举例:设置三个
光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置
光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。
+2MF#{ tS RLE
>_j(uw?u ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
)j2#5`?"j WAVL .6562700 .5875600 .4861300
h;q&B9 APS 1
&0kr[Ik. GLOBAL
b@J "b( NOSEQUENTIAL
'`^~Zy?c UNITS MM
WWSycH
?[ OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
*Xnf}Ozx 0 AIR
;MeY@*"{ 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
@PM<pEve 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
=cRmaD 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
cn}15JHdR 1 CC -1.04500000
A\?t^T 1 AIR
?Tc|3U 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
ObM/~{rKx 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
'A|c\sy 2 AIR
igL5nE=n END
_1)n_P4 "]jN'N(. RSOL 10 20 2 0 123
7=G6ao7 PLOT
&&CrF~
XHv
m{z= BLUE
{ccc[G?>.Q PUP 1 200
8b0j rt 2<*"@Vj OBI INDEX 0 1
TeuZVy8a TRACE P 0 0 200
t,LK92? qJF'KHyU{l OBI INDEX 0 0
R:n|1]*f3X RED
yW?-Z[ TRACE P 0 0 200
^0"^ %UdE2 D'bC OBI INDEX 0 -1
Mxw-f4j GREEN
+6>2= ,?Z PUPIL 1 200
'bRf>= TRACE P 0 0 200
$m
;p@#n END
AAfhh5i
<Z t ]V`- Tp@Yn 评估光线分布的方法:
X"3p/!W.4 1.查看在最终表面上的足迹图
]2L11"erP 在Edit Window中输入:
0Gj/yra9MO m\*ca3$ PUPIL 1 400
Fep@VkN RED
K"[jrvZ= OBI IND 0 0
_*=4xmB.= PLOT 2 1 0 0
I!Dx)>E& TRACE P 0 0 400
=P,mix| OBI IND 0 1
(XR}U6^v] BLUE
/V0Put TRACE P 0 0 400
=mQY%l OBI IND 0 -1
o[wiQ9Tl GREEN
Q `K^>L1 TRACE P 0 0 400
fFVQu\ END
7h(
_"F=4`lJ ~i?Jg/qcxN t{UWb~" 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
A'![*O [qxpu{ OBI INDEX 0 1
Q,9KLi3 GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
Uf_mwEE OBI INDEX 0 0
C%z9Q GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
z1tD2jL _ OBI INDEX 0 -1
~BTm6*'h GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
p\I3 fI0i !p ~.Y+ FOR RECTANGLE
+?t&
7={~ SIZE 5 5
K~]Xx~F VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
x-@?:P* PLOT
"=%YyH~WY 这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
o4 "HE*
zZ9Ei-Q Gyy4)dP 3.使用另一个特性
照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面
光束的均匀性。
r_ m|?U
% 输入格式:
r.@UH-2c
H[g i`{c