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    [分享]VirtualLab:分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2019-11-25
    摘要 32[}@f2q  
    #{8I FA  
    数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 by@KdQow  
    'QCIKCn<  
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    W[8Kia-OD  
    建模任务 8)X9abC  
    {cm?Q\DT  
    j,M$l mR')  
    概述 +.V+@!  
    5naFnm7%  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 fjRVYOG#  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 2I-d.{  
    qT$k%(  
    d05xn7%!{  
    NKO"'   
    光线追迹仿真 P}@AH02  
    X.fVbePxUU  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 V.GM$  
    •单击go! 0\dmp'j]  
    •获得了3D光线追迹结果。 PM\Ju]  
    }>xwiSF?  
    KZppQ0  
    DKIH{:L7  
    光线追迹仿真 Cr5ND\  
    kTb$lLG\xk  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 Je6[q  
    •单击go! b#6S8C+@  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 ipv5JD[  
     Z1 D  
    y]j.PT`Cw  
    {"ST hTZ  
    场追迹仿真 I=0c\ U}  
    8Qg10Yjy  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 54_}9_g  
    •单击go! *7!MG  
    g*V.u]U!i  
    rnIj pc F  
     T~[:oil  
    场追迹仿真(相机探测器) OIblBQ!  
    +4?Lwp'q  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 6 4_}"fU  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 UQl?_ [G  
    .vu7$~7  
    J>Ar(p  
    AFAg3/  
    场追迹仿真(电磁场探测器) $J7V]c*-b  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 ,!:c6F+  
    C]L)nCOBX  
    r[L.TX3Ah=  
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    场追迹仿真(电磁场探测器) ReaZg ?:h  
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    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 4S_f2P2J  
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    更多阅读 ^z *0  
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    -Optical System for Inspection of Micro Structured Wafer _^<vp  
    -Imaging of Sub Wavelength Gratings by Using Vector Beam Illumination &f.5:u%{b  
    9)!Ks g(h  
    (来源:讯技光电
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    只看该作者 1楼 发表于: 2019-11-26
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