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    [分享]VirtualLab:分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    离线xunjigd
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2019-11-25
    摘要 3z u6#3^  
    r/HTkXs I  
    数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 ?c+$9  
    jM @N<k  
    JgA{1@h  
    w%8y5v5  
    建模任务 @0]WMI9B"B  
    d4*SfzB  
    ([}08OW@  
    概述 nO!&;E&  
    "j8)l4}  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 9x|`XAB  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 UoKVl-  
    [0aC]XQZ  
    8>Cf}TvErx  
    +:4>4=  
    光线追迹仿真 &$ "J\v m  
    _U-`/r o  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 vSC1n8 /  
    •单击go! y_w  <3  
    •获得了3D光线追迹结果。 GqR|hg  
    B+mxM/U[c  
    8Znr1=1   
    elQjPvb  
    光线追迹仿真 "lLh#W1d  
    Bv!{V)$  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 oBo*<6  
    •单击go! y_}vVHT,  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 [P =P8-5  
    A[ncwJ  
    r)>3YM5  
    "YY<T&n  
    场追迹仿真  Pd\4hy  
    @j_o CDS  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 XsQ81j.  
    •单击go! ]%HxzJ  
    I;%1xdPt  
    e15yDwvB  
    -0#"<!N  
    场追迹仿真(相机探测器) PA ?2K4  
    6?~9{0  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 0NGth(2  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 U4fv$gV  
    dk nM|  
    6j XDLI  
    n:OXv}pv  
    场追迹仿真(电磁场探测器) |1(x2x%}D^  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 'ia-h7QWS  
    GEF's#YWK  
    t;6<k7h  
    b4-gNF]Yt  
    场追迹仿真(电磁场探测器) #e-K It  
    O- QT+]  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 L6PgWc;m  
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    B qX"La,  
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    文件信息 oo\^}jb  
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    PL{lYexJ  
    h~\k;ca  
    更多阅读 N=Ct3  
    {l,&F+W$C  
    -Optical System for Inspection of Micro Structured Wafer P"^Yx8L#  
    -Imaging of Sub Wavelength Gratings by Using Vector Beam Illumination o #\L4P(J  
    R9R~$@~G  
    (来源:讯技光电
     
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    只看该作者 1楼 发表于: 2019-11-26
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