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    [分享]VirtualLab:分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2019-11-25
    摘要 *b7 ^s,?  
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    数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 uJAB)ti2I  
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    w|U@jr*H]  
    ":#A>L? l  
    建模任务 f@V{}&ZWp  
    |GLn 9vw7S  
    & /FA>  
    概述 Ml_:Q]kl^  
    Yhv`IV-s  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 0aq-drl5\  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 mm9S#Ya  
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    4dD@lG~  
    q~A|R   
    光线追迹仿真 0z2R`=)  
    u+i/CE#w  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 w `9GygS  
    •单击go! *~aI>7H  
    •获得了3D光线追迹结果。 zYl+BM-j,6  
    ,;- cz-,  
    oeqJ?1=!  
    C @[9 LB  
    光线追迹仿真 <k8rSx n{  
    @X / =.  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 fJN9+l  
    •单击go! 7Bb@9M?i  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。  x+j/v5  
    mjJlXA  
    T)?@E/VaS  
    oGjYCVc  
    场追迹仿真 | r*1.V(  
    hFF&(t2{^  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 4xC6#:8  
    •单击go! F u=VY{U4  
    7JK 'vT  
    ^K@ GK  
    mgl' d  
    场追迹仿真(相机探测器) FH@e:-*=  
    kys-~&@+  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 oFA$X Y  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 :<|fZa4!"  
    J'oz P^N  
    y"n~ET}e7  
    #B{F{,vlu,  
    场追迹仿真(电磁场探测器) p{_ O*bo  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 H  "/e%  
    +\@\,{Ujy  
    pc(9(. |  
    A}+r;Y8[h  
    场追迹仿真(电磁场探测器) ]5MR p7  
    )FiU1E  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 Z-=7QK.\{  
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    R}YryzV5  
    文件信息 zL=I-fVq  
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    1;sAt;/W8  
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    更多阅读 IBHG1<3  
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    -Optical System for Inspection of Micro Structured Wafer 'Z%aBCM  
    -Imaging of Sub Wavelength Gratings by Using Vector Beam Illumination r/w@Dh]{_  
    X%qR6mMfT7  
    (来源:讯技光电
     
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    只看该作者 1楼 发表于: 2019-11-26
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