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    [分享]VirtualLab:分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2019-11-25
    摘要  0$l D  
    )f0t"lk  
    数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 Mzxy'U V  
    5fBW#6N/  
    -pR1xsG  
    x3my8'h@  
    建模任务 =lG5Kc{B  
    U vOB`Vj  
    .HG0%Vp  
    概述 l$Y7CIH  
    `7|v  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 _, ;c2  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 vf(\?Js ,  
    L +s,,k  
    X Jy]d/  
    LE!3'^Zq  
    光线追迹仿真 8<uKzb(O:  
    G?d28p',.  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 B;':Eaa@  
    •单击go! R28h%KN  
    •获得了3D光线追迹结果。 Rj% q)aw'  
    Qp${/  
    8<6;X7<-  
    mY3x (#I  
    光线追迹仿真 C;;dCsiV5  
    avk0pY(n  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。  $3%EKi  
    •单击go! 6kKIDEX  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 BaTE59W  
    *B`wQhB%  
    ?+b )=Z  
    >+fet ,  
    场追迹仿真 :\48=>  
    5o2;26c  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 KaHjL&!  
    •单击go! WrL&$dEJ?M  
    #Gs] u  
    BxO8oKe  
    }S$]MY,*  
    场追迹仿真(相机探测器) icHc!m?  
    SUfl`\O  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 q?{wRBVVB  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 Qg9 N?e{z  
    s&!g )  
    pl V]hu27K  
    +=^10D  
    场追迹仿真(电磁场探测器) X5527`?e  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 QkwBw^'_5  
    PSNrY e  
    S!k cC-7  
    NS;,(v{*N  
    场追迹仿真(电磁场探测器) 4r5?C;g  
    M"#xjP.  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 S=ebht=  
    *K'(t  
    Y|g8xkI}XB  
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    更多阅读 (5re'Pl  
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    -Optical System for Inspection of Micro Structured Wafer {?17Zth  
    -Imaging of Sub Wavelength Gratings by Using Vector Beam Illumination B{lBUv(B  
    `\P#TBM  
    (来源:讯技光电
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    只看该作者 1楼 发表于: 2019-11-26
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