举例：设置三个
光源，每个光源包含在一个圆锥体中，该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式（PUP 1），设置
光线数为200；使用三种不同颜色追迹三个光源的光线，追迹光线数为200，来绘制一个旋转实体图。
GISI8W^ RLE
O!cO/]< ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
_"e(
^yiK WAVL .6562700 .5875600 .4861300
K0!#l Br APS 1
E ^>7jf09, GLOBAL
gRd1(S NOSEQUENTIAL
)t 7HioQ UNITS MM
2OOj8JS OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
{}gk4 xr 0 AIR
z&G3 &?Z 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
Rn ^N+3o'M 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
sy#j+gZ
1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
@[ N~ ;> 1 CC -1.04500000
f2K3*}P 1 AIR
vP;tgW9Qk 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
nQ*oOxe|X 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
J x[e{o)o 2 AIR
H ;}ue END
97
X60< dufHd RSOL 10 20 2 0 123
.TU15AAc PLOT
6*oTT(0<p BP><G^ BLUE
$f-pLF+x PUP 1 200
N@
tb^M <}>-ip? OBI INDEX 0 1
^*>no=A TRACE P 0 0 200
E*]L]v R Tfs9< k>G# OBI INDEX 0 0
VH*(>^Of F RED
9K_HcLO%y TRACE P 0 0 200
C
5!6k1TcE % ieAY-<" OBI INDEX 0 -1
(
I~Xw P& GREEN
lcLxqnv PUPIL 1 200
9G OyVKU v TRACE P 0 0 200
_E-GHj>k
z END
W|
eG} ` 
o O,p.X% bJ[1'Es ` 评估光线分布的方法：
@ y %qQe/g 1.查看在最终表面上的足迹图
1KEPD@0oxx 在Edit Window中输入：
hIHO a dTNgrW`4 PUPIL 1 400
$ O>MV RED
m=y)i]=1 OBI IND 0 0
2Nszxvq, PLOT 2 1 0 0
g9`ytWmM TRACE P 0 0 400
pfIvBU ? OBI IND 0 1
-Euy5Y BLUE
+DDvM;31w TRACE P 0 0 400
F .w#AV OBI IND 0 -1
+w /o GREEN
` OK
}q TRACE P 0 0 400
oz r+6z END
?Io2lFvI@Y 
cE#Y,-f VdrF=V&] O $t?e=# G 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型，再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
&0blHDMj{# 8BdeqgU/_ OBI INDEX 0 1
DA\O,^49h GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
AY]nc# zz OBI INDEX 0 0
-4a&R=%p GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
iSax-Mc OBI INDEX 0 -1
ot6 P q} GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
3Pq)RD|hn Q?q
m~wD FOR RECTANGLE
e$h\7i:( SIZE 5 5
43fA;Uc{Y` VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
[!$>:_Vq/ PLOT
:@L5=2Z+ 这里，为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
HyMb-Us 
8t"DQ Y-R h Nwb.[ 3.使用另一个特性
照明模式（IPAT），它会绘制最终表面的照明图案，以便检查最终表面
光束的均匀性。
vUNE! j 输入格式：
Rx<F^J 
Fx\Re]~n
