摘要
dkjL;1 \Z8!iruN 高
数值孔径的
物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在
仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。
VirtualLab可以支持此类
透镜的
光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。
相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。
dIm m}, v|6fqG+Q\ _EP}el zw?6E8$h 建模任务
i&Ea@b I,D=ixK !SnpesTn 概述
Ax
^9J)C ~&kV •案例
系统已预先设置了高数值孔径物镜。
R-ci?7d t3 •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。
o&=m]hKpQl *h UrE HM/ qB^ T~la,>p|} 光线追迹仿真
pS0T>r i>;G4 •首先选择“光线追迹系统分析器”作为
模拟引擎。
sMZ \6 •单击go!
c c:xT0Y •获得了3D光线追迹结果。
j2+&B9( uJQeZEe q6q=,<T%S J#\/znT 光线追迹仿真
}U9e#>ex ;RXv%ML •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。
\a<E3
< •单击go!
pxgv(:Tw •结果得到点图(二维光线追迹结果)。
N'4*L=Ut q+<TD#xoL
&f[[@EF7 ^-DK<jZ^ 场追迹仿真
6(.&y; bkb}M)C •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。
rS=6d6@ •单击go!
dpy,;nqzeN s:%>H|- _ v-sb(*
J *{uu_O 场追迹仿真(相机探测器)
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GPOmf9` s;bqUY?LD •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。
d%WFgf} •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。
mWZVO,t$ K~uoZ~_gA bp }~{]:b fSj^/> 场追迹仿真(电磁场探测器)
3 Tt8#B •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
9vXrC_W9 d6uL;eR -50|r;a EM"YjC)F 场追迹仿真(电磁场探测器)
fNQecDuS 'i}Q R~pe •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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Imaging of Sub Wavelength Gratings by Using Vector Beam Illumination C/)Xd^# U`xjau+ (来源:讯技光电)