举例：设置三个
光源，每个光源包含在一个圆锥体中，该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式（PUP 1），设置
光线数为200；使用三种不同颜色追迹三个光源的光线，追迹光线数为200，来绘制一个旋转实体图。
T\T>\&nY+| RLE
Ymg,NkiP0 ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
v ,c:cKj WAVL .6562700 .5875600 .4861300
#w)D ml APS 1
: DBJ2n GLOBAL
>vQKCc|93 NOSEQUENTIAL
yrrP#F UNITS MM
I;?np OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
JB!KOzw 0 AIR
"eKM<S 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
4p`z%U~=u 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
IeE6?!,) 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
*3!ixDX[r 1 CC -1.04500000
"& q])3h = 1 AIR
uy= E92n3 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
6C*4' P9> 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
xO'xZ%cUI 2 AIR
`[.4SIah END
Csx??T_>r ,6^V)F RSOL 10 20 2 0 123
s!K9-qZl< PLOT
~^"s.Lsb ? `# BLUE
1?ST*b PUP 1 200
BQ77 n2(@ je~gk6}Y OBI INDEX 0 1
7.1FRxS TRACE P 0 0 200
u=!n9W~" Vb8{OD3PK OBI INDEX 0 0
iJ ~e8l0CA RED
(C8r^m|A TRACE P 0 0 200
YH$whJ`W0 @RVj~J.A OBI INDEX 0 -1
>U'gQS?\] GREEN
jD'$nKpg PUPIL 1 200
P}bw E j TRACE P 0 0 200
Gw}b8N6E END
zRF +D+ 
*Mr'/qp , }VXZM7@u 评估光线分布的方法：
3!KEk?I] 1.查看在最终表面上的足迹图
1jQlwT(: 在Edit Window中输入：
yM* < BV \dc*! Es PUPIL 1 400
^Dw18gqr=@ RED
$ &fm^1 OBI IND 0 0
"+KAYsVtU PLOT 2 1 0 0
fIg~[VN" TRACE P 0 0 400
Z%O>|ozpq OBI IND 0 1
!mRDzr7 BLUE
)1S"D~j- TRACE P 0 0 400
q| 7$@H^* OBI IND 0 -1
&IgH]?t GREEN
Nc[V kJ] TRACE P 0 0 400
SI@Yct]<g END
n!t][d/g+ 
;tu2}1#r w?zY9Fs=s .LHzaeJCX 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型，再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
/ :@X< |9 cSG),z OBI INDEX 0 1
Gf1O7L1rX GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
66s h r OBI INDEX 0 0
=5Auk 5& GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
nvnJVkL9s OBI INDEX 0 -1
\Z ms GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
I &I
q iKN800^u FOR RECTANGLE
sz+Uq]Mn SIZE 5 5
J?N9*ap) VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
)!(etB=`y PLOT
N: Z f4 这里，为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
8cyC\Rs 
-6u#:pVpU z("Fy 3.使用另一个特性
照明模式（IPAT），它会绘制最终表面的照明图案，以便检查最终表面
光束的均匀性。
[v$NxmRu 输入格式：
xg2
& 
y()Si\9v
