摘要
xn anca =l>=]O~h 高
数值孔径的
物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在
仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。
VirtualLab可以支持此类
透镜的
光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。
相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。
3[<D"0#}, ,,;vG6^a 2:&L|; mpD[k9`x# 建模任务
cC9haxW Gm=e;X;r T}Wse{ 概述
Ehq
[4} |d=GAW
v •案例
系统已预先设置了高数值孔径物镜。
,%U\@*6= •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。
_7
^:1i~:. fDAT#nlyp G4uA&"OE IGo+O*dMw 光线追迹仿真
wI?AZd;`' B^C5? •首先选择“光线追迹系统分析器”作为
模拟引擎。
S7b7zJ8A •单击go!
sU/vXweky" •获得了3D光线追迹结果。
goc; .~? b1yS1i
D l0eh}d [Xww`OUsh 光线追迹仿真
zEDN^K ' t:n$9WB) •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。
f{h2>nEj\ •单击go!
M6y|;lh''c •结果得到点图(二维光线追迹结果)。
@>+`1C d3NER} f4V %-
Ga^[ 37*2/N2 场追迹仿真
=]o2{d tv5N
wM •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。
#JR$RH •单击go!
%DKC/% jWso'K \_7'f n(_wt##wE~ 场追迹仿真(相机探测器)
le6eorK8 M-(,*6Q •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。
q NUd "%S •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。
(^m~UN2@~m 3gv?rJV 6n
H'NNS:J 3&R1C>JS ] 场追迹仿真(电磁场探测器)
Nx!7sE*b$1 •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
~;uU{TT z6fY_LL _p<wATv?7t zUWeOR'X 场追迹仿真(电磁场探测器)
)"%J~:`h} $|VdGRZ1 •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
gp+@+i>b+[ 4wx{i6 uJa.]J~L= U"Y/PBs, 文件信息
=FQH5iSd xu@xP5GB^ QiaBZAol rj/nn)vv; 更多阅读
A2.4#Qb' M$} AJS%8 -
Optical System for Inspection of Micro Structured Wafer TXqtE("BDl -
Imaging of Sub Wavelength Gratings by Using Vector Beam Illumination Ob]J!. 6 kD. (来源:讯技光电)