失效分析、可靠性与材料理化技术

失效分析、可靠性与材料理化技术服务： "8iIOeY-\  
原子发射光谱 ICP-OES Gq]/6igzX  
气相色谱质谱 GC/MS g-4j1yJV<  
X荧光能谱 z)ndj 1,#)  
XRF jR2^n`D  
原子吸收 AAS nt_FqUJ  
紫外分光 UV +yI2G! $T9  
离子色谱 IC >+9:31p  
等离子质谱 ICP-MS pCC3r t(  
显微傅利叶红外 qs>&
Xn  
FTIR 8gxo{<,9  
双晶X衍射分析仪 DCXRD Jbn^G7vH<6  
以及其它各类分析检测仪器... V<ii
 
温度冲击 Thermal Shock _%wB*u,X  
高温高湿 `Jj q5:\&  
TH ~X(2F#{<{  
老化试验 Burn-in 69S*\'L  
紫外辐射 UV Oven Q%:Z&lgy  
太阳氙灯 Solar/Xenon INEE 37%  
盐雾试验 Salt Mist 5VSc5*[  
振动试验 (tCBbPW6T?  
Vibration wlFK#iK  
跌落 Shock FA{'Ki`  
回流敏感度 AAF']z<4_"  
MSL TDX~?>P  
耐磨试验、弯折试验... R0urt  
声学扫描 SAM +`7!4gxwK!  
X-射线透射 X-Ray ct
@3]  
俄歇电子成份分析 AES +E']&v$  
光辐射电子显微镜 aUi^7;R&<  
EMMI ^"iJ  
有限元模拟与分析 FEA ~U4Cf >  
透射电镜 TEM ?_d3
|]N  
聚焦离子束 FIB zeD=-3  
原子力显微镜 AFM Ln8r~[tVE<  
热力学分析 f\?1oMO\  
TMA/DMA Z>[n~{-,p  
集成电路分析仪... Y,
?kS dS  
扫描电镜与能谱仪SEM/EDS =&^tfD  
金相切片制样 Cross section j8+>E?nm  
染色分析 Dye and u%5
,U-  
pry u
FuP%f!yY  
开封制样 Decapsulation akG|ic-~  
激光开封仪 Laser Decap p]qz+Z/  
光学显微镜 Optical WidLUv
 
Microscope MaLH2?je^n  
拉力剪切力 Pull/Shear tester X/Ii}X/p  
可焊性试验机 Solderbility tester CIVV"p`}  
静电/过电分析仪 X o[GD`t  
ESD/EOS ;B!p4hu  
tester I#'yy7J  
绝缘/开路电阻... +R_s(2vz  
认证、检测与工艺分析范围： <Ira~N  
芯片级：Si晶、铝互连、MOS、Passivation、TSV通孔、钨通孔、PAD等 Q$Rp?o&  
器件级：集成电路、分立器件、电容、电阻、电感、三极管、射频器件、电源模块、功率器件等；封装形式、BGA、Flipchip、CSP、PLCC、TSOP、QFP、WSP、铜引线、金引线等； !+DhH2;)F  
部件级：PCB与PCBA，柔性线路板、光学模组、LED模组、LCD模组、太阳能电池组件等； b#*"eZj
 
系统级：信息资讯类产品、笔记本、计算机、开关电源，网卡，摄像头，移动硬盘，数码相机，显示器，扫描仪，投影仪，机顶盒，光电收发器，MP3/MP4，HUB,照明 ,ZVhL* "  
灯具、镇流器、家电、电冰箱、热水器、电视机、空调、通讯产品、手机、有绳电话机，来电显示器，汽车部件类产品、主控仪表、金属配件、塑胶配件等；化工与电子材料类产品、焊锡膏、助焊剂、焊料、塑胶外壳等； 8gG;A8