举例:设置三个光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双曲面。声明该系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。 C:9a$
RLE a_T3<
ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE WC7ltw2
WAVL .6562700 .5875600 .4861300 r\j*?m ]
APS 1 -d*zgP
GLOBAL 5/E7@h ,
NOSEQUENTIAL {W' 9k
UNITS MM i-YSt5iq
OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3 *[|a$W
0 AIR _SQQS67fu"
1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000 `
it<\r[=
1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000 Hob n{E
1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR d69synEw>k
1 CC -1.04500000 I1)t1%6"vJ
1 AIR Lz/{
q6>
2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000 nB9(y4
2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR SZVAf|]Yg
2 AIR L;
o$vI~U,
END -+HD5Hc
lJJ`aYDp
RSOL 10 20 2 0 123 sK/Z'h{|
PLOT VkD}gJY
x4N*P
BLUE (7*((
PUP 1 200 2[X\*"MQ2
}Y&|v q
OBI INDEX 0 1 QFg{.F?3q>
TRACE P 0 0 200 /=@V5)
cna/?V
OBI INDEX 0 0 \LYNrL~?J
RED L;i(@tp|v
TRACE P 0 0 200 `L
m9!?
DyCnL@
OBI INDEX 0 -1 \"|7o8
GREEN 08qM?{zo^
PUPIL 1 200 kKs}E| T
TRACE P 0 0 200 oIv\Xdc8 1
END ^JY,K
M`49ydh&
nc9sfH3
评估光线分布的方法: /4YxB,
1.查看在最终表面上的足迹图 7m.>2U
在Edit Window中输入: L(q~%
[;pL15-}4
PUPIL 1 400 ^u+#x2$Mg
RED ~F.kgX
OBI IND 0 0 .!)i
PLOT 2 1 0 0 X<<FS%:+
TRACE P 0 0 400 zrL +:/t
OBI IND 0 1 eE5j6`5i
BLUE 560`R>
TRACE P 0 0 400 'j$n;3
OBI IND 0 -1 m9mkZ:r(kV
GREEN 0gsRBy
TRACE P 0 0 400 %fIYWu`X
END =Bos>;dl
P{2j31u`
.W51Cup@&
*:Uq
;)*
2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。 I#:Dk?"O2
T_ga?G<
OBI INDEX 0 1 yqKSaPRA
GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS X@\ 9}*9
OBI INDEX 0 0 ay,"MJ2
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS OjurfVw
OBI INDEX 0 -1 @;7Ht Z`
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS _BI[F
m
IqCh4y3
FOR RECTANGLE ke19(r Ch
SIZE 5 5 @e2P3K gg
VARY Y POSITION FROM -50 TO 50 VK%
j45D `
PLOT er.;qV'Wz6
这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形探测器从下到上对其进行检查。 &HtG&RvQf
FyqsFTh_
I_is3y0
3.使用另一个特性 照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面光束的均匀性。 ltlnXjRUv
输入格式: vu~7Z;y(<j
_Jn@+NoO