举例:设置三个光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双曲面。声明该系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。 ,{d=<j_
RLE ge#P(Itz
ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE Sg1,9[pb
WAVL .6562700 .5875600 .4861300 f!G%$?]
APS 1 3v3`d+;&
GLOBAL 99~ZZG
NOSEQUENTIAL @%!Gj{
UNITS MM n/^QPR$>.
OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3 P_(<?0l
0 AIR 2[Xe:)d
1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000 T#a6X;9P
1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000 lHO.pN`2
1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR orhzeOi\
1 CC -1.04500000 1-Q>[Uz,
1 AIR 1-PFM-
2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000 JC9OL.Ob
2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR +f,I$&d.V
2 AIR !'-./LD")
END :|Bzbn=N2
z5W;-sCz
RSOL 10 20 2 0 123 |T{ZDJ+
PLOT iOiXo6YE
:-~x~ah-
BLUE \b?O+;5Cj
PUP 1 200 a KIS%M#Y
>Sm#-4B-
OBI INDEX 0 1 S9 @*g3
TRACE P 0 0 200 #!4`t]E<
e r"gPW
OBI INDEX 0 0 wV'_{/WM
RED F8B:P7I
TRACE P 0 0 200 1wW4bg 5
Z$S0X$q}
OBI INDEX 0 -1 ;(IAhWE?7
GREEN BXr._y, cr
PUPIL 1 200 m^4O jik
TRACE P 0 0 200 9 'IDbe{
END jyC>~}?
W |+&K0M
}TU2o3Q
评估光线分布的方法: [H>/N7v19*
1.查看在最终表面上的足迹图 Zk0? =f?j
在Edit Window中输入: a2H_8iQ!
Hzc^fC
PUPIL 1 400 P>
~Lx
RED >c.HH}O0W
OBI IND 0 0 )`zfDio-1V
PLOT 2 1 0 0 #uuNH(
TRACE P 0 0 400 *'R2Lo<C
OBI IND 0 1 "H}ae7@
BLUE F=yE>[! LB
TRACE P 0 0 400 1 w9Aoc
OBI IND 0 -1 ;+Mr|vweTC
GREEN ~q{QquYV
TRACE P 0 0 400 &XSe&1
END Zh_P
+ID%( :
k)JwCt.%
k?=_p6>
2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。 p fg>H
hj[sxC>z5
OBI INDEX 0 1 jce2lXMm
GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS b!g8NG
OBI INDEX 0 0 J+*n}He,
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS m ,TYF
OBI INDEX 0 -1 dH0wVI<z
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS FBrJVaF
<nn!9V\C
FOR RECTANGLE @fSqGsSk
SIZE 5 5 8wA'a'V.
VARY Y POSITION FROM -50 TO 50 1iE*-K%Q
PLOT ,y/N^^\
这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形探测器从下到上对其进行检查。 ~ph>?xuw
V$ac}A,!
N9cUlrDO
3.使用另一个特性 照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面光束的均匀性。 jVdB- y/r
输入格式: U`ELd:
!,PoH