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    [分享]VirtualLab:分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2019-11-25
    摘要 86i =N _  
    A 6d+RAx  
    数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 #S"=)BZ8L  
    c~V\,lcI  
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    建模任务 C-M op,w  
    ?^hC|IR$  
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    概述 xn-n{U"  
    B\Uj  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 ~Oq(JM $M  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 ]k hY8it  
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    uJ[dO}  
    #q\C"N5ip  
    光线追迹仿真 -6? 5|\  
    oyUf/ Sl  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 M*x_1h5n  
    •单击go! nPKj%g3h  
    •获得了3D光线追迹结果。 76 y}1aa  
    -kJ`gdS  
    wDsEx!\#  
    `0L!F"W  
    光线追迹仿真 ,QK>e;:Be  
    n7 S[ F3  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 d+_qBp  
    •单击go! %l>^q`p  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 qwN-VCj  
    xHf l>C'  
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    !Ed';yfz\(  
    场追迹仿真 LB>!%Vx  
    s>kzt1,x  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 q|S }5  
    •单击go! NJ|8##Z>  
    km *$;Nli  
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    6JJ%`Uojh  
    场追迹仿真(相机探测器) }%%| '8  
    4Y Kb~1qkk  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 /@0wbA  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。  3o z]  
    _Ab|<!a/R  
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    场追迹仿真(电磁场探测器) ,9=a(j"  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 |S/nq_g]  
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    场追迹仿真(电磁场探测器) daaurT  
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    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 y6$5meh.T  
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    文件信息 @dGj4h.  
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    更多阅读 H$Q_K<V  
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    -Optical System for Inspection of Micro Structured Wafer Tf` ~=fg%  
    -Imaging of Sub Wavelength Gratings by Using Vector Beam Illumination 7GpSWM6  
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    (来源:讯技光电
     
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    只看该作者 1楼 发表于: 2019-11-26
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