在ZEMAX中优化非序列光学系统

避免由像素探测器引起的量化效应的一种方法是使用像素插值。不是将100%的光线能量分配给单个被击中的像素，而是根据光线在像素内的截距位置将一部分能量分配给相邻像素。因此，当系统变化导致光线在像素上移动时，评价函数会发生明显的变化。可以在探测器的物体属性(Object Properties)>类型(Type)中启用像素插值。

如果我们在启用了像素插值的探测器上扫描一条光线，会发现辐照度质心，以及大多数标准值的变化都会是连续的，并且可以很容易地使用DLS。

可以利用优化操作数NSDD计算评价函数中所述的辐照度质心。NSDD代表非序列非相干强度数据，是读取非相干探测器数据最有效的操作数。NSDC等效于相干计算。NSDD操作数的语法如下:

NSDD  Surf  Det#  Pix#  Data  #Ignored

Surf 定义非序列组的面序号（在纯非序列模式中为1）；

Det# 定义所需的探测器的编号（也可以用于清除一个或所有探测器数据）；

Pix# 定义要返回的指定像素上的数值，Data定义是否返回入射通量、辐照度或强度数据；

#Ignored 定义要忽略的边缘像素数量。

这些参数允许优化许多标准值：最小光斑大小（最小均方根空间宽度）、最大能量（总光通量)、空间均匀性（所有像素的标准差）、准直度（最小均方根角宽度）等等。有关NSDD功能的详细描述，请参见OpticStudio帮助文件部分:优化选项卡(The Optimize Tab)(序列模式界面)>自动优化组(Automatic Optimization Group)>评价函数编辑器(Merit Function Editor)(自动优化组)>按类别优化操作数(Optimization Operands by Category)>非序列光线追迹和探测器操作数(Non-Sequential Ray Tracing and Detector Operands)。