举例：设置三个光源，每个光源包含在一个圆锥体中，该圆锥体被建模为一个半径非常短的双曲面。声明该系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式（PUP 1），设置光线数为200；使用三种不同颜色追迹三个光源的光线，追迹光线数为200，来绘制一个旋转实体图。 /TS>I8V!
RLE 1 BVi vEG
ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE 6$2)m;| XY
WAVL .6562700 .5875600 .4861300 ykM(`
1` m
APS 1 0G;RMR ':5
GLOBAL $
5
NOSEQUENTIAL o"K{^ L~u
UNITS MM Kq{9 :G
OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3 @^/JNtbH!
0 AIR yP~ D."
1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000 dEns|r
1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000 <"aPoGda
1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR a!4'}gHR
1 CC -1.04500000 ;\( wJ{u?Y
1 AIR t~ gnai
2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000 no^I![_M
2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR (~,Q-w"
2 AIR '^}l| (
END Aln \:1MU
( 8k3z`
RSOL 10 20 2 0 123 TC" mP!1
PLOT :8Mp SvCV
A .*}<
BLUE rn U2EL
PUP 1 200 KYd2=P6
k QwBrb 4
OBI INDEX 0 1 f`P%aX'cBQ
TRACE P 0 0 200 `fc2vaSH =
,]1K^UeZ
OBI INDEX 0 0 8x [q[
RED /3'>MRzR
TRACE P 0 0 200 :1=mNrg
g@KS\.m]
OBI INDEX 0 -1 <wc=SMmO
GREEN 5k<qJ9
PUPIL 1 200 ^~8l|d_
TRACE P 0 0 200 @R(6w {h9
END Sh}AGNE'
T'0Ot3m`
s 3Y
\,9\
评估光线分布的方法： !$f@j6.
1.查看在最终表面上的足迹图 q/<.^X
在Edit Window中输入： B7_:,R.l
#*1\h=bzmW
PUPIL 1 400 )nTOIfP2
RED R/A 40i
OBI IND 0 0 0:Ak 4L6 k
PLOT 2 1 0 0 x^;nQas;
TRACE P 0 0 400 6*{N{]`WZ)
OBI IND 0 1 rW&8#&
BLUE bxK1v7
TRACE P 0 0 400 VLkK6W.u
OBI IND 0 -1 e(,sFhR
GREEN owJPEx
TRACE P 0 0 400 {{SeD:hx
END &iId<.SiJ
iw1 2x:
y`! 3Z} 7
A #f@0W:
2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像模型，再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。 Pv +[N{
39BGwKXb
OBI INDEX 0 1 w-"o?;)a
GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS q;InFV3rv
OBI INDEX 0 0 GNT1FR
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS Ud\Jc:DG
OBI INDEX 0 -1 $
GL$
iA
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS "fL:scq@0
e{>X2UNW
FOR RECTANGLE ~NMal]Fwx
SIZE 5 5 LTm2B_+
VARY Y POSITION FROM -50 TO 50 `/Zi=.rr
PLOT A|O7W|"W
这里，为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形探测器从下到上对其进行检查。 mflH &Bx9
ry/AF
W]4Gs;
3.使用另一个特性 照明模式（IPAT），它会绘制最终表面的照明图案，以便检查最终表面光束的均匀性。 F9^8/Z
输入格式： n [[rI0]g
6 dt]$
