举例:设置三个
光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置
光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。
zQt1;bo RLE
kAt
RY4p ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
D=JlA~tS> WAVL .6562700 .5875600 .4861300
`xGT_0&ck APS 1
UtPwWB_YV GLOBAL
Cg7)S[zl NOSEQUENTIAL
_^-D _y UNITS MM
eN4t1$ OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
:U8k|,~f 0 AIR
&rcdr+' 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
s*eyTm 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
w?i)/q 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
E;$$+rA 1 CC -1.04500000
] .`_,
IO 1 AIR
[)0
R'xL6 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
\D ^7Z97 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
`}Eh[EOHJ 2 AIR
7<vy;"wB END
"5y<G:$+~ sN=KR qe RSOL 10 20 2 0 123
1S&0 PLOT
>gF-6nPQ _=6vW^s BLUE
b70AJe= PUP 1 200
my]P_mE `{Hb2
}L5 OBI INDEX 0 1
ZDfS0]0F TRACE P 0 0 200
K` 2i aI7Xq3 OBI INDEX 0 0
URk$}_39 RED
VYHOk3 TRACE P 0 0 200
~PCTLP~zI =m7C Jc OBI INDEX 0 -1
G$|G w GREEN
T:Bzz)2/ PUPIL 1 200
kF#{An)P TRACE P 0 0 200
";o~&8?) END
3|jn,?K)N
pTN%;`)
{ + 2OZJVJ 评估光线分布的方法:
` 4OMZMq 1.查看在最终表面上的足迹图
am3V9"\ 在Edit Window中输入:
UC.8DaIPN I{Rz,D uAL PUPIL 1 400
N=.}h\{0 RED
Un]DFu OBI IND 0 0
&&ja|o- PLOT 2 1 0 0
[1e.i TRACE P 0 0 400
=Z^un&' OBI IND 0 1
y)0gJP
L^ BLUE
.x]'eq} TRACE P 0 0 400
.iN-4"_j1 OBI IND 0 -1
87R%ke GREEN
dP?nP(l TRACE P 0 0 400
L(W%~UGN
V END
B$@1QG
hZ%2?v` 6^WiZ^~ 6Q?BwD+> 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
!,I7 ?O ^*HVP* OBI INDEX 0 1
U<K|jsFo GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
bN]\K/ OBI INDEX 0 0
u}^a^B$ GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
u<$S> OBI INDEX 0 -1
q/A/3/ GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
?0? x+ <yis FOR RECTANGLE
6\%r6_.d SIZE 5 5
,xm;JXJ VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
]r"31.w( PLOT
cb\jrbj6 这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
0TpBSyx.
?T tQZ &19lk 3.使用另一个特性
照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面
光束的均匀性。
?ykVf O' 输入格式:
(7M^-_q]D
38Bnf