切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 2459阅读
    • 1回复

    [分享]VirtualLab:分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线xunjigd
     
    发帖
    952
    光币
    9
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2019-11-25
    摘要 tQCj)Ms'X  
    v5gQ9  
    数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 `bi k/o=%  
    W -!dMa  
    rOhA*_EG  
    vy:6_  
    建模任务 !?Tzk&'  
    KD9Ca $-  
    `O jvt-5}E  
    概述 I$F\(]"@  
    9cbB[c_.  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 }K+\8em  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 .>a$g7Rj  
    np&HEh 6  
    rcpvH}N:  
    7~ILRj5Nq  
    光线追迹仿真 gFgcxe6  
    <6gU2@1  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 hkL w&;WJr  
    •单击go! mURX I'JkX  
    •获得了3D光线追迹结果。 Dj/Q1KY$m  
    )/i4YLO  
    d!FONi  
    rHR5,N:  
    光线追迹仿真 !fif8kf  
    o(BYT9|.kw  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 M~#5/eRX  
    •单击go! #NSaY+V  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 8HB?=a2Q<'  
    "F04c|oR<X  
    9n-RXVL+  
    Q9SPb6O2  
    场追迹仿真 a'c9XG}  
    s; ~J2h[  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 x Xl$Mp7  
    •单击go! &Qz"nCvJ  
    F&-5&'6G+  
    G`&'Bt{Z*  
    I]s:Ev[~  
    场追迹仿真(相机探测器) `7+tPbjs  
    6S` ,j  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 g=)U_DPRi  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 )GQ D*b  
    e=|F(iW  
    )yfOrsM  
    `=WzG"  
    场追迹仿真(电磁场探测器) mvxc[  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 v #zfs'  
    }d$vcEI$3  
    Zm?G'06  
    C _ k_D  
    场追迹仿真(电磁场探测器) \v B9fA:*  
    !!\4'Q[  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 m|g$'vjk  
    jnx+wcd  
    GN8`xR{J*  
    D<$j`r  
    文件信息 E9 :|8#b  
    y$"~^8"z  
    !^Qb[ev  
    \Mh4X`<e  
    更多阅读 7zi^{]  
    Ji)a%j1V9  
    -Optical System for Inspection of Micro Structured Wafer %t(, *;  
    -Imaging of Sub Wavelength Gratings by Using Vector Beam Illumination bDcWb2 lqs  
    S@l a.0HDA  
    (来源:讯技光电
    本主题包含附件,请 登录 后查看, 或者 注册 成为会员
     
    分享到
    离线l3x13999
    发帖
    71
    光币
    4
    光券
    0
    只看该作者 1楼 发表于: 2019-11-26
    收藏一下