举例:设置三个光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双曲面。声明该系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。 (.J6>"K<
RLE :Z[|B(U
ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE \b;z$P\+*
WAVL .6562700 .5875600 .4861300 ~hxW3e
APS 1 iBPIj;,
GLOBAL 6ys|'<?
NOSEQUENTIAL []-<-TqJ
UNITS MM H73 r3BH
OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3 ~v@.YJoZ4Z
0 AIR !59,<N1Iu
1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000 t`-
[
1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000 &c^tJ-s
1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR 5oe{i/#di
1 CC -1.04500000 m0i,Zw{eM
1 AIR Wh)>E!~9
2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000 P(bds
2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR r,<p#4(>_
2 AIR ,7I
END wii.0~p
hRQw]
RSOL 10 20 2 0 123 QQ/9ZI5
PLOT [Mk:Zz%
`.g'bZ<v/
BLUE Q 5&|1m Pb
PUP 1 200 sis1Dh9:
)GfL?'Z
OBI INDEX 0 1
6`@6k2]
TRACE P 0 0 200 mKLWz1GZ
v]'\]U^
OBI INDEX 0 0 m f\tMik<
RED k5|GN Y6a
TRACE P 0 0 200 qL?$u07<9'
gg.lajX
OBI INDEX 0 -1 BZa`:ah~x
GREEN -bgj<4R$p
PUPIL 1 200 V$_.&S?(Y
TRACE P 0 0 200 t>2EZ{N+y
END t~|`RMn"
Jsa;pG=3&
OYfRtfE
评估光线分布的方法: gSHN,8.
`
1.查看在最终表面上的足迹图 6st^-L
在Edit Window中输入: R_=fH\c;
SAU` u]E
PUPIL 1 400 w5vzj%6i
RED yBCLS550
OBI IND 0 0 Ml,in49
PLOT 2 1 0 0 KP`Pzx
TRACE P 0 0 400 B@ >t$jK
OBI IND 0 1 VFK]{!C_
BLUE ~uG/F?= Q:
TRACE P 0 0 400 g'9~T8i& ^
OBI IND 0 -1 \"X_zM
GREEN ,E8g~ZUY9
TRACE P 0 0 400 JF'<""
END HOr Xxxp1^
I :8s 3;
[[O4_)?el
}&]T0U`@
2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。 7e[&hea
I0N~>SpZ5
OBI INDEX 0 1 %v0;1m
GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS ex.^V sf_
OBI INDEX 0 0 " eS-i@
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS !/]z-z2>
OBI INDEX 0 -1 wauM|/KG
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS zj$Ve
4m%Yck{R
FOR RECTANGLE Lie= DD
SIZE 5 5 sRQ4pnnrn
VARY Y POSITION FROM -50 TO 50 KvjH\;78
PLOT 59(kk;
这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形探测器从下到上对其进行检查。 R8Dn
GR
!{ !(yP_
_`Dz%(c
3.使用另一个特性 照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面光束的均匀性。 Y pvFv-
输入格式: sfp.> bMj
!>WW(n07Ma