举例:设置三个
光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置
光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。
+NTC!/ RLE
3;F up4!4} ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
x:+]^?}r WAVL .6562700 .5875600 .4861300
^/)%s 3 APS 1
gWfMUl GLOBAL
u1`JvfLrL NOSEQUENTIAL
2%vG7o,# UNITS MM
bMGXx>x OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
2 }rYH;Mx 0 AIR
qVE<voB8 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
m8Rt>DY 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
{R?VB!dR 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
S5[}kfe 1 CC -1.04500000
MB+a?u0\ 1 AIR
ufJHC06 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
(w` j?c1 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
?hKpJA'% 2 AIR
4VhKV JX END
Jk57| )/ |eK^Yhym RSOL 10 20 2 0 123
vf-8DB PLOT
0zE(:K h059 DiH BLUE
%[on.Q'1]2 PUP 1 200
NmTo/5s /L=Y8tDt OBI INDEX 0 1
L,sFwOWY TRACE P 0 0 200
J7wIA3.O \S>GtlQbn OBI INDEX 0 0
NXOcsdcZu RED
T:g%b @ TRACE P 0 0 200
Y+Cv9U0 M/kBAxNIC| OBI INDEX 0 -1
R]0tG
GREEN
PV-B<Y PUPIL 1 200
q-qz-cR TRACE P 0 0 200
tk+4noA END
H__'K/nH+
nZ[`Yrq)0 AE=E"l1] 评估光线分布的方法:
=lL)g"xX 1.查看在最终表面上的足迹图
ohi0_mBz 在Edit Window中输入:
V0xO:7G^ .gY=<bG/fA PUPIL 1 400
|CPyCM$ RED
04:QEC"9mj OBI IND 0 0
8zQN[[#n PLOT 2 1 0 0
^M+aQg% TRACE P 0 0 400
gdS@NUM OBI IND 0 1
yeA]j[ # BLUE
p5J!j I= TRACE P 0 0 400
c|X}[ OBI IND 0 -1
5YLc4z* GREEN
#lF 2qw TRACE P 0 0 400
V6_~"pRR= END
.\8LL,zT
V5p->X2# 9>;CvR
%$=2tfR 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
XV1XzG# C I2z6iT4nB OBI INDEX 0 1
cyB2=, GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
Xt!wOW OBI INDEX 0 0
nGxG! GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
G-'CjiMu OBI INDEX 0 -1
@#yl_r% GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
63kZ#5g(Dw .dj}y
jd]f FOR RECTANGLE
MJU*Sq SIZE 5 5
,fvhP $n VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
I7W?}bR*6 PLOT
omI"xx 这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
J7@Q;gcl:
# ELYPp]6 "8E=*2fcw 3.使用另一个特性
照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面
光束的均匀性。
YMj iJTl 输入格式:
0@&/W-VXg
Tn?D~?a*O