举例:设置三个
光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置
光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。
WK)2/$7@ RLE
z&@O\>Q ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
r)Dln5F WAVL .6562700 .5875600 .4861300
i{.%4tA4 APS 1
*~H\#N|x GLOBAL
WY3D.z-</ NOSEQUENTIAL
B^yA+&3HI UNITS MM
I%qZMoS1h OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
OqNtTk+ 0 AIR
xfsf 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
z3+7gp+I; 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
m.0:R 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
p.50BcDg 1 CC -1.04500000
#eKg!]4-R 1 AIR
\cKY{(E 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
{=)g?!zC 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
ICxj$b 2 AIR
!\RBOdw C END
z&x3":@u< 3|qT.QR`Z RSOL 10 20 2 0 123
\ =(r6X PLOT
kl/eJN'S WPnw BLUE
$ &III PUP 1 200
ZT'VF~ )CAEqP
OBI INDEX 0 1
~EJ+<[/ TRACE P 0 0 200
7>sNjOt@M |MEu"pY) OBI INDEX 0 0
gZ b+m RED
WVa#nU^ TRACE P 0 0 200
M}cgVMW Iq%f*Zm< OBI INDEX 0 -1
YA,vT[kX GREEN
IA$)E PUPIL 1 200
7F!(60xY TRACE P 0 0 200
!Ic{lB END
k.MAX8
V% PeZ.Xv |gP9^B?3 评估光线分布的方法:
\f6@B:?y 1.查看在最终表面上的足迹图
Q3OGU} F 在Edit Window中输入:
m.|__L m5w ZS>@ PUPIL 1 400
6~#$bp^- RED
U.mVz,k3 OBI IND 0 0
Eh{]so PLOT 2 1 0 0
#;*0 Pwe` TRACE P 0 0 400
N~/D| ?P~2 OBI IND 0 1
f5p:o}U* BLUE
`~ , TRACE P 0 0 400
^P|
K2at OBI IND 0 -1
}g@5%DI] GREEN
1+0DTqWz TRACE P 0 0 400
*pMu,?uE END
Y%"6
kl&9M!;:n +2WvGRC KTzkJx 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
%8N=4vTJ &t0toEj OBI INDEX 0 1
PX%Y$` GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
D%k`udz< OBI INDEX 0 0
'c")]{ GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
L4w KG& OBI INDEX 0 -1
~ R:=zGDV GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
4Z"JC9As 3$E\B=7/U FOR RECTANGLE
XX@@tzN SIZE 5 5
p~h)@ VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
afJ`1l PLOT
iCK p"(kf 这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
Ry+Ax4#+(y
xbeVqP }RT#V8oc 3.使用另一个特性
照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面
光束的均匀性。
JC[G5$E 输入格式:
,*Vt53@E
pMfP3G7V