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摘要 0nb%+],pX
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 WQ9e~D" `dZ|Ko%k 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 uV5uZ
Vf cIR( 建模任务 'S_i6K
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|n 26[=\B 由于组件倾斜引起的干涉条纹 ]*=4>(F[
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