NJ_H
0}`-vOLd- EleJ$ `/ 3.使用另一个特性
照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面
光束的均匀性。
D g0rVV6c 输入格式:
W
} -;)G~h/"