摘要
7+"X^$ Dp8(L ]6 高
数值孔径的
物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在
仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。
VirtualLab可以支持此类
透镜的
光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。
相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。
<,{v>vlw /Q-!><riD <9"i_d% 2k_Bo~. 建模任务
c1i7Rc{q f[w$3 15COwc*k 概述
l-&f81W ^:BRbp37i •案例
系统已预先设置了高数值孔径物镜。
%}/)_RzQ •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。
L@wnzt JsV#: ;1KhUf;&F (w*$~p 光线追迹仿真
="`y<J P ]zO]*d=m •首先选择“光线追迹系统分析器”作为
模拟引擎。
ep5aBrN]" •单击go!
5Ai
Yx} •获得了3D光线追迹结果。
_R]h]<TQ xK/`XY vI-KH:r"{ W6pS.} 光线追迹仿真
aD4ln]sFxG SNQ+ XtoO •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。
?@~FT1"6G •单击go!
q9OIw1xQr* •结果得到点图(二维光线追迹结果)。
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G 6][@q X_h+\
7N> L@/+u+j0 场追迹仿真
/<mc~S7 &c]x;#-y •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。
nJ,56}
•单击go!
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n $z<CkMP!U7 P5N"7/PfW 4ngiad6bR 场追迹仿真(相机探测器)
L8V'mUyD t*COzE •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。
RKe19l_V •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。
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WGVc 场追迹仿真(电磁场探测器)
4o%hH •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
4EOu)# PgVM>_nHk !l'Zar C. Sb4i* 场追迹仿真(电磁场探测器)
8}U/fQ~ Cnn,$R=/s •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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Imaging of Sub Wavelength Gratings by Using Vector Beam Illumination +jHL==W& u!t'J+: (来源:讯技光电)