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摘要 >uUbWKn3 &XZ>}^lD^
/Ia#udkNMp 1o$<pZZ 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 I)sCWC:Mq~ eH6#'M4+\ 建模任务 +-{HT+W `@:^(sMo
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@ 8SYV}0H a(<nk5 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 Karyipn} IYrO;GQ
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