举例:设置三个光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双曲面。声明该系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。 #ABCDi={zA
RLE : +u]S2u{
ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE z{6Z
11|
WAVL .6562700 .5875600 .4861300 omFz@
APS 1 ?5p>BER?
GLOBAL >usL*b0%
NOSEQUENTIAL @L`jk+Y0vF
UNITS MM lMt=|66
OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3 O<I-
0 AIR fOHxtHM
1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000 bLL2
1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000 3
{V>S,O3]
1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR KXrjqqXs
1 CC -1.04500000 D=$)n_F
1 AIR =*Lfl'sr_
2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000 Fcx&hj1gQ
2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR [K Qi.u
2 AIR C^){.UGmJ
END I'Hf{Erw
~~.}ah/_d
RSOL 10 20 2 0 123 gIfh3 D=yX
PLOT IgzQr >
YR70BOxK
BLUE [ )F<V!
PUP 1 200 5(2;|I,T
"7
yD0T)2
OBI INDEX 0 1 7=uj2.J6
TRACE P 0 0 200 DDZ@$L!
cl1T8vFM
OBI INDEX 0 0 J4'eI[73
RED h(4v8ae
TRACE P 0 0 200 GY*p?k<i
@iiT<
OBI INDEX 0 -1 <q836]aaA
GREEN ~Ei<Z`3}7"
PUPIL 1 200 5G#n"}T
TRACE P 0 0 200 T|$H#n}
END <aw[ XFg
#Z #-Ht
ZcsZ$qt^
评估光线分布的方法: `^vE9nW7
1.查看在最终表面上的足迹图 hPh-+Hb
在Edit Window中输入: VTM/hJmwJ
gUlo]!$
PUPIL 1 400 '"^'MXa
RED bcyzhK=
OBI IND 0 0 .}t
e>]A*
PLOT 2 1 0 0 VVZ'i.*_3?
TRACE P 0 0 400 GyIV
Hby
OBI IND 0 1 @~e5<:|5#
BLUE ~[ jQ!tz
TRACE P 0 0 400 6863xOv{T
OBI IND 0 -1 mw!F{pw
GREEN _t$sgz&
TRACE P 0 0 400 ?[AD=rUC
END wJ]d&::@h
SBpL6~NW
sK{e*[I>W
dM5-;
2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。 \m,PA'nd/
XSDpRo
OBI INDEX 0 1 CAJ'zA|o
GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS _w{Qtj~s|
OBI INDEX 0 0 \RiP
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS {=WgzP
OBI INDEX 0 -1 .8R@2c`}Cs
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS osRy e3
+TJCLZ..
FOR RECTANGLE
2iOV/=+
SIZE 5 5 |=w@H]r
VARY Y POSITION FROM -50 TO 50 hrn+UL:d
PLOT 3<!7>]A
这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形探测器从下到上对其进行检查。 Wri<h:1
G2D$aSh
QY/w
3.使用另一个特性 照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面光束的均匀性。 d~H`CrQE*
输入格式: \bcLiKE{
Ie_wHcM<