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摘要 L
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'+1<7jl&I .8hB <G 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 2'_xg~ %m]9"; 建模任务
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6r/NdI sJ)XoK syW 由于组件倾斜引起的干涉条纹 J
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4jefU}e9# j(mbUB* 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 @0A7d
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4VINu9\V v'0A$`w` 文件信息 W(ITs}O ,-^Grmr4M
x'_I{$C& H%NIdgo} 7?<.L :&ir5xHS B9pro%R1Bo 购买与相关软件试用请联系QQ:1824712522
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