扫描电子显微镜能谱分析仪功能介绍

SEM/EDX(形貌观测、成分分析)扫描电镜（SEM）可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像，EDX是借助于分析试样发出的元素特征X yK&)H+v  
射线波长和强度实现的，根据不同元素特征X射线波长的不同来测定试样所含的元素。通过对比不同元素谱线的强度可以测定试样中元素的含量。通常EDX结合电子显微镜使用，可以对样品进行微区成分分析。 {_/6,22j(V  
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服务内容：1.材料表面形貌分析，微区形貌观察   xt"/e-h}  
          2.材料形状、大小、表面、断面、粒径分布分析 ~ab"q%  
          3.薄膜样品表面形貌观察、薄膜粗糙度及膜厚分析 N]yk<55  
          4.纳米尺寸量测及标示 9AL\6@<a*  
          5.微区成分定性及定量分析 %r!