举例:设置三个
光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置
光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。
!=*8*?@ RLE
:X-S&SX0 ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
:wg=H WAVL .6562700 .5875600 .4861300
8qw{e`c APS 1
1t^9.!$@y GLOBAL
ErJ@$&7 NOSEQUENTIAL
/2/aMF(J UNITS MM
bE2O[B OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
oUN\tOiS+ 0 AIR
a.?U$F 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
ZS]Z0iZv9 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
V'Kied+ 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
h.ftl2> 1 CC -1.04500000
|V{ Q 1 AIR
MVvBd3 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
h2Th)&Fb> 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
$Q'z9ghEg 2 AIR
%
C2Vga# END
nIfAG^?|* 7_)38 RSOL 10 20 2 0 123
L1(-xNUo_i PLOT
p19@to5l ]a~sJz! BLUE
&Q}%b7 PUP 1 200
6\K\d_x Rj>A", OBI INDEX 0 1
aD'Ax\- TRACE P 0 0 200
]plp.f#av |_8l9rB5ip OBI INDEX 0 0
H6jt[ RED
|?g-8":H8P TRACE P 0 0 200
Xa?igbgAwx q6nRk~ OBI INDEX 0 -1
0hGmOUO GREEN
?fq!BV PUPIL 1 200
W,CAg7:* TRACE P 0 0 200
/w5*R5B{ END
,i<cst)$u `#`jU"T | `G`R|B 评估光线分布的方法:
62 _k`)k 1.查看在最终表面上的足迹图
Y\B6c^E) 在Edit Window中输入:
e:'56?| S!z3$@o PUPIL 1 400
>8OY6wb RED
Udn Rsp9S OBI IND 0 0
KZZ Y9 PLOT 2 1 0 0
=G^'wwpv( TRACE P 0 0 400
_FE uQ9E OBI IND 0 1
T7.SjR6X> BLUE
qA`@~\qh" TRACE P 0 0 400
p!uB8F OBI IND 0 -1
$rr@3H+
GREEN
R*lq7n9 TRACE P 0 0 400
c};%VB END
mS![J69( wW)(mY? OM\1TD/- AL3iNkEa 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
LOfw
#+]d jTt9;?) OBI INDEX 0 1
_ ~\} fY GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
<n#X~}i) OBI INDEX 0 0
`m<O!I"A GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
jED.0,+K! OBI INDEX 0 -1
8Ala31 GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
J-dB v7./u4S|V FOR RECTANGLE
xt,Qn460; SIZE 5 5
j"h/v7~ VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
v=lW5%r,' PLOT
>Q=^X3to 这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
SiX<tj#HH\ 7G-?^ O |P<s+ 3.使用另一个特性
照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面
光束的均匀性。
hPBBXj/= 输入格式:
1a{r1([) J({D~