举例：设置三个
光源，每个光源包含在一个圆锥体中，该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式（PUP 1），设置
光线数为200；使用三种不同颜色追迹三个光源的光线，追迹光线数为200，来绘制一个旋转实体图。
Abw=x4d(i RLE
8+*
1s7{ ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
8"'Z0
Ey WAVL .6562700 .5875600 .4861300
c-`'`L^J APS 1
{6I)6}w!k GLOBAL
n 3eLIA{ NOSEQUENTIAL
+g9C k lJ UNITS MM
\CU-a`n OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
JT, [; 0 AIR
qjm6\ii:) 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
\ u*R6z 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
whW% c8 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
#+" 1">l 1 CC -1.04500000
+ L\Dh.Ir 1 AIR
Qi= pP/Y 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
i5*BZv>e 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
7&hhKEA 2 AIR
im-XP@< END
ykS- 5E` ixvF `S9 RSOL 10 20 2 0 123
gLss2i.r PLOT
B*@0l: 0Yk$f1g BLUE
?3_^SRW&a PUP 1 200
_x` oab0@ tqFE>ojlI OBI INDEX 0 1
_' mK=`>u TRACE P 0 0 200
1CR )1H
N Zu2D OBI INDEX 0 0
q/h , jM RED
sh ZEE2Dr TRACE P 0 0 200
D_Zt:tzO )p`zN=t OBI INDEX 0 -1
'Q dDXw5o GREEN
1YtbV 3 PUPIL 1 200
? APCDZ^ TRACE P 0 0 200
Mp3nR5@d$ END
0sP*ChY5S 
Jm`{MzqL Z]SUr`Z 评估光线分布的方法：
`'E(L & 1.查看在最终表面上的足迹图
iu iVr$E 在Edit Window中输入：
Pb}Iiq= mVd%sWD PUPIL 1 400
NX&Z=ObHu} RED
{+^&7JX OBI IND 0 0
`]I p`_{ PLOT 2 1 0 0
s$Vz 1B TRACE P 0 0 400
STL+tLJ OBI IND 0 1
Rd;^ fBx BLUE
xyrlR;Sk TRACE P 0 0 400
<u}[_ OBI IND 0 -1
8dLK5"_3 GREEN
-PCF Om" TRACE P 0 0 400
Q"s]<MtdS END
@M*oq2U; 
&9ERl Z( A {%D4%X< blKF78 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型，再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
] 1s6= WS.lDMYE7 OBI INDEX 0 1
7n[0)XR> GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
?/fC"MJq? OBI INDEX 0 0
V
X.9mt GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
g!;a5p6 OBI INDEX 0 -1
Oh3A?!y# GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
!PfdY&.) wW,
n~W FOR RECTANGLE
C.RXQ`-P} SIZE 5 5
F):1@.S VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
'd]t@[# PLOT
*&~(>gNF, 这里，为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
v(]dIH 
hf :\^w lvH} 8 lJ 3.使用另一个特性
照明模式（IPAT），它会绘制最终表面的照明图案，以便检查最终表面
光束的均匀性。
!>:]k ?$b 输入格式：
*{(tg~2'( 
v$Xoxp
