摘要
`laaT5G\y pV#~$e 高
数值孔径的
物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在
仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。
VirtualLab可以支持此类
透镜的
光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。
相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。
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pV:c`1\` {:&t;5qz^ 建模任务
f>)k<-<yj 6#xP[hlR[
%nJ^0X_] 概述
`}1IQ.3 #zC_;u$ •案例
系统已预先设置了高数值孔径物镜。
$_-f}E •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。
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iH& Izv <|~8Ezd 光线追迹仿真
4h>Dpml bk E4{P" •首先选择“光线追迹系统分析器”作为
模拟引擎。
g{@q •单击go!
hKw4 [wB] •获得了3D光线追迹结果。
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.__X-+^ Z(p kj 光线追迹仿真
^[}^+ $m`?x5rL8 •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。
o5gt`H" •单击go!
Z 6^AO=3 •结果得到点图(二维光线追迹结果)。
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`}gjfu -'\ T:aYv;#0 场追迹仿真
<6`_Xr7) ^PIUA' •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。
ahNpHTPa •单击go!
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w,dDA2, Jg=[!j0( 场追迹仿真(相机探测器)
v*'dA^Q ^ZX 71- •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。
59:Xu%Hp •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。
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LutP&Ebt8 N;ed_! 场追迹仿真(电磁场探测器)
!Mp.jE •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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Imaging of Sub Wavelength Gratings by Using Vector Beam Illumination U:xY~> Q$!dPwDg (来源:讯技光电)