举例:设置三个
光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置
光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。
PfF5@W;E; RLE
MaMP7O|W ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
be^+X[ WAVL .6562700 .5875600 .4861300
e`]x?t<U4/ APS 1
.7GTL GLOBAL
CKB~&>xx NOSEQUENTIAL
d@d\9*mn UNITS MM
T#M_2qJ1= OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
ks3ydHe` 0 AIR
`i~kW 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
`MD%VHQ9U 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
\0)v5u 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
t4Q&^AC 1 CC -1.04500000
0Y|"Bo9k 1 AIR
d8N{sT 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
l$1
] 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
:v$][jZ2 2 AIR
$U*b;'o END
<m"fzT<" t%S2D RSOL 10 20 2 0 123
G;jX@XqZ PLOT
7+'&(^c "`6pF8k BLUE
$I*<gn9 PUP 1 200
:OEovk(` =lb5 # OBI INDEX 0 1
9-ei#|Vnt[ TRACE P 0 0 200
\+iZdZD z^,P2kqK_ OBI INDEX 0 0
s~i73Qk/ RED
>f\$~cp TRACE P 0 0 200
Rz03he $j(laD#AR OBI INDEX 0 -1
d?6\ GREEN
h/s8".\ PUPIL 1 200
8wH1x
. TRACE P 0 0 200
v#^ _| END
eeVzOq(
y8.3tp .ri?p:a}w 评估光线分布的方法:
->9waXRDz) 1.查看在最终表面上的足迹图
^1w<wB\B 在Edit Window中输入:
]H-5 };m.8(}$) PUPIL 1 400
`ElJL{Rn RED
16-1&WuY@ OBI IND 0 0
5>\Lk>rI PLOT 2 1 0 0
4R}$P1 E TRACE P 0 0 400
7X{@$>+S OBI IND 0 1
=Sjf-o1V BLUE
y F;KyY{ TRACE P 0 0 400
zqCr'$ OBI IND 0 -1
v;.w*x8Jw GREEN
p!/ *(TT TRACE P 0 0 400
eW\C@>Ke END
J;5G]$s
]|8*l]oc 1$n!Lj=5 nd)`G$gL 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
`st^i$A #,S0uA OBI INDEX 0 1
"ivSpec.V GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
k = OBI INDEX 0 0
DR<=C`<4( GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
Ae8P'FWB> OBI INDEX 0 -1
_]Y9Eoz GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
OI)U c . :F.eyA|#@G FOR RECTANGLE
Hdda/?{b SIZE 5 5
WNp-V02l VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
rd ]dDG PLOT
W61nJ7@ 这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
-(VX+XHW
>>.4@ mQ=nU 3.使用另一个特性
照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面
光束的均匀性。
5e
>qBw8t 输入格式:
Gj- *D7X5
um=qT)/D