举例:设置三个光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双曲面。声明该系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。 ,:!X]F#d$
RLE neGCMKtzlJ
ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE v)(tB7&`=
WAVL .6562700 .5875600 .4861300 XgUvgJ
APS 1 hSmu"a,S
GLOBAL i%7b)t[y
NOSEQUENTIAL Y-%S,91O
UNITS MM 8=^o2&
OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3 &xF 2!t`
0 AIR P=K+!3ZXo
1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000 sF?N vp
1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000 eATX8`W
1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR fu/v1Nhm
1 CC -1.04500000 gk+$CyjJ
1 AIR CB5 ~!nKv&
2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000 4
|$|]E
2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR %2=nS<kC
2 AIR N
3)OH6w"
END #NM.g
RltG/ZI
RSOL 10 20 2 0 123 ]9?_m@Ihx
PLOT <tZPS`c'_
kI974:e42
BLUE 6g@@V=mf
PUP 1 200 >= Hcw
%gB 0\C
OBI INDEX 0 1 /i+8b(x
TRACE P 0 0 200 v>TI.;{y
3Q^@!hu
OBI INDEX 0 0 h 5Y3
v
RED 24 S,w>j
TRACE P 0 0 200 b'Gn)1NE
U$KdY _Z97
OBI INDEX 0 -1 d;KrV=%30s
GREEN rm*Jo|eH`
PUPIL 1 200 ap k06"/
TRACE P 0 0 200 (S+tQ2bt
END $smzP.V
S2)rkX$
\M/XM6:UG4
评估光线分布的方法: ]@bo; .
1.查看在最终表面上的足迹图 zzfwI@4
在Edit Window中输入: *B(na+
%p?u
^ rq
PUPIL 1 400 7SE=otZ>
RED B[F,D
OBI IND 0 0 e!}R1
PLOT 2 1 0 0 &*Eyw
s
TRACE P 0 0 400 ,L&Ka|N0
OBI IND 0 1 %k#Q)zWJ
BLUE sbOa]
5]
TRACE P 0 0 400 5EDM?G
OBI IND 0 -1
v4sc
GREEN M?5[#0"&V
TRACE P 0 0 400 Q nikgV
END j3F[C:-zY
JMN1+:7i
8}m]XO
F(/^??<5
2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。 @=)_PG
D.|h0gU
OBI INDEX 0 1 &;7\/m*W1
GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS ( B$;'U<
OBI INDEX 0 0 6sl*Ko[
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS <2w@5qL
OBI INDEX 0 -1 ]J)WcM:
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS pdsjX)O+f
=!r9;L,?
FOR RECTANGLE @#ih;F
SIZE 5 5 LjjE(Yrv{
VARY Y POSITION FROM -50 TO 50 !G3O!]
PLOT |SXMd'<3`Z
这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形探测器从下到上对其进行检查。 FLY#
' -[
q%#dx4z&
3.使用另一个特性 照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面光束的均匀性。 N. 3
x[%:
输入格式: n@w$5y1@
-8Z%5W`