举例:设置三个
光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置
光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。
{16<^ RLE
+]xFoH
ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
b]Kk2S/ WAVL .6562700 .5875600 .4861300
F'8T;J7 APS 1
e9pOisZ;8 GLOBAL
rt7<Q47QE NOSEQUENTIAL
5E\#%K[ UNITS MM
od<b!4k~s OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
: 9!%ZD 0 AIR
@ T;L$x 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
BbOu/i| 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
0*%&> 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
z$lF)r:Bc 1 CC -1.04500000
>QE{O.Z 1 AIR
ihe(F7\U 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
.
v)mZp 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
f|EUqu%E 2 AIR
]
f>]n END
MhEw
_{? mdih-u(T| RSOL 10 20 2 0 123
,<,:8B PLOT
{QaNAR=) -cF'2Sfr BLUE
l3o#@sz: PUP 1 200
4DWwbO PaB!,<A OBI INDEX 0 1
yoe}$f4 TRACE P 0 0 200
Yj(4&&Q 1^J`1 OBI INDEX 0 0
F N[R(SLbL RED
-<_$m6x"A TRACE P 0 0 200
's
x\P[a we7c`1E OBI INDEX 0 -1
KU9Z"9# GREEN
(P|~>k PUPIL 1 200
K ?$#ntp TRACE P 0 0 200
,1{Ep` END
h&@R| N
ybdd;t}&1 >-<8N-@"n 评估光线分布的方法:
gIEl. 1.查看在最终表面上的足迹图
~}ml*<z@ 在Edit Window中输入:
XEM'}+d ,3DXFV'uxb PUPIL 1 400
9Mm!%Hu RED
&F$:Q:* * OBI IND 0 0
X~.f7Ao[ PLOT 2 1 0 0
:VmHfOO TRACE P 0 0 400
X2 6
OBI IND 0 1
Mn: /1eY BLUE
U!w1AY| TRACE P 0 0 400
"O>n@Q| OBI IND 0 -1
vC;]jJb: GREEN
8euZTfK9e TRACE P 0 0 400
C_:k8? END
$3+PbYY
$gle8Z- 4b]a&_-} { >{B`e`$ 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
"$HbK
@]!h BZK`O/ OBI INDEX 0 1
Ft JjY@# GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
L *[K>iW OBI INDEX 0 0
#b0{#^S: GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
ewsKH\#
OBI INDEX 0 -1
nx":"LFI GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
vm23U^VJ <msxHw FOR RECTANGLE
XkKC! SIZE 5 5
g\oSG) VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
+0z 7KO%^^ PLOT
72T I 这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
]Al;l*yw
^
?hA@{T/1 CENVp"C/` 3.使用另一个特性
照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面
光束的均匀性。
v]:=K-1n 输入格式:
*y[PNqyd
>:sUL<p