举例:设置三个光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双曲面。声明该系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。 zL=PxFw0
RLE :Oh*Q(>
ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE e3=-7FU
WAVL .6562700 .5875600 .4861300 W{X5~w(
APS 1 COFCa&m9c
GLOBAL
k`=&m"
NOSEQUENTIAL "}^}3"/.
UNITS MM CT[CM+
OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3 Cm%xI&Y
0 AIR 6QX2&[qWS
1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000 58[.]f~0
1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000 !n`Y^
1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR \qw1\-q
1 CC -1.04500000 Noi+mL
1 AIR s0/y> ok
2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000 \xjI=P'-25
2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR d37|o3oC
2 AIR I;UCKoFT
END ;dquld+q
4;)aGN{e
RSOL 10 20 2 0 123 ve*m\DU
PLOT Co^GsUJ
OR<%h/ \f
BLUE # 5b
PUP 1 200 .q5WK#^
+?ilTU
OBI INDEX 0 1 eD)@:K
TRACE P 0 0 200 v
O@7o
ij&T\):d
OBI INDEX 0 0 a]t| /Mq
RED .*{0[
TRACE P 0 0 200 +qee8QH
8^5@J)R8
OBI INDEX 0 -1 UO}Yr8Z;
GREEN %3es+A@
PUPIL 1 200 HC>MCwx=r
TRACE P 0 0 200 _.+2sm
END ~pPj
pe>[Ts`2F
*x@.$=NF"
评估光线分布的方法: `Oe"s_O#
1.查看在最终表面上的足迹图 2SJ|$VsLaE
在Edit Window中输入: #OVS]Asn}
W3]?>sLE*
PUPIL 1 400 6rh^?B
RED VL/KC-6
OBI IND 0 0 gi
JjE
PLOT 2 1 0 0 18AlQ+')?w
TRACE P 0 0 400 "4WwiI9
OBI IND 0 1 f;]C8/ W
BLUE 0<u(!iL
TRACE P 0 0 400 #8i9@w
OBI IND 0 -1 !H4C5wDu
GREEN uTRFeO>
TRACE P 0 0 400 8w9?n3z=}
END s E0ldN"
f6JC>Np
.aD=d\
u$nYddak
2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。 o>@9[F,h+
#KwK``XC4
OBI INDEX 0 1 O[\obi"}
GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS R[f@g;h
OBI INDEX 0 0 N5Ih+8zT
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS }=
(|3\v
OBI INDEX 0 -1
y aLc~K
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS c|(&6(r
)|IMhB+4
FOR RECTANGLE \) vI-
SIZE 5 5 VD+y4t'^
VARY Y POSITION FROM -50 TO 50 7"s8G7
PLOT 7cV
GB
这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形探测器从下到上对其进行检查。 /}R*'y
>f-*D25f%
0`
UrB:
3.使用另一个特性 照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面光束的均匀性。 nx|b9W<
输入格式: );1UbqVPD
,xuA%CF-S