摘要
tQCj)Ms 'X v5gQ9 高
数值孔径的
物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在
仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。
VirtualLab可以支持此类
透镜的
光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。
相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。
`bi
k/o=% W-!dMa rOhA*_EG vy:6_ 建模任务
!?Tzk&' KD9Ca $- `O jvt-5}E 概述
I$F\(]"@ 9cbB[c_. •案例
系统已预先设置了高数值孔径物镜。
}K+\8em •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。
.>a$g7Rj np&HEh 6 rcpvH}N: 7~ILRj5Nq 光线追迹仿真
gFgcxe6 <6gU2@1 •首先选择“光线追迹系统分析器”作为
模拟引擎。
hkLw&;WJr •单击go!
mURX I'JkX •获得了3D光线追迹结果。
Dj/Q1KY$m )/i4YLO d!FONi rHR5,N: 光线追迹仿真
!fif8kf o(BYT9|.kw •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。
M~#5/eRX •单击go!
#NSaY+V •结果得到点图(二维光线追迹结果)。
8HB?=a2Q<' "F04c|oR<X 9n-RXVL+ Q9SPb6O2 场追迹仿真
a'c9XG} s;~J2h[ •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。
xXl$Mp7 •单击go!
&Qz"nCvJ F&-5&'6G+ G`&'Bt{Z* I]s:Ev[~ 场追迹仿真(相机探测器)
`7+tPbjs 6S` ,j •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。
g=)U_DPRi •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。
)GQD*b e=|F(iW )yfOrsM `=WzG" 场追迹仿真(电磁场探测器)
mvxc[ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
v#zfs' }d$vcEI$3 Zm?G'06 C _k_D 场追迹仿真(电磁场探测器)
\v B9fA:* !!\4'Q[ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
m|g$'vjk jnx+wcd GN8`xR{J* D<$j`r 文件信息
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Imaging of Sub Wavelength Gratings by Using Vector Beam Illumination bDcWb2lqs S@l
a.0HDA (来源:讯技光电)