BGA焊点分析检测
由于IC芯片的特征尺寸要求越来越小,且复杂程度不断增加,使得企业开始寻求新的高密度封装技术,BGA封装技术应运而生。尽管BGA器件的性能和组装优于常规元器件,但BGA封装技术的发展仍受限于BGA焊点的质量和可靠性。 针对不同产品不同的焊点缺陷问题,需要选择适宜的检测方法。今天我们就来介绍一下BGA焊点缺陷或失效的几个常用的检测方法,帮助大家深入了解到不同检测方法的不同优势及典型案例,更好的进行选择。 非破坏性检测方法 一、目视检测焊点质量 目视检测在整个电子产品生产过程中都可进行,通过高倍放大镜对焊点进行观察,从外观上初步检测焊点是否存在明显缺陷。 目的:能简便、快速、直接的对焊点进行观察,可以观察焊点外部有没有连焊、周围表面的情况等。 但目视检测的局限性很大,只能在没有检测设备的情况下,用作初步判断,无法判断焊点内部是否存在其他缺陷或焊点表面是否有空洞等。 二、X-ray检测焊点质量 X-ray检测是一种无损的物理透视方法,即为在不破坏芯片情况下,利用X射线透视元器件,检测元器件的内部封装情况,如气泡、裂纹、绑定线异常等。 2DX-ray 对于样品无法以目视方式检测的位置,利用纪录X-ray穿透不同密度物质后其光强度的变化,产生的对比效果可形成影像即可显示出待测物的内部结构,进而可在不破坏待测物的情况下观察待测物内部有问题的区域。 目的:通过X射线扫描能快速、有效的观察,能判别空焊,虚焊等BGA焊接缺陷,BGA、线路板等内部位移的分析,架桥、短路方面的缺点等。 但2DX-ray存在一定的局限性,只能观察二维平面图像,原理是将三维立体的实物样品显示在二维的显示屏上成像,对于结构复杂的产品,不同深度方向上的信息都重叠在一起,极易混淆。例如,在同一位置的不同面均存在元器件的情况下,焊锡形成的阴影会重叠起来,影响检测结果的准确性,因此,对于结构复杂的产品常用作初步、快速判定。 |