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摘要 sv g`s,g
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 G>>`j2 :y N 9.$--X}D 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 74h[ YyVi
C,; hNg[ 建模任务 g?}$"=B
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 kwcH$ w<I z`?{5v -Qs 由于组件倾斜引起的干涉条纹 HkP')= sa
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3k#?E]' 6 a E:v R2 购买与相关软件试用请联系QQ：1824712522
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