举例:设置三个
光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置
光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。
t!=S[ RLE
{e@1,19 ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
~8X'p6 WAVL .6562700 .5875600 .4861300
<h}?0NA4 APS 1
2
g8PU$T GLOBAL
hB.dqv]^ NOSEQUENTIAL
j>T''Tf UNITS MM
Qm-P& g- OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
E.6\(^g 0 AIR
4|e#b(! 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
q38; w~H 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
) )F.|w 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
4mAtYm 1 CC -1.04500000
Xm4wuX"e= 1 AIR
8vRiVJ8QS: 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
ZJpI]^9| 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
h>/ViB@"W| 2 AIR
l}^#kHSyd END
0%t|?@HoN L8G4K) RSOL 10 20 2 0 123
tWiV0PTI PLOT
st2>e1vg 6)$_2G%Zq BLUE
w s=T R PUP 1 200
t5k&xV=~
# cTnbI4S; OBI INDEX 0 1
_~kcr5 TRACE P 0 0 200
n`,Q: uS'ji
k} OBI INDEX 0 0
MH?B.2 RED
54{"ni2a TRACE P 0 0 200
K)?^b|D 0- UeFy OBI INDEX 0 -1
P1QJ'eC;T GREEN
]G B}, PUPIL 1 200
l 3K8{HY TRACE P 0 0 200
-?RQ%Ue END
vFOv
I Vp M9K).P= o^?{j*)g 评估光线分布的方法:
YiTp-@$} 1.查看在最终表面上的足迹图
_iu|*h1y 在Edit Window中输入:
WGmCQE[/c mTfMuPPs[ PUPIL 1 400
]S L&x:/- RED
=oME~oB~ OBI IND 0 0
arP+(1U PLOT 2 1 0 0
1,T9HpM TRACE P 0 0 400
IJ8DN@w9 OBI IND 0 1
7gwZ9Fob BLUE
|^Es6 .~ TRACE P 0 0 400
}dUC^04 OBI IND 0 -1
kA4ei GREEN
FW DuH`-5 TRACE P 0 0 400
)^N8L< END
/09=Tyy/\ bJm0 3ms/v:\ _6!/}Fm 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
{1aAm+ yU"G|Ex OBI INDEX 0 1
lrhAO"/1
GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
yk<jlVF$j OBI INDEX 0 0
)6&\WNL-x GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
j9}0jC2Tb OBI INDEX 0 -1
u;Eu<jU1 GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
*BsDHq-F~ DA$Q- FOR RECTANGLE
_}@n_E SIZE 5 5
Db=>7@h3C VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
//lZmyP? PLOT
rR@n>
Xx 这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
~8t}*oV
|WU`p RYl3txw 3.使用另一个特性
照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面
光束的均匀性。
i\;&CzC: 输入格式:
/]zib@i I#t9aR+&