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摘要 vQA: \!
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 ^58'*13ZL 3dXyKi 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 k*M1m'1
%6 Bt%H 建模任务 GMFp,Df
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 TzVNZDQ`Jl D>05F,a 由于组件倾斜引起的干涉条纹 UeE&rA]
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 yt$V<8a k pEES{f 文件信息 |FH/Q-7[
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