举例:设置三个
光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置
光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。
|.]sL0;4Z RLE
K"fr4xHq ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
wz[Xay9jW WAVL .6562700 .5875600 .4861300
":igYh APS 1
::<v; `l GLOBAL
+"P!es\q NOSEQUENTIAL
vca]yK<u UNITS MM
ylTX OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
V.\12P 0 AIR
_z6_mmMp 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
P]h-**O 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
3.0t 5F<B 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
(zIWJJw 1 CC -1.04500000
'tJb(X!]q 1 AIR
>~+qU&'2 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
{pJf~ 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
rl/]Ym4j 2 AIR
I
0vJJP# END
*3R3C+
L n^[VN[VC RSOL 10 20 2 0 123
U 7_1R0h PLOT
[N=v=J9 /TEE<\" BLUE
Sv#S_jh PUP 1 200
] Hiw+5n q0t} OBI INDEX 0 1
_GW, 9s^A TRACE P 0 0 200
,#V}qSKUS yiO/0n Mp OBI INDEX 0 0
?GT,Y5 RED
;ElwF&"!X TRACE P 0 0 200
XbaUmCuh fk5$z0 / OBI INDEX 0 -1
Fo.p}j+> GREEN
][?@)) PUPIL 1 200
(qyT,K8 TRACE P 0 0 200
^.gBHZ END
I?R?rW
=zsA@UM0 wg}rMJoG| 评估光线分布的方法:
nBg
tK 1.查看在最终表面上的足迹图
2~B9 (| 在Edit Window中输入:
o=)["V B;Dl2k^L PUPIL 1 400
=6O<1<[y RED
EvGKcu OBI IND 0 0
hd%O\D? PLOT 2 1 0 0
Ha41Wn'tZ TRACE P 0 0 400
k:i}xKu OBI IND 0 1
9D`p2cO BLUE
]!'}{[1} TRACE P 0 0 400
qe_qag9 OBI IND 0 -1
.~Gt=F+`s GREEN
"lnI@t{o TRACE P 0 0 400
$ISx0l~ END
fN_Ilg)t?5
w:3CWF4q] ?'/#Gt` S2PPwCU 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
Mh@RO|F 2qDyb]9 OBI INDEX 0 1
+Ua.\1"6 GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
\J-}Dp\0b OBI INDEX 0 0
,sZ)@?e GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
;=lQMKx0 OBI INDEX 0 -1
J`'wprSBb GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
iPK:gK3Q B!AJ* FOR RECTANGLE
>k9W+mk SIZE 5 5
YgR}y+q^6 VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
HLb`'TC3r+ PLOT
W8N__ 这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
Wu@v%!0
<7*d2 *}RV)0mif 3.使用另一个特性
照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面
光束的均匀性。
9?I?;l{ 输入格式:
Xmv^O
LA4,o@V`