举例:设置三个光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双曲面。声明该系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。 liVDBbS_A?
RLE A
Zv| |8p
ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE rXnG"A
WAVL .6562700 .5875600 .4861300 DZX4c 2J
APS 1 _2Fa.gi
GLOBAL 90+Hv:wF
NOSEQUENTIAL %l)~C%T
UNITS MM z';h5GNd>z
OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3 Ji:0J},m
0 AIR Z/I`XPmk
1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000 ^s?i&K,!
1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000 8j!(*'J.
1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR x`p3I*_HT5
1 CC -1.04500000 r7N%onx
1 AIR >Y&o2zJy
2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000 SP5t=#M6
2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR p2o66t
2 AIR JPS<e*5
END XBHv V05mv
p:8]jD@}%
RSOL 10 20 2 0 123 |c!lZo/
PLOT &bS!>_9
$a+)v#?,
BLUE &E8fd/s=k
PUP 1 200 y1hJVYE2
74*iF'f?c
OBI INDEX 0 1 ^->vUf7PX
TRACE P 0 0 200 Q$DF3[NC
w^QqYUL${
OBI INDEX 0 0 TZk.h8
RED Dv+:d 4|"
TRACE P 0 0 200 l ~ /y
K?aUIkVs
OBI INDEX 0 -1 t8FgQ)tk
GREEN rzgzX
PUPIL 1 200 _fANl}Mf:
TRACE P 0 0 200 p=J9N-EM
END )ur&Mnmm
dCM*4B<
q9"~sCH
评估光线分布的方法: $~*d.
1.查看在最终表面上的足迹图 &:)e
在Edit Window中输入: #n}n
%
)d-{#
PUPIL 1 400 SvGs?nUU
RED uu582%tiG
OBI IND 0 0 prg8Iq'w
PLOT 2 1 0 0 \:wLUGFl5
TRACE P 0 0 400 {01wW1
OBI IND 0 1 >zAI#N4
BLUE 7?JcB?G4
TRACE P 0 0 400 >jDx-H.N
OBI IND 0 -1 XD\Z$\UJE
GREEN v;@-bED(Qs
TRACE P 0 0 400 /q8?xP.
END 1)m&6:!b
' ! ls"qo
CVFsp>+
g8_IZ(%:
2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。 "A?_)=zZ
>zDnJb&"&
OBI INDEX 0 1 vXM``|
GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS (&u)FB*
OBI INDEX 0 0 +(<}`!9M*
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS oxPb; %
OBI INDEX 0 -1 @*c) s_
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS F-n1J?4b
I"=XM
FOR RECTANGLE oos35xV.
SIZE 5 5 h&6x.ps@
VARY Y POSITION FROM -50 TO 50 cAc i2e
PLOT 4q<:%
0M|
这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形探测器从下到上对其进行检查。 $0zH2W
XDJQO /qN
Up$vBE8i]
3.使用另一个特性 照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面光束的均匀性。 f V.(v&
输入格式: f6P5J|'
n[/|M