举例:设置三个
光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置
光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。
mZJzBYM) RLE
>+LgJo R ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
;77o%J'l WAVL .6562700 .5875600 .4861300
vrldRn'*9 APS 1
COJ!b GLOBAL
%Yn)t3d NOSEQUENTIAL
gBS#Z. UNITS MM
ZUI\0qh+ OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
"jJ)hk5e 0 AIR
eBRP%<=>D 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
JF\viMfR 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
9<r}s 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
N~KRwsDH 1 CC -1.04500000
^"#rDP"v 1 AIR
*M<=K.*\G 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
DyTk<L 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
ZVR 9vw28 2 AIR
c\ *OId1{; END
nAC#_\ UN 4)>\Y RSOL 10 20 2 0 123
`*!>79_2C PLOT
YGmdiY:;1 j7 3@Yi% BLUE
P&^7wud-sb PUP 1 200
E.bbIV6mQ 9>>}-;$ OBI INDEX 0 1
25[/'7_" TRACE P 0 0 200
RUtS_Z& J0! E@ OBI INDEX 0 0
M\6v}kUY RED
i*/U.'# TRACE P 0 0 200
YYh_lAS> "kg$s5o OBI INDEX 0 -1
F}DD;K GREEN
OIT;fKl9 PUPIL 1 200
sYI':UQe TRACE P 0 0 200
W+S; Do END
-{%''(G
itgO#(g$Q >D#}B1(! 评估光线分布的方法:
E-iBA (H 1.查看在最终表面上的足迹图
gD=5M\ 在Edit Window中输入:
,LO-!\L D.!7jA# PUPIL 1 400
w8ld*z RED
-y.AJ~T OBI IND 0 0
k4rBS PLOT 2 1 0 0
,e_# TRACE P 0 0 400
wO%:WL$5 OBI IND 0 1
/CE d14. BLUE
= lD]sk TRACE P 0 0 400
O3:
dOL/C OBI IND 0 -1
<]^D({` GREEN
BAHx7x#( TRACE P 0 0 400
%/on\*Vh3 END
.Y.#
d7TA
wCmv/m &2igX?60 =7,UqMl_ 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
)&<ExJQ& `%p6i|
_Q OBI INDEX 0 1
3~la/$?p0 GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
#B9[U}
8 OBI INDEX 0 0
8m<<tv. GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
MT0{hsuK9 OBI INDEX 0 -1
gAP}KR#T GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
H-w|JH>g Yk?q7xuT FOR RECTANGLE
j56 An6g SIZE 5 5
SqB|(~S VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
>6+K"J-@ PLOT
&N0|tn 这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
NM.B=<Aw*
I|z#Aoc W
F<V2o{k 3.使用另一个特性
照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面
光束的均匀性。
ZRfa!9vl 输入格式:
yFsXI0I[p
|9eY
R