|
摘要 (;V6L{Rf> RoT}L#!!
Js ~_8 =rGjOb3+ 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 gm\P`~+o z\{ y[3- 建模任务 V!(Ty%7 Z-.`JkKd8
GeD^-.^ 8:TN,p 由于组件倾斜引起的干涉条纹 V`m'r+ Y GBVw6+(c
<x *.M"6? UW_fn 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 ZG"_M@S. 3[amCKel
n3-5`Jti 2c
LIz@ 文件信息 B;@7 k|'{$/n
M3!A?!BU =`Pgo5A 1
\:5ow&a TFjb1a,) buu~#m1z 购买与相关软件试用请联系QQ:1824712522
|