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    [分享]VirtualLab:分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2019-11-25
    摘要 z,}1K!  
    =A9>Ej/  
    数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 b|n%l5 1  
    m,aJ(8G  
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    建模任务 $1.iMHb  
    FyJI@PZdI-  
    uDK`;o'F  
    概述 -r]s #$  
    n_AW0i .  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 2GXAq~h@  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 Wt()DG|[  
    AvRZf-Geg  
    &5Ea6j  
    AUcq\Ys  
    光线追迹仿真 7xB#)o53  
    JM -Tp!C>  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 7!hL(k[  
    •单击go! c)#b*k,lw<  
    •获得了3D光线追迹结果。 M:6H%6eT  
    yfiRMN"2  
    kI]i,v#F  
    0aSN 8  
    光线追迹仿真 f'\I52;FB  
    }fZT$'*;  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 a2v UZhkR  
    •单击go! HB{w:  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 !;pmql  
    ^=bJ _'  
    HGfYL')Z  
    k^z)Vu|f.  
    场追迹仿真 idvEE6I@  
    ].pz  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 n7 4?W  
    •单击go! /],:sS7  
    hz<kR@k}  
    dwv xV$Nt  
    Otj=vGr0  
    场追迹仿真(相机探测器) f?#:@ zcL  
    /$\yAOA'y  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 6S])IA&VJ  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 .Di+G-#aEs  
     {3yzC  
    <d# 9d.<  
    YN n,{Xi  
    场追迹仿真(电磁场探测器) y^Oj4Y:  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 +Nv&Qu%  
    eg~$WB;1  
    8II-'%S6q  
    DG O_fR5L  
    场追迹仿真(电磁场探测器) g}{Rk>k  
    ,(N&%  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 3T# zxu  
    BqvOi~ l  
    Lx8 ^V7 X  
    uKo)iB6D  
    文件信息 r&A#h;EQX2  
    =y,_FFoS  
    Jh{(xGA  
    =\J^_g4-l  
    更多阅读 1{_tV^3@  
    ZL#4X*zT  
    -Optical System for Inspection of Micro Structured Wafer h\Op|#gIT  
    -Imaging of Sub Wavelength Gratings by Using Vector Beam Illumination KNC!T@O|{#  
    ~)tIO<$U  
    (来源:讯技光电
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    只看该作者 1楼 发表于: 2019-11-26
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