举例:设置三个
光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置
光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。
(=tu~ ^ RLE
FNXVd/{M3 ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
21~~ =+)X WAVL .6562700 .5875600 .4861300
K$-|7tJon APS 1
.X6V>e)(3 GLOBAL
XK
yW NOSEQUENTIAL
ZIaFvm&q7Z UNITS MM
,fyqa OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
w)Y}hlcq 0 AIR
V`LW~P;
1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
qjIcRue'" 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
WZ
,t~TN 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
K(}<L-cv 1 CC -1.04500000
mtNB09E( 1 AIR
Le,+jm 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
~h444Hp= 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
@Hst-H.l<l 2 AIR
jq+:&8!8(e END
1i$OcN?x% |bjLmGb RSOL 10 20 2 0 123
w%f51Ex PLOT
oX[I4i%G #M8>)o c BLUE
13I~
PUP 1 200
O9)k)A]`O aGmbB7[BZ OBI INDEX 0 1
i-&"1D[& TRACE P 0 0 200
9S)A6] /Pa<I^-# OBI INDEX 0 0
ZRCUM"R_ RED
KnYHjJa TRACE P 0 0 200
jp-]];:aPJ i<{/r-w=E OBI INDEX 0 -1
Redxg. P GREEN
Q9
RCN<! PUPIL 1 200
LP}YHW/ TRACE P 0 0 200
Rj,M|9Y)o END
CV6W)B%Se
yykyvy Mer\W6e"e 评估光线分布的方法:
c# WIB 4 1.查看在最终表面上的足迹图
+4Lj}8, 在Edit Window中输入:
*wJ'Z4_5F ktK/s!bgY PUPIL 1 400
pXHeUBY. RED
Vq#_/23=$y OBI IND 0 0
F84?Mi{r2 PLOT 2 1 0 0
2v\-xg%1 TRACE P 0 0 400
@EcY&mP) OBI IND 0 1
n!y}p q6 BLUE
IctLhYZ TRACE P 0 0 400
{m<!-B95 OBI IND 0 -1
n0kkUc-`
GREEN
CI,xp
TRACE P 0 0 400
U>_#,j END
g].hL
+v'n[xa1v XvW
$B| auQfWO[ u 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
+)K yG 9
!qVYU42( OBI INDEX 0 1
j<*`?V^ GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
>@U
lhJtW OBI INDEX 0 0
&g-uQBQI# GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
5Ai$1'*p OBI INDEX 0 -1
<0I=XsE1iX GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
H0i\#)Xs _a=f.I FOR RECTANGLE
_a,XL<9 I SIZE 5 5
YJ^TO\4WM VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
dbLxm!;( PLOT
S~DY1e54GF 这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
~j2=hkS
7?JcB?G4 >jDx-H.N 3.使用另一个特性
照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面
光束的均匀性。
Y_<(~eN` 输入格式:
=Z(#j5TGvH
4\yKd8I