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摘要 XnHcU=~q Ysz{~E' N X4!G>v 82WXgB> 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 hyH " Eb7qM.Q] & 建模任务 #joGIw T@;z o8: @kK${ Dt0S"`^=k 由于组件倾斜引起的干涉条纹 }nvHE o 5P9hm[ (30{:o&^ K, ae-#wgb 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 Iw(deD HeZ! "^w jhr{JApbJv t,4q]Jt 文件信息 T^x7w+ _Pjo9z
9 f^@`[MJj1C rR@ t5 ]&`_5pS In#V1[io + |Z1U$0g 购买与相关软件试用请联系QQ:1824712522
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