举例:设置三个光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双曲面。声明该系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。 y+$a}=cb0
RLE -5,+gakSk
ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE @ [j%V ynf
WAVL .6562700 .5875600 .4861300 HK`r9frn
APS 1 )C$1))
GLOBAL mJME1#j$/|
NOSEQUENTIAL ``Rg0o
UNITS MM 'F7UnkKO|
OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3 ro18%'RRI
0 AIR kjOI7` DU
1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000 M0woJt[&
1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000 r9~I R
1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR -
*xn`DH
1 CC -1.04500000 8FQNeQr
1 AIR oX?~
2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000 `6{4?v
2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR *N%)+-
2 AIR 1c:/c|shQ_
END fILD~
%TzdpQp"
RSOL 10 20 2 0 123 "_ON0._(/
PLOT ._`?ZJ
&8hW~G>(m
BLUE KZ|p_{0&
PUP 1 200 }XRRM:B|)(
QX+&[G!DZH
OBI INDEX 0 1 [`bA,)y"
TRACE P 0 0 200 CA,2&v"
^fti<Lw5
OBI INDEX 0 0 c1g'l.XL
3
RED p?x]|`M
TRACE P 0 0 200 x^y&<tA
6#kK
OBI INDEX 0 -1 __ G=xf
GREEN ]{= qdgJ
PUPIL 1 200 #6nuiSF
TRACE P 0 0 200 VQn]"G(`
END ,ydn]0SS
/^, /o
;i&t|5y~
评估光线分布的方法: q=+wQ[a<
1.查看在最终表面上的足迹图 *m`F-J6U
在Edit Window中输入: HvW6=d(#
>C}KSyV;
PUPIL 1 400 P(i
E"KH;
RED c~ Q5A
OBI IND 0 0 -p f9Wk
PLOT 2 1 0 0 kTo{W]9]
TRACE P 0 0 400 1yjP`N
OBI IND 0 1 A"~Oi
BLUE G_6!w//
TRACE P 0 0 400 (2r808^2
OBI IND 0 -1 - _BjzA|
GREEN w/Wd^+IIn
TRACE P 0 0 400 |JTDwmR
END qz|xow/ns@
L7s
_3\
_&PF (/w
zc!q a"4yM
2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。 tj[-|h
CMHg]la
OBI INDEX 0 1 0]l9x}
GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS Q=#!wWVP
OBI INDEX 0 0 Lq{/r+tt/
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS #v:A-u
OBI INDEX 0 -1 wyv%c/WlS
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS q8Rep
OCI{)r<O2m
FOR RECTANGLE n$ZxN"q <
SIZE 5 5 gBo~NLrf
VARY Y POSITION FROM -50 TO 50 Xvn \~Vr
PLOT l7uEUMV
这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形探测器从下到上对其进行检查。 2m2$jp0
TV(%e4U=
u1/q8'RW
3.使用另一个特性 照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面光束的均匀性。 +!"7=?}
输入格式: $>=w<=r|;
@gihIysf