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    [分享]VirtualLab:分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    离线xunjigd
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2019-11-25
    摘要 +qmV|$rmM  
    k E-+#p  
    数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 incUa;  
    {(^%2dk83C  
    ?yAjxoE~?  
    <*DP G\6Ma  
    建模任务 6g'+1%O  
    G":u::hR  
    O+o_{t\R  
    概述 C8 "FTH'  
    VY "i>Ae  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 pAc "Wo(Q  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 RU,!F99'1  
    tCr? !Y~  
    ;r3|EA35  
    2-gI@8NPI  
    光线追迹仿真 IoWK 8x  
    PA>su)N$  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 J.n-4J#@  
    •单击go! r r(UE  
    •获得了3D光线追迹结果。 ]o*-|[^?  
    w&LL-~KI+  
    M}`G}*  
    _u8d`7$*%  
    光线追迹仿真 w-?Cg8bq<  
    <k-hRs2d  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 ri1:q.:I]  
    •单击go! 6#1:2ZHKG  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 gR8vF  
    fnudu0k  
    nWv6I&  
    zNJ-JIo%  
    场追迹仿真 =idZvD  
    2f.4P]s`T  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 F[==vte|  
    •单击go! 'A9U[|  
    is}Y+^j.  
    v6+<F;G3y>  
    f`8mES'gc8  
    场追迹仿真(相机探测器) V tJyE}  
    v(z2,?/4  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 1U~yu&  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 "3:TrM$|A  
    S#^-VZ~U4x  
    SDICN0X*  
    P};GcV-  
    场追迹仿真(电磁场探测器) %%f(R7n  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 ,5thD  
    M]M(E) *5  
    ~3s\Q%   
    Com`4>0>I  
    场追迹仿真(电磁场探测器) 2Jc9}|,  
    {]dH+J7  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 9>HCt*|_8  
    $|r p5D6  
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    9EKc{1 z  
    文件信息 APT /z0X>  
    ;B@-RfP  
    #~`]eM5`J  
    h5.AM?*TNd  
    更多阅读 MyJG2C#R  
    UIi`bbJ  
    -Optical System for Inspection of Micro Structured Wafer rLOdQN  
    -Imaging of Sub Wavelength Gratings by Using Vector Beam Illumination 7H5t!yk|9  
    ?br4 wl  
    (来源:讯技光电
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    只看该作者 1楼 发表于: 2019-11-26
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