举例:设置三个
光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置
光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。
tQJ@//C\z RLE
b)w3
G%Xx ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
xyz-T1ib WAVL .6562700 .5875600 .4861300
:ykZ7X& APS 1
6aQ{EO-]'= GLOBAL
?-\K Vha NOSEQUENTIAL
Q:VD2<2 UNITS MM
JEBo!9 OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
O t`}eL- 0 AIR
S_2I8G^A 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
hY'"^?OP 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
x_Ais&Gc 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
iJrscy- 1 CC -1.04500000
'}4[m>/ 1 AIR
>cMU<'& 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
pdnL~sv 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
^#^u90I 2 AIR
^ad>
(W END
gYzKUX@ ocgbBE RSOL 10 20 2 0 123
7P|(j<JX6' PLOT
4
<]QMA0 o~>p=5t BLUE
{/0,lic PUP 1 200
nI_Zk.R 'T|.<u@~ OBI INDEX 0 1
,}FYY66K TRACE P 0 0 200
S-f3rL[? <U,T*Ql1x OBI INDEX 0 0
,CM$A}7[ RED
i,yK&*>JJ TRACE P 0 0 200
U;V. +onv =C3l:pGMB; OBI INDEX 0 -1
.=@M>TZM GREEN
(c[h,>`@: PUPIL 1 200
Y?%6af+ TRACE P 0 0 200
3?5
~KxOE( END
3UN Jj&-`
qo.
6T H8-,gV 评估光线分布的方法:
B-&J]H 1.查看在最终表面上的足迹图
q75F^AvH 在Edit Window中输入:
.PAkW2\# nW drVT$ PUPIL 1 400
e&0B4wVAQ RED
.ySesN: C~ OBI IND 0 0
nev*TYY?A PLOT 2 1 0 0
v\MH;DW^Z TRACE P 0 0 400
HK[sHB& OBI IND 0 1
v"F0$c BLUE
dl":?D4H TRACE P 0 0 400
40c#zCE OBI IND 0 -1
/d{L]*v)] GREEN
A|>C3S TRACE P 0 0 400
f`IgfJN END
QKP9*dz
q/B+F%QiMQ uRL3v01?H0 \
qs6% 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
a<Ns C1 VUnEI oKM OBI INDEX 0 1
{X =\ GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
;Q"F@v}18 OBI INDEX 0 0
[{ { ?e6J GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
h3)KT+7. OBI INDEX 0 -1
#/tdZ0 GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
|@@mq!>- Z956S$gS FOR RECTANGLE
i
Lm1l SIZE 5 5
5~44R@` VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
_L=vK=, PLOT
W?l .QQk 这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
-pD&@Wlwak
4KM$QHS5{ &
9]KkY= 3.使用另一个特性
照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面
光束的均匀性。
{//F>5~[ 输入格式:
3=<iGX"z
?}]kIK}MC