推拉力测试

发布:探针台 2019-07-31 16:10 阅读:1418
测试金铝线焊球黏合力、绑线拉断强度;芯片/Die黏合力;BGA焊锡球黏合力。 U;=1v:~d  
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性能参数 oh7tE$"c  
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a)拉力测试测试范围可在0-100G;0-1KG;0-10KG进行选择; Q0%s|8Jc  
vO)]~AiB  
b)推球测试测试范围可在250G 或 5KG进行选择; IAJ+n0U  
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c)芯片推力测试范围可在测试到0-100公斤; 0-200KG进行选择; ^x2@KMKXZ  
P}"T 3u\N  
d)镊子撕力测试头量程为100G 和5KG进行选择; *mz-g7  
AHU =`z  
e)BGA拔球到0-100G;0-5KG进行选择; s~m]>^?8MR  
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应用范围 %R<xe.X  
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适用于半导体各种封装形式测试金铝线黏合力;及COB封装、光电,LED,SMT组装 ,原件与基板黏合测试
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