举例:设置三个光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双曲面。声明该系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。 /ywD{*
RLE SWp1|.=Sm
ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE ++L?+^h
WAVL .6562700 .5875600 .4861300 0A{/B/r
APS 1 syip; ;
GLOBAL K78rg/`
NOSEQUENTIAL +n}$pM|NKU
UNITS MM U/lM\3v/e
OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3 fC}R4f7C
0 AIR Y!6/[<r$~k
1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000 u *
1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000 1 nvTce
1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR <o2r~E0r3
1 CC -1.04500000 iCP/P%
1 AIR VF&Z%O3n
2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000 qo)?8kx>l
2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR iTW? W\d
2 AIR yT{8d.Rh
END (;VVCAoy
,]}?.g
RSOL 10 20 2 0 123 E,n}HiAz7V
PLOT K/ &?VIi`z
}HEvr)v9
BLUE B*htN
PUP 1 200 :|o<SZ
"m{,~'x
OBI INDEX 0 1 U|G|l|Bl
TRACE P 0 0 200 +h2eqNr
1_$xSrwcF
OBI INDEX 0 0 PX|=(:(k
RED )XQ`M?**M
TRACE P 0 0 200 \,!QJp4
mVtXcP4b
OBI INDEX 0 -1 M8k"je7`s
GREEN ]*O/+
PUPIL 1 200 ,wKe
fpV;5
TRACE P 0 0 200 I2(zxq&2M\
END |}){}or
JO14KY*%
m~Ld~I"
评估光线分布的方法: QrApxiw
1.查看在最终表面上的足迹图 p2PY@d}}.
在Edit Window中输入: OdMO=Hy6d
w@2Vts
PUPIL 1 400 Cw5%\K$=
RED z9W`FBg
OBI IND 0 0 )hwV`2>l
PLOT 2 1 0 0 s=?aox7
TRACE P 0 0 400 iAY!oZR(WT
OBI IND 0 1 hP J4Oj1O
BLUE )o!XWh
TRACE P 0 0 400 jClj_E
OBI IND 0 -1 Ba\6?K
GREEN &iN--~}!$
TRACE P 0 0 400 @1zQce>
END 2?@j~I=s2h
GFSt<k)
HG/p$L*
n(~\l#o@
2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。 G0n'KB
Lw1T 4n
OBI INDEX 0 1 ^4%Zvl
GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS t+CWeCp,
OBI INDEX 0 0 (3\Xy
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS OPpjuIRv
OBI INDEX 0 -1 W{XkVKe1a
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS %/kyT%1
vUC!fIG
FOR RECTANGLE - ~O'vLG
SIZE 5 5 {#IPf0O
VARY Y POSITION FROM -50 TO 50 4t4olkK3Oa
PLOT 4([.xT
这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形探测器从下到上对其进行检查。 ~Lfcg*
]43[6Im
#s5 pz8v
3.使用另一个特性 照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面光束的均匀性。 g|P C$p-z+
输入格式: Y^$HrI(vq
P+e KZo