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北京芯片失效分析检测 芯片失效分析公司,北京芯片失效分析,芯片失效分析,检测 失效分析(Failure Analysis or FA)所提供的服务项目 提供客户做IC组件失效分析,EFA(电性故障分析) ,PFA(物性故障分析)等所需资源与设备 提供客户一步到位的分析服务 提供权威检测报告 可协助解决的故障分析的种类 FIB,SEM,EDX,X-RAY,EMMI.IV,PROBE,RIE,DECAP等 测试后的失效分析服务 分享到：
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