举例:设置三个
光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置
光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。
(J][(=s;a RLE
93[c^sc9*a ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
"MKgU[t WAVL .6562700 .5875600 .4861300
q/?#+d APS 1
;4Y@xS2M GLOBAL
NHUx-IqOX NOSEQUENTIAL
GNqw]@'Yf UNITS MM
s6rdQI] OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
7<oLe3fbM 0 AIR
^~0\d;l_ 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
.-' 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
t%n1TY, 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
pRD8/7@(B{ 1 CC -1.04500000
\('8_tqI" 1 AIR
?7'uo$ 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
#]oVVf_ 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
A/,7%bB1 2 AIR
Ti!j END
vdYd~>w s 9PD[u/y RSOL 10 20 2 0 123
/,f*IdB PLOT
+eZR._&0 lq}= &)%C BLUE
+g<2t, PUP 1 200
z"u4t.KpL &eG,CIT OBI INDEX 0 1
mrX3/e TRACE P 0 0 200
GNA:|x d Ayof= OBI INDEX 0 0
YW}q@AY7 RED
;+g
p#&i` TRACE P 0 0 200
5 .
5 ><viJ$i OBI INDEX 0 -1
;WC]Lf<Z^ GREEN
81fpeoNO PUPIL 1 200
j#"?Oe{_1 TRACE P 0 0 200
E5UI END
&7!&]kA+
RRqHo~*0 3gaijVN 评估光线分布的方法:
^<'5 V) 1.查看在最终表面上的足迹图
r]sv50Fy 在Edit Window中输入:
#Sr_PEo
_ rJ4O_a5/ PUPIL 1 400
'^'vafs-/@ RED
)C5<puh OBI IND 0 0
$*V:;-H PLOT 2 1 0 0
a?.hvI TRACE P 0 0 400
ykH?;Xu OBI IND 0 1
k]!Fh^O~, BLUE
~C6d5\ TRACE P 0 0 400
Yj|Oy OBI IND 0 -1
DnS#
cs~ GREEN
nPj%EKdY4 TRACE P 0 0 400
<f &z~y= END
QU_O9 BN
!jL|HwlA ,di'279| $-[V)]h 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
NOLw119K &[f.;1+C OBI INDEX 0 1
?D]4*qsIlu GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
"ys#%,Z OBI INDEX 0 0
o_p#sdt" GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
jhjb)r. OBI INDEX 0 -1
4d#w} GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
Z|K+{{C l69&-Nyg FOR RECTANGLE
`=g9Rg/< SIZE 5 5
T3,"g= VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
lG/M%i PLOT
2F[smUL 这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
uo;aC$US
;,![Lar5L 4HQP, 3.使用另一个特性
照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面
光束的均匀性。
RO+B/)~0< 输入格式:
55MrsiW
u[q1]]